【課題】本発明は、低濃度から高濃度の広い濃度範囲での薬剤の排水系への漏洩をリアルタイムで定量的に検知する方法を提供する。
【解決手段】特定化学物質の蛍光スペクトルを用いて系外流域に漏洩した前記特定化学物質を検知する方法であって、前記特定化学物質の蛍光スペクトルの強度のピーク位置における励起波長、蛍光波長及び蛍光強度が記録されたデータベースを利用して、前記系外流域から連続的にサンプリングする試料における前記ピーク位置の励起波長における蛍光スペクトル強度を測定し、前記ピーク位置の蛍光波長における蛍光スペクトル強度をモニタリングすると共に、前記サンプリング試料の屈折率と紫外吸光度の一方又は双方をさらに測定することで、前記特定化学物質の前記系外流域への漏洩を検知することを特徴とする、系外流域への特定化学物質の漏洩検知方法である。 （もっと読む）

ガスが充填された容器からのガス漏れの、より正確及び／又は迅速な検知を提供するためにガス漏れ検知器を開示する。前記ガス漏れ検知器にはハウジング１０６が設けられており、ハウジング１０６はガス容器１０４に、容器弁ユニットを取り囲むように、また、前記容器の前記弁ユニットが設けられた面部も取り囲み得るように接続可能である。前記ガス漏れ検知器には手段１２４も設けられており、手段１２４は、前記ハウジング１０６が前記面部に接続されたときに、ハウジング１０６と前記面部との実質的に気密の接続、及び、前記ハウジング内の実質的に閉鎖された中空の空間をもたらすためにある。前記ガス漏れ検知器１０２は、さらに、漏れを検知するための検知手段１２６，１２８，１３０，１３２，１４２，１４８，１５０，１５４を備える。前記検知は、前記実質的に閉鎖された中空の空間内に何らかのガス漏れが残存している間に、前記ハウジング内の前記実質的に閉鎖された中空の空間にて行われる

（もっと読む）

【課題】シール部材の接着幅に対するトレーサガス濃度検量線を設定すると共に、該濃度検量線を利用して、製品ワークのシール部における、該製品ワークの外方から内方に延びる方向のシール部材の接着幅を、製品ワークを分解することなく定量的に推定できるシール部材の濃度検量線設定方法及び製品ワークのシール部の接着幅評価方法を提供する。
【解決手段】濃度検量線測定装置により、製品ワーク３ａのシール部１０ａに採用されるシール部材の接着幅に対する水素ガス濃度検量線を設定する。その後、接着幅評価装置２により、製品ワーク３ａ内へ所定圧の水素ガスを充填して、製品ワーク３ａのシール部１０ａから漏れ出る水素ガス濃度を測定し、その測定結果を予め設定した水素ガス濃度検量線と対比することで、該シール部１０ａの接着幅を推定する。 （もっと読む）

【課題】ヘリウムを含む複数のキャリアガスによるリーク検査を作業性良く行うことができるリークディテクタの提供。
【解決手段】ヘリウムガスと水素ガスとの混合ガスが充填された校正用標準リーク６を装着して校正動作を行うことにより、ヘリウムガスおよび水素ガスの各検出感度をいっぺんに取得することができる。取得された各検出感度は記憶部７２に記憶される。そして、いずれのキャリアガスでリーク検査を行うかが操作部７１により指示されると、指示されたキャリアガスが検出できるように分析管５の加速電圧が設定され、指示されたキャリアガスの検出感度を用いてリーク量が算出される。その結果、キャリアガスの異なるリーク検査を切り替えて行う場合に、リーク検査作業時間の短縮を図ることができる。 （もっと読む）

【課題】収容成分が液体である場合に、多様な大きさの容器に対してまた多様な収容材料に対して適用し得るようなリークテスト方法および装置を提供すること。
【解決手段】閉塞容器のリークテストを行うためのシステムであって、少なくとも１つの容器をテスト状況に配置し、これにより、容器のリーク状況に応じた信号を観測するための装置と；リークを模擬する手段であるとともにこれにより装置を校正するための手段と；を具備し、装置が、少なくとも１つのテストキャビティと、真空引きポンプと、テストキャビティに対して真空引きポンプを接続する接続ラインと、を備え、リーク模擬手段が、接続ラインを介してテストキャビティに対して接続された蒸発液体源を備えている。 （もっと読む）

スニファーリークディテクタの校正方法通常のように、スニファーリークディテクタは、各テストガス用に校正される必要がある。校正は、質量スペクトル及び振幅の高さでのスペクトル位置の分類乃至段階付け(Einordnung)に関している。本発明によると、校正ガスを用いて、少なくとも１つの質量線（Massenlinie）が特定される。２つの質量線間、乃至、ゼロ点と１つの線との間に位置している各質量線は、補間乃至補外によって求められる。このようにして、スニファーリークディテクタは、予め校正されていないテストガス用に用いることができる。
（もっと読む）

【課題】本発明は、標準校正リーク及びその製造方法に関する。
【解決手段】本発明にかかる標準校正リークは、第一基板と、前記第一基板に形成された第二基板とを含む。ここで、前記第一基板と第二基板のうち、少なくとも一方の基板の他の基板との接合面には、所定の目数及び寸法の溝が形成されている。そして、前記の両方の基板を接合すると、前記の溝は共通の孔として形成される。又、該孔の壁は、ガスが透過できない材料を採用する。前記溝の両斜面の交線が位置する面と一方の斜面とで形成された角βは、前記溝が形成された基板の結晶面の画角と同一にされている。また、前記のように形成された孔の径はナノのレベルに達する。従って、前記標準校正リークは、リーク量をより精細な範囲で良好にコントロールすることができるという優れた点がある。又、本発明は前記標準校正リークの製造方法も提供する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、標準校正リークの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明にかかる標準校正リークの製造方法は以下の工程を含む。基板を準備する段階と、前記基板に所定のパターンを有する、触媒としての薄膜を形成する段階と、前記触媒層に所定の寸法及び目数の一次元ナノ構造体を成長させる段階と、前記一次元ナノ構造体が成長された基板に第二薄膜を形成する段階と、前記第二薄膜における前記一次元ナノ構造体を除去して、前記第二薄膜に前記一次元ナノ構造体の寸法と同じ寸法の透過孔を形成して、標準校正リークを形成する段階。本発明にかかる標準校正リークによれば、リーク量を良好に確定するので、従来技術による課題を解決することができる。 （もっと読む）

本発明はスニフティングチップ（８）と制御ユニット（６）と有するスニフティング漏れ探査器（１）のための試験漏れ装置（１４）に関する。すなわち試験漏れ装置（１４）はガスリザーブ（３１）と、少なくとも校正の間、規定されたガス値が流出する狭窄部（３３）とを備えている。試験漏れ装置（１４）の特徴は狭窄部（３３）の領域にスニフティングチップの接近を認識するセンサ（４２）があり、試験漏れ装置がセンサ信号をスニフティング漏れ探査器の制御ユニット（６）に伝送する伝送手段を備えていることである。
（もっと読む）