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Fターム[4K030KA11]の内容

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Fターム[4K030KA11]に分類される特許

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【課題】 内部に残留する液体原料を確実に気化させて液残りの発生を抑制することが可能な気化装置を提供する。
【解決手段】 圧送されてくる液体原料を減圧雰囲気中にて気化させると共に、発生した原料ガスをキャリアガスにより搬送するようにした気化装置において、前記圧送されてくる液体原料を一時的に貯留する液溜め室70と、前記液溜め室に弁口66を介して連通された気化室62と、前記弁口を区画する弁座に前記液溜め室側から着座可能に設けられた弁体72と、前記弁体を駆動するアクチュエータ手段81と、前記弁体に前記弁口を臨むようにして設けられたキャリアガス噴射口92を有するキャリアガス導入手段90と、前記気化室内の原料ガスを排出する排出口28とを備える。これにより、内部に残留する液体原料を確実に気化させて液残りの発生を抑制する。 (もっと読む)


【課題】 半導体製造装置において、装置の異常を確実に検出すること。
【解決手段】 第1の監視対象とこの第1の監視対象の大きさに影響を与える第2の監視対象とについて、第2の監視対象の値を種々変えることにより得られた両者の値の組に基づいて、2軸座標系に両者の値の相関データを作成する。バッチ式の成膜処理装置の場合であれば、第1の監視対象及び第2の監視対象は夫々例えば累積膜厚及び圧力調整バルブの角度である。この相関データに基づいて2軸座標系に正常領域と異常領域との境界を定めた境界データを作成し、両者の値で決まる相関データの位置が異常領域に入っていれば異常と判断する。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて装置の小形化を図ることができるとともに、製造コストの低減を図ることのできる真空処理装置用開閉機構及び真空処理装置を提供する。
【解決手段】エアシリンダ48によって、第1のラック44を上昇させると、第1のガイド部材52が上昇するとともに、ピニオン42が回転しながら第1のラック44の1/2の速度で上昇する。弁体支持部材33が、ガイド機構39によって制限された最上部まで上昇すると、第1のガイド溝53によって回転軸40が水平方向に移動し、弁体支持部材33がガイド用突起36を軸として回転し、第1の弁体31が水平方向に移動して開口部を閉塞する。 (もっと読む)


【課題】真空容器1全体としての材料コストの低減を図る。
【解決手段】 容器本体3は、内部が真空ポンプ5に接続可能であって、容器本体3の一側に開口部7が形成され、容器本体3に開口部7を開閉する蓋部材9が着脱可能に設けられ、蓋部材9に、真空ポンプ5の排気作動によって容器本体3の内部を真空状態にしたときに、大気圧による外力を容器本体3の内側から受けるサポート部材17が設けられたこと。 (もっと読む)


【課題】 真空処理装置の装置停止時間を短縮すること。
【解決手段】 真空処理装置100は、ロード/アンロード室10とプラズマ処理室20とが連結されており、プラズマ処理室20は、上面に開口部Aを有する真空容器20aと開口部Aを開閉する平板状の上蓋30とを備えている。上蓋30の下面(真空容器20a側)および上面には、それぞれ同一の真空処理用機器31aおよび31bが表裏対称的に配置されている。上蓋30を昇降機構40により上昇させ、回転機構50により回転軸54廻りに180°回転させ、昇降機構40により下降させることにより、真空処理用機器31aと31bの位置を上下反転し、真空処理用機器31aのメンテナンスと並行して真空処理用機器31bを用いた真空処理を実施する。 (もっと読む)


【課題】混合ガスの配分比率を変化させながら行うCVD法による酸化珪素薄膜の成膜において、成膜中に有機シリコーンガスと酸化力を有するガスの流量が所定の流量に達するまでの時間を短くなるようにすることにより、成膜チャンバー内に供給する混合ガスの配分比率が所定設定値に迅速に到達するようにし、所定配分比率の混合ガスの下での成膜が短時間で行えるようにした、酸化珪素薄膜の成膜装置及び成膜方法の提供を目的とする。
【解決手段】有機シリコーン化合物ガス及び/または酸化力を有するガスを定流量で供給するための複数個のマスフローコントローラーのそれぞれから送られてくるガスの流量を個別に設定すると共に、切り替えバルブによりこれらのマスフローコントローラーの何れかから送られてくる定流量の有機シリコーン化合物ガス及び/または酸化力を有するガスを成膜チャンバー内に選択して供給するようにして酸化珪素薄膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】メンテナンス時の作業者の閉じ込めを無くす事ができる基板処理装置の提供。
【解決手段】待機室を形成した筐体11の背面壁にメンテナンス口66を開閉するメンテナンス扉67を設け、メンテナンス扉67の開閉を検知する扉検知スイッチ72と、メンテナンス扉67を開状態に維持する開状態維持具80とを設置する。開状態維持具80はガイド81とスライダ86と押さえ89と南京錠とを有する。メンテナンス扉67の開放時に、押さえ89の挿入部がガイドの押さえ受入れ部から抜け出ると、スライダ86は自重でガイドの受け部に乗る。この後に、南京錠が南京錠取付孔に掛けられる。押さえ89の挿入部90が押さえ受入れ部84に挿入するのをスライダ86で阻止されるので、メンテナンス作業中にメンテナンス扉67が固定されるのを防止でき、作業者の待機室への閉じ込めを無くすことができる。 (もっと読む)


【課題】 チャンバを閉塞するリッド部を開けることなく、チャンバ内の保守・管理を行えるようにする。
【解決手段】 チャンバ200内にヒータユニット202を設ける。ヒータユニット202は昇降自在に設けられ、下降して基板搬送位置に来ると、チャンバ200の底部に設けたリフトピン211がリフトピン穴202aから突き出して基板201を保持するようになっている。チャンバ200の上部開口200cには、チャンバ200を閉塞するリッド部207が設けられる。リッド部207には、リフトピン穴202aの真上位置に開口部207bが設けられる。この開口部207bには閉塞部材219が取り外し可能に設けられて、開口部207bを閉塞できるようになっている。閉塞部材219を透明にしたときは、加熱状態にあるチャンバ200内のリフトピン穴位置を確認できるようになっている。閉塞部材219をリッド部材と同じ部材としたときは、通常の基板処理が行えるようになっている。 (もっと読む)


【課題】 基板が搬入された反応容器内に第1の原料ガス及び第2の原料ガスを交互に供給して成膜処理をすると共に、未反応ガスはガス処理設備に排気する成膜装置において、良好な排気をすること。
【解決手段】 反応容器に第1の原料ガスを供給するときには第1の真空排気路を介して第1の真空排気手段により排気を行い、ガスは第1の排気通路を介してガス処理設備に送る。また反応容器に第2の原料ガスを供給するときには切り替え手段で流路を切り替えて第2の真空排気路を介して第2の真空排気手段により排気を行い、ガスは第2の排気通路を介してガス処理設備に送る構成とする。この場合、排気通路内で原料ガスが混ざって反応物が生成することを抑えることができ、良好な排気を行うことができる。 (もっと読む)


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