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Fターム[4M118DD12]の内容

固体撮像素子 (108,909) | 転送電荷検出 (5,763) | 回路構成 (3,414) | リセット回路 (2,088)

Fターム[4M118DD12]に分類される特許

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【課題】被曝量による閾値電圧のシフトを抑制するが可能なトランジスタを提供する。
【解決手段】放射線撮像装置1は、フォトダイオードとトランジスタ111Bとを含む光電変換層を有する。トランジスタ111Bは、基板11上に、第1ゲート電極120A、第1ゲート絶縁膜129、半導体層126、第2ゲート絶縁膜130および第2ゲート電極120Bをこの順に有し、第1ゲート絶縁膜129および第2ゲート絶縁膜130におけるSiO2膜の総和が65nm以下となっている。トランジスタが被曝すると、ゲート絶縁膜におけるSiO2膜に正孔がチャージされ、閾値電圧がシフトし易くなるが、上記のようなSiO2膜厚の最適化により、閾値電圧シフトが効果的に抑制される。 (もっと読む)


【課題】リセット用トランジスタから光電変換素子の方へ漏れる電流の影響を小さくすることが出来る半導体装置およびその駆動方法を提供する。
【解決手段】リセット用トランジスタと光電変換素子とリセット側電源線とダイオード側電源線を有する半導体装置において、リセット用トランジスタのゲート端子はリセット信号線に接続されており、光電変換素子の一方の端子は、ダイオード側電源線と電気的に接続されており、他方の端子は、リセット用トランジスタを介してリセット側電源線と接続されており、リセット用トランジスタが非導通状態のときに、リセット側電源線の電位をダイオード側電源線の電位に近づける。 (もっと読む)


【課題】ダイナミックレンジの変更の自由度が高く、感度を上げることができ、画素数の向上が容易で、かつ画質の劣化を抑制できる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】導電性要素(配線層M1(FD)および導電層BC1)は、転送トランジスタTxのドレイン領域SDと増幅トランジスタAmiのゲート電極層GEとを電気的に接続している。容量配線MM(Cs)は、転送トランジスタTxのドレイン領域SD、リセットトランジスタResのソース領域SD、増幅トランジスタAmiのゲート電極層GE、および導電性要素のうち少なくとも1つと容量Csを構成するように配置されている。容量配線MM(Cs)は、リセットトランジスタResがオフ状態のときに、少なくとも2つの電位V1、V2を選択的に印加されるよう構成されている。 (もっと読む)


【課題】
従来、ビデオカメラに比べて高解像度でサイズが大きい撮像素子が搭載された一眼レフカメラでは、消費電力や撮像素子の発熱量も大きくなるという問題があった。
【解決手段】
本発明では、二次元状に配置された複数の画素を電力供給の異なる予め設定された複数の領域に分け、前記画素に入射する光を電気信号に変換する画素部と、前記画素部から電気信号を読み出すための制御信号を前記画素部に出力する走査部と、前記走査部が出力する制御信号により前記各画素から読み出された電気信号を外部に出力する出力部と、前記画素部への電力供給を前記領域毎にオンオフを制御する電源部とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光導波路の形成による暗電流等のノイズ成分の増加を抑制することである。
【解決手段】光導波路を有する撮像装置の製造方法において、光電変換素子2上に高屈折率領域3を形成した後に、高屈折率領域3を埋め込む絶縁層4を形成する。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置の感度の低下を抑制しつつ、感光面の重金属汚染を低減する。
【解決手段】半導体層4の裏面からBOX層2を除去した後、半導体層4の裏面にゲッタリング層41を積層し、半導体層4の熱処理を行うことにより、半導体層4の重金属をゲッタリング層41にトラップさせ、半導体層4の裏面からゲッタリング層41を除去する。 (もっと読む)


【課題】焦点検出が可能でありながら、撮像時に画素欠陥と同様の状態を引き起こすことがなく、しかも、撮像時の感度の低下を抑制する。
【解決手段】ゲート電極67がハイであれば、埋め込みフォトダイオード41,42間が互いに電気的に連結される。このとき、ゲート電極67の下方の領域は光電変換機能を持つ。一方、ゲート電極67がローであれば、埋め込みフォトダイオード41,42間が電気的に分離される。このとき、ゲート電極67の下方の領域は光電変換機能を持たない。 (もっと読む)


【課題】画素内に光信号用、ノイズ信号用のサンプルホールド回路を設けて高画質な高速動画像撮影を行う。
【解決手段】撮像素子を含み、画素は、光電変換を行う光電変換手段と、光電変換手段からの信号を増幅して出力する増幅手段と、増幅手段の出力側に設けられた光電変換手段で発生した光信号を蓄積する光信号蓄積手段と、増幅手段の出力側に設けられたノイズ信号を蓄積するノイズ信号蓄積手段と、を有する撮像装置であって、光信号蓄積手段の後段に光信号用出力線が配され、ノイズ信号蓄積手段の後段にノイズ信号用出力線が配され、画素から、前記光信号用出力線及び前記ノイズ信号用出力線に同時に信号が出力されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 配線材料の層間絶縁膜への拡散を抑制する拡散抑制膜による多層配線構造を設けた光電変換装置において、工程を増加させることなく、受光効率を高める。
【解決手段】 本発明は、半導体基板に配された光電変換素子と、前記半導体基板上に層間絶縁膜を介して複数の配線層が配された多層配線構造を有する光電変換装置であって、最上配線層の上部に、前記最上配線層を構成する材料の拡散を抑制する拡散抑制膜が配され、前記拡散抑制膜は、前記最上配線層及び前記層間絶縁膜の前記光電変換素子に対応する領域を覆って配されており、前記拡散抑制膜の前記光電変換素子に対応する領域にレンズが配されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 チップ面積を縮小可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 電源配線105とパッド103とは第1の配線層に配される。そして、電源配線105とパッド103とは互いに重ならないように配される。信号配線106a、106bは第2の配線層に配される。信号配線107は第2の配線層とは異なる層に配される。信号配線107は、パッド103と重なるように、パッド103の下部に配される。信号配線106と信号配線107とは、プラグ108によって互いに接続される。パッド103と信号配線107との間に緩衝部109が配される。 (もっと読む)


【課題】光ノイズの除去に用いる信号を取得することができる。
【解決手段】垂直制御回路26は、静止画を撮像する際には、画素部24が備える全ての画素28の光電変換部を一括露光させ、露光終了のタイミングで、画素部24が備える全ての画素28の第1の転送部を駆動させて光電変換部が蓄積した光電荷を第1の蓄積部のみに一括転送させ、当該第1の蓄積部に蓄積された電荷を、第1の増幅部と、第1の接続部と、第1の出力信号線とを介して、光信号として読み出すとともに、第2の蓄積部に蓄積された電荷を、第2の増幅部と、第2の接続部と、第2の出力信号線とを介して、光ノイズ信号として読み出すように制御する。 (もっと読む)


【課題】縦方向と横方向の曲率に対して最適なレンズ形状とすることにより、平面視で縦方向と横方向の長さが異なる照射対象に対しても中央部分に確実に集光させて集光効率を向上させる。
【解決手段】平坦化膜上に感光性レジスト膜を成膜する感光性レジスト膜成膜工程と、透過率階調マスクを用いて照射光量を平面的に制御して、感光性レジスト膜をレンズ形状に形成するレンズ形状形成工程とを有し、レンズ形状を、マイクロレンズ37として、平面視縦方向および横方向のうちの少なくともいずれかの方向に端部同士が重なりを有したアレイ状に形成する。平面視外形が円形のレンズ形状から、縦方向および横方向の少なくともいずれかの方向に重なりを有したアレイ状に形成する。 (もっと読む)


【課題】撮像画像の高画質化を図る。
【解決手段】CMOSイメージセンサの画素アレイ部には、フォトダイオード61と、フォトダイオード61により生成された電荷を浮遊拡散領域65に転送する転送ゲート64と、浮遊拡散領域65の電荷を排出するリセットトランジスタ66とを少なくとも備える複数の単位画素50が配列されている。また、単位画素50における配線層より下層には、フォトダイオード61の受光部を除く単位画素50の略全ての表面を遮光する遮光膜73が形成される。リセットトランジスタ66による電荷排出時には、遮光膜73に印加される電圧が第1の電圧とされ、転送ゲート64による電荷転送時には、遮光膜73に印加される電圧が前記第1の電圧より高い第2の電圧とされる。本発明は、例えば、CMOSイメージセンサに適用することができる。 (もっと読む)


【課題】CMOSイメージセンサに代表される固体撮像素子において、裏面受光構造を採ることにより、画素の微細化および高開口率化を可能とした固体撮像素子を提供する。
【解決手段】フォトダイオード37を有するシリコン層31と、シリコン層31における受光面と逆側の他方の面上に設けられた配線層と、シリコン層31内における他方の面側の表面層に設けられたP+層45とシリコン層31内に設けられたN−型領域41からなる光電変換領域と、光電変換領域よりも高濃度の第2導電型であって、シリコン層31内におけるP+層45とN−型領域41からなる光電変換領域との間に設けられたN+領域44とを備えた固体撮像素子である。 (もっと読む)


【課題】撮像画像の高画質化を図る。
【解決手段】CMOSイメージセンサの画素アレイ部には、フォトダイオード61と、フォトダイオード61に蓄積された電荷を浮遊拡散領域63に転送する転送ゲート62と、浮遊拡散領域63の電荷をリセットするリセットトランジスタ64とを少なくとも備える複数の単位画素50が2次元に配列されている。そして、CMOSイメージセンサにおいては、転送ゲート62による電荷転送前に、画素アレイ部において互いに隣接しない複数の行毎に、リセットトランジスタ64による浮遊拡散領域63の電荷をリセットするように単位画素の駆動が制御される。本発明は、例えば、CMOSイメージセンサに適用することができる。 (もっと読む)


【課題】動画像に対応したグローバルシャッタ動作を行う。
【解決手段】CMOSイメージセンサの画素アレイ部には、フォトダイオード(PD)61と、PD61に蓄積された電荷を保持するメモリ部(MEM)65と、MEM65の電荷を電圧に変換する浮遊拡散領域(FD)67と、PD61からMEM65に電荷を転送する第1転送ゲート64と、MEM65からFD67に電荷を転送する第2転送ゲート66と、FD67の電荷をリセットするリセットトランジスタ68とを少なくとも備える複数の単位画素50が配列されている。単位画素50は、第1転送ゲート64のオン時に、MEM65とFD67との境界のポテンシャルバリアのポテンシャルを、MEM65から溢れた電荷がFD67に転送されるようなポテンシャルとなるように駆動する。本発明は、例えば、動画像に対応したグローバルシャッタ動作を行うCMOSイメージセンサに適用することができる。 (もっと読む)


【課題】飽和電荷量、転送性能および感度に対する要求を満たすために有利な技術を提供する。
【解決手段】、固体撮像装置は、第1導電型の第1半導体領域と、前記第1半導体領域の下面に接するように配置され電荷蓄積領域として機能する第2導電型の第2半導体領域と、前記第2半導体領域によって取り囲まれた側面を含む第3半導体領域と、前記第2半導体領域から離隔して配置された第2導電型の第4半導体領域と、前記第2半導体領域に蓄積された電荷を前記第4半導体領域に転送するためのチャネルを形成する転送ゲートとを含み、前記第3半導体領域は、第1導電型の半導体領域であるか、第2導電型の不純物濃度が前記第2半導体領域よりも低い第2導電型の半導体領域である。 (もっと読む)


【課題】高輝度時の画像信号の出力低下を防止し、高輝度画素と同時に読み出される同一行画素の出力変動を防止することを課題とする。
【解決手段】2次元行列状に配置された開口された複数の有効画素及び遮光された複数の遮光画素を有し、各画素が光学像を電気信号に変換する画素アレイ部と、遮光画素の信号と目標値との差分に対応する補正値を有効画素の信号に加算するクランプ回路と、クランプ回路の出力信号を信号処理する画像信号処理回路とを有し、画像信号処理回路は、画素アレイ部の同一行の画素の信号の平均値を算出する平均化部(S104)と、平均値を複数行にわたって積算することにより積算値を算出する積算部(S109)と、平均化部により算出された所定の行における平均値と積算部により算出された積算値との差分が第1の閾値より大きいときには、クランプ回路の目標値が大きくなるように目標値を変更する目標値変更部(S106)とを有する。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置においてフォトダイオードの面積のばらつきに伴う不都合を抑制しつつ、2つの画素間でリセットトランジスターを共有化する。
【解決手段】第1の色の光を受光する第1のフォトダイオードと、第1のフォトダイオードの第1の方向の隣に配置された第2の色の光を受光する第2のフォトダイオードと、第2のフォトダイオードの第2の方向の隣に配置された第1の色の光を受光する第3のフォトダイオードと、第3のフォトダイオードの第1の方向の隣に配置された第3の色の光を受光する第4のフォトダイオードと、第1及び第2のフォトダイオードにおいて発生した電荷を排出させる第1のリセットトランジスターと、第3及び第4のフォトダイオードにおいて発生した電荷を排出させる第2のリセットトランジスターと、を具備し、第1のフォトダイオードの面積と第3のフォトダイオードの面積との差が小さい。 (もっと読む)


【課題】記憶部で発生するリーク電流を抑制した固体撮像素子を提供する。
【解決手段】複数の画素回路1aと、列信号線21と、複数の単位記憶回路2aとを備え、複数の単位記憶回路2aのそれぞれは、書き込みトランジスタ31と、記憶容量32と、n型の第1拡散領域143と、第1拡散領域143から所定距離離して形成され、書き込みトランジスタ31のソース又はドレイン領域に隣接する絶縁分離領域141と、絶縁分離領域141の周囲に、第1拡散領域143から所定距離離して形成された、p型の第2拡散領域142とを有し、少なくとも第2拡散領域142の表面には、金属シリサイド層が形成されていないことを特徴とする。 (もっと読む)


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