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Fターム[4M119FF05]の内容

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Fターム[4M119FF05]に分類される特許

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【課題】 配線の信頼性が劣化しない磁気ランダムアクセスメモリ及びその製造方法を提供することである。
【解決手段】 実施形態に係る磁気ランダムアクセスメモリは、下部電極、磁気抵抗効果素子、上部電極が下層から順に積層された積層膜が設けられる。前記磁気抵抗効果素子、前記上部電極の側面に接し、上面が前記上部電極の上面と実質的に同一の高さであるストッパ層平坦部が設けられる。前記上部電極上にバリアメタル膜が設けられる。前記バリアメタル膜上にコンタクトプラグが設けられる。 (もっと読む)


【課題】セルサイズの微細化が可能な抵抗変化メモリを提供する。
【解決手段】抵抗変化メモリ10は、第1の方向に延在する複数のワード線と、第2の方向に延在する第1乃至第3のビット線と、第1及び第3のビット線に接続された複数の可変抵抗素子20と、半導体基板30内に設けられ、かつ斜め方向に延在する複数のアクティブ領域AAと、複数のアクティブ領域AAに設けられた、かつ可変抵抗素子20に接続された複数の選択トランジスタ21と、選択トランジスタと第3のビット線とを接続する複数のコンタクトプラグ37とを含む。複数の可変抵抗素子20は、第2の方向に並ぶようにして、第1のビット線の下方かつ複数のワード線間のそれぞれに配置された第1の可変抵抗素子群と、第2の方向に並ぶようにして、第3のビット線の下方かつ複数のワード線間のそれぞれに配置された第2の可変抵抗素子群とからなる。 (もっと読む)


【課題】集積度が高い磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る磁気記憶装置は、基板と、前記基板上に設けられた複数個の磁気抵抗効果素子と、を備える。そして、前記複数個の磁気抵抗効果素子のうち、上方から見て互いに最も近い位置にある2個の磁気抵抗効果素子は、前記基板からの距離が相互に異なる。 (もっと読む)


【課題】書込み電流の範囲を広くすることができるとともに書込み電流を低減することができる磁気抵抗素子および磁気メモリを提供する。
【解決手段】本実施形態の磁気抵抗素子は、膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化が可変の第1強磁性層と、膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化が不変の第2強磁性層と、第1強磁性層と第2強磁性層との間に設けられた第1非磁性層と、第2強磁性層に対して第1非磁性層と反対側に設けられ、それぞれが異なる発振周波数の回転磁界を発振する強磁性体の複数の発振体を有し、各発振体が膜面に平行な磁化を有する、第3強磁性層と、を備え、第3強磁性層と、第1強磁性層との間に電流を流すことにより、スピン偏極した電子を第1強磁性層に作用させるとともに、第3強磁性層の複数の発振体に作用させて前記発振体の磁化に歳差運動を誘起し、歳差運動によって生じた複数の回転周波数を有し第1強磁性層の磁化反転をアシストする回転磁界が第1強磁性層に印加される。 (もっと読む)


【課題】 界面磁性層が十分に結晶化された磁気ランダムアクセスメモリ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 実施形態に係る磁気ランダムアクセスメモリは、第1の磁性層、第1の界面磁性層、非磁性層、第2の界面磁性層、及び第2の磁性層が順に積層された磁気抵抗効果素子を有する。前記第1の磁性層の下層、前記第1の磁性層と前記第1の界面磁性層との間、前記第2の界面磁性層と前記第2の磁性層との間、及び前記第2の磁性層上のいずれかに第1の金属原子、第2の金属原子、及びB原子を含む金属層が設けられる。 (もっと読む)


【課題】多層膜内の特定層だけに格子振動を与えてその多層膜の特性を向上させる。
【解決手段】実施形態に係わる多層膜の製造方法は、第1の層(CoFeB)を形成する工程と、第1の層(CoFeB)上に第2の層(MgO)を形成する工程と、第2の層(MgO)の表面に対してGCIB照射を行うことにより、第2の層(MgO)の結晶情報を第1の層(CoFeB)に転写する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】磁化反転に必要とされる電流密度のマージンを広げる。
【解決手段】実施形態に係わる磁気メモリの製造方法は、磁化方向が可変である第1の磁性層16を形成する工程と、第1の磁性層16上にトンネルバリア層17を形成する工程と、トンネルバリア層17上に、磁化方向が不変である第2の磁性層19を形成する工程と、第2の磁性層19上にハードマスク層20を形成する工程と、ハードマスク層20をマスクにして第2の磁性層19のパターニングを行なう工程と、第2の磁性層19のパターニング後に、ハードマスク層20をマスクにしてGCIB照射を行うことにより、少なくとも第1の磁性層16内に磁気的及び電気的に不活性な領域Nonを形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】積層ハードマスクを部分的に残存させつつ、配線層用のビアプラグのアスペクト比を低減することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に第1の配線層102を形成し、第1の配線層102上に、半導体素子材料103、第1の絶縁膜104、及び第2の絶縁膜105を順に形成し、半導体素子材料103、第1の絶縁膜104、及び第2の絶縁膜105を含むピラー状の構造体を形成する。第1の配線層102上に、構造体の上面及び側面を覆うように、第3及び第4の絶縁膜109,106を形成し、第4の絶縁膜106を、第2の絶縁膜105が露出するように、部分的に除去する。第1及び第2の絶縁膜内に、半導体素子材料に接続された第1のビアプラグ107を形成し、第3及び第4の絶縁膜内に、第1の配線層102に接続された第2のビアプラグ108を形成し、第1及び第2のビアプラグ上に第2の配線層111を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の表面の空き領域が少ない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】このMRAMの各メモリセルMCは、磁気抵抗素子18と2つのアクセストランジスタ19a,19bを含み、トランジスタ19a,19bのドレインを磁気抵抗素子18を介して対応のビット線BLに接続し、それらのゲートを対応のワード線WLに接続し、それらのソースをそれぞれソース線SLおよび補助配線ALに接続する。したがって、アクセストランジスタ19bのソースとDLドライバ14に含まれるドライバトランジスタ23のソースとを共通化することができ、シリコン基板31の表面の空き領域を減らすことができる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の構成材料の特性劣化を抑制しつつ、基板とゲート絶縁膜との界面の界面準位密度を効率的に低減することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法では、基板100上に、ゲート絶縁膜102とゲート電極103とを含むトランジスタを形成する。さらに、基板100上に1層の配線層110を形成する処理と、1層の配線層110を配線パターンに加工する処理を1回以上行うことにより、基板100上に、1層以上の配線層113,115を含む配線構造を形成する。さらに、基板100上に、1層以上の配線層113,115のうちの少なくとも1層の配線層110が配線パターンに加工された後に、基板100上にマイクロ波を照射して基板100のアニールを行う。 (もっと読む)


【課題】ロジック混載MRAMにおいて、LSIの多層配線形成プロセスがMRAMの特性変動を引き起こす不都合、また、MRAMの形成プロセスが多層配線の特性変動を引き起こす不都合を軽減すること。
【解決手段】多層配線層に含まれる配線層Aの中に、配線層Bに形成された第1の配線104bに接し、互いに絶縁している少なくとも2つの第1の磁化固定層50a及び50bと、2つの第1の磁化固定層50a及び50bと平面視で重なり、かつ、第1の磁化固定層50a及び50bと接続している磁化自由層10と、磁化自由層10の上に位置する非磁性層40と、非磁性層40の上に位置する第2の磁化固定層104aと、を有するMRAMが形成されている半導体装置。 (もっと読む)


【課題】 熱負荷によるTMR比の減少を抑制できる磁気抵抗効果を利用した半導体記憶装置を提供すること。
【解決手段】 実施形態の磁気抵抗素子は、非磁性元素を含む第1の垂直磁化磁性膜116と、第1の垂直磁化磁性膜上に設けられた絶縁膜119と、第1の垂直磁化磁性膜と絶縁膜との間に設けられた第1の中間磁性膜118と、絶縁膜上に設けられ、非磁性元素を含む第2の垂直磁化磁性膜123と、絶縁膜と第2の垂直磁化磁性膜との間に設けられた第2の中間磁性膜120と、第1の垂直磁化磁性膜と第1の中間磁性膜との間、および、第2の中間磁性膜と第2の垂直磁化磁性膜との間の少なくとも一方に設けられ、非磁性元素の拡散に対してバリア性を有する金属窒化物または金属炭化物で形成された拡散防止膜117,121を含む。 (もっと読む)


【課題】書き込み電流を低減する磁気ランダムアクセスメモリを提供する。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリは、半導体基板と、半導体基板の上方に配置され、垂直磁化膜で形成されたMTJ素子10と、MTJ素子10の上側に配置されかつ半導体基板に対して引っ張る方向に応力を加える引っ張り応力膜21及びMTJ素子10の下側に配置されかつ半導体基板に対して圧縮する方向に応力を加える圧縮応力膜の少なくとも一方を有する応力膜と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】MR変化率を高くすることができる磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る磁気抵抗効果素子は、積層体と、前記積層体の積層方向に電流を流すための一対の電極と、を備える。前記積層体は、第1の磁性層と、第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置されたスペーサ層と、を有する。そして、前記第1の磁性層、前記第2の磁性層及び前記スペーサ層の少なくとも1つの層が金属酸化物からなる酸化物層を含み、前記金属酸化物の結晶構造は、NaCl構造である。 (もっと読む)


【課題】 GMR素子では、十分大きなMR比を得ることが困難である。大きなMR比を実現することが可能なMTJ素子において、反転電流を低減させることが望まれている。
【解決手段】 下部電極の上に、磁化容易方向が厚さ方向を向く垂直磁気異方性膜が形成されている。垂直磁気異方性膜の上に、非磁性材料で形成されたスペーサ層が配置されている。スペーサ層の上に、アモルファスの導電材料からなる下地層が配置されている。下地層の上に、磁化容易方向が面内方向を向く磁化自由層が配置されている。磁化自由層の上にトンネルバリア層が配置されている。トンネルバリア層の上に、磁化方向が面内方向に固定された磁化固定層が配置されている。スペーサ層は、垂直磁気異方性膜と磁化自由層との間に交換相互作用が働かない厚さであり、かつスピン緩和長よりも薄い。 (もっと読む)


【課題】磁気メモリにおいて、安定的且つ容易に磁壁を導入可能な構造とする。
【解決手段】磁気メモリは、磁気記録層10と、非磁性層11を介して磁気記録層10に接続された参照層12と、磁気記録層10より下方に設置された第1、2磁化固定層19、20とを具備する。磁気記録層10及び参照層11は垂直磁気異方性を有する。磁気記録層10は、反転可能な磁化を有し参照層11と重なる磁化反転領域2と、磁化反転領域2の第1境界に接続され、磁化の向きが第1方向に固定された第1磁化固定領域1と、磁化反転領域2の第2境界に接続され、磁化の向きが第1方向と反平行な第2方向に固定された第2磁化固定領域3とを備える。第1、2磁化固定層19、20は、第1、2磁化固定領域1、3の磁化を固定する。第2磁化固定層20が、第1磁化固定層19と比較して保磁力が低い。 (もっと読む)


【課題】 書込み電流の低減のみならず、大きなMR比を有するMTJ素子の開発が望まれている。
【解決手段】 磁気トンネル接合素子が、磁化自由層と、磁化固定層と、磁化自由層と磁化固定層との間に配置されたトンネルバリア層とを有する。磁化自由層は、垂直磁化自由層、垂直磁化自由層とトンネルバリア層との間に配置された面内磁化自由層、及び垂直磁化自由層と面内磁化自由層との間に配置された非磁性中間層とを含む。垂直磁化自由層の磁化容易方向は膜面に対して垂直であり、面内磁化自由層の磁化容易方向は膜面に平行であり、垂直磁化自由層の磁化は、非磁性中間層を介して面内磁化自由層と交換結合することによって、面内方向を向いている。 (もっと読む)


【課題】 十分なMR変化率を有する磁気抵抗効果素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の磁気抵抗効果素子は、第1の磁性層14と、第2の磁性層18と、第1の磁性層14と第2の磁性層18との間に設けられたスペーサ層16とを備えた積層体と、積層体の膜面に垂直に電流を流すための一対の電極11、20とを有し、スペーサ層16が、Zn、In、Sn、Cdから選択される少なくとも1つの元素及びFe、Co、Niから選択される少なくとも1つの元素を含む酸化物層21を含む。 (もっと読む)


【課題】メモリセルの平面視における面積を増加せずに、磁気抵抗素子の情報の読み書きに用いる電流値を低減しながら、読み書きエラーや磁気抵抗素子間の短絡が抑制された集積回路を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板の主表面上に配置された、電流の流れる向きに応じて磁化状態を変化させることが可能な、スピントルク書き込み方式の面内磁化型の磁気抵抗素子MRDと、磁気抵抗素子MRDと電気的に接続され、主表面に沿った方向に向けて延びる第1配線BLとを備える。上記磁気抵抗素子MRDは平面視におけるアスペクト比が1以外の値である。上記磁気抵抗素子MRDとスイッチング素子とが電気的に接続されたメモリセルMCが複数並んだメモリセル領域において、平面視における磁気抵抗素子MRDの長手方向に関して、隣接する複数の磁気抵抗素子MRDが、上記長手方向に沿って延在する同一直線上に乗らないように配置される。 (もっと読む)


【課題】孤立パターンに銅の化合物が析出するのを抑制する半導体装置の製造方法と、半導体装置とを提供する。
【解決手段】半導体装置では、素子・基板層ESLの低誘電率膜LOW1、ファイン層FLの極低誘電率膜ELK1等およびセミグローバル層SGLの低誘電率膜LOW2等のそれぞれの開口部に形成されるアライメントマークAMおよび重ね合わせ検査マークKMが、半導体基板SUBに形成された所定の導電型の不純物領域IRに電気的に接続されて、アライメントマークAMおよび重ね合わせ検査マークKMが接地電位に固定されている。 (もっと読む)


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