【課題】試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語に詳しくないユーザでも、試験プログラムを容易に作成させる装置を提供する。
【解決手段】被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】サーバのテストのためにトランザクションを再生する際に、トランザクションの再生による不正の発生を抑制し、かつ、トランザクションの再生に要する時間を短縮する。
【解決手段】再生シナリオ生成装置４０では、ＳＩ画面決定部４６が、どの画面からでも遷移可能なＳＩ画面をトレースの統計処理結果から決定し、シナリオ取得部４７が開始点でアクティブなセッションのシナリオをトレースから取得すると、ショートカット処理部４８が、そのシナリオを、認証画面から開始点までの同じＳＩ画面の間の画面遷移をカットすることで短縮し、接木処理部４９が、そのシナリオを、認証画面から開始点以前のＳＩ画面までの画面遷移に代えて、トレースの統計処理結果から得られた最短画面遷移を接木することで短縮し、再生速度調整部５１が、シナリオの再生速度を調整し、シナリオ出力部５３が、これらの処理の結果を出力する。 （もっと読む）

【課題】対象デバイスの故障診断を行うソフトウエアの再利用性を向上し、開発効率を向上することができる電子制御システムを得ること。
【解決手段】前記目的を実現するために、過渡フォールトを検出するための診断処理と固定フォールトを検出するための処理を分離し、過渡フォールトを検出するための診断処理を共通化し、呼出しテーブルを介することにより、過渡フォールトを検出するための処理を再利用することを可能とする。 （もっと読む）

【課題】テストアルゴリズムの変更無しでテスト実行部を任意に追加する機能を提供する。
【解決手段】半導体集積回路テスタのハードウェアに依存しない書式でテスト実行部記述ファイルを記載する。このテスト実行部記述ファイル１０２をテスタ実行書式変換部１０６がハードウェアに依存する形式に変換する。変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 （もっと読む）

【課題】 DB検索を行うプログラムに対して意図したDBレコードのみがヒットすることを可能とし、変数の複雑な依存関係を扱うテストデータを生成する。
【解決手段】 本発明は、設計情報として、ソフトウェアの入力値の定義域を表す入力値定義、ソフトウェアの処理の流れを表す処理フロー図、DB定義を取得し、入力変数、DBテーブル変数、及び制約を抽出し、DBテーブル変数のレコード件数に関する制約を解き、該DBテーブル変数のレコード件数を決定し、当該ＤＢテーブル変数から検索条件で一致するレコードに加え、一致しないレコードについても全バリエーションを生成し、文字列型変数同士の包含関係に基づいて、文字列変数同士の対応する市の叔父が一致する、または、不一致になるように文字を決定し、入力変数、DBテーブル変数をテストデータとして出力する。 （もっと読む）

【課題】入力として与えられた既存のテスト・ケースの集合と一致するものを多く含み、なるべく小さいサイズの集合を、高速に生成する。
【解決手段】いくつかのパラメータに対して、テストケース候補が持っているべき値を決定する（７１８）。入力テスト・ケースの集合に含まれるテストケースのうち、上記で決定した値を持っているものを候補とする（７１２）。従来手法によって生成されたひとつ又は複数のテストケース候補と、入力テスト・ケースの集合から選択されたひとつまたは複数のテストケース候補のうち、最もスコアが高いものを出力テスト・ケースの集合に追加する（７１６）。この処理を、出力テスト・ケースの集合が目的の性質を満たすまで繰り返す。 （もっと読む）

【課題】追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。
【解決手段】試験装置２と、先行命令のアクセス先仮想メモリアドレスが、後続命令のアクセス先仮想メモリアドレスと重複するか否かを判定し、重複しない場合に、前記後続命令が前記先行命令を追い越して実行されるように、処理装置によるメモリへのアクセス動作を制御する、命令追い越し回路１２と、前記後続命令の追い越しが発生した場合に、前記後続命令を特定する情報を生成し、追い越し結果情報として保存する、追い越しトレーサ回路１３とを具備する。前記試験装置２は、設定変更部５と、試験命令列生成部６と、追い越し判別部７と、試験命令列変更部８と、ＳＷシミュレータ実行部９と、実行結果判定部１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】例外割り込みと例外処理の発生を効率的かつ未然に抑制してコンピュータの試験を行なうこと。
【解決手段】コンピュータは、試験用命令列の作成時に、実行結果が書き込まれない入力専用レジスタ以外のレジスタから命令の出力先を指定する。また、コンピュータは、試験用命令列の作成時に、浮動小数点演算や固定小数点除算など例外割り込みが発生する可能性のある命令の入力に実行結果が書き込まれない入力専用レジスタを指定する。そして、コンピュータは、入力専用レジスタの初期値として例外割り込みの発生を回避することのできる値をセットして試験用命令列を実行し、例外割り込みを発生させることなく動作試験を行なう。 （もっと読む）

【課題】論理検証およびテストデバッグに要する総時間の短縮化を図ることを目的とする。
【解決手段】テスタによるＤＵＴの試験を仮想的にシミュレーションするテスタシミュレーション装置１は、ＤＵＴの動作をシミュレータ上でモデル化した仮想デバイス１１と、仮想デバイス１１の論理検証を行うための検証シナリオの入力パターンを仮想デバイス１１に印加し、仮想デバイス１１から出力される応答パターンを入力して期待値パターンと比較して良否判定を行う仮想テスタ１２と、入力パターンおよび期待値パターンを仮想テスタ１２から取得し、入力パターンおよび応答パターンが正常なものであるときに、取得した入力パターンおよび期待値パターンをＤＵＴの実試験を行うためのテストパターンとして生成するテストパターン生成部１４と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】設計仕様の検証項目毎の制約条件を網羅する検証用情報を生成すること。
【解決手段】設計検証装置１は、設計対象の第１の設計仕様２を検証する検証用情報＃１、＃２が有する制約条件に、設計対象の第２の設計仕様４のＡモード、Ｂモード、Ｃモードの処理手順２０ｄ、２０ｅ、２０ｆが備えるシーケンスに設けられた、第１の設計仕様２が備えるシーケンスに対するリンクに基づいて、第２の設計仕様４の制約条件を付与する制約条件付与部１ｃと、制約条件付与部１ｃによって制約条件が付与された検証用情報＃１、＃２を、対応するモードとともに出力する出力部１ｄと、を有している。 （もっと読む）

【課題】良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成の実現等。
【解決手段】処理手段が、（１）テスト難易度算出式に基づき、テスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量との１以上の情報を利用しテスト難易度を算出し、（２）テストメニューデータベースから、テスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、ＤＦＴ手法と優先度との関連付けをテストフローデータベースに記憶させ、（３）テストフローデータベースのＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして出力手段に表示させ提示する。 （もっと読む）

【課題】各車両の仕様に柔軟に対応することのできる車両故障判定装置、およびその車両故障判定装置を設計するプログラムを提供する。
【解決手段】本発明に係る車両故障判定装置では、各故障診断プログラム、その故障診断プログラムを実行する際に用いられる制御データ、および各故障診断プログラムの診断結果データの対応順序を、故障診断プログラムとは別に独立して定義する。また、本発明に係る車両故障判定装置設計プログラムは、故障診断項目となり得る全ての項目を記述した総診断項目リストから、必要なる故障診断項目を抽出する。 （もっと読む）

【課題】 容易に異なるフォーマットに対応することができるアプリケーションのテストを行う端末装置、及びアプリケーションのテスト方法を提供する。
【解決手段】 端末装置１は、アプリケーションを格納する第１の格納部１７１と、前記第１の格納部に記憶されているアプリケーションにおけるログデータを格納する第２の格納部１７５とを具備する。端末装置１は、前記第２の格納部に格納されているログデータを読み込み、解析ライブラリが格納される記憶領域１７７に記憶されているデータに基づいて読み込むログデータの解析を行い、解析したデータに基づいてシナリオを生成し、生成したシナリオを入力データとして前記アプリケーションを実行する。 （もっと読む）

テストされるシステムの少なくとも一部をテスト・アクセス・ポート（ＴＡＰ）を介してテストする際に使用される装置を提供する。この装置は、テスト命令セット・アーキテクチャの命令のセットを格納するメモリと、テストされるシステムの少なくとも一部をＴＡＰを介してテストするためにテスト命令セット・アーキテクチャの命令のセットを実行するプロセッサとを含む。テスト命令セット・アーキテクチャの命令のセットは、プロセッサによってサポートされる命令セット・アーキテクチャ（ＩＳＡ）の複数の命令を含む命令の第１セットと、ＴＡＰに関連する複数のテスト命令を含む命令の第２セットとを含む。命令の第１セットの命令および命令の第２セットの命令は、テスト命令セット・アーキテクチャの命令のセットを形成するために統合される。
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テストされるシステムにアクセスするように構成されたテスト・アクセス・ポート（ＴＡＰ）を介するテストされるシステムの少なくとも一部のテスティングを実行する装置が提供される。この装置は、ＴＡＰを介するテストされるシステムの少なくとも一部のテスティングを制御するように適合された命令を実行する第１プロセッサと、ＴＡＰへのインターフェースをサポートする第２プロセッサとを含む。第１プロセッサは、テスト命令の実行中に、ＴＡＰの制御に関連するＴＡＰ関連命令を検出し、ＴＡＰ関連命令を第２プロセッサに向かって伝搬させるように構成される。第２プロセッサは、第１プロセッサによって検出されたＴＡＰ関連命令を受け取り、ＴＡＰ関連命令を処理するように構成される。第１プロセッサは、第２プロセッサによるＴＡＰ関連命令の処理と同時に少なくとも１つのタスクを実行するように構成される。関連する方法も提供される。
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テストされるシステムのスキャン・チェーンを介してテストされるシステムの一部をテストする方法が提供される。この方法は、スキャン・チェーンを複数のセグメントに分解するステップと、テストされるシステムの一部をテストする命令のセットを生成するステップと、テストされるシステムの一部をテストするために命令のセットを実行するステップとを含む。スキャン・チェーンは、複数の要素からなり、各セグメントは、スキャン・チェーンの要素のうちの少なくとも１つを含む。命令のセットは、命令セット・アーキテクチャ（ＩＳＡ）に関連する複数のプロセッサ命令および複数のテスト命令を含む。テスト命令は、スキャン・チェーンの複数のセグメントのそれぞれについて、セグメントに対して実行されるべき少なくとも１つのスキャン動作を含む。関連する装置も提供される。
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【課題】必要なデータの不足を検出して、検出結果に基づいてモデル検査を実施するための入力データを作成する環境生成支援装置、環境生成支援方法、環境生成支援プログラムを提供する。
【解決手段】プロパティテーブルから、時相論理式で記述されたプロパティを取得し、線形時相論理式Ｇ（ａｋ−＞Ｆ（ｂｋ））からａｋを抽出して時相演算子Ｆと反転論理ｎｏｔによりａｋをｎｏｔ（Ｆ ａｋ）に変換するプロパティ変換処理と、モデル検査器に、プレモデル検査用プロパティを入力し、モデル検査器がモデル検査を実施したのち実行結果を取得するモデル検査器インタフェース処理と、実行結果に示されるプレモデル検査用プロパティに沿わない結果と、事前条件とを比較して事前条件を満たしているかを判定し、判定結果を出力装置に出力する入力データ真偽判定処理と、を実行する。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩテスタを用いたテストプログラムのデバッグにおいて、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮できるようにする。
【解決手段】テストプログラム自動作成ツール（１０）に、テストに応じて使用するピンのグループ（設定ピングループ）をピンラインナップと対応させて定義する機能を持たせ、テスタ（２０）にはテストプログラムの実行時にデバッグ中のテストに合わせたピンラインナップを自動的に選択する機能（２３，２４）を持たせるようにした。 （もっと読む）

【課題】遅延を発生させることなく、高精度なテスト用クロックを提供すること。
【解決手段】テスト回路設計装置１００では、テスト対象回路１１０の中からテスト対象ＦＦ１１１が指定されると、ネットリスト１０１を参照して、入力端子（クロック入力端子およびクロック制御信号入力端子）からテスト対象ＦＦ１１１までの間に構成されている論理回路を、テスト対象回路１１０に入力される各クロック（ここでは、クロックＡ，Ｂ）の中から選択されたクロックをテストクロックとしてテスト対象ＦＦ１１１に入力する機構を備えた回路であるテスト用論理回路に修正したテスト対象回路１２０を構成する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、操作画面の表示を伴うアプリケーションプログラムを対象とした操作シナリオの作成作業を省力化でき、負荷試験の作業効率を向上できるシナリオ生成システムを提供することを課題とする。
【解決手段】操作対象オブジェクト範囲抽出部３０３により抽出された操作対象オブジェクト画像情報３０１が一意に決定できない抽出範囲にある際に、抽出範囲を変更させて、一意に決定できる操作対象オブジェクト画像情報３０１を得る処理ルーチン（フィードバックルーチン）を備えている。フィードバックルーチンは、操作対象オブジェクト画像情報３０１→マッチング判定部３０５→形状・サイズ変化部３０４→操作対象オブジェクト範囲抽出部３０３により実現される。 （もっと読む）