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Fターム[5C038EF07]の内容

計測用電子管 (3,290) | 試料の導入保持等 (172) | 試料の導入手段 (85) | 導入棒、プローブ (5)

Fターム[5C038EF07]に分類される特許

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【課題】 本発明により、高感度でかつフラグメンテーションの少ないイオン化をハイスループットで行うことができる。
【解決手段】 試料を配置させる試料配置部材と、試料配置部材の導入口と試料イオンを発生させるイオン源とを備えたイオン化室と、試料イオンの分析をする質量分析部を有する真空チャンバーと、イオン化室と真空チャンバーとの間に設けられた開閉機構とを有し、開閉機構は、イオン化室内に試料配置部材が導入された後、閉から開への状態に制御されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】試料を安定して保持することができる分析装置を提供する。
【解決手段】本体と、試料を載置する載置面を有し、当該載置面を前記本体外部に露出させる第1の位置と、当該載置面を前記本体内に収容する第2の位置とを通る軌道において往復移動可能に前記本体に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ、前記本体と係合して前記スライダを係止させる係合部材と、を備え、前記係合部材は、前記スライダに沿って突出する突出部を有し、前記係合の解除に伴い前記突出部が前記載置面を覆うことを許容するとともに、前記係合に伴い前記突出部による前記載置面の覆いを解除することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】質量分析計へのサンプル導入のための方法、特に、サンプルを質量分析計へと大気圧で急速に導入できる“開放型プローブ”方法を提供すること。
【解決手段】質量分析計へのサンプル導入のための開放型プローブ方法であって、分析されるべきサンプル化合物をサンプルホルダに取り込むステップ(工程)と、プローブ炉を加熱するステップと、前記サンプルホルダ内の前記サンプル化合物を前記加熱されたプローブ炉内へ導入するステップと、前記加熱されたプローブ炉内へ不活性ガスを流すステップと、炉温度および不活性ガス流の複合効果により前記加熱されたプローブ炉内で前記サンプルを気化させるステップと、前記気化されたサンプルを前記不活性ガス中に混入させるステップと、不活性ガス中の前記気化されたサンプルを質量分析計のイオン源へと移送するステップとを含み、サンプル導入中および分析中に前記加熱されたプローブ炉が環境大気へと開放されたままであり、また、前記不活性ガスが、質量分析計イオン源へ及び炉開口へと移送ラインの2つの方向で前記加熱されたプローブ炉内を流れ、不活性ガス中の前記気化されたサンプルが、加熱移送ラインを介して、質量分析計のイオン源のイオン化チャンバ内へと直接に移送される、方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 試料が破壊されることなくスムーズな元素の離脱を可能とし、試料中の3次元的原子分布を容易且つ正確に再構成することができる。
【解決手段】 3DAPにおいて、試料11の元素の電界蒸発をアシストするための吸着ガスをチャンバー1内に導入する吸着ガス導入機構6が設けられる。吸着ガスとしては、試料11の元素に吸着し易い(吸着率の高い)ガス種、例えば窒素ガスが選ばれる。 (もっと読む)


【解決手段】液体試料中の低濃度の検体を特定する方法及び装置を提供する。液体試料は、連続流動膜入口システムを介して導入される。膜を透過する検体は、光イオン化飛行時間型質量分析によって分析される。膜を透過しない液体試料中に残る検体は、液体試料及び他の検体を小滴として光イオン化領域へ導入する毛細管入口へ導かれる。膜上に吸収又は吸着されて残る検体は、熱を加えることで、膜を通過させる。検体は、共鳴多光子イオン化(REMPI)又は単光子イオン化(SPI)によって分析してよく、その両方を装置で提供し、代替ソースとして選択可能である。 (もっと読む)


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