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Fターム[5F003BN07]の内容

バイポーラトランジスタ (11,930) | 動作 (157) | トンネルトランジスタ (8)

Fターム[5F003BN07]に分類される特許

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【課題】カーボンによるバンドギャップ・エンジニアリングを可能とし、カーボン原子に基づく多彩なエレクトロニクスを達成して、信頼性の高い電子装置を実現する。
【解決手段】電子装置は、単層のグラフェン膜1と、グラフェン膜1上の両端に設けられた一対の電極2,3とを有しており、グラフェン膜1では、電極2,3間の領域において、中央部位のBC間が複数のアンチドット10が形成されてなる第1の領域1aとされており、第1の領域1aの両側におけるAB間及びCD間がアンチドットの形成されていない第2の領域1bとされている。 (もっと読む)


【課題】セルフアライメントにより容易に電極を形成することができる化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】エッチングストッパ層2の上方に、Sbを含み、所定の溶液に対するエッチング耐性がエッチングストッパ層2よりも低いSb含有層3bを形成し、Sb含有化合物半導体層3b上に、Asを含み、前記所定の溶液に対するエッチング耐性がエッチングストッパ層2よりも低いAs含有層3cを形成する。そして、前記所定の溶液を用いて、導電膜4をエッチングマスクとし、Sb含有層3b及びAs含有層3cをメサ状にウェットエッチングし、平面視でSb含有層3b及びAs含有層3cから離間した位置において化合物半導体層1の上方に導電膜5aを形成する。 (もっと読む)


【課題】大きなトンネル電流が流れ、かつ接合抵抗の制御性のよいトンネル素子およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、GaAsを含む半導体膜10と、半導体膜10上に設けられた酸化ガリウム膜20と、酸化ガリウム膜20上に設けられた導電性膜30と、を具備し、酸化ガリウム膜20は、半導体膜10および導電性膜30の一方から他方にトンネル電流が流れるトンネル絶縁膜であるトンネル素子およびその製造方法である。 (もっと読む)


【課題】
ナノテクノロジー、特にナノスケールでのエレクトロニクス用途に適したナノスケールワイヤ及び関連デバイスをを提供することを目的とする。
【解決手段】
少なくとも1012バイト/cm2の密度をもつメモリ素子のアレイを含み、
少なくともひとつのメモリ素子は、自立型バルクドープ半導体を含む物品を含み、該自立型バルクドープ半導体は、500ナノメートル未満の最小幅をもつ少なくとも一つの部分
を含む、
デバイスを使用する。 (もっと読む)


【課題】 縦型の薄膜電流注入型トランジスタにおいて、通常の空気雰囲気で高い電流増倍率と高い電流密度を安定して制御できるトランジスタ素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、第1電極と第2電極の間に第1半導体層、第3電極、第2半導体層を配し、前記第3電極から注入される電流によって前記第1電極から前記第2電極に流れる電流を制御するトランジスタ素子であって、前記第3電極が金属微粒子を構成要素として含む。また、前記第1半導体層が酸化亜鉛、前記第2半導体層が、酸化インジウム、酸化錫、酸化カドミミウムの少なくともいずれか1つを主成分とし、前記第1電極から前記第2電極に流れる電流が主として電子によるものである。 (もっと読む)


【目的】ペロブスカイト構造の酸化物層をキャリア走行領域とするペロブスカイト構造の酸化物層を有する酸化物素子の製造方法及び誘電体ベーストランジスタの製造方法に関し、酸化物層の表層の導電率を調整する工程を含むペロブスカイト構造の酸化物層を有する酸化物素子の製造方法及び誘電体ベーストランジスタの製造方法を提供すること。
【構成】電子用ドープ元素がドープされたペロブスカイト構造の第一の酸化物層17と正孔ドープ用元素がドープされたペロブスカイト構造の第二の酸化物層18を重ねて形成する工程と、熱処理によって前記電子ドープ用元素と前記正孔ドープ用元素を相互拡散させて第一の酸化物層17と前記第二の酸化物層18の少なくとも界面近傍の層のキャリアを変化させる工程とを含む。 (もっと読む)


本発明に係る半導体素子は、基板(101)と、基板(101)上に形成され、III−V族n型化合物半導体からなるエミッタ層(102)、ベース層(105)、及びコレクタ層(107)がこの順で積層されている半導体積層構造と、エミッタ層(102)とベース層(105)との間に配置される量子ドット障壁層(103)とを備え、量子ドット障壁層(103)は、複数の量子ドット(103c)と、量子ドット(103c)をエミッタ層側及びベース層側からそれぞれ挟む第1及び第2の障壁層(103a,103d)とを備え、各量子ドット(103c)は、ベース層(105)側に向けて凸である凸部を有しており、第2の障壁層(103d)におけるベース層(105)側の界面(d)と、ベース層(105)におけるコレクタ層側及びエミッタ層側の界面(d,d)とは、量子ドット(103c)の凸部に対応してコレクタ層(107)側に凸となるように湾曲する湾曲部(d12,d22,d23)を有している。
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ホットエレクトロン・トランジスタはエミッタ電極、ベース電極及びコレクタ電極と、エミッタ電極とベース電極との間に配置され、そこでの電子の輸送層として機能する第1のトンネル構造とを有する。第1のトンネル構造は、電子の輸送がトンネリングによる輸送を含むように、少なくとも第1のアモルファス絶縁体層、及び別の第2の絶縁体層を含む。トランジスタはさらに、ベース電極とコレクタ電極との間に配置された第2のトンネル構造を含む。第2のトンネル構造は電子の少なくとも一部の、ベース電極とコレクタ電極との間の、弾道輸送による輸送層として機能し、その結果、電子の一部はコレクタ電極で収集される。薄膜トランジスタ内の界面での電子反射を低減する関連方法もまた開示される。
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