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Fターム[5F045EK14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 加熱(照射)・温度制御 (3,568) | 加熱(照射)機構 (3,161) | ランプ加熱・光照射(光励起のための照射等) (643) | 基板支持部材に光を照射するもの (87)

Fターム[5F045EK14]に分類される特許

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【課題】GaN系半導体のエピタキシャル成長において、良質の結晶を得るための最適化されたガス組成や成長条件を実現することができる化学気相成長装置を提供する。
【解決手段】1つの円周上に配置された複数のサセプタ7と、サセプタ7に向けて反応ガスを供給するための複数のガス通路と、サセプタ7を加熱するための加熱手段とを有する化学気相成長装置において、加熱手段を、円環状の光源30と、光源30が発する光をサセプタに集光するための円環状の反射鏡32a、33aとから構成する。 (もっと読む)


【課題】 多元系金属酸化物膜を形成するに際して、含有元素の組成比や膜厚等の再現性を向上させることが可能な成膜方法を提供する。
【解決手段】 複数の有機金属原料を気化させて発生した有機金属原料ガスを真空引き可能になされた処理容器4内へ供給し、被処理体Wの表面に多元系金属酸化物膜を形成するようにした成膜方法において、前記被処理体に対する成膜処理を開始する直前に、前記処理容器4内にダミー被処理体を搬入して前記有機金属原料ガスを流すことにより少なくとも3回分相当のダミー成膜処理を行うようにする。これにより、多元系金属酸化物膜を形成するに際して、含有元素の組成比や膜厚等の再現性を向上させることが可能となる。 (もっと読む)


配線パターンやレジストパターンを直接基板上に描写する手段と、成膜やエッチングなどの気相プロセスを大気圧または大気圧近傍下で局地的に行なう手段を適用することにより、製造ラインの省スペース化、効率化、材料の利用効率の向上、さらには作製費用の削減を実現する。
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【課題】 加熱効率が良く、温度分布の均一性の良い、高精度で安価な基板保持具、このような基板保持具を用いた基板搬送方法及び成膜装置を提供する。
【解決手段】 被加熱基板1は被加熱基板1の外径より小さい径の開口部2aと被加熱基板1の外径より大きい径の段差部2bとを有する基板保持部材2の段差部2bに載置され、基板保持部材2は係止部3aを介して成膜装置(不図示)に整合される整合部材3により保持され、被加熱基板1は成膜装置の熱源10に対向して配置される。被加熱基板1の背面には均熱部材4が接触して載置される。整合部材3は基板保持部材2の外周を囲むように形成された壁部3wを有し、壁部3wは熱源10からの放射熱を包囲、反射して、基板保持具(基板保持部材2、整合部材3)から外部へ放出される放射熱を低減する。 (もっと読む)


【課題】 簡単な部材を追加するだけでサセプタの加熱量を調節することができ、サセプタを介して基板を均一に加熱することができる気相成長装置を提供する。
【解決手段】 気相原料が供給されるフローライナー11内にサセプタ12の表面に支持した基板13を配置し、サセプタの裏面に配置したヒーター15により前記サセプタを加熱し、サセプタを介して前記基板を設定温度に加熱するとともに、前記フローライナー内に気相原料を供給して基板上に薄膜を堆積させる気相成長装置において、前記サセプタと前記ヒーターとの間に、前記ヒーターから前記サセプタへの熱輻射を遮断するための熱量調節部材19を部分的に配置する。 (もっと読む)


コストアップを抑制しつつ良好な耐圧強度を発揮する耐圧構造体を提供する。ウエハWが配置される第一空間93と、ヒータ81、82が設置された第二空間94と、第一空間93と第二空間94とに仕切る仕切パネル95を備え、仕切パネル95は内部が中空の中空体96と、少なくとも第二空間94側の部分には固着しない状態で中空体96の中空部内に収容された耐圧支持体97とから構成され、中空体96の中空部は第一空間93の圧力よりも低圧に減圧されている。中空体96の第一空間93に接する上側壁96aにも上側壁96aを耐圧支持体97の上面に押接する力Fcが作用するので、中空体96は耐圧支持体97で補強され、仕切パネル95は所期の耐圧強度を発揮する。 (もっと読む)


【課題】 処理対象となる半導体ウェハ(基板)の面内温度分布の均一性が向上されるサセプタを用いた半導体製造装置を提供する。
【解決手段】 サセプタ22上面のウェハ保持エリア50において、ウェハWとウェハ加熱面52との間に所定距離の隙間を生じるようにウェハ支持部54でウェハWを支持する。さらに、ウェハ加熱面52上に、ウェハWとの隙間の距離が小さくなる凸部58を設ける。このとき、サセプタ22からウェハWへの加熱条件がウェハ保持エリア50の各部位での隙間の距離によって調整され、これによって、ウェハW面内での温度分布の均一性、及び成膜される膜厚分布の均一性を向上させることができる。 (もっと読む)


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