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Fターム[5F110NN72]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | その他の構成要素 (47,691) | 他の素子との融合 (7,695) | 容量素子 (5,316)

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【課題】斜め方向からの迷光が、薄膜トランジスタのチャネル部に入ることで光励起キャリアを発生させる場合がある。この現象は特に高輝度の光学系を用いる場合に顕著となり、画質の低下を招いているという課題がある。
【解決手段】ポリシリコンを用いた第1遮光層4を、酸化シリコン基板1と酸化シリコンを用いた第1絶縁層5との間に挟み、伝播減衰が大きい等価スラブ型導波路を形成し、迷光を当該等価スラブ型導波路に通す。等価スラブ型導波路のコア層となる第1遮光層4の層厚t(nm)を可視光最短波長として400(nm)の波長の光をカットオフできるようt≧316(nm)を用いることで第1遮光層4の側面から入射された迷光を減衰させることができる。 (もっと読む)


【課題】線状レーザビームの照射により結晶化される半導体膜の結晶粒の面方位を揃える。また、結晶粒の面方位が揃った結晶性半導体を高い歩留まりで作製する。
【解決手段】基板上に、下地の絶縁膜、半導体膜及びキャップ膜を形成する。連続発振レーザなどのレーザから発振されるレーザビームを非球面シリンドリカルレンズまたは屈折率分布レンズにより幅が5μm以下の線状のレーザビームに集光する。この線状レーザビームを照射して半導体膜を完全溶融させ、かつ線状レーザビームを走査することで、完全溶融した半導体膜をラテラル成長させる。線状ビームの幅が5μm以下と非常に細いため、液体状態となっている半導体の幅も狭くなり、液体状態の半導体に乱流が発生することが抑制される。このため、隣り合う結晶粒の成長方向が乱流で乱れることなく、均一化されるため、ラテラル成長した結晶粒の面方位を揃えることができる。 (もっと読む)


【課題】グローバル段差の生じる領域や回路配置等に依存しないフォトマスクによって、グローバル段差を平坦化するためのレジストパターンを露光、形成することが可能な電気光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】次の工程を含む製造方法によって電気光学装置を製造する。まず、基板10上に形成された画素回路素子層7a、周辺回路素子層7bの表面に第3層間絶縁膜43を形成する(a)。次に、第3層間絶縁膜43の表面を研磨し(b)、レジスト65を形成する(c)。次に、レジスト65の表面の段差dの2倍より小さな焦点深度を有する露光系を用いて、レジスト65の段差のうち上段に相当する高さに焦点を合わせてレジスト65にパターンを露光する(d)。続いて、パターンを現像して除去し、当該パターンの形成されたレジスト65をマスクに用いて第3層間絶縁膜43をエッチングする。その後、レジスト65を剥離する。 (もっと読む)


【課題】半導体層の上の領域を有効利用することができる、半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、半導体基板120と、半導体基板120の上に設けられた絶縁層130と、絶縁層130の上に設けられたSOI層140とからなるSOI基板110を含む。半導体基板120において、不純物拡散層122が設けられている。不純物拡散層122は、SOI層140の上に設けられた配線層162と電気的に接続されている。不純物拡散層122は、配線層または抵抗層として機能させることができる。 (もっと読む)


【課題】ベースコート層が除去されて露出したガラス基板22の表面に対し、ドライバ部50を確実に貼り合わせる。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、ガラス基板22からTEOS層32をエッチングして、SiN層31を部分的に露出させる第1エッチング工程と、第1エッチング工程とは別個独立に行われ、露出したSiN層31をウェットエッチングして、ガラス基板22を部分的に露出させる第2エッチング工程と、露出したガラス基板22に対し、ドライバ部50を貼り合わせる貼り合わせ工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】コンタクト部におけるITOの断切れの発生を抑制すること。
【解決手段】かさ上げ層7は、アレイ基板1とソース信号配線2との間に形成され、かさ上げ層7の周縁部の一部または全部の領域が、ソース信号配線2の端部からはみ出して形成される。かさ上げ層7がソース信号配線2の端部からはみ出したはみ出し部7aは、表面が緩やかに傾斜している。かさ上げ層7をソース信号配線2とアレイ基板1との間に形成することによって、ソース信号配線2の側面の逆テーパ状の窪みを原因とした、保護膜3のステップカバレッジの悪化を抑制する。ステップカバレッジが良好な保護膜3の上にITO4が形成されるため、ソース信号配線2の周縁部付近における、ITO4の断切れの発生を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】また、従来のCADツールによる半導体装置の設計図を用いる場合、インクジェット装置で形成できるパターンが限られるため、半導体装置の回路の中には、そのまま転用することができない回路も生じる恐れがある。
【解決手段】インクジェット装置で吐出して描くことの可能な基本パターンを複数用意し、それらを組み合わせて所望の集積回路のレイアウトを行う。得られたレイアウトを基にして露光マスクを形成する。露光マスクを用いて露光を行った後、現像して液滴の径よりも幅の細い露光領域にレジスト膜を残存させる。そして、被処理表面の露呈部分に対して撥液処理を行った後、レジスト膜上に材料液滴を滴下する。液滴吐出法により選択的に吐出を行い、ドット径よりも幅の細い配線を形成する。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタにリーク電流が発生するのを回避させた表示装置の提供。
【解決手段】基板上に、順次積層された、ゲート信号線、絶縁膜、半導体層、および導電体層を有し、
前記導電体層は、少なくとも、ドレイン信号線と接続される薄膜トランジスタのドレイン電極および画素電極と接続される前記薄膜トランジスタのソース電極を構成し、
前記半導体層は、平面的に観た場合、その側壁面が少なくとも前記ドレイン電極の端部において該端部の側壁面よりも内側に位置づけられたパターンを有して形成されている。 (もっと読む)


【課題】画素の積層構造の単純化を図りつつ、トランジスタのオン電流を増加させる。
【解決手段】電気光学装置は、半導体層1aよりも上層側に配置され、チャネル領域1a’に重なると共に走査線11aに電気的に接続された第1ゲート電極3aと、半導体層1aよりも下層側に配置され、チャネル領域1a’に重なると共に走査線11aに電気的に接続された第2ゲート電極3bとを有するTFT30と、第2ゲート電極3bと同層に配置されるデータ線6aとを備える。 (もっと読む)


【課題】平坦性の高い画素電極を形成することで高コントラストを得る、電気光学装置の製造方法を提供する。
【解決手段】支持基板60上に剥離層61を形成し、剥離層61上に光反射性を有する電極形成層62を形成する。そして、電極形成層62上に絶縁層15を設け、絶縁層15上に電極形成層62に導通する薄膜トランジスタ30を設ける。その後、電極形成層62及び薄膜トランジスタ30を含む積層体40から支持基板60を剥離し、電極形成層62を所定のパターン状に分割し、画素電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】構成要素による制限が少なく、自由度の高いトランジスタの製造方法を提供すること。
【解決手段】第1の基板11上に、少なくともゲート電極68を含むトランジスタ40の構成要素の一部を形成する工程と、第2の基板12上に、少なくとも半導体層52を含むトランジスタ40の構成要素の一部を形成する工程と、半導体層52の表面を酸化してゲート絶縁膜54を形成する工程と、第1の基板11と第2の基板12とを、ゲート電極68とゲート絶縁膜54とが対面するように貼り合わせる工程と、第1の基板11および第2の基板12の少なくとも一方を、当該基板上に形成されるトランジスタ40の構成要素から分離する工程と、を含むことを特徴とするトランジスタ40の製造方法。 (もっと読む)


【課題】チャネル長の長いトランジスタの高速駆動を実現するとともに、チャネル長の短いトランジスタにおける特性の変動を抑制した半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明による半導体装置(100)は、第1多結晶領域(P1)を有する第1半導体層(112)と、第1ゲート電極(114)とを含む第1トランジスタ(110)と、第2多結晶領域(P2)を有する第2半導体層(122)と、第2ゲート電極(124)とを含む第2トランジスタ(120)とを備える。第2チャネル領域(C2)のチャネル長は第1チャネル領域(C1)のチャネル長よりも短く、第2多結晶領域(P2)の平均結晶粒径は第1多結晶領域(P1)の平均結晶粒径よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】 半導体膜を用いた薄膜トランジスタを備えた表示装置において、初期故障が少なく薄膜トランジスタの小型化による高精細な表示が可能な表示装置を得ることを目的とする。
【解決手段】 多結晶半導体膜4の上層にゲート絶縁膜5を介してゲート電極6が形成されている薄膜トランジスタにおいて、多結晶半導体膜4とゲート電極6とが交差する領域における多結晶半導体膜4のパターン端部断面のテーパー角θ2が、それ以外の領域のテーパー角度θ1よりも低く形成されている。 (もっと読む)


【課題】不純物導入工程として、N型およびP型のうちのいずれか一方の不純物を導入する工程のみを行なうだけで光センサを形成することのできる光検出装置、およびこの光検出装置を備えた電気光学装置を提供すること。
【解決手段】光検出装置300のセンサ回路310において、主センサ310Aおよび副センサ310Bは、真性領域1xの両側に高濃度N型の第1の不純物導入領域1yおよび第2の不純物導入領域1zが形成された半導体膜1wと、真性領域1xに対して絶縁層4aを介して対向する透光性のバイアス印加用電極5aとを備え、薄膜トランジスタと同一構造を有している。バイアス印加用電極5aに薄膜トランジスタをオフとする方向の電圧を印加するとともに、第1の不純物導入領域1yと第2の不純物導入領域1zとの間に所定の電圧を印加すると、真性領域1xに光が入射した際、光電流が流れる。 (もっと読む)


【課題】活性層となる半導体薄膜の下層のゲート絶縁膜を厚膜化することなく、かつ工程手順を増加させることなく、当該ゲート絶縁膜中の膜中固定電荷および界面準位を低下させることが可能で、これにより信頼性の高いボトムゲート型TFTを得ることができる薄膜半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にゲート電極を形成し、ゲート電極を覆う状態で前記基板上に酸窒化シリコン膜を用いたゲート絶縁膜を形成する。ゲート絶縁膜上に半導体薄膜を成膜した後、酸素を含む酸化性雰囲気中での熱処理により、ゲート絶縁膜を構成する前記酸窒化シリコン膜における酸素欠損部に酸素を結合させることで改質する。この熱処理は、加圧された水蒸気雰囲気で行われる。また、この熱処理においては、半導体薄膜の表面層に熱酸化膜を成長させる。 (もっと読む)


【課題】製造工程を複雑にせずに、半導体装置の電子部品と配線との電気的接続の安定性を向上させる。
【解決手段】薄膜チップ製造基板30上に形成され、外部接続用電極部22を備えた薄膜チップ20を、薄膜チップ製造基板30上から半導体装置10の基板11上に移す転写工程と、外部接続用電極部22と基板11上の電極とを電気的に接続する配線60を形成する配線形成工程とを備え、基板11上に移された薄膜チップ20の外部接続用電極部22と基板11の間には空隙部70が設けられ、配線60は空隙部70に形成される。 (もっと読む)


【課題】製造工程を複雑にせずに、半導体装置の電子部品と配線との電気的接続の安定性を向上させる。
【解決手段】薄膜チップ製造基板30上に形成され、傾斜した側面を有する外部接続用電極部22を備えた薄膜チップ20を、傾斜した側面を露出させた状態で薄膜チップ製造基板30上から半導体装置10の基板11上に移し、傾斜した側面を含む経路上に液体金属を塗布することにより、薄膜チップ20の外部接続用電極部22と基板11上の電極とを電気的に接続する金属配線60を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の動作特性を向上させ、かつ、低消費電力化を図る。特に、オフ電流値が低く、バラツキの抑えられたTFTを得ることを課題とする。
【解決手段】シリコンの結晶化を助長する金属元素を用いて結晶化された第1のシリコン膜の金属元素をゲッタリングするために、希ガスを含み且つ非晶質構造を有する第2のシリコン膜を使用する。また、雰囲気を変えて2回レーザー照射を行う。2回目のレーザー照射は照射領域が不活性気体雰囲気となるようにして行うと第1のシリコン膜の平坦性が向上される。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタにおいて電極を信頼性よく形成できるようにした表示装置の製造方法の提供。
【解決手段】ゲート信号線、絶縁膜、半導体層、および導電体層の順次積層体を有する基板を用意し、
少なくとも薄膜トランジスタの形成領域において、そのドレイン電極およびソース電極であって、一方の電極が、平面的に観た場合、他方の電極の先端部を囲むようにして、一端側が開放され他端側に結合部を有するほぼU字状をなし、該結合部に前記他方の電極に対して反対側の辺に突出部が形成されたパターンからなるそれぞれの前記電極をフォトレジスト膜をマスクとして前記導電体層の選択エッチングによって形成する工程と、
前記フォトレジスト膜をそのままリフローさせて形成される変形フォトレジスト膜をマスクとして前記半導体層をエッチングする工程からなる。 (もっと読む)


【課題】 液晶表示装置の画質むらを容易に低減する。
【解決手段】 複数本の走査信号線と、複数本の映像信号線と、マトリクス状に配置された複数個のTFTおよび複数個の画素電極とを有する表示パネルを備える表示装置であって、ある1つのTFTが配置された領域における前記走査信号線の幅と、前記ある1つのTFTとは異なる別の1つのTFTが配置された領域における前記走査信号線の幅とが異なるときに、前記ある1つのTFTにおけるチャネル幅およびチャネル長と、前記別のTFTにおけるチャネル幅およびチャネル長とが概ね等しく、前記ある1つのTFTの前記ソース電極と前記走査信号線とが平面でみて重なる領域の面積と、前記別の1つのTFTの前記ソース電極と前記走査信号線とが平面でみて重なる領域の面積とが概ね等しい表示装置。 (もっと読む)


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