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Fターム[5F157DA71]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 安全性確保を目的とするもの (1,023) | 誤操作対策 (4)

Fターム[5F157DA71]に分類される特許

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【課題】異常により所定の処理が停止しても、リトライ処理を行うことで、ウェハ回収作業等の実施に起因する装置稼働率の低下を抑止できる基板処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】ウェハ1を搬送する搬送手段と、前記搬送手段を制御する制御手段を備えた基板処理装置であって、前記搬送手段が、前記基板を搬送中にエラーが発生して一時停止したときに、前記制御手段は、所定回数のリトライ処理を前記搬送手段に実施させても前記エラーが解消されない場合、前記搬送手段を待機状態(コマンド入力待ち状態)に移行させる。 (もっと読む)


【課題】誤った処理液が基板に供給されることを効果的に抑制する技術を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、ボトル70を設置するキャビネット60を備える。キャビネット60は、フレーム61により、Y軸方向に沿って複数の設置区画に区分されており、各設置区画には処理液を収容した収容容器70が設置される。また、設置区画には読取部81が埋設されており、ボトル70の底面には内容物に関するボトル情報を記憶したICタグシール82が貼付されている。基板処理装置100は、ボトル70が設置区画に設置された状態で、読取部81によりICタグシール82からボトル情報を読み取る。そして、基板処理装置100は、取得したボトル情報を、各設置区画に設置されるべきボトル70について、予め登録されている情報と照合することにより、設置されているボトル70の適否を判定する。 (もっと読む)


【課題】被処理基板が基板保持機構によって適切に保持されているかを誤検知することなく正確に判断することができ、製造コストを低く抑えることができ、さらに、処理中に被処理基板が破損したとしても直ちにその破損を検知することができる。
【解決手段】処理装置1は、ウエハWを保持する基板保持機構20と、ウエハWに処理液を供給する処理液供給機構30と、ウエハWを周縁外方から覆うとともに、基板保持機構20と一体となって回転可能な回転カップ61と、を備えている。基板保持機構20は、一端22aでウエハWを保持しているときには他端22bが上方位置に位置し、他方、一端22aでウエハWを保持していないときには他端22bが下方位置に位置する保持部材22を有している。当該保持部材22の他端22bの下方に、保持部材22の他端22bが下方位置に位置しているときに当該保持部材22の他端22bに接触可能な接触式センサー10が配置されている。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、インターロック機構の信頼性を向上させる。
【解決手段】除電部2は、メンテナンス用の開口部20aをもつチャンバ本体と前記開口部20aを開閉する蓋体21とを備えたチャンバ20を有し、このチャンバ20の内部に、基板に対して除電処理を施す軟X線式イオナイザ26を備える。この除電部2は、閉止位置にある蓋体21が開方向に操作されることにより作動する開閉スイッチと、この開閉スイッチの作動に基づき軟X線式イオナイザ26を強制的に停止させる制御装置とを備える。また、処理用チャンバ20の蓋体21には、当該蓋体21が前記閉止位置から開方向へ所定寸法以上変位するまで前記開口部20aを閉塞するためのリブ21bが設けられている。 (もっと読む)


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