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Fターム[5F173AP23]の内容

半導体レーザ (89,583) | 製造方法 (10,716) | 結晶成長 (4,198) | 下地形状(選択成長を除く) (409) | 下地が凹部・凸部・溝部を有するもの (120)

Fターム[5F173AP23]に分類される特許

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【課題】窓領域の形成による動作電流や導波損失の増加を抑制することができるとともに、製造歩留まりの良好な半導体レーザ素子、及び半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、量子井戸構造を有する活性層を含む半導体積層部を設けた半導体レーザ素子において、半導体積層部の上部にストライプ状の導波路を形成し、劈開により共振器端面を形成する。基板の主面に対して垂直上方からみた平面視において、共振器端面を形成するための劈開位置に沿う帯状の領域に、活性層の量子井戸構造よりもバンドギャップを広くした窓領域を形成するとともに、窓領域の一部を除去するための溝部を劈開位置に形成する。また、窓領域は、基板の主面と垂直な方向において、少なくとも活性層と同じ高さの位置に形成する。溝部は、基板の主面と平行であって導波路の長手方向と垂直な方向に導波路の端から離れるように形成する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の低下を抑制しながら、低コスト化に対応することが可能な窒化物系半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】窒化物系半導体レーザ素子は、n型GaN基板301と、n型GaN基板301上に形成された窒化物半導体層20と、窒化物半導体層20に形成され、所定方向に延びる導波路30と、導波路30と平行な一対の側端面と、窒化物半導体層20上に形成され、導波路30に電流を供給するためのp側パッド電極13と、窒化物系半導体レーザ素子の種類を判別するためのマーカ部320、330と、を備える。 (もっと読む)


【課題】低転位密度と良好な表面平坦性とを両立した、高効率な半導体発光素子、窒化物半導体層、及び、窒化物半導体層の形成方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、下地層と、第1半導体層と、発光層と、第2半導体層と、を備えた半導体発光素子が提供される。発光層は下地層と第1半導体層との間に設けられる。第2半導体層は下地層と発光層との間に設けられる。下地層は、第2半導体層の側の第1主面と、第1主面とは反対側の第2主面と、を有する。下地層は、第2主面に設けられ、凹部と側部と凸部とを有する凹凸を有する。凸部に繋がる転位の少なくともいずれかは、側部に繋がる。凸部に繋がる転位のうちで第1主面に到達する転位の割合は、凹部に繋がる転位のうちで第1主面に到達する転位の割合よりも低い。第1主面のうちで凹部と重なる領域に繋がる転位は、凹部に繋がる転位よりも少ない。 (もっと読む)


【課題】高効率の半導体素子及びウェーハを提供する。
【解決手段】実施形態によれば、下地層と、第1半導体層と、発光部と、第2半導体層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記下地層は、転位密度が5×10cm−2以下であり、窒化物半導体を含む。前記第1半導体層は、前記下地層の上に設けられ、窒化物半導体を含み第1導電形である。前記発光部は、前記第1半導体層の上に設けられ、複数の障壁層と、前記複数の障壁層どうしの間に設けられ、前記複数の障壁層のバンドギャップエネルギーよりも小さいバンドギャップエネルギーを有し、前記複数の障壁層の厚さよりも厚い井戸層と、を含む。前記第2半導体層は、前記発光部の上に設けられ、窒化物半導体を含み前記第1導電形とは異なる第2導電形である。 (もっと読む)


【課題】半導体素子の分割位置を高い精度で制御できる半導体発光素子の製造方法及び良好な共振器面が形成された半導体発光素子を提供する。
【解決手段】半導体ウエハWh1の一主面側に、凹溝40と交差するとともに、凹溝40よりも深い第1補助溝41を分割予定位置Xa上に形成し、凹溝40よりも浅い第2補助溝42を分割予定位置Xa上に形成した半導体ウエハWhを分割予定位置Xaで劈開する。 (もっと読む)


【課題】回折格子とその上に形成された半導体層の間に空洞が形成されることなく、その上面が平坦になるように再成長させることができる窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】基板11と窒化物半導体層とを備えた窒化物半導体レーザ素子であって、第1及び/又は第2窒化物半導体層12,14内に凹凸が形成され、凹凸が形成された半導体層上に、凹凸を埋める半導体層が形成され、凹凸が形成された半導体層は、基板の法線方向に延びる側面と、側面から連続してさらに下方向に延び側面よりも基板の法線方向に対する傾斜が大きい傾斜面と、傾斜面から延び基板表面に水平な底面とを有する凹部を備え、凹部深さが50〜300nmである窒化物半導体レーザ素子。 (もっと読む)


【課題】 光半導体素子及びその製造方法に関し、被り成長を伴わない構造でフリップチップボンディングに適した構造を実現する。
【解決手段】 半導体基板上に設けた第1導電型半導体層上に、少なくとも半導体活性層及び前記第1導電型とは逆導電型の第2導電型半導体層を順次積層した積層構造を含む第1メサストライプと、前記第1メサストライプの側面を埋め込む高抵抗半導体層とを備えた傾斜側面を有する第1テラス構造と、前記第1メサストライプと平行する独立で且つ前記第1メサストライプと同じ積層構造を有する第2メサストライプと、前記第2メサストライプの側面を埋め込む高抵抗半導体層とを備えた傾斜側面を有する第2テラス構造とを設け、前記第1テラス構造の平坦面に前記第1メサストライプの前記第2導電型半導体層に接続する第1電極と、前記第1テラス構造と前記第2テラス構造の間に露出する前記第1導電型半導体層に接続し前記第2テラス構造の平坦部まで延在する第2電極を設ける。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体積層体の結晶欠陥密度が低減可能な窒化物半導体の積層構造およびその製造方法並びに窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】窒化物半導体の積層構造は、基板10、第1バッファ層12、第1結晶層14、第2バッファ層16、第2結晶層20とを備える。基板10には、段差部10dが形成されている。第1バッファ層12は、InAlGaNを含み、段差下面10bと段差側面10cとを覆う。第1結晶層14は、前記第1バッファ層12の上に設けられ、InAlGaNを含み、前記基板10の上面10aよりも上方に設けられた上面14aを有する。第2バッファ層16は、InAlGaNを含み、前記第1結晶層14の前記上面14aと前記基板10の前記上面10aとを連続して覆う。第2結晶層20は、前記第2バッファ層16を覆い、InAlGaNを含み、前記第1の面20aを有する。 (もっと読む)


【課題】凹凸を有する基層上に均一な結晶を成長させる半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】凹凸が設けられた主面を有する基層の前記主面に窒化物半導体の結晶を成長させる工程を備えた半導体発光素子の製造方法であって、前記主面に、GaAl1−xN(0.1≦x<0.5)を含み、厚さが20ナノメートル以上50ナノメートル以下のバッファ層を、0.1マイクロメートル/時以下の速度で堆積し、前記バッファ層の上に、前記バッファ層の堆積における前記基層の温度よりも高い温度で、窒化物半導体を含む結晶を成長させることを特徴とする半導体発光素子の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】動作モード制御性に優れる半導体レーザの作製方法を提供する。
【解決手段】光の伝播方向において活性層領域Aと制御層領域Bとが交互に接続する半導体レーザの作製方法において、活性層領域Aの上側SCH層13又は制御層領域Bの上側SCH層17のうちいずれか一方の上層に半導体犠牲層18を形成し、活性層領域A及び制御層領域Bの表面に回折格子を形成し、活性層領域A及び制御層領域Bの上層に半導体犠牲層18と同一材料の半導体層20を形成する際、半導体犠牲層18の厚さを厚くして、活性層領域Aの回折格子の深さ又は制御層領域Bの回折格子の深さのうちいずれか一方を浅く形成する。 (もっと読む)


【課題】2次元フォトニック結晶層の上部層をエピタキシャル法により形成する方法であって、2次元フォトニック結晶層の共振器としての性能を低下させない2次元フォトニック結晶レーザの製造方法を提供する。
【解決手段】AlxGa1-xAs(0<x≦0.8)と同じ結晶構造を有する母材層252Aを作製する母材層作製工程と、母材層252A内に、平面形状の最大幅dが200nm以下であって、深さhと該最大幅dの比h/dが0.1以上1.2以下である空孔251Aを周期的に形成する空孔形成工程と、空孔251A内に、前記AlxGa1-xAsから成る異屈折率領域251をエピタキシャル法により形成する異屈折率領域形成工程と、異屈折率領域251が形成された母材層252Aの上に、AlyGa1-yAs(0≦y≦1)から成る層26を前記エピタキシャル法により作製するエピタキシャル層作製工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】活性層にダメージを与えることなく、動作電圧を低下させることを可能にする。
【解決手段】III−V族半導体からなるn型層と、前記n型層上に設けられたIII−V族半導体からなる活性層と、前記活性層上に設けられたIII−V族半導体からなるp型第1層と、前記p型第1層上に設けられたIII−V族半導体からなるp型コンタクト層と、前記p型第1層と前記p型コンタクト層との間に設けられて上面が凹凸形状を有し、p型不純物濃度が前記p型コンタクト層のp型不純物濃度より低い、少なくともInおよびAlを含むIII−V族半導体とを備えた凹凸層と、を備え、前記p型コンタクト層の上面は前記凹凸層の前記凹凸形状を受け継いだ凹凸形状を有する。 (もっと読む)


【課題】低コストで回折格子の結合定数κを不均一にすることができる光半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に第1の半導体層を形成する第1の半導体層形成工程と、前記第1の半導体層の表面において、導波路の形成されるレーザストライプ領域43及び前記レーザストライプ領域の両側に近接して形成されるダミー領域44に、凹凸パターンを形成する凹凸パターン形成工程と、前記凹凸パターンの形成された第1の半導体層の凹部に第2の半導体層をMOCVDにより形成する第2の半導体層形成工程と、前記第2の半導体層形成工程の後、前記第1の半導体層の凸部及び前記第2の半導体層上に第3の半導体層を形成する第3の半導体層形成工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 発光効率が高く信頼性の高い窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】本発明の実施の形態の窒化物半導体素子は、第1の主面上の面内方向に形成された複数の凸部1aと、隣接する前記凸部の間の凹部1bと、を有する基板1と、前記基板1の前記凹部1a及び前記凸部1b上に形成されたAlx1Ga1−x1N(0≦x1≦1)第1埋込層2と、前記第1埋込層2上に形成されたInAlGa1−y−zN(0<y≦1、0≦z≦1)埋込層3と、前記埋込層3上に形成されたAlx2Ga1−x2N(0≦x2≦1)第2埋込層4と、を備える。前記第1埋込層2の前記凹部1bの上に形成された部分と、前記第1埋込層2の前記凸部1aの上に形成された部分とは、互いに結合しない。前記埋込層3の前記凹部1bの上に形成された部分と、前記埋込層3の前記凸部1aの上に形成された部分とは、互いに結合している。 (もっと読む)


【課題】高出力で安定した半導体レーザアレイ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザアレイ100は、レーザ光の出射方向と平行に長尺な凹状の段差部101a、101b、101cを主面に有する基板101と、積層構造体と、段差部101a、101b、101cと平行に形成された複数の光導波路113a、113b、113cとを備え、複数の光導波路113a、113b、113cのうちの少なくとも1の光導波路の幅方向の中心から段差部101a、101b、101cの幅方向の中心までの距離は、複数の光導波路113a、113b、113cのうちの他の光導波路の幅方向の中心から段差部101a、101b、101cの幅方向の中心までの距離と異なる。 (もっと読む)


【課題】転位を少なくする半導体成長用基板および転位の少ない発光素子を提供する。
【解決手段】
本発明の発光素子は、 一方主面15Aから一部が突出するとともに、上面14a´を有する突起14aを複数備えた単結晶基板14と、
一方主面15Aの突起14aが配置されていない領域に設けられ、上部14a´が突起14aの上面14a´の高さ位置より高い位置にあるとともに、単結晶基板14と異なる材料からなる複数の構造体16と、単結晶基板14上に構造体16を被覆するように設けられた光半導体層13と、を有する。 (もっと読む)


【課題】発光効率を向上させた発光素子を提供する。
【解決手段】
本発明の発光素子は、結晶成長面を有する単結晶基板12であって、結晶成長面12は複数の凸部12aと、複数の凸部12a同士の間にそれぞれ設けられ、かつ複数の凸部12aから離隔する位置に設けられる凹部12bと、を備える単結晶基板12と、単結晶基板12上に設けられ、複数の凸部12aのうち、一対の互いに隣接する凸部12aと、当該一対の凸部12a同士の間に位置する凹部12bにおいて、凹部12bと一対の凸部12aとの間に位置する両結晶成長面から一対の凸部12a同士の間に向かって延びる複数の転位16を、一対の凸部12a同士の間で結合させた光半導体層13と、を有する。 (もっと読む)



【課題】結晶成長面内において均一な厚さを有するIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】本III族窒化物結晶の成長方法は、III族窒化物結晶基板10を準備する工程と、液相法によりIII族窒化物結晶基板10の主面10m上にIII族窒化物結晶20を複数回繰り返して成長させる工程と、を備え、結晶成長面20u内において均一な厚さを有するIII族窒化物結晶を成長させる。 (もっと読む)


【課題】無極性窒化物半導体基板上に成長された窒化物半導体積層体において、活性層の発光強度が劣化することなく、p型窒化物半導体層を低抵抗にすることができる窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の窒化物半導体発光素子の製造方法は、無極性窒化物半導体基板上に窒化物半導体層を複数積層した窒化物半導体積層体を形成する工程と、該窒化物半導体積層体をアニールする工程とを含み、該アニールする工程は、500度以上700度以下で行なうことを特徴とする。 (もっと読む)


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