説明

国際特許分類[G01Q70/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | SPMプローブの一般的観点またはその製造または関連する器具類で,グループG01Q60/00に包含される単一のSPM技術に特に適合していないもの (23)

国際特許分類[G01Q70/00]の下位に属する分類

プローブホルダー (4)
プローブチップアレイ
プローブの特性 (12)
プローブの製造 (5)

国際特許分類[G01Q70/00]に分類される特許

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【課題】 プローブ先端部を安価かつ容易に製造できるマイクロプローブを提供する。
【解決手段】 実施形態によれば、保護台、絶縁層、電極層がこの順番で第1の方向に配列したマイクロプローブが提供される。前記第1の方向とは異なる第2の方向に形成された前記マイクロプローブの主面において、少なくとも前記電極層に段差が形成され、この段差により前記電極層が第1の領域と第2の領域とに区画される。 (もっと読む)


【課題】近接場光やマイクロ波のような微小スケールのエネルギー源の空間分布を広い測定範囲、高空間分解能で観測することができるSPMプローブを提供する。
【解決手段】SPMカンチレバー1と、SPMカンチレバーの探針部に形成された熱抵抗2と、熱抵抗2の上に形成された絶縁膜3と、絶縁膜3の上に形成された微小スケールエネルギー源を熱に変換する1本の細線4とを備えた。 (もっと読む)


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