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国際特許分類[G01Q70/12]の内容

国際特許分類[G01Q70/12]に分類される特許

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【課題】探針の先端部にナノチューブが強固に結合された高品質なプローブを提供すること。
【解決手段】先端部が先鋭化された探針20と、該探針の先端部に、該探針の延在方向に沿って配向された状態で一端部側が付着されたナノチューブ23と、を備え、探針の先端部には、該探針とは異なる材料からなる結合体30が形成され、ナノチューブが、該ナノチューブ及び結合体に対してそれぞれ親和性を有する選択的結合性物質31を介して探針に対してさらに化学的結合されているプローブ3を提供する。 (もっと読む)


【課題】近接場光顕微鏡において、高分解能と高感度を両立させ、数ナノメートルの微小な試料の観察を可能とするプローブ及びそれを用いた近接場光顕微鏡を提供すること。
【解決手段】数ナノメートルサイズの試料に付随した光を波長より充分近傍で採光することを目的とする、プラズマ振動数が近赤外域〜可視域にある金属または金属に類する材質の細線を二本平行に並べ先端を揃えたものであり、他端はダイポールアンテナ状に開き、光ファイバーや光導波路へ接続する近接場光顕微鏡用プローブ。 (もっと読む)


【課題】磁性膜が付加された探針の外にさらに保護膜を成膜することにより高耐久性の磁気力顕微鏡用カンチレバーを製造することにある。
【解決手段】磁気力顕微鏡用カンチレバーの製造方法において、磁気力顕微鏡用カンチレバー1の先端の探針401に磁性膜2を成膜し、探針401の周囲に非磁性硬質保護膜3を成膜する際、非磁性硬質保護膜3を、磁気力顕微鏡用カンチレバー1の探針401の正面から角度(15°−45°)をつけて成膜し、磁気力顕微鏡用カンチレバー1の探針401の裏面から角度(15°−30°)の範囲で2方向から成膜する。 (もっと読む)


【課題】探針やサンプルの破損等を防止し、走査時間を短縮可能な、高分解能な表面性状測定装置を提供する。
【解決手段】探針とサンプルを、任意の測定点において近接または接触させて測定データを取得した後、それらを離間させると共に次の測定点に相対的に走査して、再び近接または接触させて測定データを取得する動作を繰り返しながら複数の測定点でサンプル表面の形状または物性を計測する表面性状測定装置の走査方法において、探針4とサンプル11を走査したときにサンプル上の凸部11aに対峙する探針の側面4gを探針先端を通るサンプル表面への垂線20に対して探針先端4aから探針末端4hに掛けてサンプル上の凸部方向に広がるように垂線20に対して任意の角度θで傾斜させ、測定点間の距離をΔx、探針とサンプルの離間量をΔhとした場合に、Δh>Δx/tanθの条件を満たすように探針4とサンプル11の離間量を設定した。 (もっと読む)


【課題】
開口プローブを用いた近接場走査顕微鏡では実用上数十nmの開口形成が限界であり、
また散乱プローブ用いた近接場走査顕微鏡では外部照明光が背景雑音となり、数十ナノメ
ートルが分解能の限界であった。またプローブの損傷や磨耗により測定再現性が著しく低
かった。
【解決手段】
ナノメートルオーダの円筒形構造とナノメートルオーダの微小粒子を組み合わせて、ナ
ノメートルオーダの光学分機能を有するプラズモン増強近接場プローブを構成し、試料上
の各測定点で低接触力での接近・退避を繰り返すことにより、プローブと試料の双方にダ
メージを与えることなく、ナノメートルオーダの分解能でかつ高い再現性で、試料表面の
光学情報及び凹凸情報を測定する。 (もっと読む)


【課題】近接場光やマイクロ波のような微小スケールのエネルギー源の空間分布を広い測定範囲、高空間分解能で観測することができるSPMプローブを提供する。
【解決手段】SPMカンチレバー1と、SPMカンチレバーの探針部に形成された熱抵抗2と、熱抵抗2の上に形成された絶縁膜3と、絶縁膜3の上に形成された微小スケールエネルギー源を熱に変換する1本の細線4とを備えた。 (もっと読む)


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