【目的】 継電器のヒステリシス現象に影響されることなく動作点と復帰点を正確に求める。
【構成】 試験対象となる継電器に整定値を設定し（Ｓ１）、段階的又は連続的に変化する試験信号を継電器に印加し、最初に継電器の動作信号をキャッチしたときの第１動作点を継電器の復帰点とし（Ｓ２）、この後に試験信号の変化量を１／２にして動作信号のキャッチで継電器の第２動作点を求め（Ｓ３）、さらに変化量を１／５にした測定で第２動作点を更新し（Ｓ４，Ｓ５）、さらに変化量１／１０にした測定で第２動作点を更新し（Ｓ６，Ｓ７）、動作信号が連続してキャッチされるときの第２動作点を継電器の完全動作点として求める（Ｓ８，Ｓ９）。 （もっと読む）

【目的】 金属きょう体の電流湧き出し口を簡便に探し出すことのできる電流プローブを提供する。
【構成】 内部に同心円の空洞（２）を設けた金属円筒において、空洞（２）の内部に磁界センサ（４）を配置し、一方の端面に空洞（２）へ貫通する同心円の円周状のスリット（１）を設け、スリット（１）を設けた端面を電気的絶縁シート（３）で覆ったことを特徴とする電流プローブで、スリット（１）が作る円の内部に流入する電流密度とこの円周から流出する電流密度の差がプローブの出力となっているため、電流湧き出し口を簡便に探し出すことができる。 （もっと読む）

【目的】 テスト時間を短縮できる半導体テスト装置を提供する。
【構成】 出力電圧値を測定したデータを、出力端子番号順に測定データ格納用ＲＡＭ２に格納し、一階調の出力データがそろうと、一階調分の出力データで最大値、最小値、平均値を算出する。そして、最大値、最小値、平均値を最大値格納部４、最小値格納部５、平均値格納部６に格納し、基準値との比較をする。そして、最大値、最小値、平均値を算出するのと並行して、別の階調の出力電圧を測定し、測定データ格納用ＲＡＭ２へ測定データを格納することができるので、テスト時間を短縮することができる。 （もっと読む）

【目的】 受け入れ検査における電子部品の照合間違いを防止できる電子部品検査システムを提供すること。
【構成】 部品袋に、収容されている電子部品の品名、タイプ、外形寸法及び電気的特性の定格値が記録されたバーコードラベルを貼り付けておく。電子部品の受け入れ検査時には、検査装置のバーコードリーダ３によって部品袋のバーコードラベルを読み取り、読み取った外形寸法及び電気的特性の定格値と、形状測定部１によって測定された電子部品の外形寸法及び電気特性測定部２によって測定された電子部品の電気的特性とを主制御部４によって比較し、この比較結果をＣＲＴ８に表示すると共に、プリンター９に印字出力する。
【効果】 受け入れ検査における電子部品の照合間違いを防止でき、不良製品の生産を未然に防げると共に、生産効率の向上を図ることができる。 （もっと読む）

【目的】 各種電子機器の測定において、複数の被測定器の測定を行なう場合に、被測定器の出力信号同士の接続による破損を防ぎ、効率的な測定を可能とする信号切換え装置を提供する。
【構成】 信号切換え装置内のリレー駆動回路において、リレードライバ１７の前段に、ＮＯＲゲート２０と、コンデンサ２２および抵抗２３が接続された単安定マルチバイブレータ２１とを備える。リレーがオンからオフに切り換わる時間に対し、オフからオンに切り換わる時間を長くすることにより、同時に複数のリレーがオンの状態になることを防ぎ、信号切換え装置に接続される被測定器の出力同士の接続を防ぐことができる。 （もっと読む）