たとえば２重集束を用いたＳＩＭＳタイプの色消し磁気質量分析計（２００）であって、２次の４つの収差を相殺する手段（２０２、２１２、２１５、２２１）および軸外色消し性を相殺し、質量の分散を調節する手段（２０１、２２２）を備えることを特徴とする色消し磁気質量分析計（２００）。
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【課題】液体クロマトグラフと接続した質量分析計のなどの場合、短時間に複数の試料成分が連続して質量分析計に導入されるため、内部標準試料の導入方法及び質量キャリブレーションが困難となる。本発明は、前記課題を解決することを目的とする。
【解決手段】本発明は上記目的を達成するために、試料中の目的成分を分離する分析手段として液体クロマグラフと分離された試料成分を順次イオン化し、該当成分のマススペクトルを連続して取得する手段の質量分析計とを組み合わせた質量分析方法によるイオンの精密質量数測定において、質量キャリブレーションを行うための既知質量数の内部標準試料を液体クロマトグラフの送液ポンプにて移動相溶媒を混合し、質量分析計に連続導入あるいはパルス導入により内部標準試料を導入し、内部標準試料由来のマススペクトルを参照し、内部標準法によって目的成分のマススペクトルの質量キャリブレーションを行う。 （もっと読む）

質量分析計のような分析機器であって、この機器は、制御可能な電磁場を有する磁気セクションを有する。この電磁場を制御することは、その磁気セクション内のベースプレートの温度を制御することにより、この磁気セクション内に配置されるコイルを通過する電流を制御することにより、磁気分路子を磁石のヨークの一部にわたって配置することにより、あるいは単独にまたは組合せて上記のもののいずれかにより達成される。磁気分路子は、この磁気セクション内に置かれた第１の対の永久磁石の、残留磁束密度の温度係数とは反対の残留磁束密度の温度係数を有するような構成である。
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質量分析計の焦点面検出器アセンブリは、この質量分析計の焦点面を横切るイオンを検出するような形態の検出器、およびこの焦点面に平行な平面に、この質量分析計の磁石を出るイオンが、上記イオン検出器と接触する前に上記メッシュを通過するように位置決めされるように横たわる電気伝導性メッシュを含む。このメッシュは、回路接地に対して低電圧電位で維持され、これは、マイクロチャネルプレート電子増倍管のようなその他のデバイスからの高電圧電荷から上記磁石を通過するイオンを遮蔽する。このメッシュは、上記磁石に直接取り付けられ得るか、またはいくらか離れた距離に位置決めされる。上記検出器のアレイは、ファラデーカップ検出器アレイ、ストリップ電荷検出器アレイ、またはＣＣＤ検出器アレイを含む、任意の適切なデバイスを含み得る。
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