【課題】休止の長期化や配管汚染の危惧を防止しつつ液体原料を補給可能とする基板処理装置を提供する。
【解決手段】液体原料８０を供給するためのタンク８１と、液体原料８０を気化させる気化器８３とを具備し、気化器８３が液体原料８０を気化させた気化ガスを処理室内に供給しウエハ上に成膜する基板処理装置において、タンク８１に、液体原料８０を補給するための補給容器９１と、タンク８１内を減圧する排気管９３とを接続し、補給容器９１内の圧力をタンク８１内の圧力よりも高くすることにより、液体原料８０を補給容器９１内からタンク８１内へ補給する。補給容器９１には洗浄液９５を貯蔵した洗浄液容器９６を接続する。交換作業は補給容器９１について実施すれば済むため、基板処理装置の休止の長期化や配管汚染の危惧を防止しつつ、液体原料を補給することができる。 （もっと読む）

【課題】互いに異なる金属膜厚からなるゲート電極を有するｎ型及びｐ型ＭＩＳトランジスタを備えた半導体装置において、ゲートリークによる劣化を抑制する。
【解決手段】半導体装置は、第１のＭＩＳトランジスタと第２のＭＩＳトランジスタとを備える。第１のＭＩＳトランジスタは、第１の活性領域１２ａ上に形成された第１のゲート絶縁膜１３ａと、第１のゲート絶縁膜１３ａ上に形成された第１の金属膜１４ａ、及び、第１の金属膜１４ａ上に形成された第１のシリコン膜１７ａを含む第１のゲート電極２４Ａとを備える。第２のＭＩＳトランジスタは、第２の活性領域１２ｂ上に形成された第２のゲート絶縁膜１３ｂと、第２のゲート絶縁膜上に形成された第１の金属膜１４ｂ、第１の金属膜１４ｂ上に形成された第２の金属膜１５ｂ、及び、第２の金属膜１５ｂの上に形成された第２のシリコン膜１７ｂを含む第２のゲート電極２４Ｂとを備えている。 （もっと読む）

【課題】溝の側面上における合金膜の膜剥がれの発生を防止することができる、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ＳｉおよびＯを含む絶縁材料からなる第２絶縁層６に、第２溝１１が形成され、第２溝１１と第１溝３とが対向する部分にビアホール１２が貫通形成された後、スパッタ法により、ＣｕＭｎ合金からなる合金膜１８が第２溝１１およびビアホール１２の側面および底面に被着される。そして、合金膜１８における第２溝１１の底面および第１配線５上に被着された部分が薄くされる。その後、合金膜１８上に、Ｃｕを主成分とする金属材料からなる第２配線１４が形成される。第２配線１４の形成後、熱処理により、第２配線と第２絶縁層６との間に、ＭｎＳｉＯからなる第２バリア膜１３が形成される。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、パターニング特性を備え、しかも比較的高い塗膜強度と比較的低い比誘電率を有し、さらには表面平坦性や耐クラック性などに優れたシリカ系塗膜を形成するための液状組成物からなるシリカ系塗膜形成用塗布液およびその調製方法に関する。
【解決手段】 パターニング特性を備えたシリカ系塗膜を形成するための液状組成物からなるシリカ系塗膜形成用塗布液であって、塩基性触媒成分を含有するシリカ系微粒子、特定の有機珪素化合物を加水分解して得られる珪素化合物および紫外線照射により酸を発生する酸発生剤を少なくとも含むシリカ系塗膜形成用塗布液および該シリカ系塗膜形成用塗布液の調製方法。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の製造方法において、絶縁膜の誘電率を低く維持すると共に、半導体装置の信頼性を高めること。
【解決手段】シリコン基板１の上方に層間絶縁膜２９を形成する工程と、層間絶縁膜２９に配線溝２９ａを形成する工程と、層間絶縁膜２９の上面と配線溝２９ａの中とに導電膜２７を形成する工程と、導電膜２７を研磨することにより、層間絶縁膜２９の上面から導電膜２７を除去すると共に、配線溝２９ａの中に導電膜２７を残す工程と、導電膜２７の表面を還元性プラズマに曝す工程と、導電膜２７の表面にシリサイド層３４を形成する工程と、シリサイド層３４の表面に窒化層３６を形成する工程と、炭素を含むガス又は液に層間絶縁膜２９の上面を曝す工程と、層間絶縁膜２９の上面に紫外線を照射する工程と、導電膜２７の上にバリア絶縁膜４０を形成する工程とを有する半導体装置の製造方法による。 （もっと読む）

【課題】ビアホール開口後の洗浄において、ウエハがチャージアップした場合に下層配線に電荷が励起され、ビアホール底部で酸化反応が生じることによる配線の通電不良を防ぐ。
【解決手段】電気的に機能する第１の配線１１１ａに隣接して、電気的に機能せず基板や他の配線から独立した第１のダミー配線１１２ａを形成し、チャージアップによって励起される電荷を第１の配線１１１ａと第１のダミー配線１１２ａに分散させる事により、配線上に形成されたビアホール２１３ａ底部での酸化反応によって生成されるＴｉ酸化物３０の量を減少させる。 （もっと読む）

【課題】層間絶縁層におけるコンタクトホールを形成した領域での膜残りを検出し、且つ層間絶縁層の膜残りの厚みを精度良く求める。
【解決手段】基板１１に半導体層１３及び半導体層１３よりも酸化され難い第１検査用金属層２７を形成し、半導体層１３及び第１検査用金属層２７を覆うように絶縁膜２０を形成した後、絶縁膜２０に半導体層１３及び第１検査用金属層２７をそれぞれ一部露出させるためのコンタクトホール２１ａ及び検査用コンタクトホール２１ｂを形成することで層間絶縁層２１を形成し、層間絶縁層２１にコンタクトホール２１ａ及び検査用コンタクトホール２１ｂの内部から表面にそれぞれ引き出された金属層２２及び第２検査用金属層２８を形成し、第１検査用金属層２７と第２検査用金属層２８との間の電気的特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】より簡易な工程（処理内容）を用いて、導電層表面にキャップ膜を形成することを可能とする。
【解決手段】 基板の上に層間絶縁膜を形成する工程と、前記層間絶縁膜中に開口部を形成する工程と、前記開口部とを充填する導電層を形成する工程と、前記導電層の表面にキャップ膜を形成する工程と、を含み、前記キャップ膜を形成する工程において、導電層の表面の還元処理と、膜形成とが同時に行われる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の電流駆動能力の向上および電流駆動能力の変動の抑制が図られた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板２００と、半導体基板２００の主表面に形成された溝部内に埋め込まれた素子分離絶縁膜１０４と、半導体基板２００の主表面上に形成されたゲート電極１２０と、ゲート電極１２０と隣り合う部分に形成されたソース領域１１１と、ゲート電極１２０と隔てて設けられたゲート電極１５０と、ゲート電極１５０と隣り合う部分に形成されたソース領域１４１と、ソース領域１１１，１４１を覆うように形成され、素子分離絶縁膜１０４が半導体基板２００に加える応力と反対方向の応力を半導体基板に加えるストレス絶縁膜１３０を備え、ゲート電極１２０の隣りに位置する部分は、ゲート電極１２０下に位置する部分よりも下方に位置し、ゲート電極１５０の隣りに位置する部分からゲート電極１５０下に達する部分は、実質的に面一とされる。 （もっと読む）

【課題】セルフアラインコンタクトを形成する際に、エクステンション領域及びソースドレイン領域におけるシリサイド化されていない部分とコンタクトとが接触することがない半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、ゲート電極１３の側壁の上から半導体基板１１の上に亘って形成されたＬ字サイドウォール１４と、層間絶縁膜２２と、Ｌ字サイドウォール１４に覆われたエクステンション領域１６と、一部がＬ字サイドウォール１４に覆われたソースドレイン領域１５と、ソースドレイン領域１５におけるＬ字サイドウォール１４に覆われていない部分に形成されたシリサイド層１７と、シリサイド層１７と接続されたコンタクト１７とを備えている。Ｌ字サイドウォール１４は、層間絶縁膜２２と比べてエッチングレートが小さい絶縁材料により形成されている。 （もっと読む）