国際特許分類[H01L29/78]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(31/00〜47/00,51/05が優先;半導体本体または電極以外の細部23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00 (54,759) | 半導体装置の型 (42,689) | 整流,増幅またはスイッチされる電流を流さない電極に電流のみまたは電位のみを与えることにより制御できるもの (37,192) | ユニポーラ装置 (34,588) | 電界効果トランジスタ (34,488) | 絶縁ゲートによって生じる電界効果を有するもの (29,475)
国際特許分類[H01L29/78]の下位に属する分類
薄膜トランジスタ (12,139)
浮遊ゲートを有するもの (4,374)
電荷トラッピングゲート絶縁体,例.MNOSメモリトランジスタ,を有するもの (4,374)
国際特許分類[H01L29/78]に分類される特許
8,581 - 8,588 / 8,588
高い表面破壊電圧を有する半導体素子
【目的】端子部を改良した半導体素子に関し、接合拡張部を減少させながら表面破壊電圧を上昇させた高電圧半導体素子を提供することである。
【構成】本発明の高電圧半導体素子は、表面破壊接合電圧を増加させるために、第1電界シールドプレート45を素子の表面上に形成し、電界を緩和している。さらに、第2電界シールドプレート48を素子の表面上に形成し、電界を分散し、接合部の幅を狭くしている。
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MOSトランジスタ及びその製造方法
【目的】 少ないマスク数でLDD構造のMOS型トランジスタを制御性良く実現し、かつドレイン接合容量の低減を図る。
【構成】 P型シリコン基板(1−a)上にP型ウェル(2)を形成後、フィールド絶縁膜(3)とチャネルストッパー(17)を形成する。その後第1酸化膜(4−a)と第2酸化膜(4−b)を堆積し、それらをパターニングする。そしてイオン注入によりチャネル注入領域(5)を形成する。チャネル注入領域(5)に対して自己整合的に逆テーパー型のゲート電極(8)が形成される。斜め回転イオン注入によりN−型LDD領域(10)が形成され、基板に対して垂直な方向からのイオン注入によりN+型ソース・ドレイン領域(11)が形成される。
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絶縁ゲート形電界効果トランジスタ
【目的】炭化珪素を用いた半導体デバイスにおいて、炭化珪素と結晶整合性のよい材料をデバイスの構成要素に使用することで、炭化珪素が有する物理的性能を効果的に引き出し、大電力変換容量を有し、かつ高速動作する高性能な半導体素子を実現すること。
【構成】高不純物濃度の炭化珪素あるいは電気的導電性に優れた炭化チタンを基板とし、ドレイン領域になるn形の炭化珪素層と,ウェル層になるp形の炭化珪素層と,ソース領域になるn形の炭化珪素層が順次重ねられた構造の絶縁ゲート形電界効果トランジスタにおいて、素子の表面からドレイン領域へ達するように掘り込まれた凹部にゲート電極を設け、さらにソース電極とp形のウェル層の電気的接続に炭化珪素と結晶整合性のよい炭化チタンを使用する。
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半導体装置
トランジスタおよびその製造方法
半導体装置の製造方法
半導体記憶装置およびその製造方法
超伝導トランジスタ
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