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国際特許分類[H01S5/327]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | PN接合からなるもの,例.ヘテロまたはダブルヘテロ構造 (897) | A↓I↓IB↓V↓I族化合物におけるもの,例.ZnCdSeレーザ (18)

国際特許分類[H01S5/327]に分類される特許

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【課題】トンネル接合を特性を劣化させずに、良好な発光特性を提供できる、垂直共振型面発光半導体レーザを作製する方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11の主面11a上に第1の分布ブラッグ反射器13を作製する。分布ブラッグ反射器(DBR)13上に、第1のn型スペーサ半導体層15、活性層17、及びp型スペーサ層19を成長する。次いで、原料ガス及び炭素ドーパントを成長炉10に供給しトンネル接合のためのp型高濃度半導体層21をp型スペーサ半導体層19上に成長する。p型高濃度半導体層21を成長した後に、p型高濃度半導体層21の熱処理25を行う。熱処理25を行った後に、原料ガス及びn型ドーパントを成長炉10に供給して、トンネル接合のためのn型高濃度半導体層27を成長する。熱処理温度TTHは摂氏500度〜600度の範囲である。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体基板の反りを低減する、または反りの方向を逆転させる。
【解決手段】窒化物半導体基板の加工方法であって、第1の主面11と第2の主面12を有し、第1の主面11側が凸に反った窒化物半導体基板1を準備する工程と、基板準備工程よりも反りを大きくした状態で基板1を固定し、第1の主面11の平坦化加工により、中心部の膜厚を外周部の膜厚よりも小さくする工程と、基板1の固定を解除する工程と、第2の主面12を研磨して基板1の中心部の膜厚と外周部の膜厚を略等しくする工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】n型クラッド層に要求される特性を有するn型クラッド層またはp型クラッド層に要求される特性を有するp型クラッド層を備えた半導体素子を提供する。
【解決手段】n型第1クラッド層12Aにおいて、n型キャリア密度をn型第2クラッド層12Bよりも高くし、かつ層厚をn型第2クラッド層12Bよりも厚くすることにより、n型クラッド層12全体のキャリア伝導性を確保する。n型第2クラッド層12Bにおいて、伝導帯サブレベル下端を活性層14よりも高くすることにより、キャリア閉じ込めに十分な電子障壁を確保し、さらにタイプII発光を抑制する。 (もっと読む)


【課題】タイプII発光を抑制することにより発光効率を向上させることの可能な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】n型クラッド層12(n型グレーデッド層13)と活性層16(ガイド層15)との間に、スペーサ層14が設けられている。スペーサ層14は、伝導帯下端がn型クラッド層12、n型グレーデッド層13、ガイド層15および活性層16の伝導帯下端よりも高い準位となるようなバンド構造を有しており、n型クラッド層12と活性層16とのタイプII発光を抑制するような材料および厚さにより構成されている。 (もっと読む)


【課題】内部量子効率の高い、信頼性に優れた発光素子を提供する。
【解決手段】ZnSeTeまたはBeZnSeTeからなる活性層15と、MgSe/BeZnSeTe超格子からなる第2ガイド層17との間に電子障壁層16を有する。電子障壁層16はMgBeZnSeTe単層、またはMgSe/BeZnTe超格子からなり、電子障壁層16の伝導体下端が活性層15の伝導帯下端よりも高い準位となるような組成比となっている。 (もっと読む)


【課題】キャリア濃度を高くすることが可能であり、かつ電気抵抗を低くすることの可能な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】n型クラッド層12は第1半導体層12Aと第2半導体層12Bとを交互に積層してなる超格子層となっている。第1半導体層12Aは、Teを含まないSe混晶を主に含んでおり、例えばBex1Mgx2Znx3Se混晶(0≦x1≦1,0≦x2≦1,0≦x3≦1,x1+x2+x3=1)を含んで構成されている。第2半導体層12Bは、Te混晶を主に含んでおり、例えばBex4Mgx5Znx6Te混晶(0≦x4≦1,0≦x5≦1,0≦x6≦1,x4+x5+x6=1)を含んで構成されている。 (もっと読む)


【課題】ZnO系半導体からなるアクセプタドープ層を含む積層体を形成する場合に、アクセプタ元素の濃度を低下させずに、アクセプタドープ層又はアクセプタドープ層以降の層の平坦性が悪くなるのを抑制することができるZnO系半導体素子を提供する。
【解決手段】ZnO基板1上にn型MgZnO層2、アンドープMgZnO層3、MQW活性層4、アンドープMgZnO層5、アクセプタドープMgZnO層6が順に積層されている。アクセプタドープMgZnO(0≦Y<1)層6は、アクセプタ元素を少なくとも1種類含んでおり、この層に接してアンドープMgZn1−XO(0<X<1)層5が形成されている。このため、アクセプタドープ層にアクセプタ元素を十分取り込むことができるとともに、アクセプタドープ層の表面平坦性は良くなる。 (もっと読む)


【課題】 ZnO系化合物半導体層のn型層とn側電極とのオーミックコンタクトを改良し、動作電圧を下げる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】 基板1上に設けられ、少なくともn型層4を有するZnO系化合物半導体の積層により発光層を形成する発光層形成部11を有するZnO系化合物半導体素子であって、ZnO系化合物半導体のn型層4に接触して設けられるn側電極9は、n型層4に接する部分がAlを含まないTiまたはCrにより形成されている。 (もっと読む)


【課題】 ZnO系酸化物半導体のウェットエッチング性を利用して、電流狭窄層を効果的に内部に埋め込んだ高特性の半導体レーザを提供する。
【解決手段】 電流注入により発光する活性層15よりバンドギャップが大きい材料からなり活性層15を両面から挟持するn型およびp型のクラッド層4、6とを有し、活性層15がCdx Zn1-x O(0≦x<1)からなり、クラッド層4、6がMgy Zn1-y O(0≦y<1)からなり、内部電流狭窄層17が作り込まれている。 (もっと読む)


【課題】高信頼性の期待されるInP基板に整合したBeを含むII―VI族化合物半導体で構成された半導体レーザの素子特性を向上する。
【解決手段】InP基板上にn型クラッド層、光ガイド層、活性層、光ガイド層およびp型クラッド層を有する構造とし、活性層はBeを含むII−VI族化合物半導体混晶より構成される層を有し、n型クラッド層、光ガイド層およびp型クラッド層の少なくとも1つの層に、活性層のBeを含むII−VI族化合物半導体混晶と同一の元素で構成される層を有するものとするとともに、この層は、活性層のII−VI族化合物半導体混晶のBeの組成と比べて組成の変動が±30%以内であるBeの組成の混晶を井戸層とする超格子構造によって構成する。 (もっと読む)


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