説明

ダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法

【課題】ダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の汚染対策ではサイクロンによる洗浄・分級が用いられることが多い。然しながら、サイクロンでの細粒分除去には限界があり、ダイオキシン類の初期濃度が高い場合には、環境基準以下まで処理することが難しい。
【解決手段】本発明のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法においては、ダイオキシン類の汚染物質が付着した汚染底質・土壌を湿式ふるいにかけスラリーを作成する工程と、上記スラリーをサイクロンに送り粗粒分と細粒分に分離する工程と、上記粗粒分をカラムに投入し、このカラムの下部から洗浄水を通水し上昇流を発生させ、上記粗粒分中に残留した細粒分・有機物を溢流せしめる工程と、及び上記カラムから汚染物質が除去された粗粒分を回収する工程とより成る。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法、特に、ダイオキシン類等の有害な汚染物質を含有する底質・土壌を洗浄・分級し、浄化し、回収処理する方法に関する。
【背景技術】
【0002】
ダイオキシン類等に汚染された底質・土壌の処理方法としては、埋立処分や熱処理を行う方法があるが、処理量が多い場合には、埋立処分場の容量が限られていることや、浄化設備が大掛かりになりコストが高くなること等から、処理量を減らす方法が求められている。
【0003】
泥水中の微細土粒子の洗浄回収方法としては特許文献1に示すものがある。
【特許文献1】特開2003−334595号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
一般に汚染物質は細粒分に付着している。このような特性を利用して、底質・土壌の汚染対策ではサイクロンによる洗浄・分級が用いられることが多い。然しながら、サイクロンでの細粒分除去には限界があり、ダイオキシン類の初期濃度が高い場合には、環境基準以下まで処理することが難しい。サイクロン処理後に環境基準を上回る場合には分級後の砂を清浄な資材として扱うことができない。
【0005】
本発明はこのような欠点を除くようにしたものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法は、ダイオキシン類の汚染物質が付着した汚染底質・土壌を湿式ふるいにかけスラリーを作成する工程と、上記スラリーをサイクロンに送り粗粒分と細粒分に分離する工程と、上記粗粒分をカラムに投入し、このカラムの下部から洗浄水を通水し上昇流を発生させ、上記粗粒分中に残留した細粒分・有機物を溢流せしめる工程と、及び上記カラムから汚染物質が除去された粗粒分を回収する工程とより成ることを特徴とする。
【0007】
上記洗浄水は、界面活性剤やマイクロバルブを含むことを特徴とする。
【0008】
また、本発明においては、上記上昇流の速度を上記細粒分の分離の割合に応じて定めることを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明によればダイオキシン類を含む細粒分や有機物を効率よく除去することができ、最終処分が必要な量を減少させることができる。また、分離回収されたダイオキシン類を含まない粗粒分は、非汚染の砂としてリサイクルすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
以下図面によって本発明の実施例を説明する。
【実施例1】
【0011】
本発明においては図1に示すようにダイオキシン類を含む汚染底質・土壌1を洗浄水2を加えて湿式ふるい(5〜10mm)3にかけ、スラリー4を作成する。作成したスラリー4をサイクロン5に送り、サイクロン5により粒径略75μm以上の粗粒分6と、汚染物質の付着しているとみられる粒径略75μm以下の細粒分7とに分離し、浄化・埋立処理する。
【0012】
本発明によって処理される底質のダイオキシン類分析例を表1に示す。
【0013】
【表1】

【0014】
上記サイクロン5によって分離された粗粒分6を、図2に示す例えば直径80cm、高さ130cmの円筒カラム8に投入し、カラム8の下部から洗浄水9を通水し例えば0.18cm/秒の速度で上昇流を発生させ、粗粒分6中に残留した細粒分と有機物10を回収し、浄化・埋立処理し、円筒カラム8から汚染物質が除去された粗粒分11を回収し、再利用に供する。
【0015】
上昇流発生のために使用する洗浄水9は、水道水、マクロバブルを含む水、界面活性剤やマイクロバルブを含む水等である。
【0016】
また、ダイオキシン類等は細粒分に付着しているため、初期試料・サイクロン処理後・上昇流分離後の細粒分の割合と各段階でのダイオキシン類濃度は相関関係が認められる。従って本発明においてはサイクロン処理後の汚染物質濃度をリアルタイムで測定し、カラム内の上昇流での処理条件に反映させる。汚染物質濃度の測定方法としては、簡易分析の活用や、汚染物質が細粒分に付着している特性を活かした細粒分の濃度・濁度などの指標がある。
【0017】
図3は各処理段階でのダイオキシン類濃度の変化を示す。(底質環境基準は150pg−TEQ/g 土壌環境基準は1000pg−TEQ/g)
【0018】
また、図4は各処理段階での粒度の変化を示す。上記カラム8としては円筒状や他の筒体、スパイラル筒等を使用できる。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】本発明のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法を示す処理フロー図である。
【図2】本発明のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法で用いるカラム内での処理説明である。
【図3】各処理段階でのダイオキシン類濃度の説明図である。
【図4】各処理段階での粒度の変化の説明図である。
【符号の説明】
【0020】
1 汚染底質・土壌
2 洗浄水
3 湿式ふるい
4 スラリー
5 サイクロン
6 粗粒分
7 細粒分
8 円筒カラム
9 洗浄水
10 有機物
11 粗粉分(非汚染)

【特許請求の範囲】
【請求項1】
ダイオキシン類の汚染物質が付着した汚染底質・土壌を湿式ふるいにかけスラリーを作成する工程と、
上記スラリーをサイクロンに送り粗粒分と細粒分に分離する工程と、
上記粗粒分をカラムに投入し、このカラムの下部から洗浄水を通水し上昇流を発生させ、上記粗粒分中に残留した細粒分・有機物を溢流せしめる工程と、及び
上記カラムから汚染物質が除去された粗粒分を回収する工程と
より成ることを特徴とするダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法。
【請求項2】
上記洗浄水が界面活性剤やマイクロバルブを含むことを特徴とする請求項1記載のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法。
【請求項3】
上記上昇流の速度を上記細粒分の分離の割合に応じて定めることを特徴とする請求項1または2記載のダイオキシン類によって汚染された底質・土壌の浄化方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2007−326073(P2007−326073A)
【公開日】平成19年12月20日(2007.12.20)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−160773(P2006−160773)
【出願日】平成18年6月9日(2006.6.9)
【出願人】(000166627)五洋建設株式会社 (364)
【Fターム(参考)】