説明

パルス整形回路

【課題】 伝搬ノイズや外来ノイズによる異常パルスがいかなるタイミングで発生しても、立ち上がりおよび立ち下がりを時間差無く検出し、波形を整形することを目的としている。
【解決手段】 入力信号の立ち上がり部分のマスク信号を発生する回路と、前記入力信号の立ち下がり部分のマスク信号を発生する回路と、前記入力信号の最初の立ち上がりをラッチし前記立ち下がり部分のマスク信号によりリセットされる回路と、前記入力信号の最初の立ち下がりをラッチし前期立ち上がり部分のマスク信号によりリセットされる回路を有し、前記立ち上がり部分のマスク信号と前記立ち下がり部分のマスク信号のマスク幅は整形するパルス幅と同等に設定できるようにしたパルス整形回路。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、伝搬ノイズや外来ノイズにより発生する異常パルスを整形するパルス整形回路に関するものである。
【背景技術】
【0002】
パルス整形は、半導体集積回路(LSI)への入力信号に重畳する伝搬ノイズや外来ノイズあるいはチャタリング等によるシステムの誤動作を防止するために必要とされている。従来のパルス整形回路としては、ローパスフィルタを使用したものや、入力信号をクロック信号に同期化するものや、マルチバイブレータのパルスによりマスクするもの等がある。
【0003】
例えば、特開平11−41075号公報(特許文献1)に示される波形整形回路は、入力信号をクロック信号に同期化するタイプのもので、フリップフロップ、カウンタ、クロック発信器等により構成され、クロック信号を用いてフリップフロップにおける出力信号をラッチするようにしている。これにより入力信号の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッギの波形整形は行っているが、クロック信号を用いてフリップフロップにおける出力信号をラッチするようにしているため、図8のタイミングチャートに示すように、デジタル信号1の最初の立ち上がりからデジタル信号25の立ち上がりまでの間と、デジタル信号1の正常波形の最初の立ち下がりからデジタル信号25の立ち下がりまでの間に時間差Td1、Td2が生じ、正常波形のパルス幅と整形波形のパルス幅に誤差が生じるという問題点がある。また、クロック発信器を必要とするため波形整形回路のコスト高の要因となっていた。
【0004】
また、特開平11−239045号公報(特許文献2)に示されるデジタル信号波形の整形回路は、マルチバイブレータのパルスによりマスクするタイプのもので、第1段のマルチバイブレータを用いて入力信号の最初の立ち上がりを検出し正極性パルス(マスク信号)を出力し、第2段のマルチバイブレータを用いてORゲートの出力信号の立ち下がりを検出し負極性パルス(マスク信号)を出力するようにしている。しかしながら、マルチバイブレータの持つ再トリガ機能のために、図9に示すように、第1段のマルチバイブレータが設定した時間幅T1の正極性パルス(マスク信号)の出力期間中に、ノイズによるパルスPnが発生して入力信号の正常パルスが一時途切れた場合、第1段のマルチバイブレータは正常パルス復帰時に再トリガされる。このため、マスク期間経過後も引き続き正極性パルス(マスク信号)を延長して出力し、第2段のマルチバイブレータはこの延長された信号の立ち下がりを検出するため、正常波形のパルス幅と整形波形のパルス幅に誤差が生じるという問題点がある。
【0005】
また、図10に示すように、第1段のマルチバイブレータが設定した時間幅T2の正極性パルス(マスク信号)のマスク期間経過後の正常パルス期間中にノイズによるパルスPnが発生して入力信号が一時途切れた形となった場合、ORゲートの出力信号も一時途切れた形となり、第2段のマルチバイブレータはこの立ち下がりを検出して負極性パルス(マスク信号)を出力するため、整形波形パルスに欠落を生じる。さらに、第1段のマルチバイブレータはノイズによるパルスPnから回復する際の立ち上がりを検出して再び正極性パルス(マスク信号)を出力し、第2段のマルチバイブレータはこの再び出力された信号の立ち下がりを検出するため、正常波形のパルス幅と整形波形のパルス幅に誤差が生じるという問題点がある。このように特許文献2のものは、入力信号が直接マルチバイブレータに入力されているため、マスク期間内のノイズによるパルスに対してはマルチバイブレータの再トリガ機能の影響を受け、マスク期間外のノイズによるパルスに対してはパルスの欠落およびマスク信号の再出力が発生し、整形波形に誤差が生じる原因となっていた。
【0006】
【特許文献1】特開平11−41075号公報
【特許文献2】特開平11−239045号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、伝搬ノイズや外来ノイズによる異常パルスがいかなるタイミングで発生しても、立ち上がりおよび立ち下がりを時間差無く検出し、波形を整形することができるパルス整形回路を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0008】
この発明になるパルス整形回路は、入力信号の立ち上がり部分のマスク信号を発生する第1のマスク信号発生回路と、前記入力信号の立ち下がり部分のマスク信号を発生する第2のマスク信号発生回路と、前記入力信号の最初の立ち上がりをラッチし前記第2のマスク信号発生回路の出力する立ち下り部分のマスク信号によりリセットされる第1のラッチ回路と、前記入力信号の最初の立ち下がりをラッチし前記第1のマスク信号発生回路の出力する立ち上がり部分のマスク信号によりリセットされる第2のラッチ回路を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
この発明の構成を採用することにより、正常パルスの途中でノイズが入っても、ラッチ信号がHレベルを維持するため、マスク信号に再トリガの問題が発生せず、立ち上がり及び立ち下がりを時間差なく検出して、正常波形のパルス幅と誤差のないパルス幅に整形することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
本発明の実施の形態について図1および図4に従って説明する。図1は本発明によるパルス整形回路の実施形態を示す回路図である。図4はパルス整形回路の実施形態の動作を示すタイミングチャートである。図1に示すように、本実施形態のパルス整形回路は、入力信号の立ち上がり部分に所定時間幅に設定された正極性パルス(以降、マスク信号と称す)を発生する第1のマスク信号発生回路B1と、入力信号の立ち下がり部分のマスク信号を発生する第2のマスク信号発生回路B2と、入力信号の最初の立ち上がりをラッチしマスク信号発生回路B2の出力する上記立ち下がり部分のマスク信号によりリセットされる第1のラッチ回路A1と、入力信号の立ち下がりをラッチしマスク信号発生回路B1の出力する上記立ち上がり部分のマスク信号によりリセットされる第2のラッチ回路A2と、入力信号を反転するNOTゲートN1と、上記マスク信号発生回路B1、B2に与えるリセット信号を発生するリセット回路RESETにより構成される。
【0011】
図2は上記ラッチ回路A1およびラッチ回路A2の機能表であり、図2に示すように、R端子に入力される信号がHレベルの場合はT端子に入力される信号状態に関わらずQ端子よりLレベルを出力し、R端子に入力される信号がLレベルの場合においてT端子に入力される信号が立ち上がるとQ端子よりHレベルを出力する機能を有し、実施の形態としては、74LS74に代表されるポジティブエッジトリガDタイプフリップフロップにより容易に実現できる。
【0012】
また、図3は上記マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2の機能表であり、図3に示すように、R端子に入力される信号がLレベルの場合においてB端子に入力される信号が立ち上がるとマスク信号をQ端子より出力し、B端子に入力された信号がHレベルの場合においてR端子に接続される信号が立ち下がるとマスク信号をQ端子より出力する機能を有し、実施の形態としては、74LS123に代表される直結リセット入力付きモノステーブルマルチバイブレータにより容易に実現できる。
【0013】
図1のパルス整形回路において、異常パルスPnを含む入力信号Siは第1のラッチ回路A1のT端子に接続される。第1のラッチ回路A1においてR端子に入力されるマスク信号SB2がLレベルであれば、入力信号Siの立ち上がりを検出してラッチ信号SA1はHレベルとなり、マスク信号SB2がLレベルの間は異常パルスが発生してもこの状態を保ち、マスク信号SB2がHレベルになるとラッチ信号SA1はLレベルとなる(図2参照)。
【0014】
第1のマスク信号発生回路B1は、リセット信号SR1がLレベルであればラッチ信号SA1の立ち上がりを検出することによりマスク信号SB1を出力する(図3参照)。
NOTゲートN1は、入力信号Siを入力し、入力反転信号Sniを出力する。
第2のラッチ回路A2においてR端子に入力されるマスク信号SB1がLレベルであれば入力反転信号Sniの立ち上がりを検出してラッチ信号SA2はHレベルとなり、マスク信号SB1がLレベルの間は異常パルスが発生してもこの状態を保ち、マスク信号SB1がHレベルになるとラッチ信号SA2はLレベルとなる(図2参照)。
【0015】
また、第2のマスク信号発生回路B2は、リセット信号SR2がLレベルであればラッチ信号SA2の立ち上がりを検出することによりマスク信号SB2を出力する(図3参照)。
図5は上記マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2に接続され、マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2の出力する正極性パルス(マスク信号)の時間幅を設定する電源電圧VCCとコンデンサCb、抵抗Rbを示す。
【0016】
つぎに、上記実施形態のパルス整形回路の動作を図1および図4を参照しながら説明する。図4は、入力信号Siと、出力信号So(ラッチ信号SA1)と、マスク信号SB1と、入力反転信号Sniと、出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)と、マスク信号SB2を示している。図4に示すように、図1に示した実施形態のパルス整形回路が定常状態において入力信号Siに異常パルスPnが発生した場合について考える。
ラッチ回路A1のR端子に入力されたマスク信号SB2がLレベルの場合、ラッチ回路A1のT端子に入力された入力信号Siの最初の立ち上がりで出力信号So(ラッチ信号SA1)はHレベルとなる。
【0017】
これに伴い、マスク信号発生回路B1のB端子に入力された出力信号So(ラッチ信号SA1)が立ち上がると、マスク信号発生回路B1はマスク信号SB1を出力する。
一方、ラッチ回路A2のR端子にマスク信号SB1が入力されるため、出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)はリセットされてHレベルからLレベルとなる。マスク信号SB1がLレベルとなった後、入力反転信号Sniに異常パルスがなければ出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)はLレベルをラッチする。
【0018】
マスク信号SB1がLレベルのため、ラッチ回路A2のT端子に入力される入力反転信号Sniの最初の立ち上がりで出力信号Sno(ラッチ信号SA2)はHレベルとなる。
マスク信号発生回路B2のB端子に入力された出力信号Sno(ラッチ信号SA2)が立ち上がると、マスク信号発生回路B2はマスク信号SB2を出力する。
ラッチ回路A1のR端子にマスク信号SB2が入力されるため、出力信号So(ラッチ信号SA1)はリセットされてHレベルからLレベルとなる。
【0019】
マスク信号SB2がLレベルとなった後、入力信号Siに異常パルスがなければ出力信号So(ラッチ信号SA1)はLレベルをラッチする。
その結果、出力信号So(ラッチ信号SA1)からは入力信号Siの異常パルスを整形した波形が出力され、出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)からは異常パルスを整形した波形の反転波形が出力される。
【0020】
以上のように、この発明の実施形態によれば、ラッチ信号SA1を出力信号Soとして出力することにより入力信号Siに含まれる異常ノイズを整形した波形を出力することができ、また、ラッチ信号SA2を出力信号Snoとして出力することにより入力信号Siに含まれる異常ノイズを整形した波形の反転出力とすることができる。
【0021】
次に、リセット回路RESETの機能について説明する。今、電源投入時等の初期状態において、ラッチ信号SA1およびラッチ信号SA2がHレベルの場合、入力信号Siが立ち上がってもラッチ信号SA1およびラッチ信号SA2はHレベルのままであり、立ち上がりを検出しないマスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2はマスク信号SB1およびマスク信号SB2を出力しないため、ラッチ回路A1およびラッチ回路A2はリセットされず、パルス整形回路はこう着状態に陥ってしまう。
【0022】
しかし、マスク信号発生回路B1のR端子に立ち下がりのリセット信号R1を入力し、マスク信号発生回路B2のR端子に立ち下がりのリセット信号R2を入力することにより、マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2はマスク信号を出力するため、ラッチ回路A1およびラッチ回路A2がリセットされてパルス整形回路を正常状態に復帰させることができる。なお、上記リセット信号はマスク信号発生回路B1のR端子のみ、あるいはマスク信号発生回路B2のR端子のみに接続してもパルス整形回路は正常状態に復帰することができ、以後は自走運転する。
【0023】
リセット信号R1およびリセット信号R2を出力するリセット回路RESETの一例を図6に示している。図6に示すようにリセット回路は、電源電圧VCC、コンデンサCr、抵抗Rr、NOTゲートN2から構成されている。簡単なリセット回路である電源電圧VCCをNOTゲートの入力としNOTゲートの出力をリセット信号とするリセット回路の場合、電源投入時において、マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2が動作電圧に達すまでに電源電圧VCCが立ち上がると、マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2が電源電圧VCCの立ち上がりを検出できないため、コンデンサCrと抵抗Rrを追加する。
【0024】
コンデンサCrと抵抗Rrを用いて一次遅れ回路を形成し、電源電圧VCCの立ち上がり傾斜を緩やかにした一次遅れ電圧V1を生成する。一次遅れ電圧V1がNOTゲートN2の閾値を超えるとNOTゲートN2は急峻に立ち下がる電圧V2を出力する。ここで、立ち上がり傾斜が緩やかな一次遅れ電圧V1によるNOTゲートN2におけるチャタリングを防止するために、NOTゲートN2はシュミットトリガ機能付きとしており、実施の形態としては、74LS14に代表されるシュミットトリガ機能付きインバータにより容易に実現できる。立ち下がり電圧V2をリセット信号R1およびリセット信号R2として出力することにより、波形回路をリセットし、正常状態に復帰することができる。
【0025】
つぎに、上記実施形態のパルス整形回路のリセット動作を図1および図7を参照しながら説明する。図7は、電源電圧VCCと、一次遅れ電圧V1と、立ち下がり電圧V2と、入力信号Siと、出力信号So(ラッチ信号SA1)と、マスク信号SB1と、出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)と、マスク信号SB2を示している。
初期状態において、電源電圧VCCは0V、出力信号So(ラッチ信号SA1)および出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)はHレベルとする。
【0026】
電源電圧VCCの立ち上がり時に電源電圧VCCがNOTゲートN2の動作電圧に達すと、NOTゲートN2はHレベルを出力する。同時に、電源電圧VCCがラッチ回路A1およびラッチ回路A2およびマスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2の動作電圧に達すが、入力信号Siが変化しても出力信号So(ラッチ信号SA1)および出力反転信号Sno(ラッチ信号SA2)がHレベルのままであるため、マスク信号発生回路B1およびマスク信号発生回路B2はマスク信号を出力せず、波形整形回路はこう着状態となる。
【0027】
電源電圧VCCの立ち上がり波形を、コンデンサCrと抵抗Rrの一次遅れ回路により傾斜の緩やかな一次遅れ電圧V1とする。一次遅れ電圧V1がNOTゲートN2の閾値を越えると、NOTゲートN2は急峻に立ち下がる電圧V2を出力する。立ち下がり電圧V2をリセット信号R1としてR端子に入力したマスク信号発生回路B1はマスク信号SB1を出力し、立ち下がり電圧V2をリセット信号R2としてR端子に入力したマスク信号発生回路B2はマスク信号SB2を出力する。
【0028】
マスク信号SB1をR端子に入力するラッチ回路A2はリセットされ出力信号Sno(ラッチ信号SA2)をLレベルとし、マスク信号SB2をR端子に入力するラッチ回路A1はリセットされ出力信号So(ラッチ信号SA1)をLレベルとする。
その結果、リセットが完了し、次の入力信号Siの立ち上がりでラッチ回路A1は出力信号So(ラッチ信号SA1)をHレベルとし、この立ち上がりによりマスク信号発生回路B1はマスク信号SB1を出力するため、回路は正常状態に復帰するものである。この構成により、電源投入時や誤動作時における回路の不安定状態時に回路をリセットし、正常状態に復帰させることができる。
【0029】
この発明になるパルス整形回路は上記のように構成したので、正常パルスの途中でノイズが入ってもラッチ信号がHレベルを維持するため、マスク信号に再トリガの問題が発生せず、立ち上がり及び立ち下がりを時間差なく検出して正常波形のパルス幅と誤差のないパルス幅に整形することができる。また、前記立ち上がり部分のマスク信号と前記立ち下がり部分のマスク信号のマスク幅は任意に調整することができ、整形する正常パルス幅と同等に設定することにより正常波形の立ち上がりおよび立ち上がり以外の部分もマスクすることができるため、いかなるタイミングで異常パルスが発生してもパルスを整形することができる。
【図面の簡単な説明】
【0030】
【図1】本発明の実施形態1によるパルス整形回路である。
【図2】本発明の実施形態1によるパルス整形回路におけるラッチ回路の機能表である。
【図3】本発明の実施形態1によるパルス整形回路におけるマスク信号発生回路の機能表である。
【図4】本発明の実施形態1によるパルス整形回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図5】本発明の実施形態1によるパルス整形回路におけるマスク幅を設定するコンデンサと抵抗の接続図である。
【図6】本発明の実施形態1によるパルス整形回路におけるリセット回路図である。
【図7】本発明の実施形態1によるパルス整形回路におけるリセット回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図8】従来の波形整形回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図9】従来のデジタル信号波形の整形回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図10】従来のデジタル信号波形の整形回路の動作を示す他のタイミングチャートである。
【符号の説明】
【0031】
Si 入力信号、 Sni 入力反転信号、 So 出力信号、
Sno 出力反転信号、 SA1 ラッチ信号、 SA2 ラッチ信号、
SB1 マスク信号、 SB2 マスク信号、 SR1 リセット信号、
SR2 リセット信号、 A1 ラッチ回路、 A2 ラッチ回路、
B1 マスク信号発生回路、 B2 マスク信号発生回路、
N1 NOTゲート、 RESET リセット回路、
Cb コンデンサ、 Rb 抵抗、 VCC 電源電圧、
Cr コンデンサ、 Rr 抵抗、 V1 一次遅れ電圧、
V2 立ち下がり電圧、 N2 NOTゲート、R1 リセット信号出力端子、
R2 リセット信号出力端子。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
入力信号の立ち上がり部分のマスク信号を発生する第1のマスク信号発生回路と、前記入力信号の立ち下がり部分のマスク信号を発生する第2のマスク信号発生回路と、前記入力信号の最初の立ち上がりをラッチし前記第2のマスク信号発生回路の出力する立ち下り部分のマスク信号によりリセットされる第1のラッチ回路と、前記入力信号の最初の立ち下がりをラッチし前記第1のマスク信号発生回路の出力する立ち上がり部分のマスク信号によりリセットされる第2のラッチ回路を有することを特徴とするパルス整形回路。
【請求項2】
前記立ち上がり部分のマスク信号と前記立ち下がり部分のマスク信号のマスク幅は整形するパルス幅に応じて調整することを特徴とする請求項1記載のパルス整形回路。
【請求項3】
前記立ち上がり部分のマスク信号と前記立ち下がり部分のマスク信号のマスク幅は整形するパルス幅と同等に設定したことを特徴とする請求項1記載のパルス整形回路。
【請求項4】
前記マスク信号を発生する第1及び第2のマスク信号発生回路にリセット信号を入力するリセット回路を有することを特徴とする請求項1記載のパルス整形回路。
【請求項5】
上記リセット回路は、コンデンサCrと抵抗Rrからなる一次遅れ回路と、上記一次遅れ回路にて生成される一次遅れ電圧V1の所定閾値を検出して急峻に立ち下がる電圧V2を出力するNOTゲートとから構成されることを特徴とする請求項4記載のパルス整形回路。
【請求項6】
前記第1及び第2のラッチ回路は、R端子に入力される信号がHレベルの場合はT端子に入力される信号状態に関わらずQ端子よりLレベルを出力し、R端子に入力される信号がLレベルの場合においてT端子に入力される信号が立ち上がるとQ端子よりHレベルを出力する機能を有するフリップフロップであることを特徴とする請求項1記載のパルス整形回路。
【請求項7】
前記第1及び第2のマスク信号発生回路は、R端子に入力される信号がLレベルの場合においてB端子に入力される信号が立ち上がるとマスク信号をQ端子より出力し、B端子に入力された信号がHレベルの場合においてR端子に接続される信号が立ち下がるとマスク信号をQ端子より出力する機能を有するマルチバイブレータであることを特徴とする請求項1記載のパルス整形回路。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【公開番号】特開2007−88730(P2007−88730A)
【公開日】平成19年4月5日(2007.4.5)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−273920(P2005−273920)
【出願日】平成17年9月21日(2005.9.21)
【出願人】(000006013)三菱電機株式会社 (33,312)
【Fターム(参考)】