不具合未然防止システム
【課題】不具合情報と製品実現プロセスとをリンクさせ，プロセス起因の不具合の発生低減を抑える仕組みを実現することを目的とする。
【解決手段】標準製品実現プロセス・標準監査質問１０３と、当該組織プロセス情報記録部１０４に読み込まれた当該組織プロセスにおける留意事項とを関連付け、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセス情報対応記録部１０５に記録する。当該組織プロセスにおける不具合情報１０６を、不具合情報同類語彙データベース１０７を用いて分類し、同類不具合情報を記録部１０８に記録する。計算部１１７において、同類不具合情報を予備監査質問に反映させて当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。製品開発のプロセス毎に監査質問を表示する。
【解決手段】標準製品実現プロセス・標準監査質問１０３と、当該組織プロセス情報記録部１０４に読み込まれた当該組織プロセスにおける留意事項とを関連付け、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセス情報対応記録部１０５に記録する。当該組織プロセスにおける不具合情報１０６を、不具合情報同類語彙データベース１０７を用いて分類し、同類不具合情報を記録部１０８に記録する。計算部１１７において、同類不具合情報を予備監査質問に反映させて当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。製品開発のプロセス毎に監査質問を表示する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品の開発プロセスにおいて、不具合を未然に防止する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
これまで，製品・サービスの不具合が起こった際，次期製品・サービスに対して，不具合から得た知見を活用するためのシステムの支援が弱いという問題があった。
【０００３】
このような問題に対して，過去の不具合情報を基にして，設計中の製品・サービスの設計不具合の発見を容易にする設計支援システム（例えば特許文献１参照）が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２４１８７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記先行技術で挙げた特許文献１に記載された発明は、部品や素材，製造工程中心の製品不具合要因分析支援のため，次期製品の仕様変更や製造工程設計に活用することができるものである。このように、次期製品の製品品質を向上させることが期待できる。
【０００６】
しかし，不具合要因に対して，製品実現プロセス情報が関連付けされていないので，プロセス起因の不具合、例えば、DRの指摘事項のクローズ漏れによる設計不具合、等を未然防止することが難しい。
【０００７】
本発明は、上記問題を解決するため，不具合情報（要因）とＩＳＯ９００１やＣＭＭＩ（Ｃａｐａｂｉｌｉｔｙ Ｍａｔｕｒｉｔｙ Ｍｏｄｅｌ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ）製品実現プロセスとをリンクさせ，プロセス起因の不具合の発生低減を抑える仕組みを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の不具合未然防止装置は、次のような構成をとる。すなわち、操作者が情報を入力する入力手段，計算装置から計算された出力をする出力手段，標準実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスとを形態素解析とクラスタ分析により関連付けし，不具合情報を形態素解析とクラスタ分析により同類区分しユーザに同類不具合監査質問を入力させ，設計者に対して標準監査質問と同類不具合監査質問をプロジェクトの進捗により当該プロセスに掲示し，レビュー者に対して設計者の監査質問に対する確認情報を提供する計算手段と，実行結果を記憶し、一元管理するデータベースとで構成である。
【発明の効果】
【０００９】
製品実現プロセスと不具合情報を関連付けすることができるので、過去に起きた不具合をプロセス上で未然に防ぐことができる。
また、予め標準製品実現プロセスと標準監査質問をシステム上に持っていて，監査対象の当該組織プロセス情報及び不具合情報を入力することにより，形態素分析・クラスタ分析で関連付けすることができ，監査対象組織に適合した監査質問ができるので，品質を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態における不具合未然防止装置の実現のための情報処理システム構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態における不具合未然防止装置のフローチャートを示す図である。
【図３】標準製品実現プロセスと当該組織プロセスをマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図４】当該組織プロセスのデータ構造を示す図である。
【図５】標準製品実現プロセスと当該組織プロセスをマッチングさせるフローチャートを示す図である。
【図６】当該組織プロセスと標準監査質問をマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図７】不具合情報のデータ構造を示す図である。
【図８】不具合情報の同類語彙のデータ構造を示す図である。
【図９】同類不具合監査質問を設定させる画面のイメージ図である。
【図１０】当該組織プロセスと標準監査質問，同類不具合監査質問をマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図１１】プロセス進捗に伴う設計者への標準/同類不具合監査質問を提示する画面のイメージ図である。
【図１２】プロセス進捗に伴うレビュー者への設計者の標準/同類不具合監査質問の確認状況を提示する画面のイメージ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の内容を、実施例を用いて詳細に説明する。
【実施例１】
【００１２】
図１は，本発明の一実施形態における不具合未然防止装置の実現のための情報処理システム構成を示す図である。本実施形態の不具合未然防止装置１００は，図１に示すように，プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置１１２と，監査質問掲示計算装置１１８と，データ記録装置１０２を備える。
【００１３】
データ記録装置１０２は，予め標準的な業務プロセスとその監査質問を記録している標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３と，監査をする対象企業の業務プロセスを記録している当該組織プロセス情報記録部１０４と，プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置からの出力にユーザが入力した情報を記録している標準製品実現プロセス・監査質問，当該組織プロセス情報対応記録部１０５と，予め監査をする対象企業の不具合情報を記録している当該組織不具合情報記録部１０６と，不具合情報を同類と判断する同類語彙情報を記録する不具合情報同類語彙データベース記録部１０７と，ユーザが入力する同類不具合監査質問を記録する同類不具合監査質問記録部１０８と，当該組織の製品実現プロジェクトの進捗情報を記録するプロジェクト進捗情報記録部１０９と，設計者が標準及び同類不具合監査質問をチェックしたかどうかを記録する設計者監査質問確認情報記録部１１０と，レビュー者が設計者の標準及び同類不具合監査質問の確認状況を確認した結果を記録するレビュー者監査質問確認情報記録部１１１とを備える。
【００１４】
プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置は，データ記録装置からの出力を用いて，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセス情報の対応を計算する標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応計算部１１３と，その計算結果を画面表示し入力できる，標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応選択部１１４とを備える。
【００１５】
監査質問掲示計算装置は，プロセス・監査質問・不具合情報対応装置での計算結果と，プロジェクト進捗情報を入力として，標準監査質問・同類不具合時間差質問監査情報掲示計算部１１９にて，対象プロジェクトの進捗にあわせて監査質問を掲示する。
【００１６】
以下に図１の矢印に沿って本発明の不具合未然防止装置の動作を説明する。図１において、標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３には、予め、図３に示すような、標準製品実現プロセスと各プロセスに対する標準監査質問が記録されている。一方、操作者入力装置１０１から図４に示すように、当該組織プロセスと各プロセスに対応する、インプット、アウトプットの項に示す留意事項を読み込み、当該組織プロセス上方記録部１０４に記録する。
【００１７】
標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３と当該組織プロセス情報記録部１０４のデータを用い、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応計算部１１３にて、図５に示す手法を用いて、図６に示すように、当該組織プロセスに対する標準監査質問を当てはめる。次に、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応選択部１１４において、図６に示す当該組織プロセスに当てはめた標準監査質問に追加、削除、修正等を行い、この結果を、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応記録部１０５に記録する。図６は当該組織プロセスにおけるいわば、予備監査質問である。次に示すステップを経て、当該組織プロセスにおける監査質問が完成する。
【００１８】
一方、操作者入力装置から、図７に示すような当該組織プロセスにおける不具合事象と発生プロセス等を、当該組織不具合情報記録部１０６に読み込み記録する。コンピュータには予め、図８に示すような、不具合情報同類語彙が不具合情報同類語彙データベース記録部１０７に格納されている。当該組織不具合情報記録部１０６のデータと不具合情報同類語彙データベース記録部１０７を用いて、同類不具合情報計算部１１６にて、同類不具合監査質問情報を計算し、これを同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納する。同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納される情報は図９に示すような情報である。
【００１９】
当該組織プロセス、標準監査質問、同類不具合監査質問情報対応計算部１１７において、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応記録部１０５に記録されたデータと、同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納されたデータとを発生プロセスをキーにして合わせ、図１０に示すような、当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。
【００２０】
このようにして完成した当該組織プロセス−監査質問の情報を、例えば、プロジェクト管理部からプロジェクトの進行状況に応じて標準監査質問・同類不具合監査質問情報経時計算部１１９において、出力する。この出力は、設計者監査質問確認情報記録部１１０において、図１１に示すような情報が表示される。プロセス毎に設計者は確認あるいはペンディングの確認ボタンを押すと、これが記録される。デザインレビューにおいて、レビュー者は、図１２のような画面において、監査質問にたいする処置がどの程度であるかを知ることが出来る。
【００２１】
図２は，本発明による不具合未然防止装置のフローチャートの一例を示す図である。図２に示されたフローチャートを参照しながら，本実施形態に係わる不具合未然防止装置を説明する。
【００２２】
まず，図２のＳＴＥＰ２００においては、予め記録されている標準製品実現プロセスと標準監査質問が定義されている。図３に標準製品実現プロセス−当該組織プロセスマッチング画面３００を示す。図３において、左の列は標準製品実現プロセスであり、中央の列は各プロセスに対応した標準監査質問であり、右側の列は、形態素解析によって作成した、関連するキーワードである。
【００２３】
図３の情報は予め記録されており、図３において、当該プロセス受付３０１を押すことによって、図４に示す当該組織プロセス情報４００を受け付ける。図４は例えば、ＩＳＯ９００１等で標準化されているフォーマットに則った当該組織プロセスにおける製品開発のフローである。図４において、左側の列には、当該組織プロセスにおける製品開発のフローが記載され、中央の列と右側の列には、各々インプット、アウトプットと称される、各フローにおける留意事項が記載されている。
【００２４】
図２のＳＴＥＰ２０１において，図３に取り込まれた図４の情報を用い、形態素解析とクラスタ分析によって，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスの関連付けを行う。
【００２５】
関連付けを行う手順を図５に示すフローチャートを参照しながら説明する。図５のＳＴＥＰ５００において，標準製品実現プロセスに付与してあるキーワードの文言と当該組織プロセスに付与してあるインプットとアウトプットの文言を，自然言語処理の一つである形態素解析によって単語，品詞といった語彙が意味を持つ最小の単位に分解する。記のキーワード，インプット，アウトプットには単語のみが登録されているため，一致させることは容易である。
【００２６】
次に，図５のＳＴＥＰ５０１において，ＳＴＥＰ５００にて分解した形態素のマッチングを実施する。マッチング方法は，形態素分析から得た標準製品実現プロセスと当該組織プロセスそれぞれのプロセスの品詞を，図５の下部分に例示しているようにカウントする。標準製品実現プロセスと当該組織プロセスそれぞれのプロセスの変量（例：図５の下部分の標準製品実現プロセスの製品設計企画書作成では，目標という品詞が３つある）をカウントし，カウントしたプロセスをクラスタとし，非類似度(距離)を計算する。
【００２７】
距離計算式は，代表例であるユークリッド平方距離を数式（１）に，標準化ユークリッド平方距離を数式（２）示す。距離に対する計算方法は，ユーザが選択できることとする。それぞれのノーテーションは以下に示す。Ｄ：距離，ｌ：変量数，ｘ：変量，ｉ，ｊ：サンプル名，σｋ２：変量ｘｋの分散。
【００２８】
【数１】
【００２９】
【数２】
【００３０】
図５のＳＴＥＰ５０２において，ＳＴＥＰ５０１の結果であるそれぞれのクラスタ距離の近さで類似を判断する。判断基準は，デンドログラムを作成し，ユーザが設定することができることとする。
【００３１】
デンドログラムの作成におけるそれぞれのクラスタの距離は，代表計算例である最短距離法を数式（３）に示す。ノーテーションは以下に示す。Ｄ：距離，a,b,c,f：クラスター（ただし，aとbを統合したクラスタをcとし，任意のクラスタをfとする）。
【００３２】
【数３】
【００３３】
次に，図５のＳＴＥＰ５０３において，ＳＴＥＰ５０２の結果に基づき，自動的に標準監査質問に設定している監査質問を当該プロセスに割り当てる。この様子を図５の矢印で示す。以上の分析方法により，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスの関連付けを行う。
【００３４】
続いて，図２のＳＴＥＰ２０２において，上記の計算結果を基に，当該組織プロセス情報と標準監査質問との関連情報を図６の当該組織プロセス−標準監査質問マッチング画面６００に表示する。ユーザが変更などする場合は，追加６０１や削除６０２の各ボタンを押し，選択を行う。また，該当する情報が無い場合は，該当なしと表示される。これによって当該組織プロセスでの製品開発における予備監査質問が作成される。続いて，図６における同類不具合情報からの監査質問作成６０３を押すことにより，図７に示すような当該組織不具合情報を装置に受け付ける。
【００３５】
図２のＳＴＥＰ２０３において，図７に示すような当該組織不具合情報を、コンピュタに予め記録されている図８に示すような不具合情報同類語彙を用いて図９に示すような同類不具合監査質問を設定する。図７は不具合情報７００の例である。当該組織プロセスにおける不具合事象と、その不具合の発生したプロセスが時系列的に記録されている。図８は、コンピュータに記録されている不具合情報同類語彙データベース９００の例である。上記の不具合情報と不具合情報同類語彙データベースを，図５と同様に形態素解析，クラスタ分析を行い，同類不具合情報を計算する。
【００３６】
図２のＳＴＥＰ２０４において，ＳＴＥＰ２０３で計算した結果を，図９の同類不具合監査画面９００に示す。この画面の初期画面では，不具合情報に関連した監査質問は設定されていないので，未設定と表示される。そこで，ユーザは追加９０１を押し，監査質問のテキストを図９に記入する。問題がある場合、すなわち、入力を失敗した場合等は，削除９０２を押す。作成終了後は，作成終了・反映９０３を押し，次のフローに進む。
【００３７】
図２のＳＴＥＰ２０５において，ＳＴＥＰ２０４で作成した同類不具合情報監査質問をこれまでの計算結果に反映する。発生プロセスをキーにして、図６に図９で作成した質問を追加する。図１０に，当該組織プロセスと標準監査質問・同類不具合監査質問マッチング画面１０００を示す。ＳＴＥＰ２０４で作成した監査質問１００１は，図示されるように表現される。
【００３８】
図２のＳＴＥＰ２０６において，監査質問の修正を終了させる。図１０の作成終了１００２を押して終了する。以上で，監査質問を設定するフローが終了する。
【００３９】
続いて，図２のＳＴＥＰ２０７において，プロジェクトの進行に応じて，監査質問を計算する。プロセスの進捗状況は例えば管理部によって管理されており、プロセス毎に設計者に監査質問が転送される。図１１は，設計者への標準/同類不具合監査質問画面１１００であり，進捗に応じて表示される。設計者は画面の項目を確認する。
【００４０】
最後に，図２のＳＴＥＰ２０８において，レビュー者はデザインレビュー時にＳＴＥＰ２０７の情報を確認する。図１２は，レビュー者への標準/同類不具合監査質問画面１２００であり，次期フェーズに移行許可の場合は，許可１２０１を押し，不許可の場合は，ペンディング１２０２を押す。
【００４１】
以上のように本発明によれば、各プロセスにおける監査質問が標準製品実現プロセスと標準監査質問を利用して、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセスにおける不具合情報を利用して最終的な監査質問を作成するので、製品開発における不具合を未然に防止することが出来る。
【符号の説明】
【００４２】
１００ 不具合未然装置
１０１ 操作者入出力装置
１０２ データ記録装置
１０３ 標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部
１０４ 当該組織プロセス情報記録部
１０５ 標準実現プロセス・標準監査質問
１０６ 当該組織不具合情報記録部
１０７ 不具合情報同類語彙データベース記録部
１０８ 同類不具合監査質問情報記録部
１０９ プロジェクト進捗情報記録部
１１０ 設計者監査質問確認情報記録部
１１１ レビュー者監査質問確認情報記録部
１１２ プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置
１１３ 標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応計算部
１１４ 標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応選択部
１１５ 同類不具合情報計算部
１１６ 同類事故情報選択部
１１７ 当該組織製品実現プロセス，標準監査質問，同類不具合監査質問情報対応計算部
１１８ 監査質問掲示計算装置
１１９ 標準監査質問・同類不具合監査質問情報刑事計算部
３００ 標準製品実現プロセス−当該組織プロセスマッチング画面
４００ 当該組織プロセス情報
６００ 当該組織プロセス−標準監査質問マッチング画面
７００ 不具合情報７００
８００ 不具合情報同類語彙データベース８００
９００ 同類不具合監査画面９００
１０００ 当該組織プロセスと標準監査質問・同類不具合監査質問マッチング画面
１１００ 設計者への標準/同類不具合監査質問画面
１２００ レビュー者への標準/同類不具合監査質問画面。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品の開発プロセスにおいて、不具合を未然に防止する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
これまで，製品・サービスの不具合が起こった際，次期製品・サービスに対して，不具合から得た知見を活用するためのシステムの支援が弱いという問題があった。
【０００３】
このような問題に対して，過去の不具合情報を基にして，設計中の製品・サービスの設計不具合の発見を容易にする設計支援システム（例えば特許文献１参照）が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２４１８７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記先行技術で挙げた特許文献１に記載された発明は、部品や素材，製造工程中心の製品不具合要因分析支援のため，次期製品の仕様変更や製造工程設計に活用することができるものである。このように、次期製品の製品品質を向上させることが期待できる。
【０００６】
しかし，不具合要因に対して，製品実現プロセス情報が関連付けされていないので，プロセス起因の不具合、例えば、DRの指摘事項のクローズ漏れによる設計不具合、等を未然防止することが難しい。
【０００７】
本発明は、上記問題を解決するため，不具合情報（要因）とＩＳＯ９００１やＣＭＭＩ（Ｃａｐａｂｉｌｉｔｙ Ｍａｔｕｒｉｔｙ Ｍｏｄｅｌ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ）製品実現プロセスとをリンクさせ，プロセス起因の不具合の発生低減を抑える仕組みを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の不具合未然防止装置は、次のような構成をとる。すなわち、操作者が情報を入力する入力手段，計算装置から計算された出力をする出力手段，標準実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスとを形態素解析とクラスタ分析により関連付けし，不具合情報を形態素解析とクラスタ分析により同類区分しユーザに同類不具合監査質問を入力させ，設計者に対して標準監査質問と同類不具合監査質問をプロジェクトの進捗により当該プロセスに掲示し，レビュー者に対して設計者の監査質問に対する確認情報を提供する計算手段と，実行結果を記憶し、一元管理するデータベースとで構成である。
【発明の効果】
【０００９】
製品実現プロセスと不具合情報を関連付けすることができるので、過去に起きた不具合をプロセス上で未然に防ぐことができる。
また、予め標準製品実現プロセスと標準監査質問をシステム上に持っていて，監査対象の当該組織プロセス情報及び不具合情報を入力することにより，形態素分析・クラスタ分析で関連付けすることができ，監査対象組織に適合した監査質問ができるので，品質を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態における不具合未然防止装置の実現のための情報処理システム構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態における不具合未然防止装置のフローチャートを示す図である。
【図３】標準製品実現プロセスと当該組織プロセスをマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図４】当該組織プロセスのデータ構造を示す図である。
【図５】標準製品実現プロセスと当該組織プロセスをマッチングさせるフローチャートを示す図である。
【図６】当該組織プロセスと標準監査質問をマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図７】不具合情報のデータ構造を示す図である。
【図８】不具合情報の同類語彙のデータ構造を示す図である。
【図９】同類不具合監査質問を設定させる画面のイメージ図である。
【図１０】当該組織プロセスと標準監査質問，同類不具合監査質問をマッチングさせる画面のイメージ図である。
【図１１】プロセス進捗に伴う設計者への標準/同類不具合監査質問を提示する画面のイメージ図である。
【図１２】プロセス進捗に伴うレビュー者への設計者の標準/同類不具合監査質問の確認状況を提示する画面のイメージ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の内容を、実施例を用いて詳細に説明する。
【実施例１】
【００１２】
図１は，本発明の一実施形態における不具合未然防止装置の実現のための情報処理システム構成を示す図である。本実施形態の不具合未然防止装置１００は，図１に示すように，プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置１１２と，監査質問掲示計算装置１１８と，データ記録装置１０２を備える。
【００１３】
データ記録装置１０２は，予め標準的な業務プロセスとその監査質問を記録している標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３と，監査をする対象企業の業務プロセスを記録している当該組織プロセス情報記録部１０４と，プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置からの出力にユーザが入力した情報を記録している標準製品実現プロセス・監査質問，当該組織プロセス情報対応記録部１０５と，予め監査をする対象企業の不具合情報を記録している当該組織不具合情報記録部１０６と，不具合情報を同類と判断する同類語彙情報を記録する不具合情報同類語彙データベース記録部１０７と，ユーザが入力する同類不具合監査質問を記録する同類不具合監査質問記録部１０８と，当該組織の製品実現プロジェクトの進捗情報を記録するプロジェクト進捗情報記録部１０９と，設計者が標準及び同類不具合監査質問をチェックしたかどうかを記録する設計者監査質問確認情報記録部１１０と，レビュー者が設計者の標準及び同類不具合監査質問の確認状況を確認した結果を記録するレビュー者監査質問確認情報記録部１１１とを備える。
【００１４】
プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置は，データ記録装置からの出力を用いて，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセス情報の対応を計算する標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応計算部１１３と，その計算結果を画面表示し入力できる，標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応選択部１１４とを備える。
【００１５】
監査質問掲示計算装置は，プロセス・監査質問・不具合情報対応装置での計算結果と，プロジェクト進捗情報を入力として，標準監査質問・同類不具合時間差質問監査情報掲示計算部１１９にて，対象プロジェクトの進捗にあわせて監査質問を掲示する。
【００１６】
以下に図１の矢印に沿って本発明の不具合未然防止装置の動作を説明する。図１において、標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３には、予め、図３に示すような、標準製品実現プロセスと各プロセスに対する標準監査質問が記録されている。一方、操作者入力装置１０１から図４に示すように、当該組織プロセスと各プロセスに対応する、インプット、アウトプットの項に示す留意事項を読み込み、当該組織プロセス上方記録部１０４に記録する。
【００１７】
標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部１０３と当該組織プロセス情報記録部１０４のデータを用い、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応計算部１１３にて、図５に示す手法を用いて、図６に示すように、当該組織プロセスに対する標準監査質問を当てはめる。次に、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応選択部１１４において、図６に示す当該組織プロセスに当てはめた標準監査質問に追加、削除、修正等を行い、この結果を、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応記録部１０５に記録する。図６は当該組織プロセスにおけるいわば、予備監査質問である。次に示すステップを経て、当該組織プロセスにおける監査質問が完成する。
【００１８】
一方、操作者入力装置から、図７に示すような当該組織プロセスにおける不具合事象と発生プロセス等を、当該組織不具合情報記録部１０６に読み込み記録する。コンピュータには予め、図８に示すような、不具合情報同類語彙が不具合情報同類語彙データベース記録部１０７に格納されている。当該組織不具合情報記録部１０６のデータと不具合情報同類語彙データベース記録部１０７を用いて、同類不具合情報計算部１１６にて、同類不具合監査質問情報を計算し、これを同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納する。同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納される情報は図９に示すような情報である。
【００１９】
当該組織プロセス、標準監査質問、同類不具合監査質問情報対応計算部１１７において、標準製品実現プロセス・標準監査質問、当該プロセス情報対応記録部１０５に記録されたデータと、同類不具合監査質問情報記録部１０７に格納されたデータとを発生プロセスをキーにして合わせ、図１０に示すような、当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。
【００２０】
このようにして完成した当該組織プロセス−監査質問の情報を、例えば、プロジェクト管理部からプロジェクトの進行状況に応じて標準監査質問・同類不具合監査質問情報経時計算部１１９において、出力する。この出力は、設計者監査質問確認情報記録部１１０において、図１１に示すような情報が表示される。プロセス毎に設計者は確認あるいはペンディングの確認ボタンを押すと、これが記録される。デザインレビューにおいて、レビュー者は、図１２のような画面において、監査質問にたいする処置がどの程度であるかを知ることが出来る。
【００２１】
図２は，本発明による不具合未然防止装置のフローチャートの一例を示す図である。図２に示されたフローチャートを参照しながら，本実施形態に係わる不具合未然防止装置を説明する。
【００２２】
まず，図２のＳＴＥＰ２００においては、予め記録されている標準製品実現プロセスと標準監査質問が定義されている。図３に標準製品実現プロセス−当該組織プロセスマッチング画面３００を示す。図３において、左の列は標準製品実現プロセスであり、中央の列は各プロセスに対応した標準監査質問であり、右側の列は、形態素解析によって作成した、関連するキーワードである。
【００２３】
図３の情報は予め記録されており、図３において、当該プロセス受付３０１を押すことによって、図４に示す当該組織プロセス情報４００を受け付ける。図４は例えば、ＩＳＯ９００１等で標準化されているフォーマットに則った当該組織プロセスにおける製品開発のフローである。図４において、左側の列には、当該組織プロセスにおける製品開発のフローが記載され、中央の列と右側の列には、各々インプット、アウトプットと称される、各フローにおける留意事項が記載されている。
【００２４】
図２のＳＴＥＰ２０１において，図３に取り込まれた図４の情報を用い、形態素解析とクラスタ分析によって，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスの関連付けを行う。
【００２５】
関連付けを行う手順を図５に示すフローチャートを参照しながら説明する。図５のＳＴＥＰ５００において，標準製品実現プロセスに付与してあるキーワードの文言と当該組織プロセスに付与してあるインプットとアウトプットの文言を，自然言語処理の一つである形態素解析によって単語，品詞といった語彙が意味を持つ最小の単位に分解する。記のキーワード，インプット，アウトプットには単語のみが登録されているため，一致させることは容易である。
【００２６】
次に，図５のＳＴＥＰ５０１において，ＳＴＥＰ５００にて分解した形態素のマッチングを実施する。マッチング方法は，形態素分析から得た標準製品実現プロセスと当該組織プロセスそれぞれのプロセスの品詞を，図５の下部分に例示しているようにカウントする。標準製品実現プロセスと当該組織プロセスそれぞれのプロセスの変量（例：図５の下部分の標準製品実現プロセスの製品設計企画書作成では，目標という品詞が３つある）をカウントし，カウントしたプロセスをクラスタとし，非類似度(距離)を計算する。
【００２７】
距離計算式は，代表例であるユークリッド平方距離を数式（１）に，標準化ユークリッド平方距離を数式（２）示す。距離に対する計算方法は，ユーザが選択できることとする。それぞれのノーテーションは以下に示す。Ｄ：距離，ｌ：変量数，ｘ：変量，ｉ，ｊ：サンプル名，σｋ２：変量ｘｋの分散。
【００２８】
【数１】
【００２９】
【数２】
【００３０】
図５のＳＴＥＰ５０２において，ＳＴＥＰ５０１の結果であるそれぞれのクラスタ距離の近さで類似を判断する。判断基準は，デンドログラムを作成し，ユーザが設定することができることとする。
【００３１】
デンドログラムの作成におけるそれぞれのクラスタの距離は，代表計算例である最短距離法を数式（３）に示す。ノーテーションは以下に示す。Ｄ：距離，a,b,c,f：クラスター（ただし，aとbを統合したクラスタをcとし，任意のクラスタをfとする）。
【００３２】
【数３】
【００３３】
次に，図５のＳＴＥＰ５０３において，ＳＴＥＰ５０２の結果に基づき，自動的に標準監査質問に設定している監査質問を当該プロセスに割り当てる。この様子を図５の矢印で示す。以上の分析方法により，標準製品実現プロセス・標準監査質問と当該組織プロセスの関連付けを行う。
【００３４】
続いて，図２のＳＴＥＰ２０２において，上記の計算結果を基に，当該組織プロセス情報と標準監査質問との関連情報を図６の当該組織プロセス−標準監査質問マッチング画面６００に表示する。ユーザが変更などする場合は，追加６０１や削除６０２の各ボタンを押し，選択を行う。また，該当する情報が無い場合は，該当なしと表示される。これによって当該組織プロセスでの製品開発における予備監査質問が作成される。続いて，図６における同類不具合情報からの監査質問作成６０３を押すことにより，図７に示すような当該組織不具合情報を装置に受け付ける。
【００３５】
図２のＳＴＥＰ２０３において，図７に示すような当該組織不具合情報を、コンピュタに予め記録されている図８に示すような不具合情報同類語彙を用いて図９に示すような同類不具合監査質問を設定する。図７は不具合情報７００の例である。当該組織プロセスにおける不具合事象と、その不具合の発生したプロセスが時系列的に記録されている。図８は、コンピュータに記録されている不具合情報同類語彙データベース９００の例である。上記の不具合情報と不具合情報同類語彙データベースを，図５と同様に形態素解析，クラスタ分析を行い，同類不具合情報を計算する。
【００３６】
図２のＳＴＥＰ２０４において，ＳＴＥＰ２０３で計算した結果を，図９の同類不具合監査画面９００に示す。この画面の初期画面では，不具合情報に関連した監査質問は設定されていないので，未設定と表示される。そこで，ユーザは追加９０１を押し，監査質問のテキストを図９に記入する。問題がある場合、すなわち、入力を失敗した場合等は，削除９０２を押す。作成終了後は，作成終了・反映９０３を押し，次のフローに進む。
【００３７】
図２のＳＴＥＰ２０５において，ＳＴＥＰ２０４で作成した同類不具合情報監査質問をこれまでの計算結果に反映する。発生プロセスをキーにして、図６に図９で作成した質問を追加する。図１０に，当該組織プロセスと標準監査質問・同類不具合監査質問マッチング画面１０００を示す。ＳＴＥＰ２０４で作成した監査質問１００１は，図示されるように表現される。
【００３８】
図２のＳＴＥＰ２０６において，監査質問の修正を終了させる。図１０の作成終了１００２を押して終了する。以上で，監査質問を設定するフローが終了する。
【００３９】
続いて，図２のＳＴＥＰ２０７において，プロジェクトの進行に応じて，監査質問を計算する。プロセスの進捗状況は例えば管理部によって管理されており、プロセス毎に設計者に監査質問が転送される。図１１は，設計者への標準/同類不具合監査質問画面１１００であり，進捗に応じて表示される。設計者は画面の項目を確認する。
【００４０】
最後に，図２のＳＴＥＰ２０８において，レビュー者はデザインレビュー時にＳＴＥＰ２０７の情報を確認する。図１２は，レビュー者への標準/同類不具合監査質問画面１２００であり，次期フェーズに移行許可の場合は，許可１２０１を押し，不許可の場合は，ペンディング１２０２を押す。
【００４１】
以上のように本発明によれば、各プロセスにおける監査質問が標準製品実現プロセスと標準監査質問を利用して、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセスにおける不具合情報を利用して最終的な監査質問を作成するので、製品開発における不具合を未然に防止することが出来る。
【符号の説明】
【００４２】
１００ 不具合未然装置
１０１ 操作者入出力装置
１０２ データ記録装置
１０３ 標準製品実現プロセス・標準監査質問記録部
１０４ 当該組織プロセス情報記録部
１０５ 標準実現プロセス・標準監査質問
１０６ 当該組織不具合情報記録部
１０７ 不具合情報同類語彙データベース記録部
１０８ 同類不具合監査質問情報記録部
１０９ プロジェクト進捗情報記録部
１１０ 設計者監査質問確認情報記録部
１１１ レビュー者監査質問確認情報記録部
１１２ プロセス・監査質問・不具合情報対応計算装置
１１３ 標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応計算部
１１４ 標準製品実現プロセス・標準監査質問，当該組織プロセス情報対応選択部
１１５ 同類不具合情報計算部
１１６ 同類事故情報選択部
１１７ 当該組織製品実現プロセス，標準監査質問，同類不具合監査質問情報対応計算部
１１８ 監査質問掲示計算装置
１１９ 標準監査質問・同類不具合監査質問情報刑事計算部
３００ 標準製品実現プロセス−当該組織プロセスマッチング画面
４００ 当該組織プロセス情報
６００ 当該組織プロセス−標準監査質問マッチング画面
７００ 不具合情報７００
８００ 不具合情報同類語彙データベース８００
９００ 同類不具合監査画面９００
１０００ 当該組織プロセスと標準監査質問・同類不具合監査質問マッチング画面
１１００ 設計者への標準/同類不具合監査質問画面
１２００ レビュー者への標準/同類不具合監査質問画面。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品実現プロセスを監査質問で評価することによって，製品の不具合を未然に防止する、入力手段、出力手段、記録手段、計算手段を有する不具合未然防止システムであって、
前記記録手段は、標準製品実現プロセスおよび標準監査質問と、不具合同類語彙データベースを有し、前記入力手段から入力された当該組織プロセスにおける製品開発プロセスでの留意事項と、当該組織不具合情報を記録し、
前記計算手段は、前記記録手段から供給される、前記標準製品実現プロセスおよび前記標準監査質問と、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記留意事項とを対比させることによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの予備監査質問を作成し、
前記当該組織不具合情報を、前記不具合同類語彙データベースを用いて分類して同類不具合情報を作成し、
前記予備監査質問に前記同類不具合情報を反映することによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの監査質問を作成し
前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスと前記監査質問を前記出力装置に表示することを特徴とする不具合未然防止システム。
【請求項２】
前記標準製品実現プロセスおよび前記標準監査質問と、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記留意事項とを形態素解析およびクラスタ分析によって対比し、
かつ、前記当該組織不具合情報を、前記不具合同類語彙データベースを用い、形態素解析によって分類して同類不具合情報を作成することを特長とする請求項１に記載の不具合未然防止システム。
【請求項３】
製品実現プロセスを監査質問で評価することによって，製品の不具合を未然に防止する不具合未然防止システムであって、
標準製品実現プロセスおよび標準監査質問をあらかじめ記録しておくステップと、
当該組織プロセスにおける製品開発プロセスと留意事項を読み込むステップと、
前記標準監査質問のキーワードと前記当該組織プロセスにおける製品開発プロセスと留意事項のキーワードを関連させ、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの予備監査質問を作成するステップと、
前記当該組織プロセスにおける不具合情報を読み込み、予め記録されている不具合同類語彙データベースを用いて同類不具合情報を作成するステップと、
前記同類不具合情報を前記予備監査質問に反映させて、前記当該組織プロセスにおける製品開発プロセスでの監査質問を完成させ、
前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記監査質問を各プロセス毎に表示することを特徴とする不具合未然防止システム。
【請求項１】
製品実現プロセスを監査質問で評価することによって，製品の不具合を未然に防止する、入力手段、出力手段、記録手段、計算手段を有する不具合未然防止システムであって、
前記記録手段は、標準製品実現プロセスおよび標準監査質問と、不具合同類語彙データベースを有し、前記入力手段から入力された当該組織プロセスにおける製品開発プロセスでの留意事項と、当該組織不具合情報を記録し、
前記計算手段は、前記記録手段から供給される、前記標準製品実現プロセスおよび前記標準監査質問と、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記留意事項とを対比させることによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの予備監査質問を作成し、
前記当該組織不具合情報を、前記不具合同類語彙データベースを用いて分類して同類不具合情報を作成し、
前記予備監査質問に前記同類不具合情報を反映することによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの監査質問を作成し
前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスと前記監査質問を前記出力装置に表示することを特徴とする不具合未然防止システム。
【請求項２】
前記標準製品実現プロセスおよび前記標準監査質問と、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記留意事項とを形態素解析およびクラスタ分析によって対比し、
かつ、前記当該組織不具合情報を、前記不具合同類語彙データベースを用い、形態素解析によって分類して同類不具合情報を作成することを特長とする請求項１に記載の不具合未然防止システム。
【請求項３】
製品実現プロセスを監査質問で評価することによって，製品の不具合を未然に防止する不具合未然防止システムであって、
標準製品実現プロセスおよび標準監査質問をあらかじめ記録しておくステップと、
当該組織プロセスにおける製品開発プロセスと留意事項を読み込むステップと、
前記標準監査質問のキーワードと前記当該組織プロセスにおける製品開発プロセスと留意事項のキーワードを関連させ、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの予備監査質問を作成するステップと、
前記当該組織プロセスにおける不具合情報を読み込み、予め記録されている不具合同類語彙データベースを用いて同類不具合情報を作成するステップと、
前記同類不具合情報を前記予備監査質問に反映させて、前記当該組織プロセスにおける製品開発プロセスでの監査質問を完成させ、
前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記監査質問を各プロセス毎に表示することを特徴とする不具合未然防止システム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２０１０−１９８４６３（Ｐ２０１０−１９８４６３Ａ）
【公開日】平成２２年９月９日（２０１０．９．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−４４２２６（Ｐ２００９−４４２２６）
【出願日】平成２１年２月２６日（２００９．２．２６）
【出願人】（０００００５１０８）株式会社日立製作所 (27,607)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年９月９日（２０１０．９．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年２月２６日（２００９．２．２６）
【出願人】（０００００５１０８）株式会社日立製作所 (27,607)
【Ｆターム（参考）】
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