説明

光ディスク装置

【課題】光ディスク装置において、シンプルな回路構成で光ディスクの傷に起因する音飛び問題を軽減する。
【解決手段】LPF118は、トラッキングアクチュエータドライバ116が得たトラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4を抽出する。スレッド駆動信号供給部120は、光ディスク110からの情報読出時と光ディスクへの情報書込時に、LPF118が得た低域成分S4のレベルに応じたレベルのスレッドパルス信号をスレッドモータ142の駆動信号として、所定長の期間毎に、該期間内において、設定された所定時間出力する。他の時には、LPF118が得た低域成分S4をスレッドモータ142の駆動信号として出力する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に光ディスク上の傷に起因する音飛びを回避する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【0002】
光ディスクを媒体として情報の記録、再生、消去を行う光ディスク装置では、光ピックアップから照射される光ビームが常に目標のトラックを追従するように、光ビームとトラック間の位置ずれを示すトラッキングエラー信号をもとに光ビームの位置を修正するトラッキングサーボが行われている。しかし、光ピックアップにおける光ビームの可動範囲には限界があるため、トラッキングエラー信号の低域成分をもとに光ピックアップ全体を光ディスクの半径方向に移動するスレッド制御も行われている。これについて、図6と図7を参照して説明する。
【0003】
図6は、光ディスク装置におけるトラッキングサーボを説明するための模式図である。RFアンプサーボエラー検出部14は、光ピックアップ12から得られたRF信号S1をもとにトラッキングエラー信号S2を検出してトラッキングアクチュエータドライバ16に出力する。トラッキングアクチュエータドライバ16は、トラッキングエラー信号S2をもとに、光ピックアップ12のトラッキング位置を制御するトラッキングアクチュエータドライブ信号S3を生成して光ピックアップ12とローパスフィルタ(以下LPFという)40に出力する。LPF20は、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3中の低域成分S4を得てスレッドモータドライバ22に出力する。スレッドモータドライバ22は、低域成分S4をもとにスレッドモータ24を駆動する。これにより、スレッドモータ24が回転し、光ピックアップ12を光ディスクの半径方向に移動する。
【0004】
図7は、トラッキングサーボとスレッド制御が行われる光ディスク装置の実際の構成例を示す図である。図7において、図6の模式図に示された機能ブロックと同様のものについて同じ符号を付与している。
【0005】
図7に示すように、光ピックアップ12は対物レンズ13を備えている。この対物レンズ13は、光ピックアップ12からの光ビームの焦点が光ディスク11上になるように制御されており、光ディスク11の半径方向にある程度の可動範囲を有する。スレッドモータ24は、図示しないトラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4に基づいて駆動され、光ピックアップ12全体を光ディスク11の半径方向に移動する。
【0006】
ところで、スレッド機構の静止摩擦により、スレッドモータが動き出すまでにドライブ電圧が必要であると共に、時間もかかるため、対物レンズ13が常に自身の可動範囲の中心にあるとは限らない。加えて、近年、大量かつ安価に生産された光ディスク装置は、性能基準の緩みにより、スレッド機構のギア幅やスレッドモータの駆動電圧にばらつきがある。このような背景において、光ディスク装置において、対物レンズが可動範囲の中心点から外れることが多い。対物レンズが可動範囲の中心ではない状態で光ディスク上に傷かあると、トラッキングサーボが外れ、音飛びが生じやすい。
【0007】
特許文献1にはこの問題を解決する手法が開示されている。この手法は、光ディスク上の傷を検出し、検出された傷に同期して傷検出パルスを発生させると共に、この傷検出パルスをスレッドモータの駆動電圧に加える。特許文献1の図1に対応する図8を参照して説明する。
【0008】
図8に示す光ディスク装置において、光ピックアップ1からのRF信号から、RFアンプサーボエラー検出部2とトラッキングアクチュエータドライバ3およびLPF4を通して得られるトラッキングアクチュエータドライブ電圧の低域成分が、スレッドモータドライバ5の非反転端子に抵抗R1を介して供給される。また、RFアンプサーボエラー検出部2で、光ディスクの傷を検出すると、この傷に同期した検出パルス(傷検出パルス)がダイオードD1と抵抗R3を介してスレッドモータドライバ5の非反転入力端子に供給(注入)される。傷検出パルスをLPF4の出力に注入することにより、傷の周期毎にスレッド機構の静止摩擦を超える電圧でスレッドモータ6を駆動せしめ、光ピックアップ1の図示しない対物レンズが常に可動範囲の中心点になるようにトラッキングアクチュエータを制御できる。その結果、傷によってトラッキングサーボがOFFされてもトラッキングアクチュエータが支持機構の張力を受けないので、傷に起因する音飛びが少なくなる。
【0009】
特許文献2には、ディフェクト(傷に相当する)が検出されたときのトラック追従性能を高める手法が開示されている。この手法は、トラッキングエラー信号をもとにトラッキングフィードバック制御信号(前述したトラッキングアクチュエータドライブ信号に対応する)を生成してその低域成分をホールドしてトラッキングホールド信号を得る。そして、ディフェクトを検出した直後に、直前のトラッキングホールド信号に、偏芯補正信号と、逆極性信号と、トラッキングブレーキ信号とを加算する。なお、偏芯補正信号は、ディスクモータの回転角毎に光ディスクもしくは光ディスク装置の偏芯成分を相殺するような信号であり、逆極性信号は、所定時間前までのトラッキングフィードバック制御信号とは逆極性で振幅が2倍に相当する信号であり、トラッキングブレーキ信号は、逆極性信号を加算後のトラッキングアクチュエータの過度応答を補正するような信号である。こうすることにより、ディフェクトの検出遅れによって対物レンズに加えられる加速度を操作することができるため、ディフェクトに対するトラック追従性能を高めることができる。
【特許文献1】実開平5−59611号公報
【特許文献2】特開2003−162834号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
ところで、特許文献1の手法は、図7に示すRFアンプサーボエラー検出部2で検出された光ディスクの傷に同期した傷検出パルスをもとにスレッドモータを駆動しているので、傷検出パルスの幅が長い、または傷検出パルスのレベルが高い場合には、スレッドモータに過度の駆動電圧がかかってしまうという問題がある。そのため、対物レンズが常に可動範囲の中心にあるようにトラッキングアクチュエータが制御されているとは限らず、傷に起因する音飛び問題が相変わらず生じやすい。
【0011】
また、特許文献2の手法は、その効果はともかく、ディフェクトの検出、トラッキングアクチュエータドライブ信号のホールド、逆極性信号やトラッキングブレーキ信号の生成および加算などが必要である。そのため、処理が煩雑であり、回路構成も複雑である。
【課題を解決するための手段】
【0012】
本発明の一つの態様は、光ディスクを情報記録媒体とする光ディスク装置である。この光ディスク装置は、光ピックアップと、記光ピックアップから得られるトラッキングエラー信号をもとにトラッキングアクチュエータドライブ信号を生成して、光ピックアップに設けられた対物レンズの位置を調整するトラッキングサーボ部と、回転することにより光ピックアップを半径方向に移動させるスレッドモータと、トラッキングアクチュエータドライブ信号の低域成分を抽出するローパスフィルタと、ローパスフィルタが得た低域成分のレベルに応じたレベルを有するスレッドパルス信号をスレッドモータの駆動信号として出力するスレッド駆動信号供給部を備える。スレッド駆動信号供給部は、所定長の期間毎に、該期間内において、上記スレッドパルス信号を所定時間出力する。
【0013】
なお、上記態様の光ディスク装置をシステムや方法に置き換えて表現したものも、本発明の態様としては有効である。
【発明の効果】
【0014】
本発明の技術によれば、光ディスク装置において、シンプルな回路構成で光ディスクの傷に起因する音飛び問題を軽減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
<第1の実施の形態>
【0016】
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる光ディスク装置100を示す。光ディスク装置100は、光ピックアップ112と、RFアンプサーボエラー検出部114と、トラッキングアクチュエータドライバ116と、LPF118と、スレッド駆動信号供給部120と、スレッドモータドライバ140と、スレッドモータ142を備える。スレッド駆動信号供給部120は、本発明にかかる技術の特徴部分であり、他の各機能ブロックは、通常の光ディスク装置における相対応のものと同様の機能を有する。
【0017】
光ピックアップ112は、光ディスク110へ照射する光源と受光部であり、RFアンプサーボエラー検出部114は、光ピックアップ112が受光して得たRF信号S1をもとにトラッキングエラー信号S2を検出してトラッキングアクチュエータドライバ116に出力する。トラッキングアクチュエータドライバ116は、トラッキングエラー信号S2をもとに、光ピックアップ112のトラッキング位置を制御するトラッキングアクチュエータドライブ信号S3を生成して光ピックアップ112とLPF118に出力する。なお、RFアンプサーボエラー検出部114と、トラッキングアクチュエータドライバ116と、光ピックアップ112に備えられた図示しないトラッキングアクチュエータは、トラッキングサーボ部を構成する。
【0018】
LPF118は、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4を抽出してスレッド駆動信号供給部120に出力する。スレッド駆動信号供給部120は、低域成分S4が入力され、スレッド駆動信号S5をスレッドモータドライバ140に出力する。スレッドモータドライバ140は、スレッド駆動信号S5に応じてスレッドモータ142を駆動する。
【0019】
スレッド駆動信号供給部120は、第1のスイッチ122と、第2のスイッチ124と、制御部126と、スレッドパルス出力回路130を備え、制御部126は、他の各機能ブロックを制御する。
【0020】
第1のスイッチ122はLPF118と接続され、第2のスイッチ124はスレッドモータドライバ140と接続され、第1のスイッチ122と第2のスイッチ124との間にスレッドパルス出力回路130が設けられている。
【0021】
第1のスイッチ122と第2のスイッチ124は制御部126による制御に従って切替えを行う。具体的には、光ディスク110からの情報読出時と光ディスク110への情報書込時には、LPF118からの低域成分S4がスレッドパルス出力回路130に入力され、スレッドパルス出力回路130が出力したスレッドパルス信号がスレッドモータドライバ140に出力される一方、選曲やアクセス時には、LPF118からの低域成分S4が直接スレッドモータドライバ140に直接入力されるように、切替えを行う。以下、第1のスイッチ122と第2のスイッチ124の上記2つのスイッチング方向について、前者を第1のスイッチング方向といい、後者を第2のスイッチング方向という。
【0022】
図2は、スレッドパルス出力回路130の詳細を含むスレッド駆動信号供給部120を示す。図示のように、スレッドパルス出力回路130は、第1のスイッチ122と第2のスイッチ124が第1のスイッチング方向に切り替わっているときに動作するものであり、レベル比較器131と、検出間隔設定部132と、パルスレベル設定部133と、パルス時間設定部134と、パルス発生回路135を備える。
【0023】
レベル比較器131は、LPF118からの低域成分S4のレベルと、予め設定された所定のレベル(以下設定レベルという)とを比較し、二値化したコンパレート信号S41をパルス発生回路135に出力する。このコンパレート信号S41は、低域成分S4のレベルが設定レベル未満であるときには「L」であり、低域成分S4のレベルが設定レベル以上であるときには「H」である。
【0024】
検出間隔設定部132は、パルス発生回路135に対して、コンパレート信号S41の状態の検出間隔T1(時間)を設定する。パルスレベル設定部133は、パルス発生回路135に対して2種類のレベル(低レベルaと高レベルb)を設定する。パルス時間設定部134は、パルス発生回路135に対してパルス時間T2(T2≦T1)を設定する。
【0025】
パルス発生回路135は、検出間隔設定部132が設定した検出間隔T1でコンパレート信号S41の状態を検出し、検出結果に応じて、パルスレベル設定部133が設定した2種類のレベルのうちの片方のレベルのパルスを発生する。具体的には、コンパレート信号S41が「L」であるときには低レベルaのパルスを発生し、コンパレート信号S41が「H」であるときには高レベルbを発生する。また、パルス発生回路135は、発生したパルスを、パルス時間設定部134が設定したパルス時間T2の長さ分だけ出力する。
【0026】
図3は、スレッド駆動信号供給部120の動作を詳細に説明するためのタイミングチャート例である。図示のように、レベル比較器131により生成されたコンパレート信号S41は、低域成分S4が設定レベル未満であるには「L」であり、低域成分S4が設定レベル以上であるときには「H」である。検出間隔T1でパルス発生回路135によりコンパレート信号S41の状態が検出され、検出の度に、スレッドパルス信号S42が生成され、パルス時間T2の長さ分出力される。すなわち、パルス幅は、パルス時間T2である。なお、スレッドパルス信号S42のレベルは、コンパレート信号S41が「L」であるときには低レベルaであり、コンパレート信号S41が「H」であるときには高レベルbである。
【0027】
パルス発生回路135により生成されたスレッドパルス信号S42は、スレッド駆動信号S5としてスレッドモータドライバ140に出力される。
【0028】
すなわち、本実施の形態の光ディスク装置100において、光ディスク110からの情報読出時や光ディスク110への情報書込時に、スレッドモータ142は、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4のレベル範囲に応じたレベルを有し、かつ、検出間隔T1毎に、該検出間隔T1における所定時間(パルス時間T2)だけ出力されるスレッドパルス信号S42に駆動される。そのため、光ピックアップ112の図示しない対物レンズが常に可動範囲の中心位置近傍になり、光ディスク110に傷がある場合に音飛びが生じやすいという問題を回避することができる。
【0029】
また、回路構成もシンプルである。
さらに、選曲やアクセス時など音飛びが問題にならない場合には、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分を直接スレッドモータドライバ140に入力してスレッドモータ142を駆動するので、スレッド駆動信号供給部120の消費電力を抑制することができる。
<第2の実施の形態>
【0030】
本発明の第2の実施の形態も光ディスク装置である。この光ディスク装置は、スレッド駆動信号供給部が図2に示すスレッド駆動信号供給部120と異なる点を除き、光ディスク装置100と同様である。第2の実施の形態の光ディスク装置について、光ディスク装置100のスレッド駆動信号供給部120に対応するスレッド駆動信号供給部220についてのみ説明する。
【0031】
図4は、本発明の第2の実施の形態の光ディスク装置におけるスレッド駆動信号供給部220を示す。図4において、図2に示すスレッド駆動信号供給部120のものと同様の構成または機能を有する部分に対して同一の符号を付与している。
【0032】
スレッド駆動信号供給部220は、第1のスイッチ122と、スレッドパルス出力回路230と、第2のスイッチ124と、制御部126を備える。スレッドパルス出力回路230は、レベル比較器131と、検出間隔設定部132と、パルスレベル設定部133と、パルス本数設定部234と、スレッドパルス発生回路235とを有する。
【0033】
すなわち、スレッド駆動信号供給部220は、スレッドパルス出力回路230がスレッド駆動信号供給部120のスレッドパルス出力回路130と異なる点を除き、他の各機能ブロックは、スレッド駆動信号供給部120のものと同様である。
【0034】
スレッドパルス出力回路230において、スレッドパルス出力回路130のパルス時間設定部134の代わりにパルス本数設定部234が設けられ、レベル比較器131と、検出間隔設定部132と、パルスレベル設定部133は、スレッドパルス出力回路130のものと同様である。また、スレッドパルス発生回路235は、予め設定された一定幅のパルスを生成するものである。
【0035】
パルス本数設定部234は、検出間隔設定部132により設定された検出間隔T1の間に出力するパルスの本数(パルス本数P)をスレッドパルス発生回路235に対して設定する。
【0036】
図5は、スレッド駆動信号供給部220の動作を詳細に説明するためのタイミングチャート例である。図示のように、レベル比較器131により生成されたコンパレート信号S41は、低域成分S4が設定レベル未満であるには「L」であり、低域成分S4が設定レベル以上であるときには「H」である。検出間隔T1でパルス発生回路135によりコンパレート信号S41の状態が検出され、検出間隔T1の間に、パルス本数設定部234により設定された本数(パルス本数P)のパルスが出力される。このパルス信号S52のレベルは、コンパレート信号S41が「L」であるときには低レベルaであり、コンパレート信号S41が「H」であるときには高レベルbである。
【0037】
パルス発生回路235により生成されたスレッドパルス信号S52は、スレッド駆動信号S5としてスレッドモータドライバ140に出力される。
【0038】
すなわち、本実施の形態において、光ディスク110からの情報読出時や光ディスク110への情報書込時に、スレッドモータ142は、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4のレベルに応じたレベル有し、かつ検出間隔T1毎に、該検出間隔T1内において所定本数(パルス本数P)分だけ出力されるスレッドパルス信号S52に駆動される。そのため、光ピックアップ112の図示しない対物レンズが常に可動範囲の中心位置近傍になり、光ディスク110に傷がある場合に音飛びが生じやすいという問題を回避することができる。
【0039】
回路構成および消費電力の点についても、第1の実施の形態の光ディスク装置100と同様の効果を得ることができる。
【0040】
以上、実施の形態をもとに本発明を説明した。実施の形態は例示であり、本発明の主旨から逸脱しない限り、さまざまな変更、増減を加えてもよい。これらの変更、増減が加えられた変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
【0041】
例えば、上述した2つの実施の形態において、トラッキングアクチュエータドライブ信号S3の低域成分S4のレベルに応じて2種類の異なるレベルのスレッドパルス信号を生成してスレッドモータを駆動するようにしているが、2つ以上の任意の数のレベルが異なるスレッドパルス信号を生成するようにしてもよい。
【0042】
また、第1の実施の形態と第2の実施の形態を組み合わせて、設定されたパルス時間T2内に、設定された本数(パルス本数P)だけ出力するようにスレッドパルス出力回路を構成し、スレッドモータの制御精度をより高めるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【0043】
【図1】本発明の第1の実施の形態にかかる光ディスク装置を示す図である。
【図2】図1に示す光ディスク装置におけるスレッド駆動信号供給部を示す図である。
【図3】図2に示すスレッド駆動信号供給部の動作を説明するためのタイミングチャートの例である。
【図4】本発明の第2の実施の形態にかかる光ディスク装置におけるスレッド駆動信号供給部を示す図である。
【図5】図4に示すスレッド駆動信号供給部の動作を説明するためのタイミングチャートの例である。
【図6】トラッキングアクチュエータドライブ信号の低域成分によりスレッド制御を行う通常の光ディスク装置の模式図である。
【図7】図6の模式図に対応する光ディスク装置の構成例を示す図である。
【図8】特許文献1に開示された光ディスク装置を示す図である。
【符号の説明】
【0044】
100 光ディスク装置 110 光ディスク
112 光ピックアップ 114 RFアンプサーボエラー検出部
116 トラッキングアクチュエータドライバ 118 LPF
120 スレッド駆動信号供給部 122 第1のスイッチ
124 第2のスイッチ 126 制御部
130 スレッドパルス出力回路 131 レベル比較器
132 検出間隔設定部 133 パルスレベル設定部
134 パルス時間設定部 135 パルス発生回路
140 スレッドモータドライバ 142 スレッドモータ
220 スレッド駆動信号供給部 230 スレッドパルス出力回路
226 制御部 234 パルス本数設定部
235 スレッドパルス発生回路
S1 RF信号 S2 トラッキングエラー信号
S3 トラッキングアクチュエータドライブ信号 S4 低域成分
S41 コンパレート信号 S42 スレッドパルス信号
S52 スレッドパルス信号 S5 スレッド駆動信号
T1 検出間隔 T2 パルス時間 P パルス本数

【特許請求の範囲】
【請求項1】
光ディスクを情報記録媒体とする光ディスク装置であって、
光ピックアップと、
前記光ピックアップから得られるトラッキングエラー信号をもとにトラッキングアクチュエータドライブ信号を生成して、前記光ピックアップに設けられた対物レンズの位置を調整するトラッキングサーボ部と、
回転することにより前記光ピックアップを半径方向に移動させるスレッドモータと、
前記トラッキングアクチュエータドライブ信号の低域成分を抽出するローパスフィルタと、
前記ローパスフィルタが得た前記低域成分のレベルに応じたレベルを有するスレッドパルス信号を前記スレッドモータの駆動信号として出力するスレッド駆動信号供給部であって、所定長の期間毎に、該期間内において、前記スレッドパルス信号を所定時間出力する前記スレッド駆動信号供給部とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項2】
前記スレッド駆動信号供給部は、
前記光ディスクからの情報読出時と前記光ディスクへの情報書込時に、前記スレッドパルス信号を出力し、
前記情報読出時と前記情報書込時以外に、前記ローパスフィルタが得た前記低域成分を前記スレッドモータの駆動信号として出力することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
【請求項3】
前記スレッド駆動信号供給部は、
前記所定長の期間毎に、該期間内において、一定幅の前記スレッドパルス信号を、所定本数出力することを特徴とする請求項1または2に記載の光ディスク装置。
【請求項4】
前記スレッド駆動信号供給部は、
前記所定長の時間毎に、該期間内にける前記所定時間内に、一定幅の前記スレッドパルス信号を、所定本数出力することを特徴とする請求項3に記載の光ディスク装置。
【請求項5】
前記スレッドパルス信号のレベルは、前記低域成分のレベル範囲に応じて異なることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の光ディスク装置。
【請求項6】
前記スレッドパルス信号のレベルは、前記低域成分のレベルまたはレベル範囲が高いほど高くなることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の光ディスク装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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