光ディスク装置
【課題】光ピックアップ周辺の温度を正確に検出して、適切な温度制御が可能な光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ディスク装置１は、光ディスクＤに光を照射するとともに光ディスクＤで反射された反射光を受光する光ピックアップ２０と、光ピックアップ２０の周辺温度を検出するための温度センサ４０と、温度センサ４０から得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部５５と、を備える。温度センサ４０で検出された温度情報が温度制御処理部５５に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部５４３が設けられている。
【解決手段】光ディスク装置１は、光ディスクＤに光を照射するとともに光ディスクＤで反射された反射光を受光する光ピックアップ２０と、光ピックアップ２０の周辺温度を検出するための温度センサ４０と、温度センサ４０から得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部５５と、を備える。温度センサ４０で検出された温度情報が温度制御処理部５５に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部５４３が設けられている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録される情報の再生を行ったり、光ディスクに情報を記録したりする際に使用される光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクを回転駆動して、光ディスクの情報を再生したり、光ディスクに情報を記録したりする光ディスク装置が普及している。このような光ディスク装置は、例えばＢＤレコーダ、ＢＤプレーヤ、ＤＶＤレコーダ、ＤＶＤプレーヤ等に備えられる。光ディスク装置には、光ディスクに光を照射するとともに光ディスクで反射された戻り光（反射光）を受光する光ピックアップが備えられ、この光ピックアップを用いて情報の読み取りや書き込みが行われる。
【０００３】
従来の光ディスク装置においては、温度センサが光ピックアップ周辺に配置されることがある（例えば特許文献１や２参照）。この温度センサによって測定された温度を利用して、例えば光ピックアップが備える半導体レーザ（レーザダイオード）の駆動制御や、光ピックアップが備えるレンズに関わる動作制御等が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２８７２７７号公報
【特許文献２】特開２００７−１５７２４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、光ピックアップ周辺の温度を測定する温度センサとして、例えば特許文献１に示されるように、光ピックアップの駆動を制御する回路（光源駆動用の回路やレンズ駆動用の回路）が形成される回路基板に配置されるサーミスタが使用されることがある。なお、上記回路基板は、通常、光ピックアップのベースに取り付けられる。
【０００６】
しかしながら、この構成では、サーミスタは、例えば回路基板上に設けられる発熱部品から発生する熱の影響を受け易い。この結果、サーミスタによって検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度と乖離してしまうことがある。そして、サーミスタで検出される温度情報に応じた温度制御処理を実行した場合に、不適切な制御動作が実行されることがある。なお、発熱部品としては、例えば半導体レーザを駆動するＬＤＤ（Laser Diode Driver）等が挙げられる。
【０００７】
上述した温度の乖離は、図６に示すように、光ディスクを装置（光ディスク装置）内に挿入してスピンアップ（光ディスクの再生や記録等が行えるようにする準備動作）が開始された直後において顕著に発生しやすい。図６において、横軸はスピンアップ開始からの経過時間であり、縦軸は温度である。また、図６において、実線は光ピックアップ周辺の実際の温度で、破線はサーミスタで検出される温度である。
【０００８】
スピンアップ開始により、それまでに駆動していなかったＬＤＤの駆動（半導体レーザの点灯）等が開始される。このために、ＬＤＤ周辺の温度が急激に上昇し、ＬＤＤ近傍に設けられることになるサーミスタで検出される温度も急激に上昇する。一方、光ピックアップ周辺の温度は、ＬＤＤ近傍の温度だけではなく、光ピックアップ周りの平均的な温度を対象としており、これは比較的緩やかに上昇する。この結果、上述の温度乖離が生じる。
【０００９】
このような温度乖離の対策として、例えば特許文献１に開示される技術を参考に、スピンアップ開始から所定期間、サーミスタで得られる温度情報を使用しないことも考えられる。しかしながら、このような構成では、サーミスタで得られる温度情報が使用可能となるまでの待機時間が長くなって、なかなか再生等が開始されないといった状況が発生することが懸念される。そして、そのような構成の光ディスク装置に対しては、ユーザが使い勝手が悪いとの印象を抱くことが懸念される。このため、他の対策が望まれる。
【００１０】
以上の点に鑑みて、本発明の目的は、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出して、適切な温度制御が可能な光ディスク装置を提供することである。特に、スピンアップ開始から、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出できる技術を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光を照射するとともに前記光ディスクで反射された反射光を受光する光ピックアップと、前記光ピックアップの周辺温度を検出するための温度センサと、前記温度センサから得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部と、を備える光ディスク装置であって、前記温度センサで検出された温度情報が前記温度制御処理部に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部が設けられている構成（第１の構成）となっている。
【００１２】
本構成によれば、フィルタ部の挿入により、温度センサで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度から乖離することを防止して適切な温度を検出可能である。そして、これにより、温度制御処理部による温度制御動作を適切にできるために、記録や再生の品質を向上可能である。
【００１３】
上記第１の構成の光ディスク装置において、前記温度センサから出力された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部を備え、前記フィルタ部は、前記Ａ／Ｄ変換部から出力されたデジタル信号が前記温度制御処理部に入力されるまでの間にフィルタリングを行う構成（第２の構成）とするのが好ましい。この構成では、フィルタ部がデジタルフィルタとなる。
【００１４】
上記第１及び第２の構成の光ディスク装置において、前記フィルタ部は、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフするローパスフィルタである構成（第３の構成）とするのが好ましい。
【００１５】
上記第１から第３のいずれかの構成の光ディスク装置において、前記温度制御処理部は、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われた後に入力された温度情報と、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われることなく入力された温度情報と、を選択的に使用可能に設けられる構成（第４の構成）であるのが好ましい。これにより、より適切な温度制御処理が可能になる。
【００１６】
上記第１から第４のいずれかの構成の光ディスク装置において、前記温度センサは、前記光ピックアップのベースに取り付けられる回路基板上に設けられるサーミスタである構成とするのが好ましい。本構成では、温度センサが回路基板上に設けられるＬＤＤ等の発熱部品の影響を受け易く、温度センサで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度から乖離し易くなるが、フィルタ部を設けた効果によって適切な温度検出が可能である。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、スピンアップ開始から光ピックアップ周辺の温度を正確に検出して、適切な温度制御が可能な光ディスク装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】本実施形態の光ピックアップの外観構成を示す概略平面図
【図３】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部の構成を示すブロック図
【図４】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部に含まれるフィルタ部で行われるフィルタ処理ブロック
【図５】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部に含まれるフィルタ部で行われるフィルタ処理ブロックの他の構成を示す図
【図６】スピンアップ開始直後において、サーミスタで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度と乖離する状態を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の光ディスク装置の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２０】
図１は、本実施形態の光ディスク装置１の構成を示すブロック図である。図１に示すように、光ディスク装置１はスピンドルモータ１０を有する。このスピンドルモータ１０は、その出力軸が光ディスクＤを着脱自在に保持するターンテーブル（図示せず）に連結されている。このため、スピンドルモータ１０を駆動させることによって、ターンテーブルに保持された光ディスクＤが回転される。このスピンドルモータ１０の駆動制御は、スピンドルモータ駆動部１２（ドライバ）によって行われる。
【００２１】
また、光ディスク装置１は、光ディスクＤに光を照射するとともに光ディスクＤで反射される光を受光する光ピックアップ２０を有する。この光ピックアップ２０は、光ディスクＤに記録される情報を読み取ったり、光ディスクＤに情報を書き込んだりするための装置である。図２は、本実施形態の光ピックアップ２０の外観構成を示す概略平面図である。なお、図２に示される光ピックアップ２０で光ディスクＤの情報の読み取り等を行う場合、光ディスクＤは紙面手前側に配置されることになる。
【００２２】
光ピックアップ２０は、情報の読み取りや書き込みを行う上で必要となる各種の部材が搭載されるベース２０１（本発明のベースの一例）を有する。光ピックアップ２０は、ベース２０１が光ディスク装置１内に配置される２本のガイドシャフトＧＳに摺動可能に支持されることで、光ディスクの半径方向（ラジアル方向）に移動可能とされる。そして、これにより、光ピックアップ２０は、回転する光ディスクＤの所望のアドレスにアクセスして情報の読み取りや書き込みを行うことが可能になる。
【００２３】
なお、ガイドシャフトＧＳによるベース２０１の支持は、ベース２０１の左右の端部に設けられる軸受け部２０１ａ、２０１ｂを使用して行われる。
【００２４】
ベース２０１に搭載される各種の部材には、光ディスクＤに光を照射するための半導体レーザ（光源）２０２、２０３、光ディスクＤからの戻り光（反射光）を受光して光電変換を行う光検出器２０４、半導体レーザから出射されたレーザ光を光ディスクＤに照射するとともに光ディスクＤからの戻り光を光検出器２０４へと導くための各種の光学部材等が含まれる。
【００２５】
光学部材には、対物レンズ２０５、２０６やコリメートレンズ（ベース２０１内に内蔵されており、図２には図示されない）が含まれる。対物レンズ２０５、２０６は、半導体レーザ２０２、２０３から出射された光を光ディスクＤの情報記録面ＲＳに集光するためのレンズである。対物レンズ２０５、２０６は、ベース１０内に埋め込まれるようにして取り付けられるアクチュエータ２１０に搭載され、フォーカス方向（光ディスクＤに接離する方向；図２において紙面に垂直な方向）やトラッキング方向（ラジアル方向に平行な方向；図２において上下方向）への移動が可能となっている。
【００２６】
アクチュエータ２１０は、対物レンズ２０５、２０６を保持するレンズホルダ２１０ａを有し、レンズホルダ２１０ａをワイヤ２１０ｂで揺動可能に支持する構成のものである。そして、コイル及び磁石を利用して発生させた力でレンズホルダ２１０ａ（すなわち対物レンズ２０５、２０６）を動かすものである。このようなタイプのアクチュエータは公知であるので、ここでは、その構成に関する詳細な説明は省略する。
【００２７】
コリメートレンズ（不図示）は、半導体レーザ２０２、２０３と対物レンズ２０５、２０６との間の光路中に配置され、光軸方向に移動可能に設けられる。このようにコリメートレンズを移動可能とするのは、対物レンズ２０５、２０６に入射する光の収束・発散度合いを調整して、球面収差の影響を適切に抑制できるようにするためである。
【００２８】
なお、光ピックアップ２０においては、半導体レーザや対物レンズの数が複数（２つずつ）となっているが、これは複数の光ディスク（例えば、ＢＤ、ＤＶＤ及びＣＤ）を互換可能とするためである。また、光ピックアップ２０においては、複数の光学部材（コリメートレンズ含む）や光検出器２０４が、半導体レーザ２０２が使用される場合と半導体レーザ２０３が使用される場合とで共用される構成となっている。
【００２９】
図１に戻って、光ピックアップ駆動部２１は、半導体レーザ２０２、２０３の駆動を制御するＬＤＤを含む。このＬＤＤは、光ピックアップ２０のベース２０１の裏面側（光ディスクＤに対向する面の反対側）に取り付けられる回路基板２０７（図２参照）上に設けられる。光ピックアップ駆動部２１は、その他、アクチュエータ２１０やコリメートレンズを光軸方向に移動する機構等の駆動制御を行うための駆動回路も備える。
【００３０】
また、信号生成部２２は、光検出器２０４から出力される電気信号を演算処理して、再生ＲＦ信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成し、制御部５０に出力する。
【００３１】
光ピックアップ移動機構３０は、光ピックアップ２０をラジアル方向に移動可能とする機構である。この光ピックアップ移動機構３０は、特に限定されるものではないが、例えばリードスクリュと、リードスクリュに係合してリードスクリュの回転を直線方向の動きに変換するティース部材（係合部材）を用いて実現できる。ティース部材は、光ピックアップ２０のベース２０１に固定される。光ピックアップ移動機構３０の駆動制御は、移動機構駆動部３１（ドライバ）によって行われる。
【００３２】
温度センサ４０は、光ピックアップ２０のベース２０１に取り付けられる回路基板２０７上に配設されるサーミスタである。
【００３３】
制御部５０は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、光ディスク装置１を構成する各部が実行すべき動作に応じて適宜制御処理を実行したり、また、制御に必要となる演算処理を実行したりする。制御部５０は、ＲＯＭ６１（Read Only Memory）及びＲＡＭ６２（Random Access Memory）を含む記憶部６０を備える。ＲＯＭ６１には、制御部５０が各種処理を行う上で必要となる各種のパラメータや動作プラグラムが記憶されている。ＲＡＭ６２はワーク領域として用いられ、また、各種情報の格納領域とされる。
【００３４】
制御部５０に含まれる再生処理部５１は、信号生成部２２で生成された再生ＲＦ信号の復号化処理を行ない、インターフェース７０を介して外部に再生データの出力を行う。また、制御部５０に含まれる記録処理部５２は、インターフェース７０を介して外部から入力されたデータを符号化する処理を行う。制御部５０は、符号化処理されたデータに基づいて光ピックアップ２０に関する制御指令を各部に出力する。この指令に基づいて光ピックアップ２０が動作されて、光ディスクＤに情報の書き込み（記録）が行われる。
【００３５】
制御部５０に含まれるサーボ処理部５３は、フォーカスサーボ制御を行うためにＦＥ信号に基づいてフォーカスドライブ信号を生成したり、トラッキングサーボ制御を行うためにＴＥ信号に基づいてトラッキングドライブ信号を生成したりする。制御部５０は、得られたフォーカスドライブ信号及びトラッキングドライブ信号に基づいてアクチュエータ２１０の制御指令を出す。これにより、アクチュエータ２１０が動作されてサーボ制御が行われる。この際、制御部５０は光ピックアップ移動機構３０の制御も適宜行う。
【００３６】
制御部５０に含まれる温度情報処理部５４は、温度センサ（サーミスタ）４０から出力される信号を適宜処理して、温度制御処理部５５に温度情報を与える。この温度情報処理部５４の詳細は後述する。
【００３７】
制御部５０に含まれる温度制御処理部５５は、温度情報処理部５４から与えられた温度データ（温度情報）に応じた温度制御処理を実行する。この温度制御処理には、例えば、温度データに基づいてアクチュエータ２１０を駆動して対物レンズ２０５、２０６のチルト量を変化させる処理が含まれてよい。また、この温度制御処理には、温度データに基づいてコリメートレンズを駆動させる機構を制御してコリメートレンズの光軸方向の位置を変化させる処理が含まれてよい。また、この温度制御処理には、温度データに基づいて半導体レーザ２０２、２０３のレーザパワーの目標レベルを変更させる処理が含まれてもよい。
【００３８】
図３は、本実施形態の光ディスク装置１が備える温度情報処理部５４の構成を示すブロック図である。図３に示すように、温度情報処理部５４は、Ａ／Ｄ変換部５４１と、温度換算部５４２と、フィルタ部５４３と、を備える。
【００３９】
Ａ／Ｄ変換部５４１は、温度センサ（サーミスタ）４０から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。温度換算部５４２は、Ａ／Ｄ変換部５４１から出力されたデジタル信号（電圧値）を予め用意された換算テーブルにしたがって温度データに変換する。温度換算部５４２は、得られた温度データ信号をフィルタ部５４３に出力するとともに温度制御処理部５５にも出力する。
【００４０】
フィルタ部５４３は、温度換算部５４２から出力される温度データ信号のフィルタリングを行う。フィルタ部５４３は、フィルタリングが行われた後の温度データ信号を温度制御処理部５５に出力する。すなわち、温度制御処理部５５には、温度換算部５４２から出力されてフィルタリングが行われた後に入力される温度情報と、温度換算部５４２から出力されてフィルタリングが行われることなく入力される温度情報と、が入力されることになる。このように２つの温度情報が温度制御処理部５５に入力される理由については、後述する。
【００４１】
図４は、本実施形態の光ディスク装置１が備える温度情報処理部５４に含まれるフィルタ部５４３で行われるフィルタ処理ブロックである。図４に示す第１の乗算部５４３ａは、入力を（１−ａ）倍して出力する。加算部５４３ｂは２つの入力信号の和を出力する。遅延部５４１ｃは１周期だけ信号を遅延する。第２の乗算部５４３ｂは、入力をａ倍して出力する。この構成は、公知の如く、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフする１次ローパスフィルタ（ＬＰＦ）である。
【００４２】
光ディスク装置１では、ＬＤＤ等の発熱部品が搭載される回路基板２０７上にサーミスタ４０を配設しているために、スピンアップ直後においてサーミスタ４０の検出温度が光ピックアップ２０周辺の実際の温度より高くなってしまう（上述の図６参照）。この点、１次ＬＰＦとして機能するフィルタ部５４３を設けたことにより、サーミスタ４０の検出温度と光ピックアップ２０周辺の実際の温度との差異を吸収することができる。なお、例えば、フィルタ部５４３のカットオフ周波数を０．００１Ｈｚとすることで、上述した差異の吸収を適切に行えることが実験的に得られている。
【００４３】
ところで、上述のように、光ディスク装置１では温度制御処理部５５にフィルタリングが行われたデータと、フィルタリングが行われていないデータとの２つの温度データ（温度情報）が入力されるようになっている。これは、温度制御処理部５５が、２つの温度データを選択的に使用できるようにするためである。
【００４４】
例えばスピンアップ開始から十分時間が経過した後においては、サーミスタ４０で検出される温度は、光ピックアップ２０周辺の実際の温度に対してほとんどずれを生じない（図６参照）。このために、例えばスピンアップ開始から十分時間が経過した後においては、サーミスタ４０から出力される信号をフィルタリングしない方が、好ましい温度情報を与える場合がある。その他、温度制御処理の内容によっては、発熱部品からの熱の影響を受けたサーミスタ４０からの温度データを使用して温度制御処理を行った方がよい場合もあり得る。このため、本実施形態のように、温度制御処理部５５が、２つの温度データを選択的に使用可能とする構成が好ましい。
【００４５】
以上のように、本実施形態の光ディスク装置１では、スピンアップ開始直後においても、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出できる。このために、光ディスク装置１では温度制御処理の精度向上が期待でき、結果として、光ディスク装置１の記録や再生品質の向上が期待できる。
【００４６】
以上に示した実施形態は本発明の一例であり、本発明の適用範囲は、以上に示した実施形態の構成に限定されるものではない。
【００４７】
例えば、以上に示した実施形態では、フィルタ部５４３が温度換算部５４２から出力される信号をフィルタリングする構成とした。しかし、本発明は、この構成に限定されるものではない。例えば、Ａ／Ｄ変換部５４１から出力された信号をフィルタ部でフィルタリングする構成としても構わない。また、場合によっては、Ａ／Ｄ変換部５４１に入力される前の信号をフィルタリングする構成としても構わない。この場合には、フィルタ部は、プログラムソフトによって構成されるものではなく、抵抗とコンデンサとを用いて構成されることになる。
【００４８】
また、以上に示した実施形態のフィルタ部５４３の構成（フィルタ処理ブロック）は例示にすぎない。例えば、フィルタ部は、１次ＬＰＦの構成（図４に示す構成）を複数並列に並べた構成であっても構わない。また、フィルタ部の処理ブロックは、図５に示すような、複数（Ｎ個）の乗算部と、複数（Ｎ−１個）の遅延部と、加算部と、を備える、いわゆる移動平均の処理ブロック等でもよい。なお、図５におけるＮは適宜決定すればよい。
【００４９】
また、以上に示した実施形態では、温度制御処理部５５に、フィルタリングが行われたデータと、フィルタリングが行われていないデータとの２つの温度データ（温度情報）が入力される構成とした。しかし、本発明は、この構成に限定されるものではない。すなわち、温度制御処理部５５において２つの温度情報が選択的に使用可能な構成であればよく、切換部によって２つの温度情報を切り換えて温度制御処理部５５に入力する構成としても構わない。また、場合によっては、フィルタリングが行われていないデータは、温度制御処理部５５に入力されない構成としても構わない。
【００５０】
また、以上においては、複数種類の光ディスクに対応すべく、光ディスク装置１に、半導体レーザや対物レンズが複数備えられる構成としたが、これらは１つずつの構成（この場合には、１種類の光ディスクに対応する場合と複数種類の光ディスクに対応する場合との両方の場合が想定される）でも勿論構わない。
【００５１】
また、以上に示した実施形態では、光ディスク装置が再生及び記録が可能である構成としたが、いずれか一方のみを行う光ディスク装置にも本発明は適用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明の光ディスク装置は、例えばＢＤレコーダやＢＤプレーヤ等の好適である。
【符号の説明】
【００５３】
１ 光ディスク装置
２０ 光ピックアップ
４０ 温度センサ
５５ 温度制御処理部
２０１ ベース
２０７ 回路基板
５４１ Ａ／Ｄ変換部
５４３ フィルタ部
Ｄ 光ディスク
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録される情報の再生を行ったり、光ディスクに情報を記録したりする際に使用される光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクを回転駆動して、光ディスクの情報を再生したり、光ディスクに情報を記録したりする光ディスク装置が普及している。このような光ディスク装置は、例えばＢＤレコーダ、ＢＤプレーヤ、ＤＶＤレコーダ、ＤＶＤプレーヤ等に備えられる。光ディスク装置には、光ディスクに光を照射するとともに光ディスクで反射された戻り光（反射光）を受光する光ピックアップが備えられ、この光ピックアップを用いて情報の読み取りや書き込みが行われる。
【０００３】
従来の光ディスク装置においては、温度センサが光ピックアップ周辺に配置されることがある（例えば特許文献１や２参照）。この温度センサによって測定された温度を利用して、例えば光ピックアップが備える半導体レーザ（レーザダイオード）の駆動制御や、光ピックアップが備えるレンズに関わる動作制御等が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２８７２７７号公報
【特許文献２】特開２００７−１５７２４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、光ピックアップ周辺の温度を測定する温度センサとして、例えば特許文献１に示されるように、光ピックアップの駆動を制御する回路（光源駆動用の回路やレンズ駆動用の回路）が形成される回路基板に配置されるサーミスタが使用されることがある。なお、上記回路基板は、通常、光ピックアップのベースに取り付けられる。
【０００６】
しかしながら、この構成では、サーミスタは、例えば回路基板上に設けられる発熱部品から発生する熱の影響を受け易い。この結果、サーミスタによって検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度と乖離してしまうことがある。そして、サーミスタで検出される温度情報に応じた温度制御処理を実行した場合に、不適切な制御動作が実行されることがある。なお、発熱部品としては、例えば半導体レーザを駆動するＬＤＤ（Laser Diode Driver）等が挙げられる。
【０００７】
上述した温度の乖離は、図６に示すように、光ディスクを装置（光ディスク装置）内に挿入してスピンアップ（光ディスクの再生や記録等が行えるようにする準備動作）が開始された直後において顕著に発生しやすい。図６において、横軸はスピンアップ開始からの経過時間であり、縦軸は温度である。また、図６において、実線は光ピックアップ周辺の実際の温度で、破線はサーミスタで検出される温度である。
【０００８】
スピンアップ開始により、それまでに駆動していなかったＬＤＤの駆動（半導体レーザの点灯）等が開始される。このために、ＬＤＤ周辺の温度が急激に上昇し、ＬＤＤ近傍に設けられることになるサーミスタで検出される温度も急激に上昇する。一方、光ピックアップ周辺の温度は、ＬＤＤ近傍の温度だけではなく、光ピックアップ周りの平均的な温度を対象としており、これは比較的緩やかに上昇する。この結果、上述の温度乖離が生じる。
【０００９】
このような温度乖離の対策として、例えば特許文献１に開示される技術を参考に、スピンアップ開始から所定期間、サーミスタで得られる温度情報を使用しないことも考えられる。しかしながら、このような構成では、サーミスタで得られる温度情報が使用可能となるまでの待機時間が長くなって、なかなか再生等が開始されないといった状況が発生することが懸念される。そして、そのような構成の光ディスク装置に対しては、ユーザが使い勝手が悪いとの印象を抱くことが懸念される。このため、他の対策が望まれる。
【００１０】
以上の点に鑑みて、本発明の目的は、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出して、適切な温度制御が可能な光ディスク装置を提供することである。特に、スピンアップ開始から、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出できる技術を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光を照射するとともに前記光ディスクで反射された反射光を受光する光ピックアップと、前記光ピックアップの周辺温度を検出するための温度センサと、前記温度センサから得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部と、を備える光ディスク装置であって、前記温度センサで検出された温度情報が前記温度制御処理部に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部が設けられている構成（第１の構成）となっている。
【００１２】
本構成によれば、フィルタ部の挿入により、温度センサで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度から乖離することを防止して適切な温度を検出可能である。そして、これにより、温度制御処理部による温度制御動作を適切にできるために、記録や再生の品質を向上可能である。
【００１３】
上記第１の構成の光ディスク装置において、前記温度センサから出力された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部を備え、前記フィルタ部は、前記Ａ／Ｄ変換部から出力されたデジタル信号が前記温度制御処理部に入力されるまでの間にフィルタリングを行う構成（第２の構成）とするのが好ましい。この構成では、フィルタ部がデジタルフィルタとなる。
【００１４】
上記第１及び第２の構成の光ディスク装置において、前記フィルタ部は、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフするローパスフィルタである構成（第３の構成）とするのが好ましい。
【００１５】
上記第１から第３のいずれかの構成の光ディスク装置において、前記温度制御処理部は、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われた後に入力された温度情報と、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われることなく入力された温度情報と、を選択的に使用可能に設けられる構成（第４の構成）であるのが好ましい。これにより、より適切な温度制御処理が可能になる。
【００１６】
上記第１から第４のいずれかの構成の光ディスク装置において、前記温度センサは、前記光ピックアップのベースに取り付けられる回路基板上に設けられるサーミスタである構成とするのが好ましい。本構成では、温度センサが回路基板上に設けられるＬＤＤ等の発熱部品の影響を受け易く、温度センサで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度から乖離し易くなるが、フィルタ部を設けた効果によって適切な温度検出が可能である。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、スピンアップ開始から光ピックアップ周辺の温度を正確に検出して、適切な温度制御が可能な光ディスク装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】本実施形態の光ピックアップの外観構成を示す概略平面図
【図３】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部の構成を示すブロック図
【図４】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部に含まれるフィルタ部で行われるフィルタ処理ブロック
【図５】本実施形態の光ディスク装置が備える温度情報処理部に含まれるフィルタ部で行われるフィルタ処理ブロックの他の構成を示す図
【図６】スピンアップ開始直後において、サーミスタで検出される温度が、光ピックアップ周辺の実際の温度と乖離する状態を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の光ディスク装置の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２０】
図１は、本実施形態の光ディスク装置１の構成を示すブロック図である。図１に示すように、光ディスク装置１はスピンドルモータ１０を有する。このスピンドルモータ１０は、その出力軸が光ディスクＤを着脱自在に保持するターンテーブル（図示せず）に連結されている。このため、スピンドルモータ１０を駆動させることによって、ターンテーブルに保持された光ディスクＤが回転される。このスピンドルモータ１０の駆動制御は、スピンドルモータ駆動部１２（ドライバ）によって行われる。
【００２１】
また、光ディスク装置１は、光ディスクＤに光を照射するとともに光ディスクＤで反射される光を受光する光ピックアップ２０を有する。この光ピックアップ２０は、光ディスクＤに記録される情報を読み取ったり、光ディスクＤに情報を書き込んだりするための装置である。図２は、本実施形態の光ピックアップ２０の外観構成を示す概略平面図である。なお、図２に示される光ピックアップ２０で光ディスクＤの情報の読み取り等を行う場合、光ディスクＤは紙面手前側に配置されることになる。
【００２２】
光ピックアップ２０は、情報の読み取りや書き込みを行う上で必要となる各種の部材が搭載されるベース２０１（本発明のベースの一例）を有する。光ピックアップ２０は、ベース２０１が光ディスク装置１内に配置される２本のガイドシャフトＧＳに摺動可能に支持されることで、光ディスクの半径方向（ラジアル方向）に移動可能とされる。そして、これにより、光ピックアップ２０は、回転する光ディスクＤの所望のアドレスにアクセスして情報の読み取りや書き込みを行うことが可能になる。
【００２３】
なお、ガイドシャフトＧＳによるベース２０１の支持は、ベース２０１の左右の端部に設けられる軸受け部２０１ａ、２０１ｂを使用して行われる。
【００２４】
ベース２０１に搭載される各種の部材には、光ディスクＤに光を照射するための半導体レーザ（光源）２０２、２０３、光ディスクＤからの戻り光（反射光）を受光して光電変換を行う光検出器２０４、半導体レーザから出射されたレーザ光を光ディスクＤに照射するとともに光ディスクＤからの戻り光を光検出器２０４へと導くための各種の光学部材等が含まれる。
【００２５】
光学部材には、対物レンズ２０５、２０６やコリメートレンズ（ベース２０１内に内蔵されており、図２には図示されない）が含まれる。対物レンズ２０５、２０６は、半導体レーザ２０２、２０３から出射された光を光ディスクＤの情報記録面ＲＳに集光するためのレンズである。対物レンズ２０５、２０６は、ベース１０内に埋め込まれるようにして取り付けられるアクチュエータ２１０に搭載され、フォーカス方向（光ディスクＤに接離する方向；図２において紙面に垂直な方向）やトラッキング方向（ラジアル方向に平行な方向；図２において上下方向）への移動が可能となっている。
【００２６】
アクチュエータ２１０は、対物レンズ２０５、２０６を保持するレンズホルダ２１０ａを有し、レンズホルダ２１０ａをワイヤ２１０ｂで揺動可能に支持する構成のものである。そして、コイル及び磁石を利用して発生させた力でレンズホルダ２１０ａ（すなわち対物レンズ２０５、２０６）を動かすものである。このようなタイプのアクチュエータは公知であるので、ここでは、その構成に関する詳細な説明は省略する。
【００２７】
コリメートレンズ（不図示）は、半導体レーザ２０２、２０３と対物レンズ２０５、２０６との間の光路中に配置され、光軸方向に移動可能に設けられる。このようにコリメートレンズを移動可能とするのは、対物レンズ２０５、２０６に入射する光の収束・発散度合いを調整して、球面収差の影響を適切に抑制できるようにするためである。
【００２８】
なお、光ピックアップ２０においては、半導体レーザや対物レンズの数が複数（２つずつ）となっているが、これは複数の光ディスク（例えば、ＢＤ、ＤＶＤ及びＣＤ）を互換可能とするためである。また、光ピックアップ２０においては、複数の光学部材（コリメートレンズ含む）や光検出器２０４が、半導体レーザ２０２が使用される場合と半導体レーザ２０３が使用される場合とで共用される構成となっている。
【００２９】
図１に戻って、光ピックアップ駆動部２１は、半導体レーザ２０２、２０３の駆動を制御するＬＤＤを含む。このＬＤＤは、光ピックアップ２０のベース２０１の裏面側（光ディスクＤに対向する面の反対側）に取り付けられる回路基板２０７（図２参照）上に設けられる。光ピックアップ駆動部２１は、その他、アクチュエータ２１０やコリメートレンズを光軸方向に移動する機構等の駆動制御を行うための駆動回路も備える。
【００３０】
また、信号生成部２２は、光検出器２０４から出力される電気信号を演算処理して、再生ＲＦ信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成し、制御部５０に出力する。
【００３１】
光ピックアップ移動機構３０は、光ピックアップ２０をラジアル方向に移動可能とする機構である。この光ピックアップ移動機構３０は、特に限定されるものではないが、例えばリードスクリュと、リードスクリュに係合してリードスクリュの回転を直線方向の動きに変換するティース部材（係合部材）を用いて実現できる。ティース部材は、光ピックアップ２０のベース２０１に固定される。光ピックアップ移動機構３０の駆動制御は、移動機構駆動部３１（ドライバ）によって行われる。
【００３２】
温度センサ４０は、光ピックアップ２０のベース２０１に取り付けられる回路基板２０７上に配設されるサーミスタである。
【００３３】
制御部５０は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、光ディスク装置１を構成する各部が実行すべき動作に応じて適宜制御処理を実行したり、また、制御に必要となる演算処理を実行したりする。制御部５０は、ＲＯＭ６１（Read Only Memory）及びＲＡＭ６２（Random Access Memory）を含む記憶部６０を備える。ＲＯＭ６１には、制御部５０が各種処理を行う上で必要となる各種のパラメータや動作プラグラムが記憶されている。ＲＡＭ６２はワーク領域として用いられ、また、各種情報の格納領域とされる。
【００３４】
制御部５０に含まれる再生処理部５１は、信号生成部２２で生成された再生ＲＦ信号の復号化処理を行ない、インターフェース７０を介して外部に再生データの出力を行う。また、制御部５０に含まれる記録処理部５２は、インターフェース７０を介して外部から入力されたデータを符号化する処理を行う。制御部５０は、符号化処理されたデータに基づいて光ピックアップ２０に関する制御指令を各部に出力する。この指令に基づいて光ピックアップ２０が動作されて、光ディスクＤに情報の書き込み（記録）が行われる。
【００３５】
制御部５０に含まれるサーボ処理部５３は、フォーカスサーボ制御を行うためにＦＥ信号に基づいてフォーカスドライブ信号を生成したり、トラッキングサーボ制御を行うためにＴＥ信号に基づいてトラッキングドライブ信号を生成したりする。制御部５０は、得られたフォーカスドライブ信号及びトラッキングドライブ信号に基づいてアクチュエータ２１０の制御指令を出す。これにより、アクチュエータ２１０が動作されてサーボ制御が行われる。この際、制御部５０は光ピックアップ移動機構３０の制御も適宜行う。
【００３６】
制御部５０に含まれる温度情報処理部５４は、温度センサ（サーミスタ）４０から出力される信号を適宜処理して、温度制御処理部５５に温度情報を与える。この温度情報処理部５４の詳細は後述する。
【００３７】
制御部５０に含まれる温度制御処理部５５は、温度情報処理部５４から与えられた温度データ（温度情報）に応じた温度制御処理を実行する。この温度制御処理には、例えば、温度データに基づいてアクチュエータ２１０を駆動して対物レンズ２０５、２０６のチルト量を変化させる処理が含まれてよい。また、この温度制御処理には、温度データに基づいてコリメートレンズを駆動させる機構を制御してコリメートレンズの光軸方向の位置を変化させる処理が含まれてよい。また、この温度制御処理には、温度データに基づいて半導体レーザ２０２、２０３のレーザパワーの目標レベルを変更させる処理が含まれてもよい。
【００３８】
図３は、本実施形態の光ディスク装置１が備える温度情報処理部５４の構成を示すブロック図である。図３に示すように、温度情報処理部５４は、Ａ／Ｄ変換部５４１と、温度換算部５４２と、フィルタ部５４３と、を備える。
【００３９】
Ａ／Ｄ変換部５４１は、温度センサ（サーミスタ）４０から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。温度換算部５４２は、Ａ／Ｄ変換部５４１から出力されたデジタル信号（電圧値）を予め用意された換算テーブルにしたがって温度データに変換する。温度換算部５４２は、得られた温度データ信号をフィルタ部５４３に出力するとともに温度制御処理部５５にも出力する。
【００４０】
フィルタ部５４３は、温度換算部５４２から出力される温度データ信号のフィルタリングを行う。フィルタ部５４３は、フィルタリングが行われた後の温度データ信号を温度制御処理部５５に出力する。すなわち、温度制御処理部５５には、温度換算部５４２から出力されてフィルタリングが行われた後に入力される温度情報と、温度換算部５４２から出力されてフィルタリングが行われることなく入力される温度情報と、が入力されることになる。このように２つの温度情報が温度制御処理部５５に入力される理由については、後述する。
【００４１】
図４は、本実施形態の光ディスク装置１が備える温度情報処理部５４に含まれるフィルタ部５４３で行われるフィルタ処理ブロックである。図４に示す第１の乗算部５４３ａは、入力を（１−ａ）倍して出力する。加算部５４３ｂは２つの入力信号の和を出力する。遅延部５４１ｃは１周期だけ信号を遅延する。第２の乗算部５４３ｂは、入力をａ倍して出力する。この構成は、公知の如く、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフする１次ローパスフィルタ（ＬＰＦ）である。
【００４２】
光ディスク装置１では、ＬＤＤ等の発熱部品が搭載される回路基板２０７上にサーミスタ４０を配設しているために、スピンアップ直後においてサーミスタ４０の検出温度が光ピックアップ２０周辺の実際の温度より高くなってしまう（上述の図６参照）。この点、１次ＬＰＦとして機能するフィルタ部５４３を設けたことにより、サーミスタ４０の検出温度と光ピックアップ２０周辺の実際の温度との差異を吸収することができる。なお、例えば、フィルタ部５４３のカットオフ周波数を０．００１Ｈｚとすることで、上述した差異の吸収を適切に行えることが実験的に得られている。
【００４３】
ところで、上述のように、光ディスク装置１では温度制御処理部５５にフィルタリングが行われたデータと、フィルタリングが行われていないデータとの２つの温度データ（温度情報）が入力されるようになっている。これは、温度制御処理部５５が、２つの温度データを選択的に使用できるようにするためである。
【００４４】
例えばスピンアップ開始から十分時間が経過した後においては、サーミスタ４０で検出される温度は、光ピックアップ２０周辺の実際の温度に対してほとんどずれを生じない（図６参照）。このために、例えばスピンアップ開始から十分時間が経過した後においては、サーミスタ４０から出力される信号をフィルタリングしない方が、好ましい温度情報を与える場合がある。その他、温度制御処理の内容によっては、発熱部品からの熱の影響を受けたサーミスタ４０からの温度データを使用して温度制御処理を行った方がよい場合もあり得る。このため、本実施形態のように、温度制御処理部５５が、２つの温度データを選択的に使用可能とする構成が好ましい。
【００４５】
以上のように、本実施形態の光ディスク装置１では、スピンアップ開始直後においても、光ピックアップ周辺の温度を正確に検出できる。このために、光ディスク装置１では温度制御処理の精度向上が期待でき、結果として、光ディスク装置１の記録や再生品質の向上が期待できる。
【００４６】
以上に示した実施形態は本発明の一例であり、本発明の適用範囲は、以上に示した実施形態の構成に限定されるものではない。
【００４７】
例えば、以上に示した実施形態では、フィルタ部５４３が温度換算部５４２から出力される信号をフィルタリングする構成とした。しかし、本発明は、この構成に限定されるものではない。例えば、Ａ／Ｄ変換部５４１から出力された信号をフィルタ部でフィルタリングする構成としても構わない。また、場合によっては、Ａ／Ｄ変換部５４１に入力される前の信号をフィルタリングする構成としても構わない。この場合には、フィルタ部は、プログラムソフトによって構成されるものではなく、抵抗とコンデンサとを用いて構成されることになる。
【００４８】
また、以上に示した実施形態のフィルタ部５４３の構成（フィルタ処理ブロック）は例示にすぎない。例えば、フィルタ部は、１次ＬＰＦの構成（図４に示す構成）を複数並列に並べた構成であっても構わない。また、フィルタ部の処理ブロックは、図５に示すような、複数（Ｎ個）の乗算部と、複数（Ｎ−１個）の遅延部と、加算部と、を備える、いわゆる移動平均の処理ブロック等でもよい。なお、図５におけるＮは適宜決定すればよい。
【００４９】
また、以上に示した実施形態では、温度制御処理部５５に、フィルタリングが行われたデータと、フィルタリングが行われていないデータとの２つの温度データ（温度情報）が入力される構成とした。しかし、本発明は、この構成に限定されるものではない。すなわち、温度制御処理部５５において２つの温度情報が選択的に使用可能な構成であればよく、切換部によって２つの温度情報を切り換えて温度制御処理部５５に入力する構成としても構わない。また、場合によっては、フィルタリングが行われていないデータは、温度制御処理部５５に入力されない構成としても構わない。
【００５０】
また、以上においては、複数種類の光ディスクに対応すべく、光ディスク装置１に、半導体レーザや対物レンズが複数備えられる構成としたが、これらは１つずつの構成（この場合には、１種類の光ディスクに対応する場合と複数種類の光ディスクに対応する場合との両方の場合が想定される）でも勿論構わない。
【００５１】
また、以上に示した実施形態では、光ディスク装置が再生及び記録が可能である構成としたが、いずれか一方のみを行う光ディスク装置にも本発明は適用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明の光ディスク装置は、例えばＢＤレコーダやＢＤプレーヤ等の好適である。
【符号の説明】
【００５３】
１ 光ディスク装置
２０ 光ピックアップ
４０ 温度センサ
５５ 温度制御処理部
２０１ ベース
２０７ 回路基板
５４１ Ａ／Ｄ変換部
５４３ フィルタ部
Ｄ 光ディスク
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光を照射するとともに前記光ディスクで反射された反射光を受光する光ピックアップと、
前記光ピックアップの周辺温度を検出するための温度センサと、
前記温度センサから得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部と、
を備える光ディスク装置であって、
前記温度センサで検出された温度情報が前記温度制御処理部に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部が設けられていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記温度センサから出力された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部を備え、
前記フィルタ部は、前記Ａ／Ｄ変換部から出力されたデジタル信号が前記温度制御処理部に入力されるまでの間にフィルタリングを行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記フィルタ部は、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフするローパスフィルタであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記温度制御処理部は、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われた後に入力された温度情報と、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われることなく入力された温度情報と、を選択的に使用可能に設けられることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記温度センサは、前記光ピックアップのベースに取り付けられる回路基板上に設けられるサーミスタであることを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１】
光ディスクに光を照射するとともに前記光ディスクで反射された反射光を受光する光ピックアップと、
前記光ピックアップの周辺温度を検出するための温度センサと、
前記温度センサから得られる温度情報に応じた温度制御処理を実行する温度制御処理部と、
を備える光ディスク装置であって、
前記温度センサで検出された温度情報が前記温度制御処理部に入力されるまでの間に、信号のフィルタリングを行うフィルタ部が設けられていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記温度センサから出力された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部を備え、
前記フィルタ部は、前記Ａ／Ｄ変換部から出力されたデジタル信号が前記温度制御処理部に入力されるまでの間にフィルタリングを行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記フィルタ部は、所定の周波数以上の高周波成分をカットオフするローパスフィルタであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記温度制御処理部は、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われた後に入力された温度情報と、前記温度センサから出力されて前記フィルタ部でフィルタリングが行われることなく入力された温度情報と、を選択的に使用可能に設けられることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記温度センサは、前記光ピックアップのベースに取り付けられる回路基板上に設けられるサーミスタであることを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１２−２５２７４３（Ｐ２０１２−２５２７４３Ａ）
【公開日】平成２４年１２月２０日（２０１２．１２．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１２４８７８（Ｐ２０１１−１２４８７８）
【出願日】平成２３年６月３日（２０１１．６．３）
【出願人】（０００２０１１１３）船井電機株式会社 (7,855)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１２月２０日（２０１２．１２．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年６月３日（２０１１．６．３）
【出願人】（０００２０１１１３）船井電機株式会社 (7,855)
【Ｆターム（参考）】
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