分光光度計および分光分析方法
【課題】
分光分析は分析者の経験と測定データの確認作業の繰り返しを必要とするので、経験者以外は分析が困難、また精度の高い結果を得るまで分析を繰り返す必要があった。
【解決手段】
試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段を備えた分光光度計において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅をデータ処理部に記憶する手段と、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めるステップとを有する。
分光分析は分析者の経験と測定データの確認作業の繰り返しを必要とするので、経験者以外は分析が困難、また精度の高い結果を得るまで分析を繰り返す必要があった。
【解決手段】
試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段を備えた分光光度計において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅をデータ処理部に記憶する手段と、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めるステップとを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光手段により分光した測定光を走査し、測定を実行する分光光度計および分光分析方法に関し、特に波長走査（波長スキャン）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
分光光度計は、これまで、試料を分光光度計に設置して波長スキャン測定を行う場合、測定開始前に測定条件の設定画面で、測定条件を設定して予め測定（ベースライン補正）をする。この測定では、設定された波長走査範囲を同一、もしくは二段階の波長走査速度での測定条件で測定を行っていた。なお、波長走査速度は、ノイズ幅（Ａｂｓ）とのバランスで熟練した測定者が波長走査速度を決定している。
【０００３】
ノイズ幅という用語は光度計分野の技術用語として使われる。例えば、分光分析の結果を示す図面において横軸を波長、縦軸を吸光度（Ａｂｓ）とし、測定した波長領域で、ノイズ幅を確認するための波長（１０ｎｍ分）において、吸光度（Ａｂｓ）の最大値と最小値の高さの幅を、ノイズ幅と定義している。
【０００４】
測定条件である波長走査速度を高速にすると、測定時間は短くなるが、走査中に取り込めるデータ数が少なくなるため、データ処理での積分回数が減少して測定精度が悪くなってしまう。
【０００５】
測定条件である波長走査速度を低速にすると、測定時間は長くなるが、走査中に取り込めるデータ数が多くなるため、データ処理での積分回数が増加して測定精度が良くなる。
【０００６】
また、検出手段である検知器には波長感度特性があり、各波長域でのノイズ幅が変動してしまうため、各波長域毎に波長走査速度を変え、最適化するためには複数回の条件設定と測定をする必要があった。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−２２７１２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従来の測定手順では、分析者の経験と測定データの確認作業の繰り返しを必要とするので、経験者以外は分析が困難、また精度の高い結果を得るまで分析を繰り返す必要があった。
【０００９】
また、各波長域でのノイズ幅が異なるため、波長毎に走査速度を検討する必要も有った。
【００１０】
本発明の１つの目的は、分析者の経験に依ることなく、適切な波長走査速度を求め、かつ、測定を何度も繰り返さず、一回のまたは少ない測定回数で適切な測定精度が得られる分光光度計を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の１つの特徴は、分光光度計において、試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段とを備え、前記データ処理手段において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行い、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を設定することである。
【００１２】
本発明の他の１つの特徴は、試料に対して測定光を照射し、測定光を任意の波長に分光し、当該分光された波長について光度検出を行う分光分析方法において、ノイズ幅判定値を記憶し、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力し、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶されたノイズ幅判定値との比較判定し、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めることである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の１つの実施態様によれば、分析者の経験に依ることなく、適切な波長走査速度を求め、かつ、測定を何度も繰り返さず、一回のまたは少ない測定回数で適切な測定精度が得られる分光光度計を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、例えば、波長領域毎に最適な走査速度を求めるという目的を、試料測定前に一度測定を行い各波長域でのノイズ幅の値を記録して、そのノイズ幅の値から波長走査速度を決定することにより、一回の測定回数で求めることを実現する実施の形態について、説明する。
【実施例１】
【００１５】
本発明の実施例について、図１〜図３および表１，表２を用いて説明する。
【００１６】
まず、図１を用いて、実施例１の分光光度計の概要について説明する。分光光度計１は、光源２，分光器３，試料室４，検知器５で構成される。光源２から出た測定光６は、分光器３へ導かれる。分光器３によって、光はスペクトル分光され任意の波長が選択可能となり、波長走査が行われる。分光器３でスペクトル分光された測定光６は、試料室４を通り、検知器５へ導かれる。
【００１７】
図２を用いて、分光光度計の制御方法について、説明する。分光光度計２０は、分光光度計を制御する制御手段２２，測定手段２３，記憶手段２４，データ処理手段２５，判定手段２６で構成される。また、分光光度計２０は外部機器として入力手段２１，表示手段２７を有する。入力手段２１はキーボードやマウス、表示手段２７はディスプレイを含む。
【００１８】
入力手段２１で、予めノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブルの指定および入力をする。また、入力手段２１で、測定条件である波長走査範囲，波長走査速度を入力する。前記入力手段２１で入力された測定条件が、制御手段２２に一時格納され、測定手段２３へ送られる。送信された測定条件が測定手段２３で設定される。
【００１９】
また、入力手段２１で入力されたノイズ幅判定値および波長走査速度のテーブルが、制御手段２２を介して記憶手段２４へ送られ記憶される。
【００２０】
前記測定手段２３で設定された測定条件で、ベースライン補正測定を実行する。ベースラインは、現在設定されている測定条件で、各波長において基準となる値である。ベースライン補正の結果はデータ処理手段２５において、測定手段２３で得られた結果を元にＡ／Ｄ変換を行い、判定手段２６へ結果が送られる。
【００２１】
データ処理手段２５でＡ／Ｄ変換された結果と、記憶手段２４で記憶しているノイズ幅判定値との比較判定を、判定手段２６で行う。判定手段２６で判定された結果を基に、各波長域の波長走査速度が自動的に設定される。設定された波長走査速度が、制御手段２２を介して測定手段２３および記憶手段２４へ送られる。
【００２２】
前記で送られた条件を元に、再度測定手段２３でベースライン補正測定を行う。ベースライン補正測定終了後、ベースライン補正結果はデータ処理手段２５へ一時格納され、次に測定手段２３で試料の測定を実行する。
【００２３】
試料の測定終了後、前記データ処理手段２５へ一時格納されているベースライン補正結果を基に、データ処理手段２５でＡ／Ｄ変換され、制御手段２２を介して表示手段２７で結果が表示される。
【００２４】
分光光度計の測定フローについて説明する。
【００２５】
測定条件の設定を行う前に、表１のテーブル１もしくは表２のテーブル２でノイズ幅判定値を入力する。表１は、本発明の実施例に係るもので、ノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブル１の関係を示す表である。表２は、本発明の実施例に係るもので、ノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブル２の関係を示す表である。
【００２６】
【表１】
【００２７】
【表２】
【００２８】
ノイズ幅判定値を２種以上の複数有し、本実施例では、記号Ａ〜Ｅの５種有している。そして、ノイズ幅判定値毎に、固有の波長走査速度を有する。また、前記ノイズ幅判定値１つに対して、表１のテーブル１と表２のテーブル２の波長走査速度を有する。波長走査速度は、テーブル１またはテーブル２で設定の方法が異なる。
【００２９】
以下、図３を用いて、表１のテーブル１を使用したノイズ幅判定値の設定から試料測定終了までの測定フローの各ステップを説明する。
【００３０】
測定条件の設定５３を行う前に、予めノイズ幅判定値の設定５２を行う。ノイズ幅判定値は吸光度Ａｂｓで入力を行い、波長走査速度は、ここでは表１のテーブル１を設定する。
【００３１】
表１では、ノイズ幅判定値は記号Ａ〜Ｅで設定でき、各々設定可能範囲が異なる。波長走査速度は固有の波長走査速度の中から、ノイズ幅判定値に応じて入力する。表１のテーブル１は初期値が入力されており、必要に応じて波長走査速度の変更を行う。記号Ａはノイズ幅判定値が大きく、それに伴い波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。測定時間は長くなるが、データ処理での積分回数が増加するため、ノイズ幅は小さくなる。また、記号Ｅはノイズ幅判定値が小さく、それに伴い波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。測定時間は短くなるが、データ処理での積分回数が減少するため、ノイズ幅が大きくなる。例えば、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値が記号Ａの１＜Ａｂｓであった場合、波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。データ処理での積分回数が増加するため、測定結果はノイズ幅が小さい結果となる。例えば、波長走査範囲２００〜９００ｎｍで、波長走査速度３０ｎｍ／minとした場合、測定時間は約１４００秒（約２４分）かかるが、データ点数が多いため、全体的にノイズ幅が小さくなる。
【００３２】
前記同波長範囲で、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値が記号ＥのＡｂｓ≦０.００１Ａｂｓであった場合、波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。データ処理での積分回数が減少するため、測定結果はノイズ幅が大きい結果となる。例えば、前記同波長範囲で、波長走査速度１,２００ｎｍ／minとした場合、測定時間は約３５秒で終了できるが、データ点数が少なくなるため、全体的にノイズ幅が大きくなる。
【００３３】
ノイズ幅判定値の設定５２後、測定条件の設定５３を行う。測定条件では、波長走査範囲，波長走査速度を入力する。例えば、波長走査範囲：２００〜９００ｎｍ、波長走査速度：３００ｎｍ／minと入力する。
【００３４】
試料測定前のベースライン補正の実行５４をする。測定条件の設定５３で入力された測定条件で、ベースライン補正の実行５４を行うことにより、指定した波長走査範囲，波長走査速度での各波長のノイズ幅の記憶５５を行う。
【００３５】
ノイズ幅判定値の設定５２で予め入力されたノイズ幅判定値と、前記ベースライン補正の実行５４の際に得られた各波長でのノイズ幅で、ノイズ幅判定値との比較５６を行い、波長領域毎（１０ｎｍ間隔）で判定を行う。
【００３６】
ノイズ幅判定値との比較５６の結果が、ノイズ幅判定値以内の波長域５７（図中ＹＥＳの場合）は、現在の波長走査速度を維持５８する。
【００３７】
ベースライン補正測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より大きい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を遅く設定する。また、測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より小さい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を速く設定する。
【００３８】
例えば、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minで走査を行い、その結果が波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓ，波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１Ａｂｓの場合、ノイズ幅に応じた波長走査速度をステップ５９からステップ６５により、判定する。すなわち、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓの場合、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＹＥＳであり、ステップ６２で波長走査速度：１２０ｎｍ／minと、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minより遅く設定され、ステップ６８へ進む。波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１の場合、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＹＥＳであり、ステップ６４で波長走査速度：３００ｎｍ／minと、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minと同一波長走査速度を維持するよう設定されされ、最適測定条件の再設定のステップ６８へ進む。
【００３９】
結果として、図３および表１より、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍを波長走査速度：１２０ｎｍ／minとし、波長走査範囲３５０〜７５０ｎｍはノイズ幅判定値以内の結果であるので、波長走査速度：３００ｎｍ／minを維持し、最適化されたことになる。
【００４０】
前記で判定した各波長での最適波長走査速度で、最適測定条件の再設定６８を行い、ベースライン補正の再実行６９を行う。
【００４１】
ベースライン補正の再実行６９の終了後、試料のセット７０を行い、試料測定の実行７１をする。
【００４２】
試料測定後、図２の表示手段２７に、ベースライン補正結果を基に試料測定の補正を行った、試料測定結果の表示７２がされる。
【００４３】
表示された測定結果の確認７３を行い、測定の終了７４となる。
【００４４】
図３の内容について補足する。例えば、ノイズ幅が１Ａｂｓより大きい場合は、ステップ５９でＹＥＳであり、ステップ６０で波長走査速度は、１２０ｎｍ／minと設定される。ノイズ幅が０.０５Ａｂｓより大きく１Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＹＥＳであり、ステップ６２で波長走査速度は、１２０ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００５Ａｂｓより大きく０.０５Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＹＥＳであり、ステップ６４で波長走査速度は、３００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００１Ａｂｓより大きく０.００５Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＮＯであり、ステップ６５でＹＥＳであり、ステップ６６で波長走査速度は、６００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００１Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＮＯであり、ステップ６５でＮＯであり、ステップ６７で波長走査速度は、１２００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。
【実施例２】
【００４５】
次に、図３を用いて、表２のテーブル２を使用したノイズ幅判定値の設定から試料測定終了までの測定フローの実施例２を説明する。
【００４６】
測定条件の設定５３を行う前に、予めノイズ幅判定値の設定５２を行う。ノイズ幅判定値は吸光度Ａｂｓで入力を行う。波長走査速度は、ここでは表２のテーブル２を設定する。
【００４７】
表２では、ノイズ幅判定値は記号Ａ〜Ｅで設定でき、各々設定可能範囲が異なる。テーブル２の波長走査速度は、基準値に係数（Ｙ）を乗じた波長走査速度が設定される。本実施例では、波長走査速度３００ｎｍ／minを初期設定した場合で、ここではテーブル２のＣを基準値としたテーブルとする。そのため、テーブル２のＡは３０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.１）、Ｂは１２０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.４）、Ｃは３００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×１.０）、Ｄは６００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×２.０）、Ｅは１,２００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×４.０）の波長走査速度に設定される。係数（Ｙ）の値は初期値が入力されており、係数（Ｙ）の値は任意に変更が可能である。本実施例では、具体的な波長走査速度の値を入力・設定する代わりに、係数（Ｙ）の値を入力・設定することができるので、具体的な数値の入力の手間が省けることや、すべての種類（記号Ａ〜Ｅ）の具体的な数値を把握していなくとも、適切な波長走査速度などのパラメータを設定できる。
【００４８】
記号Ａはノイズ幅判定値が大きく、それに伴い波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。測定時間は長くなるが、データ処理での積分回数が増加するため、ノイズ幅は小さくなる。また、記号Ｅはノイズ幅判定値が小さく、それに伴い波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。測定時間は短くなるが、データ処理での積分回数が減少するため、ノイズ幅が大きくなる。例えば、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値がＡの１＜Ａｂｓであった場合、波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。データ処理での積分回数が増加するため、測定結果はノイズ幅が小さい結果となる。例えば、波長走査範囲２００〜９００ｎｍで、波長走査速度３０ｎｍ／minとした場合、測定時間は約１４００秒（約２４分）かかるが、データ点数が多いため、全体的にノイズ幅が小さくなる。
【００４９】
前記同波長範囲で、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値がＥのＡｂｓ≦０.００１Ａｂｓであった場合、波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。データ処理での積分回数が減少するため、測定結果はノイズ幅が大きい結果となる。例えば、前記同波長範囲で、波長走査速度１,２００ｎｍ／minとした場合、測定時間は約３５秒で終了できるが、データ点数が少なくなるため、全体的にノイズ幅が大きくなる。
【００５０】
図３のフローにおいて、処理を開始５１し、ノイズ幅判定値の設定５２後、測定条件の設定５３を行う。測定条件では、波長走査範囲，波長走査速度を入力する。例えば、波長走査範囲：２００〜９００ｎｍ，波長走査速度：３００ｎｍ／minと入力する。
【００５１】
試料測定前のベースライン補正の実行５４をする。測定条件の設定５３で入力された測定条件で、ベースライン補正の実行５４を行うことにより、指定した波長走査範囲，波長走査速度での各波長のノイズ幅の記憶５５を行う。
【００５２】
ノイズ幅判定値の設定５２で予め入力されたノイズ幅判定値と、前記ベースライン補正の実行５４時に得られた各波長でのノイズ幅で、ノイズ幅判定値との比較５６を行い、波長領域毎（１０ｎｍ間隔）で判定を行う。
【００５３】
ノイズ幅判定値との比較５６の結果が、ノイズ幅判定値以内の波長域５７（図中ＹＥＳの場合）は、現在の波長走査速度を維持５８する。
【００５４】
ベースライン補正測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より大きい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を遅く設定する。また、測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より小さい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を速く設定する。例えば、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minで走査を行い、その結果が波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓ、波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１Ａｂｓの場合、ノイズ幅に応じた波長走査速度を判定する。図３および表２より、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍを波長走査速度：１２０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.４）とし、波長走査範囲３５０〜７５０ｎｍはノイズ幅判定値以内の結果であるので、波長走査速度：３００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×１.０）を維持し、最適化されたことになる。
【００５５】
前記で判定した各波長での最適波長走査速度で、最適測定条件の再設定６８を行い、ベースライン補正の再実行６９を行う。
【００５６】
ベースライン補正の再実行６９の終了後、試料のセット７０を行い、試料測定の実行７１をする。
【００５７】
試料測定後、図２の表示手段２７に、ベースライン補正結果を基に試料測定の補正を行った、試料測定結果の表示７２がされる。
【００５８】
表示された測定結果の確認７３を行い、測定の終了７４となる。
【００５９】
前記までの実施例の内容から、ノイズ幅判定値を予め設定し、試料測定前にベースライン補正をすることで、各波長でノイズ幅が判定値より大きい場合は、波長走査速度を遅くして、逆にノイズ幅が判定値より小さい場合は、波長走査速度を速くして、一回もしくは最低限の測定回数で最適な測定精度が得られ、また時間の短縮を図ることができる。したがって、分析者の経験に依ることなく、一回もしくは最低限の測定回数で最適な測定精度を得ることができる。
【００６０】
本発明の実施態様では、例えば、波長走査範囲の全領域で、ノイズ幅を予め設定されたある一定の範囲に抑えるため、２種以上の固有の波長走査速度を可変し、各波長毎の最適な波長走査速度を決定する。また、波長走査速度を可変することで、検知器の感度の高いもしくは低い波長範囲をもつ波長感度特性を考慮することができる。そのため、分析者の経験に依らず、一回または最低限の測定回数で最適な測定条件および測定精度が得られ、測定時間の短縮が可能となる。
【００６１】
また、本発明の実施態様では、例えば、測定者の手を煩わすことなく、基本データ（ベースラインデータ）を取得後、そのデータを基に補正を行い、一回または最低限の測定回数で走査波長範囲のノイズ幅を一定値内に抑えることができる。
【００６２】
また、本明細書では、例えば、（１）試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段を備えた分光光度計において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅をデータ処理部に記憶する手段と、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めるステップとを有することが開示される。また、例えば、（２）上記（１）において、制御手段内にノイズ幅の値に応じて前記記憶手段のノイズ幅判定値を２種以上有し、前記ノイズ幅判定値毎に固有の波長走査速度を有することが開示される。また、例えば、（３）上記（１），（２）において、制御手段内に前記記憶手段のノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の固有の波長走査速度を有することが開示される。また、例えば、（４）上記（１）において、測定者が要求するノイズ幅値を入力手段に備え、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記入力手段の要求するノイズ幅値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更するステップとを有することが開示される。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施例に係るもので、分光光度計の概要を示す図である。
【図２】本発明の実施例に係るもので、分光光度計の制御方法を示す図である。
【図３】本発明の実施例に係るもので、測定のフローチャートである。
【符号の説明】
【００６４】
１，２０ 分光光度計
２ 光源
３ 分光器
４ 試料室
５ 検知器
６ 測定光
２１ 入力手段
２２ 制御手段
２３ 測定手段
２４ 記憶手段
２５ データ処理手段
２６ 判定手段
２７ 表示手段
５１ 開始
５２ ノイズ幅判定値の設定
５３ 測定条件の設定
５４ ベースライン補正の実行
５５ 各波長のノイズ幅の記憶
５６ ノイズ幅判定値との比較
５７ ノイズ幅判定値以内の波長域
５８ 現在の波長走査速度を維持
５９ ノイズ幅判定値１＜Ａｂｓ
６０ 波長走査速度３０ｎｍ／min
６１ ノイズ幅判定値０.０５＜Ａｂｓ≦１
６２ 波長走査速度１２０ｎｍ／min
６３ ノイズ幅判定値０.００５＜Ａｂｓ≦０.０５
６４ 波長走査速度３００ｎｍ／min
６５ ノイズ幅判定値０.００１＜Ａｂｓ≦０.００５
６６ 波長走査速度６００ｎｍ／min
６７ 波長走査速度１,２００ｎｍ／min
６８ 最適測定条件の再設定
６９ ベースライン補正の再実行
７０ 試料のセット
７１ 試料測定の実行
７２ 測定結果の表示
７３ 測定結果の確認
７４ 終了
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光手段により分光した測定光を走査し、測定を実行する分光光度計および分光分析方法に関し、特に波長走査（波長スキャン）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
分光光度計は、これまで、試料を分光光度計に設置して波長スキャン測定を行う場合、測定開始前に測定条件の設定画面で、測定条件を設定して予め測定（ベースライン補正）をする。この測定では、設定された波長走査範囲を同一、もしくは二段階の波長走査速度での測定条件で測定を行っていた。なお、波長走査速度は、ノイズ幅（Ａｂｓ）とのバランスで熟練した測定者が波長走査速度を決定している。
【０００３】
ノイズ幅という用語は光度計分野の技術用語として使われる。例えば、分光分析の結果を示す図面において横軸を波長、縦軸を吸光度（Ａｂｓ）とし、測定した波長領域で、ノイズ幅を確認するための波長（１０ｎｍ分）において、吸光度（Ａｂｓ）の最大値と最小値の高さの幅を、ノイズ幅と定義している。
【０００４】
測定条件である波長走査速度を高速にすると、測定時間は短くなるが、走査中に取り込めるデータ数が少なくなるため、データ処理での積分回数が減少して測定精度が悪くなってしまう。
【０００５】
測定条件である波長走査速度を低速にすると、測定時間は長くなるが、走査中に取り込めるデータ数が多くなるため、データ処理での積分回数が増加して測定精度が良くなる。
【０００６】
また、検出手段である検知器には波長感度特性があり、各波長域でのノイズ幅が変動してしまうため、各波長域毎に波長走査速度を変え、最適化するためには複数回の条件設定と測定をする必要があった。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−２２７１２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従来の測定手順では、分析者の経験と測定データの確認作業の繰り返しを必要とするので、経験者以外は分析が困難、また精度の高い結果を得るまで分析を繰り返す必要があった。
【０００９】
また、各波長域でのノイズ幅が異なるため、波長毎に走査速度を検討する必要も有った。
【００１０】
本発明の１つの目的は、分析者の経験に依ることなく、適切な波長走査速度を求め、かつ、測定を何度も繰り返さず、一回のまたは少ない測定回数で適切な測定精度が得られる分光光度計を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の１つの特徴は、分光光度計において、試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段とを備え、前記データ処理手段において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行い、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を設定することである。
【００１２】
本発明の他の１つの特徴は、試料に対して測定光を照射し、測定光を任意の波長に分光し、当該分光された波長について光度検出を行う分光分析方法において、ノイズ幅判定値を記憶し、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力し、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶されたノイズ幅判定値との比較判定し、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めることである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の１つの実施態様によれば、分析者の経験に依ることなく、適切な波長走査速度を求め、かつ、測定を何度も繰り返さず、一回のまたは少ない測定回数で適切な測定精度が得られる分光光度計を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、例えば、波長領域毎に最適な走査速度を求めるという目的を、試料測定前に一度測定を行い各波長域でのノイズ幅の値を記録して、そのノイズ幅の値から波長走査速度を決定することにより、一回の測定回数で求めることを実現する実施の形態について、説明する。
【実施例１】
【００１５】
本発明の実施例について、図１〜図３および表１，表２を用いて説明する。
【００１６】
まず、図１を用いて、実施例１の分光光度計の概要について説明する。分光光度計１は、光源２，分光器３，試料室４，検知器５で構成される。光源２から出た測定光６は、分光器３へ導かれる。分光器３によって、光はスペクトル分光され任意の波長が選択可能となり、波長走査が行われる。分光器３でスペクトル分光された測定光６は、試料室４を通り、検知器５へ導かれる。
【００１７】
図２を用いて、分光光度計の制御方法について、説明する。分光光度計２０は、分光光度計を制御する制御手段２２，測定手段２３，記憶手段２４，データ処理手段２５，判定手段２６で構成される。また、分光光度計２０は外部機器として入力手段２１，表示手段２７を有する。入力手段２１はキーボードやマウス、表示手段２７はディスプレイを含む。
【００１８】
入力手段２１で、予めノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブルの指定および入力をする。また、入力手段２１で、測定条件である波長走査範囲，波長走査速度を入力する。前記入力手段２１で入力された測定条件が、制御手段２２に一時格納され、測定手段２３へ送られる。送信された測定条件が測定手段２３で設定される。
【００１９】
また、入力手段２１で入力されたノイズ幅判定値および波長走査速度のテーブルが、制御手段２２を介して記憶手段２４へ送られ記憶される。
【００２０】
前記測定手段２３で設定された測定条件で、ベースライン補正測定を実行する。ベースラインは、現在設定されている測定条件で、各波長において基準となる値である。ベースライン補正の結果はデータ処理手段２５において、測定手段２３で得られた結果を元にＡ／Ｄ変換を行い、判定手段２６へ結果が送られる。
【００２１】
データ処理手段２５でＡ／Ｄ変換された結果と、記憶手段２４で記憶しているノイズ幅判定値との比較判定を、判定手段２６で行う。判定手段２６で判定された結果を基に、各波長域の波長走査速度が自動的に設定される。設定された波長走査速度が、制御手段２２を介して測定手段２３および記憶手段２４へ送られる。
【００２２】
前記で送られた条件を元に、再度測定手段２３でベースライン補正測定を行う。ベースライン補正測定終了後、ベースライン補正結果はデータ処理手段２５へ一時格納され、次に測定手段２３で試料の測定を実行する。
【００２３】
試料の測定終了後、前記データ処理手段２５へ一時格納されているベースライン補正結果を基に、データ処理手段２５でＡ／Ｄ変換され、制御手段２２を介して表示手段２７で結果が表示される。
【００２４】
分光光度計の測定フローについて説明する。
【００２５】
測定条件の設定を行う前に、表１のテーブル１もしくは表２のテーブル２でノイズ幅判定値を入力する。表１は、本発明の実施例に係るもので、ノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブル１の関係を示す表である。表２は、本発明の実施例に係るもので、ノイズ幅判定値と波長走査速度のテーブル２の関係を示す表である。
【００２６】
【表１】
【００２７】
【表２】
【００２８】
ノイズ幅判定値を２種以上の複数有し、本実施例では、記号Ａ〜Ｅの５種有している。そして、ノイズ幅判定値毎に、固有の波長走査速度を有する。また、前記ノイズ幅判定値１つに対して、表１のテーブル１と表２のテーブル２の波長走査速度を有する。波長走査速度は、テーブル１またはテーブル２で設定の方法が異なる。
【００２９】
以下、図３を用いて、表１のテーブル１を使用したノイズ幅判定値の設定から試料測定終了までの測定フローの各ステップを説明する。
【００３０】
測定条件の設定５３を行う前に、予めノイズ幅判定値の設定５２を行う。ノイズ幅判定値は吸光度Ａｂｓで入力を行い、波長走査速度は、ここでは表１のテーブル１を設定する。
【００３１】
表１では、ノイズ幅判定値は記号Ａ〜Ｅで設定でき、各々設定可能範囲が異なる。波長走査速度は固有の波長走査速度の中から、ノイズ幅判定値に応じて入力する。表１のテーブル１は初期値が入力されており、必要に応じて波長走査速度の変更を行う。記号Ａはノイズ幅判定値が大きく、それに伴い波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。測定時間は長くなるが、データ処理での積分回数が増加するため、ノイズ幅は小さくなる。また、記号Ｅはノイズ幅判定値が小さく、それに伴い波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。測定時間は短くなるが、データ処理での積分回数が減少するため、ノイズ幅が大きくなる。例えば、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値が記号Ａの１＜Ａｂｓであった場合、波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。データ処理での積分回数が増加するため、測定結果はノイズ幅が小さい結果となる。例えば、波長走査範囲２００〜９００ｎｍで、波長走査速度３０ｎｍ／minとした場合、測定時間は約１４００秒（約２４分）かかるが、データ点数が多いため、全体的にノイズ幅が小さくなる。
【００３２】
前記同波長範囲で、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値が記号ＥのＡｂｓ≦０.００１Ａｂｓであった場合、波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。データ処理での積分回数が減少するため、測定結果はノイズ幅が大きい結果となる。例えば、前記同波長範囲で、波長走査速度１,２００ｎｍ／minとした場合、測定時間は約３５秒で終了できるが、データ点数が少なくなるため、全体的にノイズ幅が大きくなる。
【００３３】
ノイズ幅判定値の設定５２後、測定条件の設定５３を行う。測定条件では、波長走査範囲，波長走査速度を入力する。例えば、波長走査範囲：２００〜９００ｎｍ、波長走査速度：３００ｎｍ／minと入力する。
【００３４】
試料測定前のベースライン補正の実行５４をする。測定条件の設定５３で入力された測定条件で、ベースライン補正の実行５４を行うことにより、指定した波長走査範囲，波長走査速度での各波長のノイズ幅の記憶５５を行う。
【００３５】
ノイズ幅判定値の設定５２で予め入力されたノイズ幅判定値と、前記ベースライン補正の実行５４の際に得られた各波長でのノイズ幅で、ノイズ幅判定値との比較５６を行い、波長領域毎（１０ｎｍ間隔）で判定を行う。
【００３６】
ノイズ幅判定値との比較５６の結果が、ノイズ幅判定値以内の波長域５７（図中ＹＥＳの場合）は、現在の波長走査速度を維持５８する。
【００３７】
ベースライン補正測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より大きい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を遅く設定する。また、測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より小さい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を速く設定する。
【００３８】
例えば、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minで走査を行い、その結果が波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓ，波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１Ａｂｓの場合、ノイズ幅に応じた波長走査速度をステップ５９からステップ６５により、判定する。すなわち、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓの場合、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＹＥＳであり、ステップ６２で波長走査速度：１２０ｎｍ／minと、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minより遅く設定され、ステップ６８へ進む。波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１の場合、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＹＥＳであり、ステップ６４で波長走査速度：３００ｎｍ／minと、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minと同一波長走査速度を維持するよう設定されされ、最適測定条件の再設定のステップ６８へ進む。
【００３９】
結果として、図３および表１より、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍを波長走査速度：１２０ｎｍ／minとし、波長走査範囲３５０〜７５０ｎｍはノイズ幅判定値以内の結果であるので、波長走査速度：３００ｎｍ／minを維持し、最適化されたことになる。
【００４０】
前記で判定した各波長での最適波長走査速度で、最適測定条件の再設定６８を行い、ベースライン補正の再実行６９を行う。
【００４１】
ベースライン補正の再実行６９の終了後、試料のセット７０を行い、試料測定の実行７１をする。
【００４２】
試料測定後、図２の表示手段２７に、ベースライン補正結果を基に試料測定の補正を行った、試料測定結果の表示７２がされる。
【００４３】
表示された測定結果の確認７３を行い、測定の終了７４となる。
【００４４】
図３の内容について補足する。例えば、ノイズ幅が１Ａｂｓより大きい場合は、ステップ５９でＹＥＳであり、ステップ６０で波長走査速度は、１２０ｎｍ／minと設定される。ノイズ幅が０.０５Ａｂｓより大きく１Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＹＥＳであり、ステップ６２で波長走査速度は、１２０ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００５Ａｂｓより大きく０.０５Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＹＥＳであり、ステップ６４で波長走査速度は、３００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００１Ａｂｓより大きく０.００５Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＮＯであり、ステップ６５でＹＥＳであり、ステップ６６で波長走査速度は、６００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。ノイズ幅が０.００１Ａｂｓ以下の場合は、ステップ５９でＮＯであり、ステップ６１でＮＯであり、ステップ６３でＮＯであり、ステップ６５でＮＯであり、ステップ６７で波長走査速度は、１２００ｎｍ／minと設定され、ステップ６８へ進む。
【実施例２】
【００４５】
次に、図３を用いて、表２のテーブル２を使用したノイズ幅判定値の設定から試料測定終了までの測定フローの実施例２を説明する。
【００４６】
測定条件の設定５３を行う前に、予めノイズ幅判定値の設定５２を行う。ノイズ幅判定値は吸光度Ａｂｓで入力を行う。波長走査速度は、ここでは表２のテーブル２を設定する。
【００４７】
表２では、ノイズ幅判定値は記号Ａ〜Ｅで設定でき、各々設定可能範囲が異なる。テーブル２の波長走査速度は、基準値に係数（Ｙ）を乗じた波長走査速度が設定される。本実施例では、波長走査速度３００ｎｍ／minを初期設定した場合で、ここではテーブル２のＣを基準値としたテーブルとする。そのため、テーブル２のＡは３０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.１）、Ｂは１２０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.４）、Ｃは３００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×１.０）、Ｄは６００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×２.０）、Ｅは１,２００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×４.０）の波長走査速度に設定される。係数（Ｙ）の値は初期値が入力されており、係数（Ｙ）の値は任意に変更が可能である。本実施例では、具体的な波長走査速度の値を入力・設定する代わりに、係数（Ｙ）の値を入力・設定することができるので、具体的な数値の入力の手間が省けることや、すべての種類（記号Ａ〜Ｅ）の具体的な数値を把握していなくとも、適切な波長走査速度などのパラメータを設定できる。
【００４８】
記号Ａはノイズ幅判定値が大きく、それに伴い波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。測定時間は長くなるが、データ処理での積分回数が増加するため、ノイズ幅は小さくなる。また、記号Ｅはノイズ幅判定値が小さく、それに伴い波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。測定時間は短くなるが、データ処理での積分回数が減少するため、ノイズ幅が大きくなる。例えば、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値がＡの１＜Ａｂｓであった場合、波長走査速度を遅くして走査中に取り込めるデータ点数を多くする。データ処理での積分回数が増加するため、測定結果はノイズ幅が小さい結果となる。例えば、波長走査範囲２００〜９００ｎｍで、波長走査速度３０ｎｍ／minとした場合、測定時間は約１４００秒（約２４分）かかるが、データ点数が多いため、全体的にノイズ幅が小さくなる。
【００４９】
前記同波長範囲で、ベースライン補正結果のノイズ幅判定値がＥのＡｂｓ≦０.００１Ａｂｓであった場合、波長走査速度を速くして走査中に取り込めるデータ点数を少なくする。データ処理での積分回数が減少するため、測定結果はノイズ幅が大きい結果となる。例えば、前記同波長範囲で、波長走査速度１,２００ｎｍ／minとした場合、測定時間は約３５秒で終了できるが、データ点数が少なくなるため、全体的にノイズ幅が大きくなる。
【００５０】
図３のフローにおいて、処理を開始５１し、ノイズ幅判定値の設定５２後、測定条件の設定５３を行う。測定条件では、波長走査範囲，波長走査速度を入力する。例えば、波長走査範囲：２００〜９００ｎｍ，波長走査速度：３００ｎｍ／minと入力する。
【００５１】
試料測定前のベースライン補正の実行５４をする。測定条件の設定５３で入力された測定条件で、ベースライン補正の実行５４を行うことにより、指定した波長走査範囲，波長走査速度での各波長のノイズ幅の記憶５５を行う。
【００５２】
ノイズ幅判定値の設定５２で予め入力されたノイズ幅判定値と、前記ベースライン補正の実行５４時に得られた各波長でのノイズ幅で、ノイズ幅判定値との比較５６を行い、波長領域毎（１０ｎｍ間隔）で判定を行う。
【００５３】
ノイズ幅判定値との比較５６の結果が、ノイズ幅判定値以内の波長域５７（図中ＹＥＳの場合）は、現在の波長走査速度を維持５８する。
【００５４】
ベースライン補正測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より大きい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を遅く設定する。また、測定した波長走査範囲のノイズ幅がノイズ幅判定値より小さい場合（図中ＮＯの場合）は、当該波長での波長走査速度を速く設定する。例えば、ベースライン補正時の波長走査速度：３００ｎｍ／minで走査を行い、その結果が波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍでノイズ幅：０.０６Ａｂｓ、波長走査範囲：３５０〜７５０ｎｍでノイズ幅：０.０１Ａｂｓの場合、ノイズ幅に応じた波長走査速度を判定する。図３および表２より、波長走査範囲：２００〜３５０ｎｍ、７５０〜９００ｎｍを波長走査速度：１２０ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×０.４）とし、波長走査範囲３５０〜７５０ｎｍはノイズ幅判定値以内の結果であるので、波長走査速度：３００ｎｍ／min（＝３００ｎｍ／min×１.０）を維持し、最適化されたことになる。
【００５５】
前記で判定した各波長での最適波長走査速度で、最適測定条件の再設定６８を行い、ベースライン補正の再実行６９を行う。
【００５６】
ベースライン補正の再実行６９の終了後、試料のセット７０を行い、試料測定の実行７１をする。
【００５７】
試料測定後、図２の表示手段２７に、ベースライン補正結果を基に試料測定の補正を行った、試料測定結果の表示７２がされる。
【００５８】
表示された測定結果の確認７３を行い、測定の終了７４となる。
【００５９】
前記までの実施例の内容から、ノイズ幅判定値を予め設定し、試料測定前にベースライン補正をすることで、各波長でノイズ幅が判定値より大きい場合は、波長走査速度を遅くして、逆にノイズ幅が判定値より小さい場合は、波長走査速度を速くして、一回もしくは最低限の測定回数で最適な測定精度が得られ、また時間の短縮を図ることができる。したがって、分析者の経験に依ることなく、一回もしくは最低限の測定回数で最適な測定精度を得ることができる。
【００６０】
本発明の実施態様では、例えば、波長走査範囲の全領域で、ノイズ幅を予め設定されたある一定の範囲に抑えるため、２種以上の固有の波長走査速度を可変し、各波長毎の最適な波長走査速度を決定する。また、波長走査速度を可変することで、検知器の感度の高いもしくは低い波長範囲をもつ波長感度特性を考慮することができる。そのため、分析者の経験に依らず、一回または最低限の測定回数で最適な測定条件および測定精度が得られ、測定時間の短縮が可能となる。
【００６１】
また、本発明の実施態様では、例えば、測定者の手を煩わすことなく、基本データ（ベースラインデータ）を取得後、そのデータを基に補正を行い、一回または最低限の測定回数で走査波長範囲のノイズ幅を一定値内に抑えることができる。
【００６２】
また、本明細書では、例えば、（１）試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、測定を実行する測定手段と、得られたデータを処理するデータ処理手段と、ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、前記各手段の制御を行う制御手段を備えた分光光度計において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅をデータ処理部に記憶する手段と、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めるステップとを有することが開示される。また、例えば、（２）上記（１）において、制御手段内にノイズ幅の値に応じて前記記憶手段のノイズ幅判定値を２種以上有し、前記ノイズ幅判定値毎に固有の波長走査速度を有することが開示される。また、例えば、（３）上記（１），（２）において、制御手段内に前記記憶手段のノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の固有の波長走査速度を有することが開示される。また、例えば、（４）上記（１）において、測定者が要求するノイズ幅値を入力手段に備え、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と前記入力手段の要求するノイズ幅値との比較判定を行うステップ、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更するステップとを有することが開示される。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施例に係るもので、分光光度計の概要を示す図である。
【図２】本発明の実施例に係るもので、分光光度計の制御方法を示す図である。
【図３】本発明の実施例に係るもので、測定のフローチャートである。
【符号の説明】
【００６４】
１，２０ 分光光度計
２ 光源
３ 分光器
４ 試料室
５ 検知器
６ 測定光
２１ 入力手段
２２ 制御手段
２３ 測定手段
２４ 記憶手段
２５ データ処理手段
２６ 判定手段
２７ 表示手段
５１ 開始
５２ ノイズ幅判定値の設定
５３ 測定条件の設定
５４ ベースライン補正の実行
５５ 各波長のノイズ幅の記憶
５６ ノイズ幅判定値との比較
５７ ノイズ幅判定値以内の波長域
５８ 現在の波長走査速度を維持
５９ ノイズ幅判定値１＜Ａｂｓ
６０ 波長走査速度３０ｎｍ／min
６１ ノイズ幅判定値０.０５＜Ａｂｓ≦１
６２ 波長走査速度１２０ｎｍ／min
６３ ノイズ幅判定値０.００５＜Ａｂｓ≦０.０５
６４ 波長走査速度３００ｎｍ／min
６５ ノイズ幅判定値０.００１＜Ａｂｓ≦０.００５
６６ 波長走査速度６００ｎｍ／min
６７ 波長走査速度１,２００ｎｍ／min
６８ 最適測定条件の再設定
６９ ベースライン補正の再実行
７０ 試料のセット
７１ 試料測定の実行
７２ 測定結果の表示
７３ 測定結果の確認
７４ 終了
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分光光度計において、
試料に対して測定光を照射する発光手段と、
測定光を任意の波長に分光する分光手段と、
当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、
測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、
測定を実行する測定手段と、
得られたデータを処理するデータ処理手段と、
ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、
前記各手段の制御を行う制御手段とを備え、
前記データ処理手段において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行い、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を設定することを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
請求項１において、
得られたノイズ幅の値に応じて前記記憶手段のノイズ幅判定値を２種以上有し、
前記ノイズ幅判定値毎に所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光光度計。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記記憶手段のノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光光度計。
【請求項４】
請求項１において、
前記入力手段において、要求されるノイズ幅値を入力し、
前記データ処理手段において、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と要求されるノイズ幅値との比較判定を行い、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更することを特徴とする分光光度計。
【請求項５】
試料に対して測定光を照射し、
測定光を任意の波長に分光し、
当該分光された波長について光度検出を行う分光分析方法において、
ノイズ幅判定値を記憶し、
測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力し、
波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、
前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶されたノイズ幅判定値との比較判定し、
当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めることを特徴とする分光分析方法。
【請求項６】
請求項５において、
ノイズ幅の値に応じて、ノイズ幅判定値を２種以上有し、
前記ノイズ幅判定値毎に所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光分析方法。
【請求項７】
請求項５又は６において、
前記ノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光分析方法。
【請求項８】
請求項５において、
前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と要求される前記ノイズ幅値との比較判定を行い、
当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更することを特徴とする分光分析方法。
【請求項１】
分光光度計において、
試料に対して測定光を照射する発光手段と、
測定光を任意の波長に分光する分光手段と、
当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、
測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段と、
測定を実行する測定手段と、
得られたデータを処理するデータ処理手段と、
ノイズ幅判定値を記憶する記憶手段と、
前記各手段の制御を行う制御手段とを備え、
前記データ処理手段において、波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶手段のノイズ幅判定値との比較判定を行い、当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を設定することを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
請求項１において、
得られたノイズ幅の値に応じて前記記憶手段のノイズ幅判定値を２種以上有し、
前記ノイズ幅判定値毎に所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光光度計。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記記憶手段のノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光光度計。
【請求項４】
請求項１において、
前記入力手段において、要求されるノイズ幅値を入力し、
前記データ処理手段において、前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と要求されるノイズ幅値との比較判定を行い、当該比較判定処理の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更することを特徴とする分光光度計。
【請求項５】
試料に対して測定光を照射し、
測定光を任意の波長に分光し、
当該分光された波長について光度検出を行う分光分析方法において、
ノイズ幅判定値を記憶し、
測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力し、
波長走査を実行して各波長でのノイズ幅を記憶し、
前記波長走査中の任意の波長に対して得られたノイズ幅の値と前記記憶されたノイズ幅判定値との比較判定し、
当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を求めることを特徴とする分光分析方法。
【請求項６】
請求項５において、
ノイズ幅の値に応じて、ノイズ幅判定値を２種以上有し、
前記ノイズ幅判定値毎に所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光分析方法。
【請求項７】
請求項５又は６において、
前記ノイズ幅判定値一つに対して、２種以上の所定の波長走査速度を有することを特徴とする分光分析方法。
【請求項８】
請求項５において、
前記波長走査中の任意の波長に得られたノイズ幅の値と要求される前記ノイズ幅値との比較判定を行い、
当該比較判定の結果から測定における波長毎の波長走査速度を変更することを特徴とする分光分析方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２０１０−８２３８（Ｐ２０１０−８２３８Ａ）
【公開日】平成２２年１月１４日（２０１０．１．１４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１６８０４７（Ｐ２００８−１６８０４７）
【出願日】平成２０年６月２７日（２００８．６．２７）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１月１４日（２０１０．１．１４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年６月２７日（２００８．６．２７）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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