【課題】シングルビーム方式の分光光度計において、光源の光量が時間的に変動しても、高Ｓ／Ｎ、かつ長時間にわたりドリフトを抑えた高安定な透過及び吸収スペクトルを得ることができる。
【解決手段】分光光度計は、光源と、試料セルと、前記光源からの光のうち前記試料セル内の試料を透過した光を複数の波長成分に分光することによって前記試料の透過スペクトルを生成するポリクロメータと、前記試料の透過スペクトルを検出するイメージセンサと、前記光源からの光のうち前記試料セルを透過しない光を検出する光源モニタ用光検出器と、前記光源モニタ用光検出器の出力信号を用いて前記試料の透過スペクトルを補正する演算部と、を有する。 （もっと読む）

【課題】集光光学系による各波長の光の集光位置の配列ピッチを所定ピッチに容易に調整することできる光学装置を提供する。
【解決手段】光学装置１は、光入出力部１０，透過型回折格子２１，レンズ３０およびミラーアレイ４０を備える。透過型回折格子２１は、ｘ軸方向に延在する格子が一定周期で形成されたものであり、入力ポートに入力された光を波長分岐して出力する。透過型回折格子２１は、所定軸の周りに回動自在である。透過型回折格子２１は、回動軸に垂直で波長に応じた方向に各波長の光を出力する。レンズ３０は、透過型回折格子２１により波長分岐されて出力された各波長の光を互いに異なる位置に集光する。 （もっと読む）

【課題】リフレクタにより十分な光量を確保して良好な測定が可能でありながら、白色光源の交換の際のコストが低く、交換作業が容易な分光反射率測定機を提供する。
【解決手段】ハロゲンランプ１２と、ハロゲンランプからの光を反射するリフレクタ１５と、反射光が通過するピンホール２ａを有するピンホール部材２と、ピンホールを通過した反射光を略平行な光束とするコリメータレンズ３とを有する光源部１０１を備えた分光反射率測定機において、光源部は、接触面１６ｂを有しリフレクタが取り付けられた第１基体１６と、当て付け面１４ａを有しハロゲンランプが着脱可能に取り付けられて第１基体に装着される光源着脱部１４とを備え、当て付け面および接触面は、光源着脱部を第１基体に装着し、当て付け面と接触面とが接触したときに、ハロゲンランプの発光点１２ｂがリフレクタの第１焦点１５ｂと略一致する所定の精度に加工されている。 （もっと読む）

【課題】ユーザによる煩雑な操作を行うことなく、キセノンランプの電極消耗による発光点像の位置変動を容易に補正することのできる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】キセノンランプから成る光源１１と、光源１１の光を反射する反射鏡１２と、反射鏡１２によって反射された光から所定波長の光を励起光として分離する第１の分光系１３〜１５と、前記励起光を受けて試料が発する光を分光する第２の分光系２１〜２３と、該第２の分光系で分光された光を検出する検出器２５と、反射鏡１２の角度を変更する反射鏡駆動手段３０と、検出器２５からの出力信号が最大となるように反射鏡駆動手段３０を制御する制御手段４１、４２とを設ける。制御手段４１、４２が検出器２５からの出力信号に基づいて反射鏡駆動手段３０を制御することにより、反射鏡１２の角度が最大励起光量が得られる最適角度へと自動的に調整される。 （もっと読む）

【課題】
一旦決めた検量線を簡単な手法にてユーザが期待した最適な検量線を得られる分光光度計を提供する。
【解決手段】
本発明の分光光度計は、複数の標準試料のスタンダード測定および未知試料のサンプル測定を行う測定手段２と、スタンダード測定により求めた各標準試料の強度および予め決められた各標準試料の濃度から検量線を作成する検量線算出手段３と、濃度および強度の関係を示す直交座標軸上における、少なくともいずれかの標準試料のスタンダード測定結果を示す点を濃度軸方向へ移動させる検量線補正手段４と、を備え、検量線補正手段４は、未知試料の濃度が所定の範囲内となるように、前記移動を行う。 （もっと読む）

【課題】簡易な方式により、外部共振器型半導体レーザから射出されるレーザ光について波長の変位を検出する波長変位検出装置を提供することである。
【解決手段】波長変位検出装置は、平行平板に入射された光について表面で反射された光と、裏面で反射された光を集光する集光手段とを含む。 （もっと読む）

【課題】スペクトルの逐次表示画面に最適なスケールの設定ができなかった。
【解決手段】光を分光制御部４０の試料に入力してスペクトル測定を行う測定手段４１と、測定条件を設定する測定条件記憶手段２６と、測定データをデータ処理するデータ処理手段２０と、処理データを表示する表示手段３０を備える。データ処理手段２０は、測定手段４１から得られたデータを逐次記憶する生データ記憶手段２７と、測定条件記憶装置２６に設定されている表示スケールで生データ記憶手段２７に記憶されている測定データを逐次表示処理する逐次データ表示処理手段２２を有する。また、スペクトル測定結果の最大値と最小値から表示スケールを演算するオートスケール演算手段２４と、演算された表示スケールを用いて測定結果を表示処理する測定結果表示制御手段２４と、オートスケール演算手段２４による表示スケールを次回測定のスケールとして測定条件記憶装置に反映するスケール変更手段２５を設ける。 （もっと読む）

【課題】不必要に広い波長範囲に対応する受光素子の信号強度を低下させることなく、飽和しやすい受光素子の蓄積電荷量を低減して飽和しないようにする。
【解決手段】光源２の発光スペクトルを測定する（ステップＳ１）。光源２の発光スペクトルから、スペクトル強度の突出した波長帯域のみが上回るようなしきい値を設定する（ステップＳ２）。しきい値を上回る波長帯域のピーク値と設定されたしきい値との比率を求める（ステップＳ３）。しきい値以下の波長帯域に対応する受光素子の電荷蓄積時間を、いずれの受光素子においても飽和しないような電荷蓄積時間で最も長い電荷蓄積時間に設定する（ステップＳ４）。しきい値を上回る波長帯域のピーク値としきい値の比率に基づいて、しきい値を上回る波長帯域に対応する受光素子の電荷蓄積時間を設定する（ステップＳ５）。
（もっと読む）

【課題】光学系を正確に調整できる分光測定装置および分光測定装置の調整方法を提供すること。
【解決手段】分光測定に用いる測定用光源と放射光スペクトル上に複数の輝線を有する調整用光源とを交換して取り付けることができる光源部と、光源部が放射した光を分光する分光手段と、前記分光手段が分光した光を受光するようにアレイ状に配列された受光素子群を有し、前記受光素子群は所定の位置に配置された複数の調整用受光素子を含む受光デバイスと、前記調整用受光素子が前記分光した光のうち前記輝線に対応する波長の光を受光するように前記受光デバイスの位置を調整する位置調整機構と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被測定光を干渉計に与えた際の、干渉計の出力を光電変換することにより得られた電気信号の増幅率を適切に決定する。
【解決手段】干渉計１０と、干渉光を光電変換して干渉信号を出力する干渉信号出力部２０と、干渉信号の最大値を測定する最大値測定部３０と、干渉信号に基づき被測定光の特性を測定する測定処理回路５０と、干渉信号を増幅して測定処理回路５０に与える干渉信号増幅部４０と、干渉信号増幅部４０におけるＡＭＰ増幅器４６の増幅率を設定する増幅率設定部６０とを備え、増幅率設定部６０は、最大値測定部３０の測定結果に増幅率を乗じた値が、測定処理回路５０の処理できる信号値の上限の１／２以下になるように、増幅率を設定し、しかも、干渉計１０における可変長光路の長さが、干渉計１０における固定長光路の長さに等しくなる前に、増幅率の設定を終了する。 （もっと読む）

【課題】干渉計を構成するビームスプリッタや移動鏡，固定鏡等の反射面の傾き調整や平面精度の誤差により生じる光路差が及ぼす干渉効率の低下，ビジビリティの低下を軽減すること。
【解決手段】
解析光源１から出射された光（解析光）を少なくとも二つの光路に分割するビームスプリッタ３と，上記ビームスプリッタ３により分割された一方の光をその入射方向へ反射させる固定鏡５と，他方の光をその入射方向へ反射させる移動鏡４とを有する干渉計Ａ１に，上記解析光源１から出射された光を上記固定鏡５の反射面５ａ及び／又は上記移動鏡４の反射面４ａの面上又はその近傍で焦点を結ぶように集光する集光レンズ６を設ける。これにより，上記固定鏡５や移動鏡４の調整精度等に起因して生じる光路長差を軽減することができ，その結果，生成される干渉光の干渉効率の低下が軽減する。 （もっと読む）

【課題】 操作が簡単で分析時間が短縮可能な分光光度計を提供する。
【解決手段】 試料２０を回転試料台１２に設置した後、試料室カバー１７を閉じる。このとき試料室１内部は暗室となるので、照明４により回転試料台１２に光を照射する。次に、分光器部７をパーソナルコンピュータ２４にて光束波長を目視可能な波長に設定し、光を発生させる。分光器部７からの光束が通過している部分をＣＣＤカメラ３で撮影し、ＣＣＤカメラ３からの映像を表示機２５に表示することにより試料２０と光束との位置関係を確認する。光束の位置を確認し、回転試料台１２およびステージ１３により試料２０を光束に対して所定の位置に移動した後、測定を開始する。測定開始直前に照明４は消灯する。測定開始後は回転試料台１２およびステージ１３が動作シーケンスファイルにしたがって連続的に測定点を移動させ、連続的な測定をおこなう。 （もっと読む）

【課題】分光光度計用のセルであって、厚みがマイクロメートルオーダーであり、かつ、光路長が無段階で可変のセルを実現する。
【解決手段】分光光度計用セル３は、２枚の光透過部材３１ａ、３１ｂを有し、これら光透過部材３１ａ、３１ｂはフッ化物のイオン結晶材からなる平板状である。枠材３２の左右面は溶液通路となる開口が形成され、この開口の中央部付近に通路形成用部材３５が配置され、枠材３２の左右面に光透過部材３１ａ、３１ｂが固定される。枠材３２の左右端面は略台形状であり、上面側端面３２ａは、下上面側端面３２ｂより厚みが小である。枠材３２の左右端面には溶液入口孔３３と溶液出口孔３４が形成される。この分光光度計用セル３の厚み（光路長）は、例えば、上端部で０．００５ｍｍ、下端部で０．０４ｍｍ程度の非常に薄いものである。 （もっと読む）

【課題】 高速に変調された光の波長チャープを高い精度で簡便に測定し、広い帯域を持つ変調光の波長チャープを測定する。
【解決手段】 光パワーの平方根に比例する電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が正で極大となる第一の透過波長域と、この第一の透過波長域と電場振幅の透過率が等しくこの電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が前記第一の透過波長域とその絶対値がほぼ等しく符号が負となる第二の波長域とを有する可変光フィルタを用い、この可変光フィルタの透過波長域を可変し変調光の波長域に前記第一または第二の透過波長域を順次合致させ、それぞれ通過した変調光の時間波形を観測する。 （もっと読む）

真空紫外線スペクトラムで動作する分光検査システム（５００）が提供される。特に、該真空紫外線スペクトラムの反射率計測技術を使うシステムが度量衡応用での使用のため提供される。精密で繰り返し可能な測定を保証するために、光路（５０６，５０８）の環境が、該光路内に存在するガスの吸収効果を制限するよう制御される。なお起こる吸収効果の責めを負うために、該光路の長さは最小化される。更に吸収効果の責めを負うために、該反射率データは相対的標準に基準合わせされる。
（もっと読む）