印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置
【課題】比較的印影の形状が簡素な三文判等であっても、精度の高い印鑑照合を行なうことが可能な印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置を提供すること。
【解決手段】印鑑照合装置のコンピュータを、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、印鑑枠相当部分と印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段として機能させる。
【解決手段】印鑑照合装置のコンピュータを、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、印鑑枠相当部分と印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段として機能させる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サーバに登録された登録印と帳票等に押印された印影の照合を行う印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、銀行等においては、顧客が書類に押印した印鑑の印影と、予め登録されている登録印の印影を照合するために印鑑照合装置が用いられている。
この印鑑照合装置は、スキャナ等の入力装置から読み込んだ印鑑の照合印影画像と予め登録した登録印影画像とを比較することで、照合印影画像と登録印影画像とが同一の印鑑から得られた印影であるか否かを判別している。
【０００３】
具体的には、画素の一致率、ベクトルの一致率、エッジの一致率の特徴３要素による判断が行われていた。例えば、照合印影画像および登録印影画像から濃淡画像をそれぞれ作成し、濃淡画像の濃度値に基づいてベクトル演算を行ない、照合率を算出することで、位置ずれやかすれ等による影響を受け難くした照合を行なっていた（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
また、画素の固まり方式、および密集方式による局所解析による判断も行われていた。例えば、照合印影画像と登録印影画像との位置ずれなどを防止すべく、それぞれの画像を複数のブロックに分割し、ブロックごとに相関画像を作成した後、その相関画像の極大値を持つ画素と該画素の近傍画素のみに画素値を付与した補間極大値画像を作成し、この補間極大値画像を各ブロックについて加算した累積値画像に基づいて、印鑑の照合をおこなっていた（例えば、特許文献２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−２０２５１４号公報
【特許文献２】特開平９−２８８７３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、比較的印影の形状が簡素な所謂三文判等は、比較的印影の形状が複雑な社印等に比べ、非常に似通った形状が多く、判断材料となる画素数が少ないことから、従来から実施している判断では、一致率が高くなってしまい、相違印を同一印と誤判断してしまうことがある、という問題点があった。
【０００７】
本発明は、上述のような実状に鑑みたものであり、比較的印影の形状が簡素な三文判等であっても、精度の高い印鑑照合を行なうことが可能な印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するため、下記のような構成を採用した。
すなわち、本発明の一態様によれば、本発明の印鑑照合プログラムは、印鑑照合装置のコンピュータを、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段として機能させるための印鑑照合プログラムである。
【０００９】
また、本発明の印鑑照合プログラムは、前記接点情報算出手段が、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることが望ましい。
また、本発明の印鑑照合プログラムは、さらに、前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段として機能させるための印鑑照合プログラムであることが望ましい。
【００１０】
また、本発明の印鑑照合プログラムは、さらに、前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報とを比較する接点情報比較手段として機能させるための印鑑照合プログラムであることが望ましい。
【００１１】
また、本発明の一態様によれば、本発明の印鑑照合装置は、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段と、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段と、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段と、前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段とを備えることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の印鑑照合装置は、前記接点情報算出手段が、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることが望ましい。
また、本発明の印鑑照合装置は、さらに、前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段を備えることが望ましい。
【００１３】
また、本発明の印鑑照合装置は、さらに、前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段によって格納された登録印データの接点情報とを比較する接点情報比較手段を備えることが望ましい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、同一印／相違印の判断条件を追加することで、照合の精度を向上させることができる。特に、従来の判断では誤判断するケースがあった所謂三文判においては、社印と比較すると二値化した印影イメージの黒色画素が少ないことから、判断情報を追加することで、三文判においても同一印／相違印を確実に判別することが可能となる。さらに、三文判における相違印の判断が向上することで、印鑑照合におけるオペレーションの効率化が図れる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明を適用した印鑑照合装置の機能ブロック図である。
【図２】印鑑照合装置１が実行する印鑑照合処理の流れを示すフローチャートである。
【図３】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図４】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図５】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理を説明するための図である。
【図６】取得画素ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【図７】接点情報ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【図８】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図９】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図１０】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理を説明するための図である。
【図１１】接点情報テーブルの例を示す図である。
【図１２】接触部分の位置データを説明するための図である。
【図１３】印鑑Ａの印影の例を示す図である。
【図１４】印鑑Ｂの印影の例を示す図である。
【図１５】接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図１６】接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図１７】比較する登録印と読取印の例を示す図である。
【図１８】登録印と読取印の接点情報の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明は、金融機関等のサーバに登録された登録印のデータ、及び画像読取装置で印影を読み取った読取印のデータそれぞれにおいて、印鑑の枠に相当する部分、より厳密には枠に相当する部分の内周と、その枠の内側の文字部分との接点数、位置および接する幅を抽出し、抽出した接点数、位置および接する幅が、登録印と読取印で一致するか否かを判断する。ただし、印鑑の印影は、一般に滲みや擦れが存在するため、所定の閾値を設け、閾値範囲内での相違であれば一致していると判断する。なお、閾値は、動作環境にて指定可能とする。
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、本発明を適用した印鑑照合装置の機能ブロック図である。
図１において、印鑑照合装置１は、印鑑枠抽出部１１、連続画素検出部１２、接点情報算出部１３及び接点情報比較部１４を備え、管理部１０を介して制御されている。
【００１８】
印鑑枠抽出部１１は、読取印画像データとしてスキャナ等の画像読取装置で読み取った、帳票等の媒体に押印された印鑑の印影から、公知の円形状検出処理等の外枠検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する。そして、抽出した印鑑枠相当部分の情報を、メモリ上の印鑑枠情報記憶部１５に格納する。
【００１９】
連続画素検出部１２は、読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出部１１によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分（以下、接点ともいう）として検出する。そして、検出した接触部分の情報を、メモリ上の連続画素情報記憶部１６に格納する。
【００２０】
接点情報算出部１３は、前記連続画素検出部１２によって検出された接触部分の数及び接触部分の位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する。各接触部分の位置は、接点情報算出部１３が備える接点位置情報算出部１３１によって算出される。そして、算出された各接触部分の位置の情報を、メモリ上の接点位置情報記憶部１７に格納する。
また、各接触部分の幅は、接点幅情報算出部１３２によって、各接触部分において前記印鑑枠抽出部１１によって抽出された印鑑枠相当部分の内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることにより算出される。そして、算出された各接触部分の幅データを、メモリ上の接点幅情報記憶部１８に格納する。
【００２１】
また、前記接点情報算出部１３によって算出された接点情報は、前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして不図示の登録印データ格納部に格納される。
接点情報比較部１４は、前記接点情報算出部１３によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納部に格納された登録印データの接点情報を比較する。より具体的には、接点位置情報比較部１４１が接触部分の位置データ同士を比較し、接点の幅情報比較部１４２が各接触部分の幅データ同士を比較する。
【００２２】
図２は、印鑑照合装置１が実行する印鑑照合処理の流れを示すフローチャートである。
まず、ステップＳ２１において、印鑑枠抽出部１１が、読取印画像データとしてスキャナ等の画像読取装置で読み取った、帳票等の媒体に押印された印鑑の印影から、公知の円形状検出処理等の外枠検出処理を用いて印鑑枠相当部分、特に印鑑枠相当部分の内周を抽出する。
【００２３】
次に、ステップＳ２２において、連続画素検出部１２が、読取印画像データを構成する画素のうち、ステップＳ２１で抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する。より具体的には以下のようにして検出する。
【００２４】
図３及び図４は、連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャートであり、図５は、連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理を説明するための図であり、図６は、取得画素ｗｏｒｋテーブルの例を示す図であり、図７は、接点情報ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【００２５】
まず、図３のステップＳ３０１において、連続画素検出処理の起点および終点の画素を決定する。通常は、印鑑枠相当部分の内周（図５に示した内周５１参照）に沿って順に連続画素検出処理を開始していくので、内周５１上の任意の画素を起点として決定し、内周５１を一周して戻ってきた最後の画素を終点として決定する。
【００２６】
そして、ステップＳ３０２において、連続画素検出処理を施す対象範囲５４を決定する。この範囲は、予め定めておくことが可能であるが、図５に示した例では、印鑑枠相当部分の内周５１から中心５３に向かって、内周５１から中心５３までの３分の１の距離５２までを対象範囲５４として決定する。
【００２７】
ステップＳ３０３において、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０（図７参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ３０４乃至Ｓ４１０をステップＳ３０１で決定した起点から終点まで繰り返す。すなわち、印鑑枠相当部分の内周５１に沿って順に連続画素の検出処理を行う。
【００２８】
まず、ステップＳ３０４において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ３０５乃至Ｓ３０６をステップＳ３０２で決定した対象範囲５４内で繰り返す。
【００２９】
すなわち、内周５１上の起点の画素から中心に向かって上記３分の１の距離５２まで１画素ずつ、ステップＳ３０５において、画素を取得し、ステップＳ３０６において、黒色画素であれば「１」を、白色画素であれば「０」を順に取得画素ｗｏｒｋテーブル６０に格納する。ここで、起点の画素は、中心５３の画素位置を（０，０）とした場合の内周５１上の画素位置（０，４４）であるので、この画素位置（０，４４）から順に、上記３分の１の距離５２までの画素を取得する。例えば、「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」の９画素を取得する。その結果を図６の（ａ）に示す。
【００３０】
次に、ステップＳ４０７において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６の（ａ））を参照し、先頭から「黒色画素」の連続が所定の閾値、例えば３画素以上連続しているか否かを判断する。
【００３１】
「黒色画素」が所定閾値以上連続していれば（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ４０８において、内周５１上の座標を接点情報ｗｏｒｋテーブル７０に格納する。図６の（ａ）の場合は、先頭から「黒色画素」の連続が３画素以上連続しているので、図７に示すように、一番左に（０，４４）が格納されている。
【００３２】
そして、ステップＳ３０４に戻り、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０を初期化し、円周５１上の起点の次の画素から上記３分の１の距離５２まで１画素ずつ、ステップＳ３０５で画素を取得し、ステップＳ３０６で「１」又は「０」を順に取得画素ｗｏｒｋテーブル６０に格納する。ここで、起点の次の画素は、画素位置（１，４４）であるので、この画素位置（１，４４）から順に、上記３分の１の距離５２までの画素を取得する。例えば、「黒色画素」「白色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」の８画素を取得する。その結果を、図６の（ｂ）に示す。
【００３３】
次に、ステップＳ４０７において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６の（ｂ））を参照すると、先頭から「黒色画素」が３画素以上連続していない（最初の「黒色画素」の次は「白色画素」）ので（ステップＳ４０７：Ｎｏ）、ステップＳ４０９において、連続しなかった「黒色画素」の次の「白色画素」が所定数、例えば２つ以内か（「白色画素」が２つ以上続くか）を判断する。
【００３４】
図６の（ｂ）に示した例では、２つ以上続いていない（１つだけ）ので（ステップＳ４０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ４１０において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０の当該「白色画素」を「黒色画素」に、すなわち「０」を「１」に書き換えてステップＳ４０７に戻る。これは、印影の「擦れ」のために本来「黒色画素」であったことを考慮したものである。
【００３５】
図６の（ｂ）に示した例での再度のステップＳ４０７では、「黒色画素」の連続が３画素以上連続していることになるので（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ４０８に進み、図７に示すように、左から２番目に（１，４４）を格納する。
【００３６】
なお、ステップＳ４０９で「白色画素」が所定数以上続くと（ステップＳ４０９：Ｎｏ）、本連続画素検出処理を終了し、図７に示したような接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が作成される。
【００３７】
図２の説明に戻る。
上述したようにして接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が作成されると、ステップＳ２３において、接点情報算出部１３が、ステップＳ２２で検出された接触部分の数及び接触部分の位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する。より具体的には以下のようにして算出する。
【００３８】
図８及び図９は、接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャートであり、図１０は、接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理を説明するための図であり、図１１は、接点情報テーブルの例を示す図であり、図１２は、接触部分の位置データを説明するための図である。
【００３９】
まず、図８のステップＳ８０１において、接点情報テーブル１１０（図１１参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ８０２乃至Ｓ８０５を接点情報ｗｏｒｋテーブル７０に格納されている画素位置の数分繰り返す。
【００４０】
まず、ステップＳ８０２において、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から順に画素位置の情報を取得する。例えば、図７に示した例では、最初に画素位置（０，４４）を取得する。
【００４１】
次に、ステップＳ８０３において、前回取得した画素位置の情報と隣り合っているか否かを判断する。最初の場合は、前回取得した画素位置の情報が無く、隣り合っていることにならないので（ステップＳ８０３：Ｎｏ）、ステップＳ８０４において、ステップＳ８０２で取得した画素位置（０，４４）に対応付けて、図７に示すように接点番号「１」を付与する。
【００４２】
そして、２度目のステップＳ８０２で接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から画素位置（１，４４）を取得し、ステップＳ８０３で前回取得した画素位置（０，４４）と隣り合っているか否かを判断する。この場合、画素位置（１，４４）は画素位置（０，４４）と１画素違いであり隣り合っているので（ステップＳ８０３：Ｙｅｓ）、ステップＳ８０５において、ステップＳ８０２で取得した画素位置（１，４４）に対応付けて、画素位置（０，４４）と同じ接点番号「１」を付与する（図７参照）。
【００４３】
これを繰り返し、８度目のステップＳ８０２で接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から画素位置（１７，４０）を取得し、ステップＳ８０３で前回（７度目）取得した画素位置（６，４２）と隣り合っているか否かを判断する。すると、画素位置（１７，４０）は画素位置（６，４２）とは隣り合っていないので（ステップＳ８０３：Ｎｏ）、ステップＳ８０２で取得した画素位置（１７，４０）に対応付けて、図７に示すように接点番号「２」を付与する。
【００４４】
このようにして接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が完成する。
次に、上述のようにして完成させた接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号の数分、図９のステップＳ９０６乃至Ｓ９０８を繰り返す。
【００４５】
まず、ステップＳ９０６において、図１０に示したような接触部分１０１や接触部分１０２の各接触部分の幅（接点幅）を算出する。具体的には、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号「１」が付与された画素位置の数を取得する。図７に示した例では、接点番号「１」が付与された画素位置は、（０，４４）（１，４４）（２，４３）（３，４３）（４，４３）（５，４３）（６，４２）であるので「７」を取得する。
【００４６】
次に、ステップＳ９０７において、各接触部分の位置情報を算出する。具体的には、同じ接点番号が付与された画素位置のうち、例えば、最初の画素位置、中央の画素位置等を各接触部分の位置情報として算出する。
【００４７】
そして、ステップＳ９０８において、接点情報テーブル（図１１参照）を作成する。接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号の数分、上述のステップＳ９０６乃至Ｓ９０８を繰り返すと、図１１に示したような接点情報テーブルが完成する。
【００４８】
なお、ここで、位置情報は、図１２に示すように、中心５３の画素位置を（０，０）にしたＸＹ平面で表される。また、前記接点情報算出部１３によって算出された接点情報は、前記読取印画像データと対応付けて不図示の登録印データ格納部に格納されることにより、登録印データとして登録される。
【００４９】
図２の説明に戻る。
ステップＳ２４において、接点情報比較部１４が、ステップＳ２３で算出された前記読取印画像データの接点情報と、事前に登録印データ格納部に格納された登録印データの接点情報とを比較する。より具体的には以下のようにして比較する。
【００５０】
図１５及び図１６は、接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャートであり、図１７は、比較する登録印と読取印の例を示す図であり、図１８は、登録印と読取印の接点情報の例を示す図である。
【００５１】
最初に、図１７の（ｂ）の印影Ｙを登録印Ｘ（図１７の（ａ））と比較する場合について説明する。
まず、図１５のステップＳ１５０１において、登録印（印影Ｘ）及び読取印（印影Ｙ）の接点情報テーブル（図１８参照）を取得する。
【００５２】
そして、ステップＳ１５０２において、接点情報テーブルから「接点数」が同じか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点数は「６」であり、読取印（印影Ｙ）の接点数は「６」であるので（ステップＳ１５０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ１５０３に進む。
【００５３】
次に、ステップＳ１５０３において、登録印（印影Ｘ）の接点番号１と読取印（印影Ｙ）の接点番号１の接点情報である接点位置及び接点幅を比較する。そして、ステップＳ１５０４において、これらの接点情報が一致しているか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点位置は（０，４４）であり、読取印（印影Ｙ）の接点位置は（５，４５）で異なるので（ステップＳ１５０４：Ｎｏ）、比較する接点位置をずらすため、ステップＳ１５０５に進み、比較する接点位置を１つずつずらして、ステップＳ１５０６において、ずらした接点位置で接点情報を比較する。読取印（印影Ｙ）の場合は、接点番号１乃至６の何れについても登録印（印影Ｘ）と一致しないので、図１６のステップＳ１６０７に進み、本接点情報比較処理を終了する。
【００５４】
次に、図１７の（ｃ）の印影Ｚを登録印Ｘ（図１７の（ａ））と比較する場合について説明する。
まず、図１５のステップＳ１５０１において、登録印（印影Ｘ）及び読取印（印影Ｚ）の接点情報テーブル（図１８参照）を取得する。
【００５５】
そして、ステップＳ１５０２において、接点情報テーブルから「接点数」が同じか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点数は「６」であり、読取印（印影Ｚ）の接点数は「６」であるので（ステップＳ１５０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ１５０３に進む。
【００５６】
次に、ステップＳ１５０３において、登録印（印影Ｘ）の接点番号１と読取印（印影Ｚ）の接点番号１の接点情報である接点位置及び接点幅を比較する。そして、ステップＳ１５０４において、これらの接点情報が一致しているか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点位置は（０，４４）であり、読取印（印影Ｚ）の接点位置は（０，４４）で一致するので（ステップＳ１５０４：Ｙｅｓ）、ステップＳ１６０８乃至Ｓ１６０９において、次の接点番号同士の接点情報を比較する。
【００５７】
そして、全ての接点情報が一致すれば（ステップＳ１６０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ１６１０において、両印鑑は同一印であると判断される。他方、何れかの接点情報が一致しなければ（ステップＳ１６０９：Ｎｏ）、ステップＳ１６０７において、両印鑑は相違印であると判断される。
【００５８】
以上、本発明を適用した実施の形態を説明してきたが、本実施の形態の印鑑照合装置１は、従来技術の同一印／相違印の判断のような、対象となる印影の白色画素／黒色画素の比率による判断処理に加え、本発明の印鑑照合処理をさらに実施することで、同一印／相違印の判断精度を向上させることができる。特に、所謂三文判においては、社印と比較すると二値化した印鑑イメージの黒色画素が少ないことから、判断する情報を追加することで、三文判においても同一印／相違印を確実に判別することが可能となる。
【００５９】
以上、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明してきたが、上述してきた本発明の実施の形態は、印鑑照合装置の一機能としてハードウェアまたはＤＳＰ（Digital Signal Processor）ボードやＣＰＵボードでのファームウェアもしくはソフトウェアにより実現することができる。
【００６０】
また、本発明が適用される印鑑照合装置は、その機能が実行されるのであれば、上述の実施の形態に限定されることなく、単体の装置であっても、複数の装置からなるシステムあるいは統合装置であっても、ＬＡＮ、ＷＡＮ等のネットワークを介して処理が行なわれるシステムであってもよいことは言うまでもない。
【００６１】
また、バスに接続されたＣＰＵ、ＲＯＭやＲＡＭのメモリ、入力装置、出力装置、外部記録装置、媒体駆動装置、ネットワーク接続装置で構成されるシステムでも実現できる。すなわち、前述してきた実施の形態のシステムを実現するソフトェアのプログラムを記録したＲＯＭやＲＡＭのメモリ、外部記録装置、可搬記録媒体を、印鑑照合装置に供給し、その印鑑照合装置のコンピュータがプログラムを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
【００６２】
この場合、可搬記録媒体等から読み出されたプログラム自体が本発明の新規な機能を実現することになり、そのプログラムを記録した可搬記録媒体等は本発明を構成することになる。
【００６３】
プログラムを供給するための可搬記録媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリーカード、ＲＯＭカード、電子メールやパソコン通信等のネットワーク接続装置（言い換えれば、通信回線）を介して記録した種々の記録媒体などを用いることができる。
【００６４】
また、コンピュータ（情報処理装置）がメモリ上に読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施の形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現される。
【００６５】
さらに、可搬型記録媒体から読み出されたプログラムやプログラム（データ）提供者から提供されたプログラム（データ）が、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現され得る。
【００６６】
すなわち、本発明は、以上に述べた実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の構成または形状を取ることができる。
【符号の説明】
【００６７】
１ 印鑑照合装置
１０ 管理部
１１ 印鑑枠抽出部
１２ 連続画素検出部
１３ 接点情報算出部
１４ 接点情報比較部
１５ 印鑑枠情報記憶部
１６ 連続画素情報記憶部
１７ 接点位置情報記憶部
１８ 接点幅情報記憶部
５１ 内周
５２ ３分の１の距離
５３ 中心
５４ 対象範囲
６０ 取得画素ｗｏｒｋテーブル
７０ 接点情報ｗｏｒｋテーブル
１０１ 接触部分
１０２ 接触部分
１１０ 接点情報テーブル
１３１ 接点位置情報算出部
１３２ 接点幅情報算出部
１４１ 接点位置情報比較部
１４２ 接点の幅情報比較部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サーバに登録された登録印と帳票等に押印された印影の照合を行う印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、銀行等においては、顧客が書類に押印した印鑑の印影と、予め登録されている登録印の印影を照合するために印鑑照合装置が用いられている。
この印鑑照合装置は、スキャナ等の入力装置から読み込んだ印鑑の照合印影画像と予め登録した登録印影画像とを比較することで、照合印影画像と登録印影画像とが同一の印鑑から得られた印影であるか否かを判別している。
【０００３】
具体的には、画素の一致率、ベクトルの一致率、エッジの一致率の特徴３要素による判断が行われていた。例えば、照合印影画像および登録印影画像から濃淡画像をそれぞれ作成し、濃淡画像の濃度値に基づいてベクトル演算を行ない、照合率を算出することで、位置ずれやかすれ等による影響を受け難くした照合を行なっていた（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
また、画素の固まり方式、および密集方式による局所解析による判断も行われていた。例えば、照合印影画像と登録印影画像との位置ずれなどを防止すべく、それぞれの画像を複数のブロックに分割し、ブロックごとに相関画像を作成した後、その相関画像の極大値を持つ画素と該画素の近傍画素のみに画素値を付与した補間極大値画像を作成し、この補間極大値画像を各ブロックについて加算した累積値画像に基づいて、印鑑の照合をおこなっていた（例えば、特許文献２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−２０２５１４号公報
【特許文献２】特開平９−２８８７３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、比較的印影の形状が簡素な所謂三文判等は、比較的印影の形状が複雑な社印等に比べ、非常に似通った形状が多く、判断材料となる画素数が少ないことから、従来から実施している判断では、一致率が高くなってしまい、相違印を同一印と誤判断してしまうことがある、という問題点があった。
【０００７】
本発明は、上述のような実状に鑑みたものであり、比較的印影の形状が簡素な三文判等であっても、精度の高い印鑑照合を行なうことが可能な印鑑照合プログラムおよび印鑑照合装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するため、下記のような構成を採用した。
すなわち、本発明の一態様によれば、本発明の印鑑照合プログラムは、印鑑照合装置のコンピュータを、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段として機能させるための印鑑照合プログラムである。
【０００９】
また、本発明の印鑑照合プログラムは、前記接点情報算出手段が、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることが望ましい。
また、本発明の印鑑照合プログラムは、さらに、前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段として機能させるための印鑑照合プログラムであることが望ましい。
【００１０】
また、本発明の印鑑照合プログラムは、さらに、前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報とを比較する接点情報比較手段として機能させるための印鑑照合プログラムであることが望ましい。
【００１１】
また、本発明の一態様によれば、本発明の印鑑照合装置は、媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段と、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段と、前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段と、前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段とを備えることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の印鑑照合装置は、前記接点情報算出手段が、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることが望ましい。
また、本発明の印鑑照合装置は、さらに、前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段を備えることが望ましい。
【００１３】
また、本発明の印鑑照合装置は、さらに、前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段によって格納された登録印データの接点情報とを比較する接点情報比較手段を備えることが望ましい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、同一印／相違印の判断条件を追加することで、照合の精度を向上させることができる。特に、従来の判断では誤判断するケースがあった所謂三文判においては、社印と比較すると二値化した印影イメージの黒色画素が少ないことから、判断情報を追加することで、三文判においても同一印／相違印を確実に判別することが可能となる。さらに、三文判における相違印の判断が向上することで、印鑑照合におけるオペレーションの効率化が図れる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明を適用した印鑑照合装置の機能ブロック図である。
【図２】印鑑照合装置１が実行する印鑑照合処理の流れを示すフローチャートである。
【図３】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図４】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図５】連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理を説明するための図である。
【図６】取得画素ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【図７】接点情報ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【図８】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図９】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図１０】接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理を説明するための図である。
【図１１】接点情報テーブルの例を示す図である。
【図１２】接触部分の位置データを説明するための図である。
【図１３】印鑑Ａの印影の例を示す図である。
【図１４】印鑑Ｂの印影の例を示す図である。
【図１５】接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図１６】接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図１７】比較する登録印と読取印の例を示す図である。
【図１８】登録印と読取印の接点情報の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明は、金融機関等のサーバに登録された登録印のデータ、及び画像読取装置で印影を読み取った読取印のデータそれぞれにおいて、印鑑の枠に相当する部分、より厳密には枠に相当する部分の内周と、その枠の内側の文字部分との接点数、位置および接する幅を抽出し、抽出した接点数、位置および接する幅が、登録印と読取印で一致するか否かを判断する。ただし、印鑑の印影は、一般に滲みや擦れが存在するため、所定の閾値を設け、閾値範囲内での相違であれば一致していると判断する。なお、閾値は、動作環境にて指定可能とする。
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、本発明を適用した印鑑照合装置の機能ブロック図である。
図１において、印鑑照合装置１は、印鑑枠抽出部１１、連続画素検出部１２、接点情報算出部１３及び接点情報比較部１４を備え、管理部１０を介して制御されている。
【００１８】
印鑑枠抽出部１１は、読取印画像データとしてスキャナ等の画像読取装置で読み取った、帳票等の媒体に押印された印鑑の印影から、公知の円形状検出処理等の外枠検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する。そして、抽出した印鑑枠相当部分の情報を、メモリ上の印鑑枠情報記憶部１５に格納する。
【００１９】
連続画素検出部１２は、読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出部１１によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分（以下、接点ともいう）として検出する。そして、検出した接触部分の情報を、メモリ上の連続画素情報記憶部１６に格納する。
【００２０】
接点情報算出部１３は、前記連続画素検出部１２によって検出された接触部分の数及び接触部分の位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する。各接触部分の位置は、接点情報算出部１３が備える接点位置情報算出部１３１によって算出される。そして、算出された各接触部分の位置の情報を、メモリ上の接点位置情報記憶部１７に格納する。
また、各接触部分の幅は、接点幅情報算出部１３２によって、各接触部分において前記印鑑枠抽出部１１によって抽出された印鑑枠相当部分の内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることにより算出される。そして、算出された各接触部分の幅データを、メモリ上の接点幅情報記憶部１８に格納する。
【００２１】
また、前記接点情報算出部１３によって算出された接点情報は、前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして不図示の登録印データ格納部に格納される。
接点情報比較部１４は、前記接点情報算出部１３によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納部に格納された登録印データの接点情報を比較する。より具体的には、接点位置情報比較部１４１が接触部分の位置データ同士を比較し、接点の幅情報比較部１４２が各接触部分の幅データ同士を比較する。
【００２２】
図２は、印鑑照合装置１が実行する印鑑照合処理の流れを示すフローチャートである。
まず、ステップＳ２１において、印鑑枠抽出部１１が、読取印画像データとしてスキャナ等の画像読取装置で読み取った、帳票等の媒体に押印された印鑑の印影から、公知の円形状検出処理等の外枠検出処理を用いて印鑑枠相当部分、特に印鑑枠相当部分の内周を抽出する。
【００２３】
次に、ステップＳ２２において、連続画素検出部１２が、読取印画像データを構成する画素のうち、ステップＳ２１で抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する。より具体的には以下のようにして検出する。
【００２４】
図３及び図４は、連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理の流れを示すフローチャートであり、図５は、連続画素検出部１２が実行する連続画素検出処理を説明するための図であり、図６は、取得画素ｗｏｒｋテーブルの例を示す図であり、図７は、接点情報ｗｏｒｋテーブルの例を示す図である。
【００２５】
まず、図３のステップＳ３０１において、連続画素検出処理の起点および終点の画素を決定する。通常は、印鑑枠相当部分の内周（図５に示した内周５１参照）に沿って順に連続画素検出処理を開始していくので、内周５１上の任意の画素を起点として決定し、内周５１を一周して戻ってきた最後の画素を終点として決定する。
【００２６】
そして、ステップＳ３０２において、連続画素検出処理を施す対象範囲５４を決定する。この範囲は、予め定めておくことが可能であるが、図５に示した例では、印鑑枠相当部分の内周５１から中心５３に向かって、内周５１から中心５３までの３分の１の距離５２までを対象範囲５４として決定する。
【００２７】
ステップＳ３０３において、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０（図７参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ３０４乃至Ｓ４１０をステップＳ３０１で決定した起点から終点まで繰り返す。すなわち、印鑑枠相当部分の内周５１に沿って順に連続画素の検出処理を行う。
【００２８】
まず、ステップＳ３０４において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ３０５乃至Ｓ３０６をステップＳ３０２で決定した対象範囲５４内で繰り返す。
【００２９】
すなわち、内周５１上の起点の画素から中心に向かって上記３分の１の距離５２まで１画素ずつ、ステップＳ３０５において、画素を取得し、ステップＳ３０６において、黒色画素であれば「１」を、白色画素であれば「０」を順に取得画素ｗｏｒｋテーブル６０に格納する。ここで、起点の画素は、中心５３の画素位置を（０，０）とした場合の内周５１上の画素位置（０，４４）であるので、この画素位置（０，４４）から順に、上記３分の１の距離５２までの画素を取得する。例えば、「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」「白色画素」の９画素を取得する。その結果を図６の（ａ）に示す。
【００３０】
次に、ステップＳ４０７において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６の（ａ））を参照し、先頭から「黒色画素」の連続が所定の閾値、例えば３画素以上連続しているか否かを判断する。
【００３１】
「黒色画素」が所定閾値以上連続していれば（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ４０８において、内周５１上の座標を接点情報ｗｏｒｋテーブル７０に格納する。図６の（ａ）の場合は、先頭から「黒色画素」の連続が３画素以上連続しているので、図７に示すように、一番左に（０，４４）が格納されている。
【００３２】
そして、ステップＳ３０４に戻り、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０を初期化し、円周５１上の起点の次の画素から上記３分の１の距離５２まで１画素ずつ、ステップＳ３０５で画素を取得し、ステップＳ３０６で「１」又は「０」を順に取得画素ｗｏｒｋテーブル６０に格納する。ここで、起点の次の画素は、画素位置（１，４４）であるので、この画素位置（１，４４）から順に、上記３分の１の距離５２までの画素を取得する。例えば、「黒色画素」「白色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」「黒色画素」の８画素を取得する。その結果を、図６の（ｂ）に示す。
【００３３】
次に、ステップＳ４０７において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０（図６の（ｂ））を参照すると、先頭から「黒色画素」が３画素以上連続していない（最初の「黒色画素」の次は「白色画素」）ので（ステップＳ４０７：Ｎｏ）、ステップＳ４０９において、連続しなかった「黒色画素」の次の「白色画素」が所定数、例えば２つ以内か（「白色画素」が２つ以上続くか）を判断する。
【００３４】
図６の（ｂ）に示した例では、２つ以上続いていない（１つだけ）ので（ステップＳ４０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ４１０において、取得画素ｗｏｒｋテーブル６０の当該「白色画素」を「黒色画素」に、すなわち「０」を「１」に書き換えてステップＳ４０７に戻る。これは、印影の「擦れ」のために本来「黒色画素」であったことを考慮したものである。
【００３５】
図６の（ｂ）に示した例での再度のステップＳ４０７では、「黒色画素」の連続が３画素以上連続していることになるので（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ４０８に進み、図７に示すように、左から２番目に（１，４４）を格納する。
【００３６】
なお、ステップＳ４０９で「白色画素」が所定数以上続くと（ステップＳ４０９：Ｎｏ）、本連続画素検出処理を終了し、図７に示したような接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が作成される。
【００３７】
図２の説明に戻る。
上述したようにして接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が作成されると、ステップＳ２３において、接点情報算出部１３が、ステップＳ２２で検出された接触部分の数及び接触部分の位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する。より具体的には以下のようにして算出する。
【００３８】
図８及び図９は、接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理の流れを示すフローチャートであり、図１０は、接点情報算出部１３が実行する接点情報算出処理を説明するための図であり、図１１は、接点情報テーブルの例を示す図であり、図１２は、接触部分の位置データを説明するための図である。
【００３９】
まず、図８のステップＳ８０１において、接点情報テーブル１１０（図１１参照）を初期化しておく。
そして、ステップＳ８０２乃至Ｓ８０５を接点情報ｗｏｒｋテーブル７０に格納されている画素位置の数分繰り返す。
【００４０】
まず、ステップＳ８０２において、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から順に画素位置の情報を取得する。例えば、図７に示した例では、最初に画素位置（０，４４）を取得する。
【００４１】
次に、ステップＳ８０３において、前回取得した画素位置の情報と隣り合っているか否かを判断する。最初の場合は、前回取得した画素位置の情報が無く、隣り合っていることにならないので（ステップＳ８０３：Ｎｏ）、ステップＳ８０４において、ステップＳ８０２で取得した画素位置（０，４４）に対応付けて、図７に示すように接点番号「１」を付与する。
【００４２】
そして、２度目のステップＳ８０２で接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から画素位置（１，４４）を取得し、ステップＳ８０３で前回取得した画素位置（０，４４）と隣り合っているか否かを判断する。この場合、画素位置（１，４４）は画素位置（０，４４）と１画素違いであり隣り合っているので（ステップＳ８０３：Ｙｅｓ）、ステップＳ８０５において、ステップＳ８０２で取得した画素位置（１，４４）に対応付けて、画素位置（０，４４）と同じ接点番号「１」を付与する（図７参照）。
【００４３】
これを繰り返し、８度目のステップＳ８０２で接点情報ｗｏｒｋテーブル７０から画素位置（１７，４０）を取得し、ステップＳ８０３で前回（７度目）取得した画素位置（６，４２）と隣り合っているか否かを判断する。すると、画素位置（１７，４０）は画素位置（６，４２）とは隣り合っていないので（ステップＳ８０３：Ｎｏ）、ステップＳ８０２で取得した画素位置（１７，４０）に対応付けて、図７に示すように接点番号「２」を付与する。
【００４４】
このようにして接点情報ｗｏｒｋテーブル７０が完成する。
次に、上述のようにして完成させた接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号の数分、図９のステップＳ９０６乃至Ｓ９０８を繰り返す。
【００４５】
まず、ステップＳ９０６において、図１０に示したような接触部分１０１や接触部分１０２の各接触部分の幅（接点幅）を算出する。具体的には、接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号「１」が付与された画素位置の数を取得する。図７に示した例では、接点番号「１」が付与された画素位置は、（０，４４）（１，４４）（２，４３）（３，４３）（４，４３）（５，４３）（６，４２）であるので「７」を取得する。
【００４６】
次に、ステップＳ９０７において、各接触部分の位置情報を算出する。具体的には、同じ接点番号が付与された画素位置のうち、例えば、最初の画素位置、中央の画素位置等を各接触部分の位置情報として算出する。
【００４７】
そして、ステップＳ９０８において、接点情報テーブル（図１１参照）を作成する。接点情報ｗｏｒｋテーブル７０の接点番号の数分、上述のステップＳ９０６乃至Ｓ９０８を繰り返すと、図１１に示したような接点情報テーブルが完成する。
【００４８】
なお、ここで、位置情報は、図１２に示すように、中心５３の画素位置を（０，０）にしたＸＹ平面で表される。また、前記接点情報算出部１３によって算出された接点情報は、前記読取印画像データと対応付けて不図示の登録印データ格納部に格納されることにより、登録印データとして登録される。
【００４９】
図２の説明に戻る。
ステップＳ２４において、接点情報比較部１４が、ステップＳ２３で算出された前記読取印画像データの接点情報と、事前に登録印データ格納部に格納された登録印データの接点情報とを比較する。より具体的には以下のようにして比較する。
【００５０】
図１５及び図１６は、接点情報比較部１４が実行する接点情報比較処理の流れを示すフローチャートであり、図１７は、比較する登録印と読取印の例を示す図であり、図１８は、登録印と読取印の接点情報の例を示す図である。
【００５１】
最初に、図１７の（ｂ）の印影Ｙを登録印Ｘ（図１７の（ａ））と比較する場合について説明する。
まず、図１５のステップＳ１５０１において、登録印（印影Ｘ）及び読取印（印影Ｙ）の接点情報テーブル（図１８参照）を取得する。
【００５２】
そして、ステップＳ１５０２において、接点情報テーブルから「接点数」が同じか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点数は「６」であり、読取印（印影Ｙ）の接点数は「６」であるので（ステップＳ１５０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ１５０３に進む。
【００５３】
次に、ステップＳ１５０３において、登録印（印影Ｘ）の接点番号１と読取印（印影Ｙ）の接点番号１の接点情報である接点位置及び接点幅を比較する。そして、ステップＳ１５０４において、これらの接点情報が一致しているか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点位置は（０，４４）であり、読取印（印影Ｙ）の接点位置は（５，４５）で異なるので（ステップＳ１５０４：Ｎｏ）、比較する接点位置をずらすため、ステップＳ１５０５に進み、比較する接点位置を１つずつずらして、ステップＳ１５０６において、ずらした接点位置で接点情報を比較する。読取印（印影Ｙ）の場合は、接点番号１乃至６の何れについても登録印（印影Ｘ）と一致しないので、図１６のステップＳ１６０７に進み、本接点情報比較処理を終了する。
【００５４】
次に、図１７の（ｃ）の印影Ｚを登録印Ｘ（図１７の（ａ））と比較する場合について説明する。
まず、図１５のステップＳ１５０１において、登録印（印影Ｘ）及び読取印（印影Ｚ）の接点情報テーブル（図１８参照）を取得する。
【００５５】
そして、ステップＳ１５０２において、接点情報テーブルから「接点数」が同じか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点数は「６」であり、読取印（印影Ｚ）の接点数は「６」であるので（ステップＳ１５０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ１５０３に進む。
【００５６】
次に、ステップＳ１５０３において、登録印（印影Ｘ）の接点番号１と読取印（印影Ｚ）の接点番号１の接点情報である接点位置及び接点幅を比較する。そして、ステップＳ１５０４において、これらの接点情報が一致しているか否か判断する。登録印（印影Ｘ）の接点位置は（０，４４）であり、読取印（印影Ｚ）の接点位置は（０，４４）で一致するので（ステップＳ１５０４：Ｙｅｓ）、ステップＳ１６０８乃至Ｓ１６０９において、次の接点番号同士の接点情報を比較する。
【００５７】
そして、全ての接点情報が一致すれば（ステップＳ１６０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ１６１０において、両印鑑は同一印であると判断される。他方、何れかの接点情報が一致しなければ（ステップＳ１６０９：Ｎｏ）、ステップＳ１６０７において、両印鑑は相違印であると判断される。
【００５８】
以上、本発明を適用した実施の形態を説明してきたが、本実施の形態の印鑑照合装置１は、従来技術の同一印／相違印の判断のような、対象となる印影の白色画素／黒色画素の比率による判断処理に加え、本発明の印鑑照合処理をさらに実施することで、同一印／相違印の判断精度を向上させることができる。特に、所謂三文判においては、社印と比較すると二値化した印鑑イメージの黒色画素が少ないことから、判断する情報を追加することで、三文判においても同一印／相違印を確実に判別することが可能となる。
【００５９】
以上、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明してきたが、上述してきた本発明の実施の形態は、印鑑照合装置の一機能としてハードウェアまたはＤＳＰ（Digital Signal Processor）ボードやＣＰＵボードでのファームウェアもしくはソフトウェアにより実現することができる。
【００６０】
また、本発明が適用される印鑑照合装置は、その機能が実行されるのであれば、上述の実施の形態に限定されることなく、単体の装置であっても、複数の装置からなるシステムあるいは統合装置であっても、ＬＡＮ、ＷＡＮ等のネットワークを介して処理が行なわれるシステムであってもよいことは言うまでもない。
【００６１】
また、バスに接続されたＣＰＵ、ＲＯＭやＲＡＭのメモリ、入力装置、出力装置、外部記録装置、媒体駆動装置、ネットワーク接続装置で構成されるシステムでも実現できる。すなわち、前述してきた実施の形態のシステムを実現するソフトェアのプログラムを記録したＲＯＭやＲＡＭのメモリ、外部記録装置、可搬記録媒体を、印鑑照合装置に供給し、その印鑑照合装置のコンピュータがプログラムを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
【００６２】
この場合、可搬記録媒体等から読み出されたプログラム自体が本発明の新規な機能を実現することになり、そのプログラムを記録した可搬記録媒体等は本発明を構成することになる。
【００６３】
プログラムを供給するための可搬記録媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリーカード、ＲＯＭカード、電子メールやパソコン通信等のネットワーク接続装置（言い換えれば、通信回線）を介して記録した種々の記録媒体などを用いることができる。
【００６４】
また、コンピュータ（情報処理装置）がメモリ上に読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施の形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現される。
【００６５】
さらに、可搬型記録媒体から読み出されたプログラムやプログラム（データ）提供者から提供されたプログラム（データ）が、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現され得る。
【００６６】
すなわち、本発明は、以上に述べた実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の構成または形状を取ることができる。
【符号の説明】
【００６７】
１ 印鑑照合装置
１０ 管理部
１１ 印鑑枠抽出部
１２ 連続画素検出部
１３ 接点情報算出部
１４ 接点情報比較部
１５ 印鑑枠情報記憶部
１６ 連続画素情報記憶部
１７ 接点位置情報記憶部
１８ 接点幅情報記憶部
５１ 内周
５２ ３分の１の距離
５３ 中心
５４ 対象範囲
６０ 取得画素ｗｏｒｋテーブル
７０ 接点情報ｗｏｒｋテーブル
１０１ 接触部分
１０２ 接触部分
１１０ 接点情報テーブル
１３１ 接点位置情報算出部
１３２ 接点幅情報算出部
１４１ 接点位置情報比較部
１４２ 接点の幅情報比較部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印鑑照合装置のコンピュータを、
媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、
前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段、
として機能させるための印鑑照合プログラム。
【請求項２】
前記接点情報算出手段は、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることを特徴とする請求項１に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項３】
前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段、
として機能させるための請求項１または２に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項４】
前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報を比較する接点情報比較手段、
として機能させるための請求項１乃至３の何れか１項に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項５】
媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段と、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段と、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段と、
前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段と、
を備えることを特徴とする印鑑照合装置。
【請求項６】
前記接点情報算出手段は、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることを特徴とする請求項５に記載の印鑑照合装置。
【請求項７】
前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段、
を備えることを特徴とする請求項５または６に記載の印鑑照合装置。
【請求項８】
前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報を比較する接点情報比較手段、
を備えることを特徴とする請求項５乃至７の何れか１項に記載の印鑑照合装置。
【請求項１】
印鑑照合装置のコンピュータを、
媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段、
前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段、
として機能させるための印鑑照合プログラム。
【請求項２】
前記接点情報算出手段は、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることを特徴とする請求項１に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項３】
前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段、
として機能させるための請求項１または２に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項４】
前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報を比較する接点情報比較手段、
として機能させるための請求項１乃至３の何れか１項に記載の印鑑照合プログラム。
【請求項５】
媒体上に押印された印鑑の印影を読取印画像データとして画像読取装置で読み取る印影読取手段と、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データから円形状検出処理を用いて印鑑枠相当部分を抽出する印鑑枠抽出手段と、
前記印影読取手段によって読み取った読取印画像データを構成する画素のうち、前記印鑑枠抽出手段によって抽出された印鑑枠相当部分の内周から中心に向かって所定数以上連続している部分を、前記印鑑枠相当部分と前記印鑑枠相当部分以外の文字相当部分とが接触している接触部分として検出する連続画素検出手段と、
前記連続画素検出手段によって検出された接触部分の数及び位置データ並びに各接触部分の幅データを含む接点情報を算出する接点情報算出手段と、
を備えることを特徴とする印鑑照合装置。
【請求項６】
前記接点情報算出手段は、前記接触部分において前記内周に沿って連続している画素数を前記幅データとすることを特徴とする請求項５に記載の印鑑照合装置。
【請求項７】
前記接点情報算出手段によって算出した接点情報を前記読取印画像データと対応付けて登録印データとして記憶装置に格納する登録印データ格納手段、
を備えることを特徴とする請求項５または６に記載の印鑑照合装置。
【請求項８】
前記接点情報算出手段によって算出された前記読取印画像データの接点情報と前記登録印データ格納手段に格納された登録印データの接点情報を比較する接点情報比較手段、
を備えることを特徴とする請求項５乃至７の何れか１項に記載の印鑑照合装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１１】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図５】
【図１０】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１１】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図５】
【図１０】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１７】
【公開番号】特開２０１２−１８１６１９（Ｐ２０１２−１８１６１９Ａ）
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−４３０８７（Ｐ２０１１−４３０８７）
【出願日】平成２３年２月２８日（２０１１．２．２８）
【出願人】（０００２３７６３９）富士通フロンテック株式会社 (667)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年２月２８日（２０１１．２．２８）
【出願人】（０００２３７６３９）富士通フロンテック株式会社 (667)
【Ｆターム（参考）】
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