圧延機の板厚制御方法
【課題】ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとＰＩ制御を併用した板厚制御における最適な比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉの決定方法を提供すると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る圧延機の板厚制御方法は、圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御する板厚制御方法において、比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐをＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率αbを用いた式により求める。
【解決手段】本発明に係る圧延機の板厚制御方法は、圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御する板厚制御方法において、比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐをＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率αbを用いた式により求める。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、厚板を圧延する圧延機の板厚制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、圧延装置を用いて厚鋼板を圧延する場合には、当該圧延装置に備えられた圧延機の１対のワークロールの間隙（以下、ロールギャップ量と呼ぶ）を調整して、圧延材の板幅方向端部の出側板厚を目標値に一致させる板厚制御が行われている。
圧延装置は板厚を制御するための板厚制御部を有しており、この板厚制御部では、自動板厚制御（ＡＧＣ）として、フィードフォワードＡＧＣ、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣ、及びモニタＡＧＣや絶対値ＡＧＣが採用されている。
【０００３】
フィードフォワードＡＧＣは、例えば、前パスや一つ前の制御周期での圧延機の出側板厚や板の変形抵抗を当該圧延機にフィードフォワードして適用する制御である。ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣは、圧延機直下の板厚を圧延荷重を基に推定する制御である。モニタＡＧＣは、出側板厚を実測し、その実測値（積分値）を圧延機へフィードバックする制御である。絶対値ＡＧＣは、例えば、板の先端部の圧延に着目した制御であって、通板前に予め決めた固定値の板厚を用いる制御である。上述のモニタＡＧＣや絶対値ＡＧＣは、比例動作と積分動作を組み合わせたＰＩ制御を採用している。
【０００４】
特許文献１には、タンデム圧延機に対して上述したＡＧＣを複数用いつつ自動板厚制御を行う技術が開示されている。
特許文献１に開示のタンデム圧延機は、検出された圧延荷重変動から板厚変動を判定して圧下操作量を修正するＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、圧延ロール偏芯による板厚変動を補償するロール偏芯制御装置と、所定スタンドより出側の板厚測定に従ってそのスタンドの圧下操作量を修正する圧下モニタＡＧＣと、所定スタンド間で検出された板厚偏差をその後方スタンド直下までトラッキングしながら、該スタンドの圧延ロール回転速度を修正する速度ＦＦ−ＡＧＣと、最終スタンド出側で検出された板厚偏差に従って、該検出位置より前方の圧延ロール回転速度を修正する出側速度ＡＧＣとを備え、当該タンデム圧延機の出側の板厚偏差を取り除くようにしたものである。
【０００５】
このタンデム圧延機は、所定スタンド出側の板厚偏差を、少なくとも所定時間連続的に検出する板厚偏差検出手段と、該板厚偏差の周波数成分を解析する周波数解析手段と、各圧延ロールのロール偏芯周波数が記憶されている判定データ記憶手段と、前記解析された周波数成分に基づいて、前記各ロール偏芯周波数を用いながら、自動板厚制御系の異常を推定する異常推定手段とを備えたことを特徴とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−２９３５２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
通常、厚鋼板の圧延においても、特許文献１に開示された技術のように、複数のＡＧＣが同時に実行されている。しかしながら、複数のＡＧＣが全て同時に実行されているわけではなく、狙った板厚を実現するため、排他的に実行されるＡＧＣや、選択的に組み合わせて併用されるＡＧＣがある。
複数のＡＧＣを併用する場合、併用される各ＡＧＣが発揮する能力を適切に決定しなければ、圧延機全体としての安定した制御が困難となる。本願発明者らは、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと例えばモニタＡＧＣとを併用した場合に板厚の制御を安定させるためには、モニタＡＧＣにて実行されるＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐや積分ゲインＧｉを適切に決定しなければならないことを、現場の実績を基に知見した。
【０００８】
しかし、特許文献１には、複数のＡＧＣを実行した際に制御を安定させるための技術が開示されておらず、当然に、ＰＩ制御を採用した際に安定制御を可能にする比例ゲインＧｐと積分ゲインＧｉを求める手法も開示されていない。
そこで本発明は、上記問題点に鑑み、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとモニタＡＧＣ等におけるＰＩ制御とを併用した板厚制御における、最適な比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉの決定方法を提供すると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。
本発明の板厚制御方法は、圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御するものであって、
比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐを次式にて求めることを特徴とする。
【００１０】
【数１】
【００１１】
ここで、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１２】
【数２】
【００１３】
また、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１４】
【数３】
【００１５】
さらに、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１６】
【数４】
【００１７】
ここで、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、モニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣとを併用し、前記併用されたモニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣにおいて、ＰＩ制御を採用していてもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとＰＩ制御を併用した板厚制御における最適な比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉの決定方法を提供することができると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１実施形態による圧延装置の構成を示す概略図である。
【図２】本発明の圧延機（粗圧延機乃至は仕上げ圧延機）の構成を示す概略図である。
【図３】従来技術において比例ゲインＧｐを変更した際のステップ応答波形のグラフを示す図である。
【図４】（ａ）は、本発明の第１実施形態によってＧｐを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図５】（ａ）は、従来技術においてＧｉを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図６】（ａ）は、本発明の第１実施形態によってＧｉを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図７】本発明の第２実施形態による圧延機（粗圧延機乃至は仕上げ圧延機）の構成を示す概略図である。
【図８】本発明の第１実施形態及び第２実施形態での圧延機及び板厚制御装置の構成を示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、図面を基に、本発明にかかる圧延機の板厚制御方法を説明する。
図１を参照して、厚鋼板等の圧延材を圧延する圧延装置１は、その上流側に圧延材２を加熱する加熱炉３を有し、加熱炉３の下流側には、圧延材２の粗圧延を行う粗圧延機４が備えられている。粗圧延機４の下流側には、仕上げ圧延を行う仕上げ圧延機５が備えられている。加熱炉３で加熱されたスラブは、粗圧延機４や仕上げ圧延機５で複数回（複数パス）圧延されて、製品の厚鋼板となる。
【００２１】
（第１実施形態）
図２には、圧延装置１に備えられている仕上げ圧延機５（以下、圧延機５という）が示されている。圧延機５は、圧延材２を圧延する一対のワークロール６，６とそれをバックアップする一対のバックアップロール７，７とを有している。
さらに、圧延機５には、ワークロール６，６の間隙長（以下、ロールギャップ量Ｓと呼ぶ）を調整する油圧駆動の圧下装置が備えられている。圧下装置は、例えば油圧シリンダ８と、油圧シリンダ８を制御してワークロール６の圧下位置を調整する油圧圧下位置制御部９とを有している。
ワークロール６の両端を支持するロールチョック１０には、圧延機５のフレーム１１に支持された油圧シリンダ８の基端が接続され、この油圧シリンダ８を支持するフレーム１１には圧延荷重を計測するロードセル１２が設けられている。
【００２２】
また、ロールチョック１０と圧延機５のフレーム１１の間には、油圧シリンダ８に沿ってフレーム１１からロールチョック１０までの距離を測定するリニアゲージ１３が設けられており、このリニアゲージ１３で測定した距離から、ロールギャップ量Ｓ乃至はロールギャップ量の変化量ΔＳが得られる。
さらに、圧延機５の出側には、圧延材２の出側板厚（出側エッジ厚）を計測するための板厚計１４が設けられている。板厚計１４としては、γ線板厚計などを採用することができる。
【００２３】
圧延機５には、ロードセル１２が計測した圧延荷重と板厚計１４が計測した出側板厚とを受けて、圧延材２の出側板厚が所定のものとなるように油圧圧下位置制御部９を制御する板厚制御部１５ａが設けられている。この板厚制御部１５ａはプロコンやＰＬＣから構成されており、内部には、後述するＡＧＣ制御系やベンダ制御系などがプログラムの形で組み込まれている。
【００２４】
図８に示される如く、本実施形態における板厚制御部１５ａは、ＡＧＣ制御系として、比例制御と積分制御を組み合わせたＰＩ制御を採用するモニタＡＧＣと、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを実行し、油圧圧下位置制御部を制御している。尚、図８において、絶対値ＡＧＣが示されているが、本実施形態においては実行されていないものとする。図８において、ＦＦ−ＡＧＣも示されているが、本実施形態による板厚制御部１５ａにおいてＦＦ−ＡＧＣは存在しないものとする。
【００２５】
モニタＡＧＣは、板厚計１４にて出側板厚を実測し、その実測値を積分したものを圧延機５へフィードバックする制御である。また、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣは、ゲージメータＡＧＣの一種であり、圧延機５の弾性や圧延材２の変形抵抗を考慮した上で、圧延機５の出側板厚を求めるものであって、例えば、圧延荷重を基にミル定数などを用いて出側板厚を推定し、その値を基に圧延機５の制御を行うものである。
【００２６】
このように、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用している。ところが、ＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用する場合に制御安定性を確保するには、以下に述べるような課題が従来より存在する。
例えば、特開昭５９−１９０１６号公報に記載の板厚制御方法では、油圧圧下系の油圧シリンダ位置のフィードバック制御に関する最適ゲインＫＯＰＴについて、次に示す式（１）などが与えられている。
【００２７】
【数５】
【００２８】
ここで、αｂは、制御全体に対するＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率であって、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣのチューニング率である。
しかしながら、モニタＡＧＣのＰＩ制御のＰ（比例）ゲインＧｐ（絶対値ＡＧＣとモニタＡＧＣのＰゲインの和でもよい）に関しては、決定するための方法が開示されていない。そこで、式（１）で得られた最適ゲインＫＯＰＴを、ＰＩ制御の比例ゲインＧｐとして用いる場合を考える。
【００２９】
この場合、従来の板厚制御方法においては、ＭやＱが変動した場合でも同じ応答及び同じ制御安定性を確保すべく、式（２）のように、比例ゲインＧｐを（Ｍ＋Ｑ）／Ｍに比例して変更することが一般的に行われている。
【００３０】
【数６】
【００３１】
しかし、図３のグラフに示すように、ＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合、式（２）に基づき比例ゲインＧｐを変更しても、応答性や安定性はＭやＱの変動によって大きく変化する。
図３は、式（２）に基づいて、様々なＭ，Ｑ対して比例ゲインＧｐを変更した場合のステップ応答を示すグラフである。但し、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率であるαｂの値を１としている。図３において、式（２）のＭが大きくなる、あるいはＱが小さくなると、グラフは左の方向（応答が早くなる）にシフトし、Ｍが小さくなる、あるいはＱが大きくなると、グラフは右の方向（応答が遅くなる）にシフトする。
【００３２】
図３によると、式（２）に基づいた比例ゲインＧｐの変更では、Ｍ，Ｑの変動によって応答波形が変化してしまうことがわかる。すなわち、従来より用いられる式（２）では、Ｍ，Ｑの変動に対して同じ応答性、同じ安定性を確保できないということである。
そこで、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御における比例ゲインＧｐを、式（３）によって決定する。ここでは、積分ゲインＧｉを０として、比例ゲインＧｐだけを変更する場合について説明する。
【００３３】
【数７】
【００３４】
比例ゲインＧｐを、式（２）ではなく式（３）によって決定することにより、Ｍ，Ｑが変動しても、αｂの値が一定であれば、常に同じ応答及び安定性を確保することができることを本願出願人は知見している。但し、ただし、ａ＋ｂ・αｂ≦０の場合、Ｇｐ＋αｂ≦０となり、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣ及びＰＩ制御で構成される板厚制御部１５ａは板厚を悪化させる方向に作用するため、ａ＋ｂ・αｂ＞０の範囲でａ，ｂ，αｂを与える方が好ましい。
【００３５】
ここで、図４に、式（３）においてａ＋ｂ・αｂ＝１．２とし、比例ゲインＧｐを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図４（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図４（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。図３のステップ応答と対比するため、αｂ＝１の場合について考える。
図４（ａ）を参照すると、比例ゲインＧｐの変更を式（３）に基づいて行えば、Ｍ，Ｑが変動しても応答波形が変化せず、同じ応答が得られることがわかる。また、図４（ｂ）を参照すると、ナイキスト線図も変化していないので、Ｍ，Ｑが変動しても同じ安定性を保つことができる。
【００３６】
ここで、式（３）に基づいた比例ゲインＧｐの変更において、ステップ応答時の時定数Ｔｄは、式（４）で与えられる。
【００３７】
【数８】
【００３８】
なお、一次遅れ系の時定数であるＴｙは一次遅れ分とむだ時間の和（≒Ｔｓ＋Ｌｓ）と考えることもでき、上述のようにαｂ＝１の場合、Ｔｄは、式（５）で与えられる。
【００３９】
【数９】
【００４０】
式（５）からわかるように、式（３）によって比例ゲインＧｐを変更する場合、αｂが同じであれば、常に同じ応答と安定性を与えることができる。
ここで、定数ａ，ｂの与え方による応答及び安定性の違いについて述べる。
図４（ａ）に示すように、例えばｂ＝０とした場合、αｂが変化しても、ステップ応答時に常に同じ立ち上がり速度を得ることができ、式（４）から時定数Ｔｄは式（６）で与えられる。
【００４１】
【数１０】
【００４２】
また、ｂ＝１とした場合、同様に式（４）から時定数Ｔｄは式（７）で与えられる。
【００４３】
【数１１】
【００４４】
これは、αｂが変化してもステップ応答の時定数は変化しないことを示しており、また、ナイキスト線図においても、αｂに関係なく一定で同じ安定性を得ることができる。
以上から、αｂの変更時に保ちたい特性に応じて定数ｂを適切に与えればよい。例えば、上述したように、立ち上がり速度を一定に保ちたいときはｂ＝０、時定数や安定性を一定に保ちたいときはｂ＝１とすればよい。
【００４５】
以上、比例ゲインＧｐの変更方法について説明した。続いて、モニタＡＧＣのＰＩ制御における積分ゲインＧｉの変更方法について、説明する。
従来、モニタＡＧＣのＰＩ制御のＩ（積分）ゲインＧｉ（絶対値ＡＧＣとモニタＡＧＣのＩゲインの和でもよい）に関しては、積分時間を比例制御と同じくする観点から、式（８）のように比例ゲインＧｐに比例して変更していた。
【００４６】
【数１２】
【００４７】
図５に、式（８）によって積分ゲインＧｉを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図５（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図５（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。但し、αｂ＝０．９としている。
図５（ａ）及び（ｂ）に示すように、Ｍ，Ｑの変動に伴って応答（ステップ応答）や安定性（ナイキスト線図）は変化してしまう。図５（ａ）,（ｂ）において、Ｍが小さくなる、あるいはＱが大きくなると、グラフはハンチング気味になる。
【００４８】
図５（ａ）に示すように、式（８）を用いた従来技術ではαｂを考慮していないため、Ｍ，Ｑの変動によって、板厚制御では最も敬遠されるオーバーシュートが発生するなど、安定性や応答が変動してしまう。
操業条件（Ｍ，Ｑ，αｂ）によって安定性や応答が様々に変動するため、全ての操業条件においてオーバーシュートをしないように、あるいは不安定にならないように制御するには、積分ゲインＧｉを下げるしか方法がなかった。
【００４９】
通常、積分ゲインＧｉを大きく与えすぎるとオーバーシュートが発生する。そこで、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御における積分ゲインＧｉの上限を、Ｇｐ＋αｂと１−αｂを考慮した式（９）によって変更する。
【００５０】
【数１３】
【００５１】
この式（９）によって積分ゲインＧｉの上限を与え、その上限を超えないように積分ゲインＧｉを修正する。こうすることで、Ｍ，Ｑが変化してもオーバーシュートしない適切な積分ゲインＧｉを与えることができる。また、Ｍ，Ｑによらず一定の応答を確保したい場合は、積分ゲインの寄与率に相当するαｉを導入した式（１０）によって、積分ゲインＧｉを与えればよい。
【００５２】
【数１４】
【００５３】
式（９）を守りつつ、αi及びαｂが一定であれば、常に同じ応答波形及び安定性を確保することができる。
更に、積分ゲインＧｉをできるだけ大きく与え、且つ外乱の影響を抑制するロバスト性を高めたい場合、αi＝１として、式（１１）を与える。
【００５４】
【数１５】
【００５５】
式（１１）によって、オーバーシュートしない範囲で常に積分ゲインＧｉを最大に保つことができる。式（１１）で積分ゲインＧｉを与えた場合、定数Ｔｄは式（１２）で与えられる。
【００５６】
【数１６】
【００５７】
更に、この式（１２）に対して式（３）で得られた比例ゲインＧｐを与えた場合、時定数Ｔｄは、式（１３）で与えられる。
【００５８】
【数１７】
【００５９】
積分ゲインＧｉを０とし式（３）にて比例ゲインＧｐを与えた場合の式（４）とは異なり、式（１１）で積分ゲインＧｉを与えた場合、ｂ＝０とすればαｂに関係なく常に一定の時定数を得ることができる。
図６に、式（３）及び式（１１）によって比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉを与えた場合の応答及び安定性の結果を示す。図６（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図６（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。但し、図５と同様に、αｂ＝０．９としている。
【００６０】
図６を参照すると、式（３）及び式（１１）によって比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉを与えると、応答波形やナイキスト線図はＭ，Ｑの変動によっては変化せず、同じ応答波形及び安定性を実現することができることがわかる。
図５に結果を示したような従来技術と比較すると、安定余裕も大きくなっていることがわかる。
【００６１】
上述のように、式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いてＰＩ制御を実行することで、板厚制御部１５ａは、ＰＩ制御（モニタＡＧＣ）とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
例えば、板厚制御部１５ａにおいて、式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いることで、ＰＩ制御によるロールギャップ修正量ΔＳｐｉを算出し、併せて、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣよるロールギャップ修正量ΔＳｂを算出して、式（１４）により、圧延機に適用するロールギャップ修正量ΔＳを求めるようにする。
【００６２】
【数１８】
【００６３】
斯かるロールギャップ修正量ΔＳを用いることで、ＰＩ制御（モニタＡＧＣ）とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
【００６４】
（第２実施形態）
以下、本発明に係る圧延機の板厚制御方法の第２実施形態について説明する。
前述した第１実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣとＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用していたが、第２実施形態による板厚制御部１５ｂは、絶対値ＡＧＣのＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用している。
すなわち、第２実施形態による板厚制御部１５ｂの絶対値ＡＧＣも、モニタＡＧＣと同様にＰＩ制御を採用しているので、本実施形態においても、第１実施形態と同様の方法で比例ゲインＧｐと積分ゲインＧｉを決定することができる。
【００６５】
尚、推定板厚推定部１６は、ロードセル１２とリニアゲージ１３から取得した値を基にゲージメータ板厚を推定するものであり、板厚制御部１５ｂの絶対値ＡＧＣは、推定されたゲージメータ板厚を用いて油圧圧下位置制御部９をフィードバック制御する。
このような本実施形態による板厚制御部１５ｂは、第１実施形態において説明した式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いてＰＩ制御を実行することで、絶対値ＡＧＣとＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
【００６６】
なお、今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。特に、今回開示された実施形態において、明示的に開示されていない事項、例えば、運転条件や操業条件、各種パラメータ、構成物の寸法、重量、体積などは、当業者が通常実施する範囲を逸脱するものではなく、通常の当業者であれば、容易に想定することが可能な値を採用している。
【符号の説明】
【００６７】
１ 圧延装置
２ 圧延材
３ 加熱炉
４ 粗圧延機
５ 仕上げ圧延機
６ ワークロール
７ バックアップロール
８ 油圧シリンダ
９ 油圧圧下位置制御部
１０ ロールチョック
１１ フレーム
１２ ロードセル
１３ リニアゲージ
１４ 板厚計
１５ａ，１５ｂ 板厚制御部
１６ 板厚推定部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、厚板を圧延する圧延機の板厚制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、圧延装置を用いて厚鋼板を圧延する場合には、当該圧延装置に備えられた圧延機の１対のワークロールの間隙（以下、ロールギャップ量と呼ぶ）を調整して、圧延材の板幅方向端部の出側板厚を目標値に一致させる板厚制御が行われている。
圧延装置は板厚を制御するための板厚制御部を有しており、この板厚制御部では、自動板厚制御（ＡＧＣ）として、フィードフォワードＡＧＣ、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣ、及びモニタＡＧＣや絶対値ＡＧＣが採用されている。
【０００３】
フィードフォワードＡＧＣは、例えば、前パスや一つ前の制御周期での圧延機の出側板厚や板の変形抵抗を当該圧延機にフィードフォワードして適用する制御である。ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣは、圧延機直下の板厚を圧延荷重を基に推定する制御である。モニタＡＧＣは、出側板厚を実測し、その実測値（積分値）を圧延機へフィードバックする制御である。絶対値ＡＧＣは、例えば、板の先端部の圧延に着目した制御であって、通板前に予め決めた固定値の板厚を用いる制御である。上述のモニタＡＧＣや絶対値ＡＧＣは、比例動作と積分動作を組み合わせたＰＩ制御を採用している。
【０００４】
特許文献１には、タンデム圧延機に対して上述したＡＧＣを複数用いつつ自動板厚制御を行う技術が開示されている。
特許文献１に開示のタンデム圧延機は、検出された圧延荷重変動から板厚変動を判定して圧下操作量を修正するＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、圧延ロール偏芯による板厚変動を補償するロール偏芯制御装置と、所定スタンドより出側の板厚測定に従ってそのスタンドの圧下操作量を修正する圧下モニタＡＧＣと、所定スタンド間で検出された板厚偏差をその後方スタンド直下までトラッキングしながら、該スタンドの圧延ロール回転速度を修正する速度ＦＦ−ＡＧＣと、最終スタンド出側で検出された板厚偏差に従って、該検出位置より前方の圧延ロール回転速度を修正する出側速度ＡＧＣとを備え、当該タンデム圧延機の出側の板厚偏差を取り除くようにしたものである。
【０００５】
このタンデム圧延機は、所定スタンド出側の板厚偏差を、少なくとも所定時間連続的に検出する板厚偏差検出手段と、該板厚偏差の周波数成分を解析する周波数解析手段と、各圧延ロールのロール偏芯周波数が記憶されている判定データ記憶手段と、前記解析された周波数成分に基づいて、前記各ロール偏芯周波数を用いながら、自動板厚制御系の異常を推定する異常推定手段とを備えたことを特徴とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−２９３５２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
通常、厚鋼板の圧延においても、特許文献１に開示された技術のように、複数のＡＧＣが同時に実行されている。しかしながら、複数のＡＧＣが全て同時に実行されているわけではなく、狙った板厚を実現するため、排他的に実行されるＡＧＣや、選択的に組み合わせて併用されるＡＧＣがある。
複数のＡＧＣを併用する場合、併用される各ＡＧＣが発揮する能力を適切に決定しなければ、圧延機全体としての安定した制御が困難となる。本願発明者らは、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと例えばモニタＡＧＣとを併用した場合に板厚の制御を安定させるためには、モニタＡＧＣにて実行されるＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐや積分ゲインＧｉを適切に決定しなければならないことを、現場の実績を基に知見した。
【０００８】
しかし、特許文献１には、複数のＡＧＣを実行した際に制御を安定させるための技術が開示されておらず、当然に、ＰＩ制御を採用した際に安定制御を可能にする比例ゲインＧｐと積分ゲインＧｉを求める手法も開示されていない。
そこで本発明は、上記問題点に鑑み、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとモニタＡＧＣ等におけるＰＩ制御とを併用した板厚制御における、最適な比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉの決定方法を提供すると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。
本発明の板厚制御方法は、圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御するものであって、
比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐを次式にて求めることを特徴とする。
【００１０】
【数１】
【００１１】
ここで、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１２】
【数２】
【００１３】
また、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１４】
【数３】
【００１５】
さらに、前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めてもよい。
【００１６】
【数４】
【００１７】
ここで、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、モニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣとを併用し、前記併用されたモニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣにおいて、ＰＩ制御を採用していてもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとＰＩ制御を併用した板厚制御における最適な比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉの決定方法を提供することができると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１実施形態による圧延装置の構成を示す概略図である。
【図２】本発明の圧延機（粗圧延機乃至は仕上げ圧延機）の構成を示す概略図である。
【図３】従来技術において比例ゲインＧｐを変更した際のステップ応答波形のグラフを示す図である。
【図４】（ａ）は、本発明の第１実施形態によってＧｐを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図５】（ａ）は、従来技術においてＧｉを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図６】（ａ）は、本発明の第１実施形態によってＧｉを変更した場合に、Ｍ，Ｑが変動した際のステップ応答波形のグラフを示す図、（ｂ）は、その変動における安定性を示すナイキスト線図である。
【図７】本発明の第２実施形態による圧延機（粗圧延機乃至は仕上げ圧延機）の構成を示す概略図である。
【図８】本発明の第１実施形態及び第２実施形態での圧延機及び板厚制御装置の構成を示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、図面を基に、本発明にかかる圧延機の板厚制御方法を説明する。
図１を参照して、厚鋼板等の圧延材を圧延する圧延装置１は、その上流側に圧延材２を加熱する加熱炉３を有し、加熱炉３の下流側には、圧延材２の粗圧延を行う粗圧延機４が備えられている。粗圧延機４の下流側には、仕上げ圧延を行う仕上げ圧延機５が備えられている。加熱炉３で加熱されたスラブは、粗圧延機４や仕上げ圧延機５で複数回（複数パス）圧延されて、製品の厚鋼板となる。
【００２１】
（第１実施形態）
図２には、圧延装置１に備えられている仕上げ圧延機５（以下、圧延機５という）が示されている。圧延機５は、圧延材２を圧延する一対のワークロール６，６とそれをバックアップする一対のバックアップロール７，７とを有している。
さらに、圧延機５には、ワークロール６，６の間隙長（以下、ロールギャップ量Ｓと呼ぶ）を調整する油圧駆動の圧下装置が備えられている。圧下装置は、例えば油圧シリンダ８と、油圧シリンダ８を制御してワークロール６の圧下位置を調整する油圧圧下位置制御部９とを有している。
ワークロール６の両端を支持するロールチョック１０には、圧延機５のフレーム１１に支持された油圧シリンダ８の基端が接続され、この油圧シリンダ８を支持するフレーム１１には圧延荷重を計測するロードセル１２が設けられている。
【００２２】
また、ロールチョック１０と圧延機５のフレーム１１の間には、油圧シリンダ８に沿ってフレーム１１からロールチョック１０までの距離を測定するリニアゲージ１３が設けられており、このリニアゲージ１３で測定した距離から、ロールギャップ量Ｓ乃至はロールギャップ量の変化量ΔＳが得られる。
さらに、圧延機５の出側には、圧延材２の出側板厚（出側エッジ厚）を計測するための板厚計１４が設けられている。板厚計１４としては、γ線板厚計などを採用することができる。
【００２３】
圧延機５には、ロードセル１２が計測した圧延荷重と板厚計１４が計測した出側板厚とを受けて、圧延材２の出側板厚が所定のものとなるように油圧圧下位置制御部９を制御する板厚制御部１５ａが設けられている。この板厚制御部１５ａはプロコンやＰＬＣから構成されており、内部には、後述するＡＧＣ制御系やベンダ制御系などがプログラムの形で組み込まれている。
【００２４】
図８に示される如く、本実施形態における板厚制御部１５ａは、ＡＧＣ制御系として、比例制御と積分制御を組み合わせたＰＩ制御を採用するモニタＡＧＣと、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを実行し、油圧圧下位置制御部を制御している。尚、図８において、絶対値ＡＧＣが示されているが、本実施形態においては実行されていないものとする。図８において、ＦＦ−ＡＧＣも示されているが、本実施形態による板厚制御部１５ａにおいてＦＦ−ＡＧＣは存在しないものとする。
【００２５】
モニタＡＧＣは、板厚計１４にて出側板厚を実測し、その実測値を積分したものを圧延機５へフィードバックする制御である。また、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣは、ゲージメータＡＧＣの一種であり、圧延機５の弾性や圧延材２の変形抵抗を考慮した上で、圧延機５の出側板厚を求めるものであって、例えば、圧延荷重を基にミル定数などを用いて出側板厚を推定し、その値を基に圧延機５の制御を行うものである。
【００２６】
このように、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用している。ところが、ＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用する場合に制御安定性を確保するには、以下に述べるような課題が従来より存在する。
例えば、特開昭５９−１９０１６号公報に記載の板厚制御方法では、油圧圧下系の油圧シリンダ位置のフィードバック制御に関する最適ゲインＫＯＰＴについて、次に示す式（１）などが与えられている。
【００２７】
【数５】
【００２８】
ここで、αｂは、制御全体に対するＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率であって、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣのチューニング率である。
しかしながら、モニタＡＧＣのＰＩ制御のＰ（比例）ゲインＧｐ（絶対値ＡＧＣとモニタＡＧＣのＰゲインの和でもよい）に関しては、決定するための方法が開示されていない。そこで、式（１）で得られた最適ゲインＫＯＰＴを、ＰＩ制御の比例ゲインＧｐとして用いる場合を考える。
【００２９】
この場合、従来の板厚制御方法においては、ＭやＱが変動した場合でも同じ応答及び同じ制御安定性を確保すべく、式（２）のように、比例ゲインＧｐを（Ｍ＋Ｑ）／Ｍに比例して変更することが一般的に行われている。
【００３０】
【数６】
【００３１】
しかし、図３のグラフに示すように、ＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合、式（２）に基づき比例ゲインＧｐを変更しても、応答性や安定性はＭやＱの変動によって大きく変化する。
図３は、式（２）に基づいて、様々なＭ，Ｑ対して比例ゲインＧｐを変更した場合のステップ応答を示すグラフである。但し、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣの寄与率であるαｂの値を１としている。図３において、式（２）のＭが大きくなる、あるいはＱが小さくなると、グラフは左の方向（応答が早くなる）にシフトし、Ｍが小さくなる、あるいはＱが大きくなると、グラフは右の方向（応答が遅くなる）にシフトする。
【００３２】
図３によると、式（２）に基づいた比例ゲインＧｐの変更では、Ｍ，Ｑの変動によって応答波形が変化してしまうことがわかる。すなわち、従来より用いられる式（２）では、Ｍ，Ｑの変動に対して同じ応答性、同じ安定性を確保できないということである。
そこで、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御における比例ゲインＧｐを、式（３）によって決定する。ここでは、積分ゲインＧｉを０として、比例ゲインＧｐだけを変更する場合について説明する。
【００３３】
【数７】
【００３４】
比例ゲインＧｐを、式（２）ではなく式（３）によって決定することにより、Ｍ，Ｑが変動しても、αｂの値が一定であれば、常に同じ応答及び安定性を確保することができることを本願出願人は知見している。但し、ただし、ａ＋ｂ・αｂ≦０の場合、Ｇｐ＋αｂ≦０となり、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣ及びＰＩ制御で構成される板厚制御部１５ａは板厚を悪化させる方向に作用するため、ａ＋ｂ・αｂ＞０の範囲でａ，ｂ，αｂを与える方が好ましい。
【００３５】
ここで、図４に、式（３）においてａ＋ｂ・αｂ＝１．２とし、比例ゲインＧｐを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図４（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図４（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。図３のステップ応答と対比するため、αｂ＝１の場合について考える。
図４（ａ）を参照すると、比例ゲインＧｐの変更を式（３）に基づいて行えば、Ｍ，Ｑが変動しても応答波形が変化せず、同じ応答が得られることがわかる。また、図４（ｂ）を参照すると、ナイキスト線図も変化していないので、Ｍ，Ｑが変動しても同じ安定性を保つことができる。
【００３６】
ここで、式（３）に基づいた比例ゲインＧｐの変更において、ステップ応答時の時定数Ｔｄは、式（４）で与えられる。
【００３７】
【数８】
【００３８】
なお、一次遅れ系の時定数であるＴｙは一次遅れ分とむだ時間の和（≒Ｔｓ＋Ｌｓ）と考えることもでき、上述のようにαｂ＝１の場合、Ｔｄは、式（５）で与えられる。
【００３９】
【数９】
【００４０】
式（５）からわかるように、式（３）によって比例ゲインＧｐを変更する場合、αｂが同じであれば、常に同じ応答と安定性を与えることができる。
ここで、定数ａ，ｂの与え方による応答及び安定性の違いについて述べる。
図４（ａ）に示すように、例えばｂ＝０とした場合、αｂが変化しても、ステップ応答時に常に同じ立ち上がり速度を得ることができ、式（４）から時定数Ｔｄは式（６）で与えられる。
【００４１】
【数１０】
【００４２】
また、ｂ＝１とした場合、同様に式（４）から時定数Ｔｄは式（７）で与えられる。
【００４３】
【数１１】
【００４４】
これは、αｂが変化してもステップ応答の時定数は変化しないことを示しており、また、ナイキスト線図においても、αｂに関係なく一定で同じ安定性を得ることができる。
以上から、αｂの変更時に保ちたい特性に応じて定数ｂを適切に与えればよい。例えば、上述したように、立ち上がり速度を一定に保ちたいときはｂ＝０、時定数や安定性を一定に保ちたいときはｂ＝１とすればよい。
【００４５】
以上、比例ゲインＧｐの変更方法について説明した。続いて、モニタＡＧＣのＰＩ制御における積分ゲインＧｉの変更方法について、説明する。
従来、モニタＡＧＣのＰＩ制御のＩ（積分）ゲインＧｉ（絶対値ＡＧＣとモニタＡＧＣのＩゲインの和でもよい）に関しては、積分時間を比例制御と同じくする観点から、式（８）のように比例ゲインＧｐに比例して変更していた。
【００４６】
【数１２】
【００４７】
図５に、式（８）によって積分ゲインＧｉを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図５（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図５（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。但し、αｂ＝０．９としている。
図５（ａ）及び（ｂ）に示すように、Ｍ，Ｑの変動に伴って応答（ステップ応答）や安定性（ナイキスト線図）は変化してしまう。図５（ａ）,（ｂ）において、Ｍが小さくなる、あるいはＱが大きくなると、グラフはハンチング気味になる。
【００４８】
図５（ａ）に示すように、式（８）を用いた従来技術ではαｂを考慮していないため、Ｍ，Ｑの変動によって、板厚制御では最も敬遠されるオーバーシュートが発生するなど、安定性や応答が変動してしまう。
操業条件（Ｍ，Ｑ，αｂ）によって安定性や応答が様々に変動するため、全ての操業条件においてオーバーシュートをしないように、あるいは不安定にならないように制御するには、積分ゲインＧｉを下げるしか方法がなかった。
【００４９】
通常、積分ゲインＧｉを大きく与えすぎるとオーバーシュートが発生する。そこで、本実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣのＰＩ制御における積分ゲインＧｉの上限を、Ｇｐ＋αｂと１−αｂを考慮した式（９）によって変更する。
【００５０】
【数１３】
【００５１】
この式（９）によって積分ゲインＧｉの上限を与え、その上限を超えないように積分ゲインＧｉを修正する。こうすることで、Ｍ，Ｑが変化してもオーバーシュートしない適切な積分ゲインＧｉを与えることができる。また、Ｍ，Ｑによらず一定の応答を確保したい場合は、積分ゲインの寄与率に相当するαｉを導入した式（１０）によって、積分ゲインＧｉを与えればよい。
【００５２】
【数１４】
【００５３】
式（９）を守りつつ、αi及びαｂが一定であれば、常に同じ応答波形及び安定性を確保することができる。
更に、積分ゲインＧｉをできるだけ大きく与え、且つ外乱の影響を抑制するロバスト性を高めたい場合、αi＝１として、式（１１）を与える。
【００５４】
【数１５】
【００５５】
式（１１）によって、オーバーシュートしない範囲で常に積分ゲインＧｉを最大に保つことができる。式（１１）で積分ゲインＧｉを与えた場合、定数Ｔｄは式（１２）で与えられる。
【００５６】
【数１６】
【００５７】
更に、この式（１２）に対して式（３）で得られた比例ゲインＧｐを与えた場合、時定数Ｔｄは、式（１３）で与えられる。
【００５８】
【数１７】
【００５９】
積分ゲインＧｉを０とし式（３）にて比例ゲインＧｐを与えた場合の式（４）とは異なり、式（１１）で積分ゲインＧｉを与えた場合、ｂ＝０とすればαｂに関係なく常に一定の時定数を得ることができる。
図６に、式（３）及び式（１１）によって比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉを与えた場合の応答及び安定性の結果を示す。図６（ａ）はステップ応答を示すグラフであり、図６（ｂ）は安定性を示すナイキスト線図である。但し、図５と同様に、αｂ＝０．９としている。
【００６０】
図６を参照すると、式（３）及び式（１１）によって比例ゲインＧｐ及び積分ゲインＧｉを与えると、応答波形やナイキスト線図はＭ，Ｑの変動によっては変化せず、同じ応答波形及び安定性を実現することができることがわかる。
図５に結果を示したような従来技術と比較すると、安定余裕も大きくなっていることがわかる。
【００６１】
上述のように、式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いてＰＩ制御を実行することで、板厚制御部１５ａは、ＰＩ制御（モニタＡＧＣ）とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
例えば、板厚制御部１５ａにおいて、式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いることで、ＰＩ制御によるロールギャップ修正量ΔＳｐｉを算出し、併せて、ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣよるロールギャップ修正量ΔＳｂを算出して、式（１４）により、圧延機に適用するロールギャップ修正量ΔＳを求めるようにする。
【００６２】
【数１８】
【００６３】
斯かるロールギャップ修正量ΔＳを用いることで、ＰＩ制御（モニタＡＧＣ）とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
【００６４】
（第２実施形態）
以下、本発明に係る圧延機の板厚制御方法の第２実施形態について説明する。
前述した第１実施形態による板厚制御部１５ａは、モニタＡＧＣとＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用していたが、第２実施形態による板厚制御部１５ｂは、絶対値ＡＧＣのＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用している。
すなわち、第２実施形態による板厚制御部１５ｂの絶対値ＡＧＣも、モニタＡＧＣと同様にＰＩ制御を採用しているので、本実施形態においても、第１実施形態と同様の方法で比例ゲインＧｐと積分ゲインＧｉを決定することができる。
【００６５】
尚、推定板厚推定部１６は、ロードセル１２とリニアゲージ１３から取得した値を基にゲージメータ板厚を推定するものであり、板厚制御部１５ｂの絶対値ＡＧＣは、推定されたゲージメータ板厚を用いて油圧圧下位置制御部９をフィードバック制御する。
このような本実施形態による板厚制御部１５ｂは、第１実施形態において説明した式（３）によって与えられる比例ゲインＧｐと式（１１）によって与えられる積分ゲインＧｉとを用いてＰＩ制御を実行することで、絶対値ＡＧＣとＢＩＳＲＡ−ＡＧＣを併用した場合でも、Ｍ，Ｑの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。
【００６６】
なお、今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。特に、今回開示された実施形態において、明示的に開示されていない事項、例えば、運転条件や操業条件、各種パラメータ、構成物の寸法、重量、体積などは、当業者が通常実施する範囲を逸脱するものではなく、通常の当業者であれば、容易に想定することが可能な値を採用している。
【符号の説明】
【００６７】
１ 圧延装置
２ 圧延材
３ 加熱炉
４ 粗圧延機
５ 仕上げ圧延機
６ ワークロール
７ バックアップロール
８ 油圧シリンダ
９ 油圧圧下位置制御部
１０ ロールチョック
１１ フレーム
１２ ロードセル
１３ リニアゲージ
１４ 板厚計
１５ａ，１５ｂ 板厚制御部
１６ 板厚推定部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御する板厚制御方法において、
比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐを次式にて求めることを特徴とする圧延機の板厚制御方法。
【数１９】
【請求項２】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２０】
【請求項３】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２１】
【請求項４】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２２】
【請求項５】
ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、モニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣとを併用し、前記併用されたモニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣにおいて、ＰＩ制御を採用していることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の圧延機の板厚制御方法。
【請求項１】
圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Ｓを制御する板厚制御方法において、
比例制御及び／又は積分制御を行うＰＩ制御とＢＩＳＲＡ−ＡＧＣとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Ｓの修正量ΔＳを求めるに際し、ＰＩ制御に関する比例ゲインＧｐを次式にて求めることを特徴とする圧延機の板厚制御方法。
【数１９】
【請求項２】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２０】
【請求項３】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２１】
【請求項４】
前記ＰＩ制御の積分制御に関する積分ゲインＧｉを、次式にて求めることを特徴とする請求項１に記載の圧延機の板厚制御方法。
【数２２】
【請求項５】
ＢＩＳＲＡ−ＡＧＣと、モニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣとを併用し、前記併用されたモニタＡＧＣまたは絶対値ＡＧＣにおいて、ＰＩ制御を採用していることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の圧延機の板厚制御方法。
【図１】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図７】
【図８】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１３−８１９７０（Ｐ２０１３−８１９７０Ａ）
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２２２０１１（Ｐ２０１１−２２２０１１）
【出願日】平成２３年１０月６日（２０１１．１０．６）
【出願人】（０００００１１９９）株式会社神戸製鋼所 (5,860)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月６日（２０１１．１０．６）
【出願人】（０００００１１９９）株式会社神戸製鋼所 (5,860)
【Ｆターム（参考）】
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