撮像装置
【課題】コストやサイズの増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータの漏洩磁界がシャッタの動作に与える影響を低減でき、シャッタの性能低下を防止できる撮像装置を提供する。
【解決手段】この撮像装置によれば、メカシャッタ１７の駆動源である磁気回路５０がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である磁気回路４０から径方向に離間している。これにより、磁気回路４０の漏洩磁界が磁気回路５０に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がメカシャッタ１７の動作に与える影響を低減できる。
【解決手段】この撮像装置によれば、メカシャッタ１７の駆動源である磁気回路５０がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である磁気回路４０から径方向に離間している。これにより、磁気回路４０の漏洩磁界が磁気回路５０に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がメカシャッタ１７の動作に与える影響を低減できる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、オートフォーカスアクチュエータとシャッタ部がマグネット,コイル,ヨークから構成される磁気回路を有する撮像装置に関し、具体的一例として、携帯電子機器に搭載される撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電子機器に内蔵されるカメラは高画質化が図られており、撮像素子の高画素化が進んでいる。そして、画質向上のために必要なオートフォーカス機能を撮像機器に搭載する傾向が多く見受けられる。オートフォーカスを行うためには、一般的には内部の光学部材を含む光学系を移動させる必要がある。ここで、光学系を駆動させるためのアクチュエータとして、マグネットとコイルを用いた磁気回路を利用し、この磁気回路の電磁誘導現象を利用して、コイル、もしくはマグネットを駆動するボイスコイル方式が広く用いられている。
【０００３】
一方で、従来から採用されているＩＴ(インターライントランスファー)方式の撮像素子では、画素数を増やすことにより、全画素の読み出し速度が低下し、撮影した画素の転送処理中に入る光線の影響で、スミア等の現象が発生し、画質が低下する問題が発生する。この問題を防ぐためには、撮影が終了した後、画素の転送処理を行なっている間は撮像素子に入る光を機械的に遮断するメカシャッタが必要となる。
【０００４】
このように、オートフォーカス機構とメカシャッタを搭載した際の配置について、従来は、特許文献１(特開２００５−１５６６４９号公報)に記載されているように、撮像レンズを光軸方向に移動可能に支持しているアクチュエータとメカシャッタの配置が提案されている。
【０００５】
ところで、オートフォーカスアクチュエータとメカシャッタがそれぞれマグネットとコイルを含む磁気回路を有し、この磁気回路の電磁誘導現象を利用したボイスコイル型のアクチュエータを使用した撮像装置に発生する問題を以下に説明する。
【０００６】
図９に、携帯機器のオートフォーカスに一般的に用いるボイスコイル型のアクチュエータの要部断面形状を示す。このボイスコイル型のアクチュエータは、円筒形のヨーク１１０を有し、この円筒形のヨーク１１０の内側に円筒型のマグネット１１１とコイル１１２が配置されている。このコイル１１２は、光学部材１２１を保持している光学部材ホルダ１２０に固定されている。そして、コイル１１２に電流を流すことで、マグネット１１１とコイル１１２との間に電磁誘導現象が発生し、図９の矢印方向Ｚ(光軸方向)に光学部材ホルダ１２０が移動する。ここで、コイル１１２と光学部材ホルダ１２０が比較的質量の大きい光学部材１２１を高速に移動させる必要があるので、この電磁誘導現象による推力を大きくする必要がある。その結果として、ヨーク１１０、マグネット１１１、コイル１１２から構成される磁気回路を大きくする必要が生じる。
【０００７】
その結果、この磁気回路の周辺に磁束が漏れるものの、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路の周辺に別のアクチュエータを設ける必要がない場合には、上述の磁束の漏れが問題になることはなかった。一方、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路の周辺に別のアクチュエータの磁気回路として、例えばメカシャッタの磁気回路を設ける場合には、上述の磁束の漏れが問題になる。
【０００８】
このメカシャッタの磁気回路は、図８に示すように、略コの字型のヨーク２１０とヨーク２１０の周囲に巻き回されたコイル２１２と、このヨーク２１０に挟まれた状態の円筒形状のマグネット２１１とを有する。このマグネット２１１は中心部をなす回転軸２３０を有する。そして、このマグネット２１１から伸びた腕部２３１がシャッタ羽２８０に連結されている。
【０００９】
ここで、コイル２１２に通電することにより略コの字型のヨーク２１０の先端部に極性が発生し、これによりマグネット２１１が回転する。これに伴い、腕部２３１が回転軸２３０を中心に回転する。すると、シャッタ羽２８０がシャッタ羽２８０の回転軸２８１を中心に、図８に破線で描かれた位置まで回転して、シャッタ羽２８０がメカシャッタホルダ(図示せず)の開口部２８２を遮蔽する。このシャッタ羽２８０,腕部２３１は樹脂製であり、マグネット２１１,コイル２１２,ヨーク２１０が構成するシャッタ用磁気回路は、図９に示すオートフォーカス用の磁気回路と比較して小さく、このシャッタ用磁気回路の発生推力もオートフォーカス用の磁気回路に比べて小さいものとなっている。
【００１０】
したがって、図９のオートフォーカスアクチュエータと図８のメカシャッタの両方を撮像装置に配置した場合、図９のオートフォーカスアクチュエータの漏洩磁束が、図８のメカシャッタのマグネット２１１に影響することで、メカシャッタの閉じ時間が増加するという問題や、場合によってはメカシャッタが動作しなくなるという問題が発生することが懸念される。
【００１１】
一方で、漏洩磁界を低減するために、メカシャッタの磁気回路とオートフォーカスアクチュエータの磁気回路との間に、パーマロイ等の軟磁性材からなるシールド部材を挿入する場合は、撮像装置のコスト増大につながる。このことは、撮像装置を携帯電話等に搭載することを前提とした場合には大きな問題となる。
【特許文献１】特開２００５−１５６６４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで、この発明の課題は、コストやサイズの増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータの漏洩磁界がシャッタの動作に与える影響を低減でき、シャッタの性能低下を防止できる撮像装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため、この発明の撮像装置は、撮像素子と、光学部材と、
上記光学部材を光軸方向に移動させると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第１の磁気回路を駆動源とするオートフォーカスアクチュエータと、
上記光学部材よりも被写体側に配置されていると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第２の磁気回路を駆動源とするシャッタ部とを備え、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路から、上記光学部材の光軸方向と上記光軸方向に直交する径方向とのうちの少なくとも上記径方向に離間していることを特徴としている。
【００１４】
この発明の撮像装置によれば、シャッタ部の駆動源である第２の磁気回路がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である第１の磁気回路から径方向に離間している。これにより、第１の磁気回路の漏洩磁界が第２の磁気回路に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減できる。
【００１５】
したがって、オートフォーカスアクチュエータ,シャッタ部の各駆動源の性能を十分に発揮できる。特に、シャッタ部の磁気回路の性能を十分に発揮できるので、シャッタ部の閉じ時間の増大を抑制でき、シャッタ部の磁気回路の寸法を抑えることができる。その結果、撮像装置全体の小型化に貢献することが可能となる。
【００１６】
また、一実施形態の撮像装置では、上記第１の磁気回路は、上記光学部材の光軸を中心軸とする環状であり、上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路に対して、径方向外方に離間しており、上記第１の磁気回路と第２の磁気回路との間の径方向の距離が２ｍｍ乃至３ｍｍである。
【００１７】
この実施形態によれば、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減しつつ、小型化を図れる。すなわち、図６に示されるように、上記径方向の距離が２ｍｍ未満になると、第１の磁気回路が第２の磁気回路に与える漏洩磁界の影響が急増する。一方、上記径方向の距離が３ｍｍを越えると、第１の磁気回路の漏洩磁界の減少率が飽和してくる。
【発明の効果】
【００１８】
この発明の撮像装置によれば、シャッタ部の駆動源である第２の磁気回路がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である第１の磁気回路から径方向に離間しているので、第１の磁気回路の漏洩磁界が第２の磁気回路に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減でき、シャッタ部の性能低下を防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
【００２０】
図１はこの発明の撮像装置の実施形態の要部の構成を示す斜視図であり、図２はこの実施形態の要部分解斜視図である。また、この実施形態の要部断面を図３に示す。
【００２１】
図１〜図３に示すように、この実施形態の撮像装置は、光学部材２１Ａ,２１Ｂ,２１Ｃと、この光学部材２１Ａ〜２１Ｃを保持する光学部材ホルダ２０と、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４とを備える。光学部材ホルダ２０は内側部材２０Ａと外側部材２０Ｂを有する。図３に示すように、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４と光学部材ホルダ２０の外側部材２０Ｂとの間には板バネ１３Ａが配置され、この板バネ１３Ａとで光学部材ホルダ２０を光軸方向Ｚの両側から挟むように、板バネ１３Ｂが配置されている。そして、この板バネ１３Ａと１３Ｂは、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４に固定されている。これにより、板バネ１３Ａと１３Ｂは、光学部材ホルダ２０を光軸方向Ｚに移動可能に支持している。
【００２２】
また、上記オートフォーカスアクチュエータホルダ１４の内周面には断面略コ字状で円筒形状のヨーク１０が固定されている。このヨーク１０内でヨーク１０に円筒形状のマグネット１１が接着剤で固定されている。また、ヨーク１０とマグネット１１との間の間隙にはコイル１２が配置され、このコイル１２は光学部材ホルダ２０に固定されている。
【００２３】
上記ヨーク１０,マグネット１１,コイル１２が第１の磁気回路４０を構成している。また、この第１の磁気回路４０とオートフォーカスアクチュエータホルダ１４と板バネ１３Ａ,１３Ｂと光学部材ホルダ２０がオートフォーカスアクチュエータを構成している。ヨーク１０,板バネ１３Ａ,１３Ｂなどからなるオートフォーカス構成部品はオートフォーカスアクチュエータホルダ１４に固定されている。
【００２４】
また、この撮像装置は、光学部材２１Ａ〜２１Ｃを透過した光線の近赤外域成分をカットする赤外線カットフィルタをなすＩＲカットガラス６０と、光学部材２１により結像された画像を電気信号に変換する撮像素子７０とを備える。この撮像素子７０は、撮像素子７０が受光した映像信号を処理するための撮像素子基板１６上に配置され、この撮像素子７０上にＩＲカットガラス６０が配置されている。このＩＲカットガラス６０は、撮像素子カバー１５に形成された貫通孔内で撮像素子カバー１５に固定されている。この撮像素子カバー１５上に上記オートフォーカスアクチュエータホルダ１４が配置されている。撮像素子カバー１５は、撮像素子基板１６を覆うように配置され、ＩＲカットガラス６０とオートフォーカスアクチュエータホルダ１４を撮像素子７０に対して位置決め固定している。
【００２５】
さらに、この実施形態の撮像装置は、撮影終了後に、撮像素子７０が画像信号を転送している期間に、光学部材２１Ａ〜２１Ｃに光線が入らないように遮光するシャッタ部としてメカシャッタ１７を備えている。このメカシャッタ１７は、メカシャッタホルダ１８と第２の磁気回路である磁気回路５０を有する。メカシャッタホルダ１８は、光軸方向Ｚに貫通する開口部１８Ａを有する。なお、このメカシャッタ１７の磁気回路５０は、図８に示した略コの字型のヨーク２１０,コイル２１２,円筒形状のマグネット２１１と同様のヨーク,コイル,マグネットを有している。また、このメカシャッタ１７は、図８に示したのと同様のシャッタ羽２８０,回転軸２８１,腕部２３１,回転軸２３０を有している。したがって、このメカシャッタ１７は、図８を参照して前述したのと同様の動作を行う。
【００２６】
図３に示すように、このメカシャッタ１７の磁気回路５０は、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０から径方向に離間している。また、この実施形態では、磁気回路５０が発生する磁界は、磁気回路４０が発生する磁界に比べて小さい。また、この実施形態では、磁気回路４０は光学部材２１Ａ〜２１Ｃの光軸Ｊを中心軸とする環状であり、磁気回路５０は磁気回路４０に対して径方向外方に離間している。
【００２７】
この実施形態では、磁気回路４０のマグネット１１の着磁方向は、図３に示す矢印Ｘの方向である。つまり、磁気回路４０のマグネット１１は、光学部材２０Ａ〜２０Ｃの光軸Ｊに直交する径方向の磁界を発生する。そして、コイル１２に電流を流すことによって、電磁誘導によってコイル１２は光軸方向の力を受けるので、コイル１２が固定されている光学部材ホルダ２０を光軸方向に移動させる推力が発生する。この電磁誘導による推力と板バネ１３Ａ,１３Ｂによる弾性力との釣り合いによって、光学部材ホルダ２０の光軸方向の位置が保持される。したがって、光学部材ホルダ２０の光軸方向の移動量はコイル１２に流す電流値に比例する。
【００２８】
次に、図４〜図７を参照して、オートフォーカスアクチュエータの駆動源である磁気回路４０の漏洩磁束について説明する。
【００２９】
図４は図３の断面図に対応する断面図であり、図４では光軸ＪをＺ軸としており、光軸Ｊと直交すると共にヨーク１０の上端(光軸方向の端)を通る軸をＸ軸として記載している。このＸ軸とＺ軸との交点を原点Ｏとしている。そして、Ｚ軸上のＡ点,Ｂ点,Ｃ点は、それぞれ、原点Ｏから１ｍｍ,２ｍｍ,３ｍｍの位置を表している。ここで、原点Ｏは、光軸Ｊと直交する径方向における磁気回路４０の中心である。また、図４において、直線ＬＡ,ＬＢ,ＬＣはそれぞれＡ点,Ｂ点,Ｃ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線である。
【００３０】
図６に、図４のＺ軸上のＡ点,Ｂ点,Ｃ点の各位置からＸ軸方向への磁気回路４０の漏洩磁束の分布を示す。図６において、縦軸は漏洩磁束の磁束密度(Ｔ)を表しており、横軸はＸ軸座標(光軸Ｊから径方向への距離(ｍｍ))を表している。図６において、特性Ｋ１はＡ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＡ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ２はＢ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＢ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ３はＣ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＣ上の磁束密度分布を表している。また、図６において、破線Ｌ１はヨーク１０の径方向外端の位置を表している。
【００３１】
図６に示すように、特性Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３の順に漏洩磁束密度が低下しており、ヨーク１０の上端から光軸方向へ離れるほど、漏洩磁束密度が低下している。また、各特性Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３の漏洩磁束密度のピークは、ヨーク１０の径方向外端の位置Ｌ１よりも径方向内方に存在していて、ピークの大きさは特性Ｋ３、Ｋ２、Ｋ１の順に大きくなっている。また、各ピーク波形は特性Ｋ３よりも特性Ｋ２が鋭く、特性Ｋ２よりも特性Ｋ１が鋭くなっており、ヨーク１０の上端に近づくほど漏洩磁束密度のピーク波形が鋭くなっている。
【００３２】
一方、図５では、光軸Ｊと平行でヨーク１０の径方向外端を通る直線をＺ１軸とし、このＺ１軸と直交すると共にヨーク１０の下端を通る直線をＸ１軸としている。また、Ｚ１軸とＸ１軸とが交差する点を原点Ｏ１としている。また、Ｘ１軸上のＥ点,Ｆ点,Ｇ点は、それぞれ、原点Ｏ１から１ｍｍ,２ｍｍ,３ｍｍの位置を表している。ここで、原点Ｏ１は、ヨーク１０の径方向外端かつ下端の位置を表している。また、図５において、直線ＬＥ,ＬＢ,ＬＣはそれぞれＥ点,Ｆ点,Ｇ点からＺ１軸と平行な方向に延びる直線である。また、破線Ｌ１１はヨーク１０の上端からＸ１軸と平行に延びている。
【００３３】
図７に、図５のＸ１軸上のＥ点,Ｆ点,Ｇ点の各位置から光軸と平行な方向への磁気回路４０の漏洩磁束の分布を示す。図７において、縦軸は漏洩磁束の磁束密度(Ｔ)を表しており、横軸はＸ１軸座標(Ｚ１軸から径方向への距離(ｍｍ))を表している。図７において、特性Ｋ１１はＥ点からＺ１軸と平行な方向に延びる直線ＬＥ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ１２はＦ点からＺ１軸と平行な方向へ延びる直線ＬＦ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ１３はＧ点からＺ１軸と平行な方向へ延びる直線ＬＧ上の磁束密度分布を表している。また、図７において、破線Ｌ１１はヨーク１０の上端の位置を表している。
【００３４】
図７に示すように、特性Ｋ１１、Ｋ１２、Ｋ１３の順に漏洩磁束密度が低下しており、ヨーク１０の径方向外端から径方向に離れるほど、漏洩磁束密度が低下している。また、各特性Ｋ１１、Ｋ１２、Ｋ１３は、ヨーク１０の下端(Ｚ１座標が０(ｍｍ))からヨーク１０の上端(Ｚ１座標が３.５(ｍｍ))までの範囲でピークを持たない。
【００３５】
図６を参照すれば、ヨーク１０の上端から光軸方向に１ｍｍだけ離れた位置での特性Ｋ１に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約１ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０８２(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１１に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に１ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０４６(Ｔ)になっている。
【００３６】
また、図６の特性Ｋ２に示されるように、ヨーク１０の上端から光軸方向に２ｍｍだけ離れた位置では、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約１.５ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０４(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１２に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に２ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０２５(Ｔ)になっている。
【００３７】
また、図６の特性Ｋ３に示されるように、ヨーク１０の上端から光軸方向に３ｍｍだけ離れた位置では、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約２.２ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０２５(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１３に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に３ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０１３(Ｔ)になっている。
【００３８】
すなわち、図６、図７の特性図から、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０からの漏洩磁束の影響を低減させるには、磁気回路４０に対して磁気回路５０を軸方向に離間させるよりも径方向に離間させることが有利であることが分る。
【００３９】
例えば、図６の特性Ｋ２を参照すれば、磁気回路４０からＺ軸方向に２ｍｍ離間していても、磁気回路４０から径方向(Ｘ方向)に離間していない範囲(Ｘが６.８ｍｍ以下)では漏洩磁束密度を０.０３(Ｔ)以下にするには、光軸Ｊから３ｍｍ以内に磁気回路５０を配置することが必要になって、配置上の困難が発生します。これに対し、図７の特性Ｋ１２を参照すれば、磁気回路５０が磁気回路４０から径方向(Ｘ１軸方向)に２ｍｍ離間していれば、光軸方向のどのような位置でも、漏洩磁束密度を０.０３(Ｔ)以下にすることができます。
【００４０】
したがって、この実施形態のように、メカシャッタ１７の磁気回路５０をオートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０に対して径方向に離間させることによって、少ない離間寸法でもって、パーマロイなどの軟磁性材料からなる磁気シールド材を挿入することなく、磁気回路４０からの漏洩磁束の影響を低減できる。よって、この実施形態によれば、撮像装置の寸法やコストの増大,構造の複雑化を抑えつつ、メカシャッタ１７の磁気回路５０による駆動性能を十分に発揮でき、メカシャッタ１７のシャッタ閉じ時間の増大による性能低下や誤動作を防止することができる。
【００４１】
尚、図６の特性Ｋ１、Ｋ２を参照すれば、磁気回路４０からの磁気回路５０の径方向の離間寸法が２ｍｍ未満になると、磁気回路４０と磁気回路５０との間の光軸方向の距離が１ｍｍ〜２ｍｍの場合において、磁気回路４０が磁気回路５０に与える漏洩磁界の影響が急増する。一方、上記径方向の離間寸法が３ｍｍを越えると、磁気回路４０の漏洩磁界の減少率が飽和してくる。したがって、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がメカシャッタ１７の動作に与える影響を低減しつつ、小型化を図るには、磁気回路４０から径方向外方への磁気回路５０の離間寸法を２ｍｍ乃至３ｍｍとすることがより望ましい。なお、メカシャッタ１７の磁気回路５０をオートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０に対して光軸方向と径方向の両方に離間させてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
この発明の撮像装置は、携帯機器に搭載されるカメラ等の装置全般に適用することが可能であり、オートフォーカスアクチュエータの漏洩磁界の影響によってメカシャッタの性能が低下することを抑制することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】この発明の撮像装置の実施形態の要部の構成を示す斜視図である。
【図２】上記実施形態の要部分解斜視図である。
【図３】上記実施形態の要部断面図である。
【図４】図３に示した磁気回路４０の直上の漏洩磁界分布測定位置を説明する模式図である。
【図５】図３に示した磁気回路４０の側方の漏洩磁界分布測定位置を説明する模式図である。
【図６】図４に示した測定位置における漏洩磁界分布の測定結果を示す図である。
【図７】図５に示した測定位置における漏洩磁界分布の測定結果を示す図である。
【図８】メカシャッタの磁気回路の要部の構成を示す図である。
【図９】従来のオートフォーカスアクチュエータの構成を示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１０ ヨーク
１１ マグネット
１２ コイル
１３Ａ,１３Ｂ 板バネ
１４ オートフォーカスアクチュエータホルダ
１５ 撮像素子カバー
１６ 撮像素子基板
１７ メカシャッタ
２０ 光学部材ホルダ
２１Ａ〜２１Ｃ 光学部材
４０ 第１の磁気回路
５０ メカシャッタ１７の磁気回路
６０ ＩＲカットガラス
７０ 撮像素子
【技術分野】
【０００１】
この発明は、オートフォーカスアクチュエータとシャッタ部がマグネット,コイル,ヨークから構成される磁気回路を有する撮像装置に関し、具体的一例として、携帯電子機器に搭載される撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電子機器に内蔵されるカメラは高画質化が図られており、撮像素子の高画素化が進んでいる。そして、画質向上のために必要なオートフォーカス機能を撮像機器に搭載する傾向が多く見受けられる。オートフォーカスを行うためには、一般的には内部の光学部材を含む光学系を移動させる必要がある。ここで、光学系を駆動させるためのアクチュエータとして、マグネットとコイルを用いた磁気回路を利用し、この磁気回路の電磁誘導現象を利用して、コイル、もしくはマグネットを駆動するボイスコイル方式が広く用いられている。
【０００３】
一方で、従来から採用されているＩＴ(インターライントランスファー)方式の撮像素子では、画素数を増やすことにより、全画素の読み出し速度が低下し、撮影した画素の転送処理中に入る光線の影響で、スミア等の現象が発生し、画質が低下する問題が発生する。この問題を防ぐためには、撮影が終了した後、画素の転送処理を行なっている間は撮像素子に入る光を機械的に遮断するメカシャッタが必要となる。
【０００４】
このように、オートフォーカス機構とメカシャッタを搭載した際の配置について、従来は、特許文献１(特開２００５−１５６６４９号公報)に記載されているように、撮像レンズを光軸方向に移動可能に支持しているアクチュエータとメカシャッタの配置が提案されている。
【０００５】
ところで、オートフォーカスアクチュエータとメカシャッタがそれぞれマグネットとコイルを含む磁気回路を有し、この磁気回路の電磁誘導現象を利用したボイスコイル型のアクチュエータを使用した撮像装置に発生する問題を以下に説明する。
【０００６】
図９に、携帯機器のオートフォーカスに一般的に用いるボイスコイル型のアクチュエータの要部断面形状を示す。このボイスコイル型のアクチュエータは、円筒形のヨーク１１０を有し、この円筒形のヨーク１１０の内側に円筒型のマグネット１１１とコイル１１２が配置されている。このコイル１１２は、光学部材１２１を保持している光学部材ホルダ１２０に固定されている。そして、コイル１１２に電流を流すことで、マグネット１１１とコイル１１２との間に電磁誘導現象が発生し、図９の矢印方向Ｚ(光軸方向)に光学部材ホルダ１２０が移動する。ここで、コイル１１２と光学部材ホルダ１２０が比較的質量の大きい光学部材１２１を高速に移動させる必要があるので、この電磁誘導現象による推力を大きくする必要がある。その結果として、ヨーク１１０、マグネット１１１、コイル１１２から構成される磁気回路を大きくする必要が生じる。
【０００７】
その結果、この磁気回路の周辺に磁束が漏れるものの、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路の周辺に別のアクチュエータを設ける必要がない場合には、上述の磁束の漏れが問題になることはなかった。一方、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路の周辺に別のアクチュエータの磁気回路として、例えばメカシャッタの磁気回路を設ける場合には、上述の磁束の漏れが問題になる。
【０００８】
このメカシャッタの磁気回路は、図８に示すように、略コの字型のヨーク２１０とヨーク２１０の周囲に巻き回されたコイル２１２と、このヨーク２１０に挟まれた状態の円筒形状のマグネット２１１とを有する。このマグネット２１１は中心部をなす回転軸２３０を有する。そして、このマグネット２１１から伸びた腕部２３１がシャッタ羽２８０に連結されている。
【０００９】
ここで、コイル２１２に通電することにより略コの字型のヨーク２１０の先端部に極性が発生し、これによりマグネット２１１が回転する。これに伴い、腕部２３１が回転軸２３０を中心に回転する。すると、シャッタ羽２８０がシャッタ羽２８０の回転軸２８１を中心に、図８に破線で描かれた位置まで回転して、シャッタ羽２８０がメカシャッタホルダ(図示せず)の開口部２８２を遮蔽する。このシャッタ羽２８０,腕部２３１は樹脂製であり、マグネット２１１,コイル２１２,ヨーク２１０が構成するシャッタ用磁気回路は、図９に示すオートフォーカス用の磁気回路と比較して小さく、このシャッタ用磁気回路の発生推力もオートフォーカス用の磁気回路に比べて小さいものとなっている。
【００１０】
したがって、図９のオートフォーカスアクチュエータと図８のメカシャッタの両方を撮像装置に配置した場合、図９のオートフォーカスアクチュエータの漏洩磁束が、図８のメカシャッタのマグネット２１１に影響することで、メカシャッタの閉じ時間が増加するという問題や、場合によってはメカシャッタが動作しなくなるという問題が発生することが懸念される。
【００１１】
一方で、漏洩磁界を低減するために、メカシャッタの磁気回路とオートフォーカスアクチュエータの磁気回路との間に、パーマロイ等の軟磁性材からなるシールド部材を挿入する場合は、撮像装置のコスト増大につながる。このことは、撮像装置を携帯電話等に搭載することを前提とした場合には大きな問題となる。
【特許文献１】特開２００５−１５６６４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで、この発明の課題は、コストやサイズの増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータの漏洩磁界がシャッタの動作に与える影響を低減でき、シャッタの性能低下を防止できる撮像装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため、この発明の撮像装置は、撮像素子と、光学部材と、
上記光学部材を光軸方向に移動させると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第１の磁気回路を駆動源とするオートフォーカスアクチュエータと、
上記光学部材よりも被写体側に配置されていると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第２の磁気回路を駆動源とするシャッタ部とを備え、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路から、上記光学部材の光軸方向と上記光軸方向に直交する径方向とのうちの少なくとも上記径方向に離間していることを特徴としている。
【００１４】
この発明の撮像装置によれば、シャッタ部の駆動源である第２の磁気回路がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である第１の磁気回路から径方向に離間している。これにより、第１の磁気回路の漏洩磁界が第２の磁気回路に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減できる。
【００１５】
したがって、オートフォーカスアクチュエータ,シャッタ部の各駆動源の性能を十分に発揮できる。特に、シャッタ部の磁気回路の性能を十分に発揮できるので、シャッタ部の閉じ時間の増大を抑制でき、シャッタ部の磁気回路の寸法を抑えることができる。その結果、撮像装置全体の小型化に貢献することが可能となる。
【００１６】
また、一実施形態の撮像装置では、上記第１の磁気回路は、上記光学部材の光軸を中心軸とする環状であり、上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路に対して、径方向外方に離間しており、上記第１の磁気回路と第２の磁気回路との間の径方向の距離が２ｍｍ乃至３ｍｍである。
【００１７】
この実施形態によれば、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減しつつ、小型化を図れる。すなわち、図６に示されるように、上記径方向の距離が２ｍｍ未満になると、第１の磁気回路が第２の磁気回路に与える漏洩磁界の影響が急増する。一方、上記径方向の距離が３ｍｍを越えると、第１の磁気回路の漏洩磁界の減少率が飽和してくる。
【発明の効果】
【００１８】
この発明の撮像装置によれば、シャッタ部の駆動源である第２の磁気回路がオートフォーカスアクチュエータの駆動源である第１の磁気回路から径方向に離間しているので、第１の磁気回路の漏洩磁界が第２の磁気回路に与える影響を低減でき、コスト増大を招くことなく、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がシャッタ部の動作に与える影響を低減でき、シャッタ部の性能低下を防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
【００２０】
図１はこの発明の撮像装置の実施形態の要部の構成を示す斜視図であり、図２はこの実施形態の要部分解斜視図である。また、この実施形態の要部断面を図３に示す。
【００２１】
図１〜図３に示すように、この実施形態の撮像装置は、光学部材２１Ａ,２１Ｂ,２１Ｃと、この光学部材２１Ａ〜２１Ｃを保持する光学部材ホルダ２０と、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４とを備える。光学部材ホルダ２０は内側部材２０Ａと外側部材２０Ｂを有する。図３に示すように、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４と光学部材ホルダ２０の外側部材２０Ｂとの間には板バネ１３Ａが配置され、この板バネ１３Ａとで光学部材ホルダ２０を光軸方向Ｚの両側から挟むように、板バネ１３Ｂが配置されている。そして、この板バネ１３Ａと１３Ｂは、オートフォーカスアクチュエータホルダ１４に固定されている。これにより、板バネ１３Ａと１３Ｂは、光学部材ホルダ２０を光軸方向Ｚに移動可能に支持している。
【００２２】
また、上記オートフォーカスアクチュエータホルダ１４の内周面には断面略コ字状で円筒形状のヨーク１０が固定されている。このヨーク１０内でヨーク１０に円筒形状のマグネット１１が接着剤で固定されている。また、ヨーク１０とマグネット１１との間の間隙にはコイル１２が配置され、このコイル１２は光学部材ホルダ２０に固定されている。
【００２３】
上記ヨーク１０,マグネット１１,コイル１２が第１の磁気回路４０を構成している。また、この第１の磁気回路４０とオートフォーカスアクチュエータホルダ１４と板バネ１３Ａ,１３Ｂと光学部材ホルダ２０がオートフォーカスアクチュエータを構成している。ヨーク１０,板バネ１３Ａ,１３Ｂなどからなるオートフォーカス構成部品はオートフォーカスアクチュエータホルダ１４に固定されている。
【００２４】
また、この撮像装置は、光学部材２１Ａ〜２１Ｃを透過した光線の近赤外域成分をカットする赤外線カットフィルタをなすＩＲカットガラス６０と、光学部材２１により結像された画像を電気信号に変換する撮像素子７０とを備える。この撮像素子７０は、撮像素子７０が受光した映像信号を処理するための撮像素子基板１６上に配置され、この撮像素子７０上にＩＲカットガラス６０が配置されている。このＩＲカットガラス６０は、撮像素子カバー１５に形成された貫通孔内で撮像素子カバー１５に固定されている。この撮像素子カバー１５上に上記オートフォーカスアクチュエータホルダ１４が配置されている。撮像素子カバー１５は、撮像素子基板１６を覆うように配置され、ＩＲカットガラス６０とオートフォーカスアクチュエータホルダ１４を撮像素子７０に対して位置決め固定している。
【００２５】
さらに、この実施形態の撮像装置は、撮影終了後に、撮像素子７０が画像信号を転送している期間に、光学部材２１Ａ〜２１Ｃに光線が入らないように遮光するシャッタ部としてメカシャッタ１７を備えている。このメカシャッタ１７は、メカシャッタホルダ１８と第２の磁気回路である磁気回路５０を有する。メカシャッタホルダ１８は、光軸方向Ｚに貫通する開口部１８Ａを有する。なお、このメカシャッタ１７の磁気回路５０は、図８に示した略コの字型のヨーク２１０,コイル２１２,円筒形状のマグネット２１１と同様のヨーク,コイル,マグネットを有している。また、このメカシャッタ１７は、図８に示したのと同様のシャッタ羽２８０,回転軸２８１,腕部２３１,回転軸２３０を有している。したがって、このメカシャッタ１７は、図８を参照して前述したのと同様の動作を行う。
【００２６】
図３に示すように、このメカシャッタ１７の磁気回路５０は、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０から径方向に離間している。また、この実施形態では、磁気回路５０が発生する磁界は、磁気回路４０が発生する磁界に比べて小さい。また、この実施形態では、磁気回路４０は光学部材２１Ａ〜２１Ｃの光軸Ｊを中心軸とする環状であり、磁気回路５０は磁気回路４０に対して径方向外方に離間している。
【００２７】
この実施形態では、磁気回路４０のマグネット１１の着磁方向は、図３に示す矢印Ｘの方向である。つまり、磁気回路４０のマグネット１１は、光学部材２０Ａ〜２０Ｃの光軸Ｊに直交する径方向の磁界を発生する。そして、コイル１２に電流を流すことによって、電磁誘導によってコイル１２は光軸方向の力を受けるので、コイル１２が固定されている光学部材ホルダ２０を光軸方向に移動させる推力が発生する。この電磁誘導による推力と板バネ１３Ａ,１３Ｂによる弾性力との釣り合いによって、光学部材ホルダ２０の光軸方向の位置が保持される。したがって、光学部材ホルダ２０の光軸方向の移動量はコイル１２に流す電流値に比例する。
【００２８】
次に、図４〜図７を参照して、オートフォーカスアクチュエータの駆動源である磁気回路４０の漏洩磁束について説明する。
【００２９】
図４は図３の断面図に対応する断面図であり、図４では光軸ＪをＺ軸としており、光軸Ｊと直交すると共にヨーク１０の上端(光軸方向の端)を通る軸をＸ軸として記載している。このＸ軸とＺ軸との交点を原点Ｏとしている。そして、Ｚ軸上のＡ点,Ｂ点,Ｃ点は、それぞれ、原点Ｏから１ｍｍ,２ｍｍ,３ｍｍの位置を表している。ここで、原点Ｏは、光軸Ｊと直交する径方向における磁気回路４０の中心である。また、図４において、直線ＬＡ,ＬＢ,ＬＣはそれぞれＡ点,Ｂ点,Ｃ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線である。
【００３０】
図６に、図４のＺ軸上のＡ点,Ｂ点,Ｃ点の各位置からＸ軸方向への磁気回路４０の漏洩磁束の分布を示す。図６において、縦軸は漏洩磁束の磁束密度(Ｔ)を表しており、横軸はＸ軸座標(光軸Ｊから径方向への距離(ｍｍ))を表している。図６において、特性Ｋ１はＡ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＡ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ２はＢ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＢ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ３はＣ点からＸ軸と平行な方向に延びる直線ＬＣ上の磁束密度分布を表している。また、図６において、破線Ｌ１はヨーク１０の径方向外端の位置を表している。
【００３１】
図６に示すように、特性Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３の順に漏洩磁束密度が低下しており、ヨーク１０の上端から光軸方向へ離れるほど、漏洩磁束密度が低下している。また、各特性Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３の漏洩磁束密度のピークは、ヨーク１０の径方向外端の位置Ｌ１よりも径方向内方に存在していて、ピークの大きさは特性Ｋ３、Ｋ２、Ｋ１の順に大きくなっている。また、各ピーク波形は特性Ｋ３よりも特性Ｋ２が鋭く、特性Ｋ２よりも特性Ｋ１が鋭くなっており、ヨーク１０の上端に近づくほど漏洩磁束密度のピーク波形が鋭くなっている。
【００３２】
一方、図５では、光軸Ｊと平行でヨーク１０の径方向外端を通る直線をＺ１軸とし、このＺ１軸と直交すると共にヨーク１０の下端を通る直線をＸ１軸としている。また、Ｚ１軸とＸ１軸とが交差する点を原点Ｏ１としている。また、Ｘ１軸上のＥ点,Ｆ点,Ｇ点は、それぞれ、原点Ｏ１から１ｍｍ,２ｍｍ,３ｍｍの位置を表している。ここで、原点Ｏ１は、ヨーク１０の径方向外端かつ下端の位置を表している。また、図５において、直線ＬＥ,ＬＢ,ＬＣはそれぞれＥ点,Ｆ点,Ｇ点からＺ１軸と平行な方向に延びる直線である。また、破線Ｌ１１はヨーク１０の上端からＸ１軸と平行に延びている。
【００３３】
図７に、図５のＸ１軸上のＥ点,Ｆ点,Ｇ点の各位置から光軸と平行な方向への磁気回路４０の漏洩磁束の分布を示す。図７において、縦軸は漏洩磁束の磁束密度(Ｔ)を表しており、横軸はＸ１軸座標(Ｚ１軸から径方向への距離(ｍｍ))を表している。図７において、特性Ｋ１１はＥ点からＺ１軸と平行な方向に延びる直線ＬＥ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ１２はＦ点からＺ１軸と平行な方向へ延びる直線ＬＦ上の磁束密度分布を表し、特性Ｋ１３はＧ点からＺ１軸と平行な方向へ延びる直線ＬＧ上の磁束密度分布を表している。また、図７において、破線Ｌ１１はヨーク１０の上端の位置を表している。
【００３４】
図７に示すように、特性Ｋ１１、Ｋ１２、Ｋ１３の順に漏洩磁束密度が低下しており、ヨーク１０の径方向外端から径方向に離れるほど、漏洩磁束密度が低下している。また、各特性Ｋ１１、Ｋ１２、Ｋ１３は、ヨーク１０の下端(Ｚ１座標が０(ｍｍ))からヨーク１０の上端(Ｚ１座標が３.５(ｍｍ))までの範囲でピークを持たない。
【００３５】
図６を参照すれば、ヨーク１０の上端から光軸方向に１ｍｍだけ離れた位置での特性Ｋ１に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約１ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０８２(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１１に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に１ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０４６(Ｔ)になっている。
【００３６】
また、図６の特性Ｋ２に示されるように、ヨーク１０の上端から光軸方向に２ｍｍだけ離れた位置では、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約１.５ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０４(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１２に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に２ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０２５(Ｔ)になっている。
【００３７】
また、図６の特性Ｋ３に示されるように、ヨーク１０の上端から光軸方向に３ｍｍだけ離れた位置では、ヨーク１０の径方向外端から光軸に向かって約２.２ｍｍ内方の位置で漏洩磁束が最大値(約０.０２５(Ｔ))になっている。一方、図７の特性Ｋ１３に示されるように、ヨーク１０の径方向外端から径方向外方に３ｍｍだけ離れた位置では、漏洩磁束の最大値は約０.０１３(Ｔ)になっている。
【００３８】
すなわち、図６、図７の特性図から、オートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０からの漏洩磁束の影響を低減させるには、磁気回路４０に対して磁気回路５０を軸方向に離間させるよりも径方向に離間させることが有利であることが分る。
【００３９】
例えば、図６の特性Ｋ２を参照すれば、磁気回路４０からＺ軸方向に２ｍｍ離間していても、磁気回路４０から径方向(Ｘ方向)に離間していない範囲(Ｘが６.８ｍｍ以下)では漏洩磁束密度を０.０３(Ｔ)以下にするには、光軸Ｊから３ｍｍ以内に磁気回路５０を配置することが必要になって、配置上の困難が発生します。これに対し、図７の特性Ｋ１２を参照すれば、磁気回路５０が磁気回路４０から径方向(Ｘ１軸方向)に２ｍｍ離間していれば、光軸方向のどのような位置でも、漏洩磁束密度を０.０３(Ｔ)以下にすることができます。
【００４０】
したがって、この実施形態のように、メカシャッタ１７の磁気回路５０をオートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０に対して径方向に離間させることによって、少ない離間寸法でもって、パーマロイなどの軟磁性材料からなる磁気シールド材を挿入することなく、磁気回路４０からの漏洩磁束の影響を低減できる。よって、この実施形態によれば、撮像装置の寸法やコストの増大,構造の複雑化を抑えつつ、メカシャッタ１７の磁気回路５０による駆動性能を十分に発揮でき、メカシャッタ１７のシャッタ閉じ時間の増大による性能低下や誤動作を防止することができる。
【００４１】
尚、図６の特性Ｋ１、Ｋ２を参照すれば、磁気回路４０からの磁気回路５０の径方向の離間寸法が２ｍｍ未満になると、磁気回路４０と磁気回路５０との間の光軸方向の距離が１ｍｍ〜２ｍｍの場合において、磁気回路４０が磁気回路５０に与える漏洩磁界の影響が急増する。一方、上記径方向の離間寸法が３ｍｍを越えると、磁気回路４０の漏洩磁界の減少率が飽和してくる。したがって、オートフォーカスアクチュエータからの漏洩磁界がメカシャッタ１７の動作に与える影響を低減しつつ、小型化を図るには、磁気回路４０から径方向外方への磁気回路５０の離間寸法を２ｍｍ乃至３ｍｍとすることがより望ましい。なお、メカシャッタ１７の磁気回路５０をオートフォーカスアクチュエータの磁気回路４０に対して光軸方向と径方向の両方に離間させてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
この発明の撮像装置は、携帯機器に搭載されるカメラ等の装置全般に適用することが可能であり、オートフォーカスアクチュエータの漏洩磁界の影響によってメカシャッタの性能が低下することを抑制することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】この発明の撮像装置の実施形態の要部の構成を示す斜視図である。
【図２】上記実施形態の要部分解斜視図である。
【図３】上記実施形態の要部断面図である。
【図４】図３に示した磁気回路４０の直上の漏洩磁界分布測定位置を説明する模式図である。
【図５】図３に示した磁気回路４０の側方の漏洩磁界分布測定位置を説明する模式図である。
【図６】図４に示した測定位置における漏洩磁界分布の測定結果を示す図である。
【図７】図５に示した測定位置における漏洩磁界分布の測定結果を示す図である。
【図８】メカシャッタの磁気回路の要部の構成を示す図である。
【図９】従来のオートフォーカスアクチュエータの構成を示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１０ ヨーク
１１ マグネット
１２ コイル
１３Ａ,１３Ｂ 板バネ
１４ オートフォーカスアクチュエータホルダ
１５ 撮像素子カバー
１６ 撮像素子基板
１７ メカシャッタ
２０ 光学部材ホルダ
２１Ａ〜２１Ｃ 光学部材
４０ 第１の磁気回路
５０ メカシャッタ１７の磁気回路
６０ ＩＲカットガラス
７０ 撮像素子
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子と、
光学部材と、
上記光学部材を光軸方向に移動させると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第１の磁気回路を駆動源とするオートフォーカスアクチュエータと、
上記光学部材よりも被写体側に配置されていると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第２の磁気回路を駆動源とするシャッタ部とを備え、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路から、上記光学部材の光軸方向と上記光軸方向に直交する径方向とのうちの少なくとも上記径方向に離間していることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
上記第１の磁気回路は、上記光学部材の光軸を中心軸とする環状であり、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路に対して、径方向外方に離間しており、
上記第１の磁気回路と第２の磁気回路との間の径方向の距離が２ｍｍ乃至３ｍｍであることを特徴とする撮像装置。
【請求項１】
撮像素子と、
光学部材と、
上記光学部材を光軸方向に移動させると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第１の磁気回路を駆動源とするオートフォーカスアクチュエータと、
上記光学部材よりも被写体側に配置されていると共にマグネット,ヨーク,コイルを含む第２の磁気回路を駆動源とするシャッタ部とを備え、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路から、上記光学部材の光軸方向と上記光軸方向に直交する径方向とのうちの少なくとも上記径方向に離間していることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
上記第１の磁気回路は、上記光学部材の光軸を中心軸とする環状であり、
上記第２の磁気回路は、上記第１の磁気回路に対して、径方向外方に離間しており、
上記第１の磁気回路と第２の磁気回路との間の径方向の距離が２ｍｍ乃至３ｍｍであることを特徴とする撮像装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２００８−１３４３００（Ｐ２００８−１３４３００Ａ）
【公開日】平成２０年６月１２日（２００８．６．１２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３１８４９８（Ｐ２００６−３１８４９８）
【出願日】平成１８年１１月２７日（２００６．１１．２７）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年６月１２日（２００８．６．１２）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１１月２７日（２００６．１１．２７）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
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