検査データ生成方法
【課題】ユーザが多大な労力・時間を要さずに、挿入実装部品に対応した検査データを生成することができる検査データ生成方法を提供する。
【解決手段】検査データ生成方法では、データベースに登録されているプリント基板の設計データに基づいて、プリント基板に実装される部品を順番に選択し（Ｓ１０１）、当該部品に設けられているピンを順番に選択し（Ｓ１０２、Ｓ１０３）、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定し（Ｓ１０４）、プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し（Ｓ１０５）、当該貫通穴の位置・形状を特定し（Ｓ１０６）、当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定し（Ｓ１０７）、当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する（Ｓ１０８−Ｓ１１１）。
【解決手段】検査データ生成方法では、データベースに登録されているプリント基板の設計データに基づいて、プリント基板に実装される部品を順番に選択し（Ｓ１０１）、当該部品に設けられているピンを順番に選択し（Ｓ１０２、Ｓ１０３）、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定し（Ｓ１０４）、プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し（Ｓ１０５）、当該貫通穴の位置・形状を特定し（Ｓ１０６）、当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定し（Ｓ１０７）、当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する（Ｓ１０８−Ｓ１１１）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、プリント基板にはんだ付けされた部品のはんだの状態を検査する技術が色々と提案されている。その一つとして、例えば、はんだ検査装置が存在する。
ここで、はんだ検査装置は、プリント基板にはんだ付けされた部品のはんだの状態を検査する装置である。はんだ検査装置は、検査データによって特定されるランドの面積またはマスク開口の面積と、実際にはんだ付けされた部分の面積とを比較し、比較結果に基づいて、はんだ付けの良否を判定する。
【０００３】
検査データは、はんだ検査装置で検査対象となる部分を示すデータである。プリント基板の設計データに基づいて、検査データ生成装置（不図示）によって検査データが生成される。例えば、図１１に示すように、プリント基板５０に形成されるランド５１，５２の位置・形状、またはメタルマスク８０に形成されるマスク開口８１，８２の位置・形状に基づいて、検査データ生成装置（不図示）によって検査データが生成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−２０９２０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記の方法で生成された検査データでは、表面実装部品６０のピン６１，６２に対するはんだの状態を検査することができても、挿入実装部品７０のピン７１，７２に対するはんだの状態を検査することができないという問題がある。
【０００６】
これは、挿入実装部品７０に対しては、はんだが貫通穴５５，５６を完全に塞いでいるか否かを検査する必要がある。このため、ランド５３，５４の位置・形状に加えて、貫通穴５５，５６の位置・形状も特定する必要がある。
【０００７】
しかしながら、上記の方法で生成された検査データには、貫通穴５５，５６の位置・形状に関するデータが含まれていない。このため、当該検査データから、貫通穴５５，５６の位置・形状を特定することができない。従って、当該検査データでは、挿入実装部品７０に対するはんだ検査を実行することができない。
【０００８】
仮に、挿入実装部品７０に対するはんだ検査を実行する場合には、別途、挿入実装部品７０に対応した検査データをユーザが手動で生成する必要がある。しかしながら、プリント基板５０には、１枚あたり、数百の貫通穴が形成される。このため、挿入実装部品７０に対応した検査データを生成するにあたり、ユーザに多大な労力・時間が掛かる。
【０００９】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みて、ユーザが多大な労力・時間を要さずに、挿入実装部品に対応した検査データを生成することができる検査データ生成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明に係わる検査データ生成方法では、下記に示す特徴を備える。
本発明に係わる検査データ生成方法では、（ａ）データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法であって、（ｂ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定するランド位置・形状特定工程と、（ｃ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状を特定する貫通穴位置・形状特定工程と、（ｄ）当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定工程と、（ｅ）当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する生成工程とを含む。
【００１１】
なお、本発明は、検査データ生成方法として実現される以外に、下記に示す検査データ生成装置として実現されるとしてもよい。
本発明に係わる検査データ生成装置では、（ａ）データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成装置であって、（ｂ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状のデータを特定して記憶装置に記憶するランド位置・形状特定部と、（ｃ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状のデータを特定して前記記憶装置に記憶する貫通穴位置・形状特定部と、（ｄ）前記記憶装置に記憶されている当該ランドの位置・形状のデータと当該貫通穴の位置・形状のデータとに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定部と、（ｅ）当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成して前記記憶装置に記憶する生成部とを備える。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ランドの位置・形状に関するデータと貫通穴の位置・形状に関するデータとに基づいて、挿入実装部品のピンが配置されるランドと、当該ランド内に存在する貫通穴とが関連付けられる。これによって、挿入実装部品に対応した検査データを自動で生成することができる。これに伴い、作業効率の向上や作業に対するコスト低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態における検査データ生成装置の構成を示す図
【図２】実施の形態におけるプリント基板データベースのデータ構造を示す第１の図
【図３】実施の形態におけるプリント基板データベースのデータ構造を示す第２の図
【図４】実施の形態における検査データを示す図
【図５】実施の形態におけるランドタイプを示す図
【図６】実施の形態における穴タイプを示す図
【図７】実施の形態における検査データ生成処理を示すフローチャート
【図８】（Ａ）実施の形態における検査データ生成装置で対象となるプリント基板を示す斜視図、（Ｂ）当該プリント基板を示す正面図
【図９】実施の形態における変形例として、異形の形状のランドを標準（楕円）の形状のランドに近似的に置き換える場合を示す図
【図１０】（Ａ）実施の形態における変形例として、補強用リードピンで部品が補強される場合のプリント基板を示す斜視図、（Ｂ）当該プリント基板を示す正面図
【図１１】従来の方法で検査データが生成されるプリント基板を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（実施の形態）
以下、本発明に係わる実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
＜概要＞
本実施の形態における検査データ生成装置では、表面実装部品以外に挿入実装部品にも対応した検査データを生成する装置である。検査データは、はんだ検査装置で検査対象となる部分に関するデータである。はんだ検査装置は、プリント基板にはんだ付けされた各部品（表面実装部品、挿入実装部品など）に対して、はんだの状態を検査する装置である。
【００１５】
＜構成＞
ここでは、一例として、図１に示すように、検査データ生成装置１００は、プリント基板データベース１１０、検査データ生成処理部１２０、一時記憶部１３０、検査データ記憶部１４０などを備える。プリント基板データベース１１０には、図２に示す部品データテーブル１１１、部品ピンデータテーブル１１２、ランド位置・形状データテーブル１１３と、図３に示す貫通穴位置データテーブル１１４、貫通穴形状データテーブル１１５とが登録されている。検査データ生成処理部１２０で検査データ生成処理が実行されると、検査データとして、図４に示す部品データリスト１４１、部品ピンデータリスト１４２、検査タイプデータリスト１４３、ランドタイプデータリスト１４４、貫通穴位置データリスト１４５、貫通穴タイプデータリスト１４６が生成される。
【００１６】
なお、検査データ生成装置１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などを備えるコンピュータシステムである。検査データ生成装置１００を制御するプログラムがＨＤＤなどにインストールされており、当該プログラムが実行されることによって、検査データ生成処理部１２０の各機能が実現される。
【００１７】
＜プリント基板データベース１１０＞
プリント基板データベース１１０は、プリント基板に関する設計データが登録されたデータベースである。部品データテーブル１１１、部品ピンデータテーブル１１２、ランド位置・形状データテーブル１１３、貫通穴位置データテーブル１１４、貫通穴形状データテーブル１１５などを有する。
【００１８】
なお、部品データテーブル１１１は、回路番号を介して、部品ピンデータテーブル１１２とリンクされている。部品ピンデータテーブル１１２は、ランドタイプを介して、ランド位置・形状データテーブル１１３とリンクされている。貫通穴位置データテーブル１１４は、穴タイプを介して、貫通穴形状データテーブル１１５とリンクされている。
【００１９】
＜部品データテーブル１１１＞
部品データテーブル１１１には、プリント基板に実装される全ての部品（表面実装部品、挿入実装部品など）に関する部品データが登録されている。回路番号、部品名称、部品位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、部品サイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、高さ）などを含む部品データが登録されている。
【００２０】
なお、回路番号は、プリント基板に実装される各部品に割り当てられた識別情報である。
＜部品ピンデータテーブル１１２＞
部品ピンデータテーブル１１２には、部品ごとに、部品に設けられている全てのピンに関する部品ピンデータが登録されている。回路番号、ピン番号、ピン位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ピンサイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、長さ）、ランドタイプなどを含む部品ピンデータが登録されている。
【００２１】
なお、ピン番号は、回路番号の部品に設けられている各リードピンに割り当てられた識別情報である。
＜ランド位置・形状データテーブル１１３＞
ランド位置・形状データテーブル１１３には、プリント基板に形成される全てのランドの位置・形状に関するランド位置・形状データが登録されている。ランドタイプ、ランド位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ランド形状、備考などを含むランド位置・形状データが登録されている。
【００２２】
なお、ランドタイプは、プリント基板に形成される各ランドに割り当てられた識別情報である。
なお、図５に示すように、ランドタイプが「Ａ」であるランドは、長辺が６０であって短辺が３０である長方形のランドである。ランドタイプが「Ｂ」であるランドは、直径が３０である円形のランドである。ランドタイプが「Ｃ」であるランドは、長軸が６０であって短軸が３０である楕円形のランドである。ランドタイプが「Ｄ」であるランドは、一辺が６０である正方形のランドである。
【００２３】
なお、ランド形状の「ｒｅｃｔ」は、ランドの形状が「長方形」であることを表している。ランド形状の「ｒ」は、ランドの形状が「円」であることを表している。ランド形状の「ｏｖａｌ」は、ランドの形状が「楕円」であることを表している。ランド形状の「ｓ」は、ランドの形状が「正方形」であることを表している。
【００２４】
＜貫通穴位置データテーブル１１４＞
貫通穴位置データテーブル１１４には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の位置に関する貫通穴位置データが登録されている。穴番号、穴位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、穴タイプなどを含む貫通穴位置データが登録されている。
【００２５】
なお、穴番号は、プリント基板に形成される各貫通穴に割り当てられた識別情報である。
なお、貫通穴位置データテーブル１１４には、部品のピンが挿入される貫通穴以外に、スルーホール、ミシン目などのような貫通穴に関する貫通穴位置データも登録されている。
【００２６】
＜貫通穴形状データテーブル１１５＞
貫通穴形状データテーブル１１５には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の形状に関する貫通穴形状データが登録されている。穴タイプ、穴形状、備考などを含む貫通穴形状データが登録されている。
【００２７】
なお、図６に示すように、穴タイプが「ｄＡ」である貫通穴は、直径が１０である円形の貫通穴である。穴タイプが「ｄＢ」である貫通穴は、一辺が１０である正方形の貫通穴である。
【００２８】
なお、穴形状の「ｒ」は、貫通穴の形状が「円」であることを表している。穴形状の「ｓ」は、貫通穴の形状が「正方形」であることを表している。
＜検査データ生成処理部１２０＞
検査データ生成処理部１２０は、部品選択部１２１、ピン特定部１２２、ピン選択部１２３、ランド位置・形状特定部１２４、貫通穴選択部１２５、貫通穴位置・形状特定部１２６、判定部１２７、検査タイプデータ生成部１２８、検査データ生成部１２９などを備える。
【００２９】
＜部品選択部１２１＞
部品選択部１２１は、部品データテーブル１１１から部品データを順番に読み出す。読み出した部品データをピン特定部１２２に出力する。なお、部品選択部１２１は、読み出した部品データを検査データ生成部１２９にも出力する。
【００３０】
＜ピン特定部１２２＞
ピン特定部１２２は、部品選択部１２１から出力された部品データを受け取る。受け取った部品データの中から回路番号を抽出する。抽出した回路番号を検索キーとして、検索キーを含む全ての部品ピンデータを部品ピンデータテーブル１１２から読み出す。読み出した全ての部品ピンデータを部品ピンデータセットとしてピン選択部１２３に出力する。なお、ピン特定部１２２は、読み出した部品ピンデータセットを検査データ生成部１２９にも出力する。
【００３１】
＜ピン選択部１２３＞
ピン選択部１２３は、ピン特定部１２２から出力された部品ピンデータセットを受け取る。受け取った部品ピンデータセットの中から部品ピンデータを順番に抽出する。抽出した部品ピンデータをランド位置・形状特定部１２４に出力する。受け取った部品ピンデータセットの中から部品ピンデータを全て抽出すると、選択終了通知を判定部１２７に出す。
【００３２】
＜ランド位置・形状特定部１２４＞
ランド位置・形状特定部１２４は、ピン選択部１２３から出力された部品ピンデータを受け取る。受け取った部品ピンデータの中からランドタイプを抽出する。抽出したランドタイプを検索キーとして、検索キーを含むランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。読み出したランド位置・形状データを判定部１２７に出力する。
【００３３】
＜貫通穴選択部１２５＞
貫通穴選択部１２５は、貫通穴位置データテーブル１１４から貫通穴位置データを順番に読み出す。読み出した貫通穴位置データを貫通穴位置・形状特定部１２６に出力する。貫通穴位置データテーブル１１４から全ての貫通穴位置データを読み出すと、選択終了通知を判定部１２７に出す。
【００３４】
＜貫通穴位置・形状特定部１２６＞
貫通穴位置・形状特定部１２６は、貫通穴選択部１２５から出力された貫通穴位置データを受け取る。受け取った貫通穴位置データの中から穴タイプを抽出する。抽出した穴タイプを検索キーとして、検索キーを含む貫通穴形状データを貫通穴形状データテーブル１１５から読み出す。読み出した貫通穴形状データと受け取った貫通穴位置データとを組み合わせて判定部１２７に出力する。
【００３５】
＜判定部１２７＞
判定部１２７は、ランド位置・形状特定部１２４から出力されたランド位置・形状データを受け取る。貫通穴位置・形状特定部１２６から出力された貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとに基づいて、ランド内に貫通穴が存在するか否かを判定する。
【００３６】
判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定すると、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データとを検査タイプデータ生成部１２８に出力する。また、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを検査データ生成部１２９に出力する。
【００３７】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「長方形」である場合には、次の条件を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。貫通穴の中心座標Ｘがランドの中心座標Ｘ±長辺の長さ／２の範囲内であり、貫通穴の中心座標Ｙがランドの中心座標Ｙ±短辺の長さ／２の範囲内である。
【００３８】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「正方形」である場合には、次の条件を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。貫通穴の中心座標Ｘがランドの中心座標Ｘ±一辺の長さ／２の範囲内であり、貫通穴の中心座標Ｙがランドの中心座標Ｙ±一辺の長さ／２の範囲内である。
【００３９】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「円」である場合には、下記の条件式（１）を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。ここで、ｒは、ランドの半径である。座標（ｘ０，ｙ０）は、ランドの中心座標である。座標（ｘ，ｙ）は、貫通穴の中心座標である。
【００４０】
【数１】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「楕円」である場合には、下記の条件式（２）を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。ここで、ａは、ランドの長軸の長さである。ｂは、ランドの短軸の長さである。座標（ｘ０，ｙ０）は、ランドの中心座標である。座標（ｘ，ｙ）は、貫通穴の中心座標である。
【００４１】
【数２】
なお、上記の条件式（２）は、下記の楕円の公式（３）と回転座標の公式（４）とから導出される。
【００４２】
【数３】
【００４３】
【数４】
なお、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定した場合には、ピン選択部１２３に次のピンを選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。一方、ランド内に貫通穴が存在しないと判定した場合には、貫通穴選択部１２５に次の貫通穴を選択させる。
【００４４】
なお、判定部１２７は、貫通穴選択部１２５から選択終了通知を受けると、ピン選択部１２３に次のピンを選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。
なお、判定部１２７は、ピン選択部１２３から選択終了通知を受けると、検査データ生成部１２９に検査データ生成要求を出す。部品選択部１２１に次の部品を選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。
【００４５】
＜検査タイプデータ生成部１２８＞
検査タイプデータ生成部１２８は、判定部１２７から出力されたランド位置・形状データと貫通穴位置データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データとに基づいて、ランドと当該ランド内に存在する貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する。生成した検査タイプデータを検査データ生成部１２９に出力する。
【００４６】
＜検査データ生成部１２９＞
検査データ生成部１２９は、部品選択部１２１から出力された部品データを受け取る。受け取った部品データを一時記憶部１３０に記憶する。ピン特定部１２２から出力された部品ピンデータセットを受け取る。受け取った部品ピンデータセットを一時記憶部１３０に記憶する。
【００４７】
また、検査データ生成部１２９は、判定部１２７から出力されたランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを一時記憶部１３０に記憶する。ランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る度に、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを一時記憶部１３０に追加記憶する。
【００４８】
また、検査データ生成部１２９は、検査タイプデータ生成部１２８から出力された検査タイプデータを受け取る。受け取った検査タイプデータを一時記憶部１３０に記憶する。検査タイプデータを受け取る度に、受け取った検査タイプデータを一時記憶部１３０に追加記憶する。
【００４９】
そして、検査データ生成部１２９は、判定部１２７から検査データ生成要求を受けると、一時記憶部１３０に記憶されている部品データ、部品ピンデータ、ランド位置・形状データ、貫通穴位置データ、貫通穴形状データ、検査タイプデータに基づいて、挿入実装部品の検査データを生成する。生成した検査データを検査データ記憶部１４０に記憶する。一時記憶部１３０に記憶されている各種データを消去する。
【００５０】
＜一時記憶部１３０＞
一時記憶部１３０は、検査データ生成処理部１２０で処理中に発生する各種データを一時的に記憶する記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＨＤＤなど。）である。
【００５１】
＜検査データ記憶部１４０＞
検査データ記憶部１４０は、検査データを記憶する記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＨＤＤなど。）である。検査データ記憶部１４０には、検査データとして、部品データリスト１４１、部品ピンデータリスト１４２、検査タイプデータリスト１４３、ランドタイプデータリスト１４４、貫通穴位置データリスト１４５、貫通穴タイプデータリスト１４６が記憶される。
【００５２】
部品データリスト１４１には、回路番号、部品名称、部品位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、部品サイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、高さ）などを含むデータが登録される。
【００５３】
部品ピンデータリスト１４２には、回路番号、ピン番号、ピン位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ピンサイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、長さ）、検査タイプなどを含むデータが登録される。
【００５４】
検査タイプデータリスト１４３には、検査タイプ、ランドタイプ、穴番号などを含むデータが登録される。
ランドタイプデータリスト１４４には、ランドタイプ、ランド位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ランド形状、備考などを含むデータが登録される。
【００５５】
貫通穴位置データリスト１４５には、穴番号、穴位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、穴タイプなどを含むデータが登録される。
貫通穴タイプデータリスト１４６には、穴タイプ、穴形状、備考などを含むデータが登録される。
【００５６】
なお、検査タイプは、検査タイプデータ生成部１２８で生成された検査タイプデータごとに割り当てられた識別情報である。
なお、部品データリスト１４１は、回路番号を介して、部品ピンデータリスト１４２とリンクされる。部品ピンデータリスト１４２は、検査タイプを介して、検査タイプデータリスト１４３とリンクされる。検査タイプデータリスト１４３は、ランドタイプを介して、ランドタイプデータリスト１４４とリンクされる。検査タイプデータリスト１４３は、穴番号を介して、貫通穴位置データリスト１４５とリンクされる。貫通穴位置データリスト１４５は、穴タイプを介して、貫通穴タイプデータリスト１４６とリンクされる。
【００５７】
なお、検査データは、記憶装置上にファイルとして記憶されるとしてもよい。
＜検査データ生成処理＞
次に、検査データ生成処理部１２０の動作について説明する。
【００５８】
まず、図７に示すように、検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に実装される全ての部品の中から、最初の部品を選択する（Ｓ１０１）。選択した部品に設けられている全てのピンを特定する（Ｓ１０２）。
【００５９】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定した全てのピンの中から、最初のピンを選択する（Ｓ１０３）。選択したピンが配置されるランドの位置・形状を特定する（Ｓ１０４）。
【００６０】
次に、検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、最初の貫通穴を選択する（Ｓ１０５）。選択した貫通穴の位置・形状を特定する（Ｓ１０６）。
【００６１】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定したランドの位置・形状と貫通穴の位置・形状とに基づいて、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。
【００６２】
判定した結果、検査データ生成処理部１２０は、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在する場合には（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、選択したピンが配置されるランドと、選択した貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。特定した全てのピンを選択するまで（Ｓ１１０：ＮＯ）、次のピンを選択し（Ｓ１０３）、上記の処理（Ｓ１０４）以降を繰り返し実行する。
【００６３】
一方、検査データ生成処理部１２０は、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在しない場合には（Ｓ１０７：ＮＯ）、全ての貫通穴を選択するまで（Ｓ１０９：ＮＯ）、次の貫通穴を選択し（Ｓ１０５）、処理（Ｓ１０６）以降を繰り返し実行する。全ての貫通穴を選択すると（Ｓ１０９：ＹＥＳ）、特定した全てのピンを選択するまで（Ｓ１１０：ＮＯ）、次のピンを選択し（Ｓ１０３）、上記の処理（Ｓ１０４）以降を繰り返し実行する。
【００６４】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定した全てのピンを選択すると（Ｓ１１０：ＹＥＳ）、検査データを生成する（Ｓ１１１）。全ての部品を選択するまで（Ｓ１１２：ＮＯ）、次の部品を選択し（Ｓ１０１）、上記の処理（Ｓ１０２）以降を繰り返し実行する。全ての部品を選択すると（Ｓ１１２：ＹＥＳ）、処理を終了する。
【００６５】
＜動作例＞
次に、検査データ生成処理部１２０の動作例について説明する。
ここでは、一例として、プリント基板データベース１１０に、図８（Ａ）、図８（Ｂ）に示すプリント基板１５０と部品１６０とに関するデータが登録されているとする。
【００６６】
なお、プリント基板１５０には、ランド１５１，１５２、貫通穴１５３，１５４，１５５，１５６が形成されている。部品１６０には、ピン１６１，１６２が設けられている。ランド１５１内に存在する貫通穴１５３にピン１６１が挿入される。ランド１５２内に存在する貫通穴１５４にピン１６２が挿入される。
【００６７】
また、部品１６０には、回路番号ＣＮ１００１が割り当てられている。ピン１６１には、ピン番号１が割り当てられている。ピン１６２には、ピン番号２が割り当てられている。貫通穴１５３には、穴番号１が割り当てられている。貫通穴１５４には、穴番号４が割り当てられている。
【００６８】
また、ランド１５１の形状が円である。ランド１５２の形状が楕円である。図２に示すように、ランド１５１については、ランドタイプが「Ｂ」であり、中心座標Ｘが「７５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、ランド形状が「ｒ３０」である。ランド１５２については、ランドタイプが「Ｃ」であり、中心座標Ｘが「１３５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、ランド形状が「ｏｖａｌ６０×３０」である。
【００６９】
また、貫通穴１５３の形状が円である。貫通穴１５４の形状が円である。図３に示すように、貫通穴１５３については、中心座標Ｘが「７５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、穴タイプが「ｄＡ」であり、穴形状が「ｒ１０」である。貫通穴１５４については、中心座標Ｘが「１２０」であり、中心座標Ｙが「１１５」であり、角度θが「０」であり、穴タイプが「ｄＡ」であり、穴形状が「ｒ１０」である。
【００７０】
＜例１＞
検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に実装される全ての部品の中から、最初の部品（回路番号ＣＮ１００１の部品）を選択する（Ｓ１０１）。最初の部品に設けられている全てのピン（ピン１６１，１６２）を特定する（Ｓ１０２）。
【００７１】
このとき、部品選択部１２１は、部品１６０の部品データを部品データテーブル１１１から読み出す。ピン特定部１２２は、部品１６０の部品データの回路番号（ＣＮ１００１）を検索キーとして、検索キーを含む全ての部品ピンデータ（部品１６０の部品ピンデータセット）を部品ピンデータテーブル１１２から読み出す。
【００７２】
＜例２＞
検査データ生成処理部１２０は、ピン１６１，１６２の中から、ピン１６１を選択する（Ｓ１０３）。ピン１６１が配置されるランド１５１の位置・形状を特定する（Ｓ１０４）。
【００７３】
このとき、ピン選択部１２３は、部品１６０の部品ピンデータセットの中から、ピン１６１の部品ピンデータを抽出する。ランド位置・形状特定部１２４は、ピン１６１の部品ピンデータのランドタイプ（Ｂ）を検索キーとして、検索キーを含むランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。
【００７４】
＜例３＞
検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、１番目の貫通穴（穴番号１の貫通穴）を選択する（Ｓ１０５）。１番目の貫通穴の位置・形状を特定する（Ｓ１０６）。
【００７５】
このとき、貫通穴選択部１２５は、１番目の貫通穴の貫通穴位置データを貫通穴位置データテーブル１１４から読み出す。貫通穴位置・形状特定部１２６は、１番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴タイプ（ｄＡ）を検索キーとして、検索キーを含む貫通穴形状データを貫通穴形状データテーブル１１５から読み出す。
【００７６】
＜例４＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５１の位置・形状と１番目の貫通穴の位置・形状とに基づいて、ランド１５１内に、１番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在するので（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、ランド１５１と１番目の貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。次のピン（ピン１６２）を選択する（Ｓ１０３）。
【００７７】
このとき、判定部１２７は、１番目の貫通穴の中心座標（７５，１００）と、ランド１５１の中心座標（７５，１００）と、ランド１５１の半径（３０／２）とを上記の条件式（１）に代入する。代入した結果、上記の条件式（１）を満たすことから、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在すると判定する。ランド１５１のランド位置・形状データと１番目の貫通穴の貫通穴位置データとを検査タイプデータ生成部１２８に出力する。ピン選択部１２３に次のピンを選択させる。
【００７８】
これに伴い、検査タイプデータ生成部１２８は、ランド１５１のランド位置・形状データのランドタイプ（Ｂ）と１番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴番号（１）とを含む検査タイプデータを生成する。ピン選択部１２３は、部品１６０の部品ピンデータセットの中から、ピン１６２の部品ピンデータを抽出する。
【００７９】
＜例５＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５２の位置・形状と１番目の貫通穴の位置・形状とに基づいて、ランド１５２内に、１番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５２内に１番目の貫通穴が存在しないので（Ｓ１０７：ＮＯ）、次の貫通穴（２番目の貫通穴）を選択する（Ｓ１０５）。
【００８０】
このとき、判定部１２７は、１番目の貫通穴の中心座標（７５，１００）と、ランド１５２の中心座標（１３５，１００）と、ランド１５２の長軸サイズ（６０）・短軸サイズ（３０）とを上記の条件式（２）に代入する。代入した結果、上記の条件式（２）を満たさないことから、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在しないと判定する。貫通穴選択部１２５に次の貫通穴を選択させる。
【００８１】
これに伴い、貫通穴選択部１２５は、２番目の貫通穴の貫通穴位置データを貫通穴位置データテーブル１１４から読み出す。
＜例６＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５２の位置・形状と４番目の貫通穴（穴番号４の貫通穴）の位置・形状とに基づいて、ランド１５２内に、４番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５２内に４番目の貫通穴が存在するので（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、ランド１５２と４番目の貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。
【００８２】
このとき、判定部１２７は、４番目の貫通穴の中心座標（１２０，１１５）と、ランド１５２の中心座標（１３５，１００）と、ランド１５２の長軸サイズ（６０）・短軸サイズ（３０）とを上記の条件式（２）に代入する。代入した結果、上記の条件式（２）を満たすことから、ランド１５２内に４番目の貫通穴が存在すると判定する。
【００８３】
これに伴い、検査タイプデータ生成部１２８は、ランド１５２のランド位置・形状データのランドタイプ（Ｃ）と４番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴番号（４）とを含む検査タイプデータを生成する。
【００８４】
＜例７＞
検査データ生成処理部１２０は、ピン１６１，１６２を選択すると（Ｓ１１０：ＹＥＳ）、検査データを生成する（Ｓ１１１）。次の部品（回路番号ＣＮ１００２の部品）を選択する（Ｓ１０１）。
【００８５】
このとき、判定部１２７は、ピン選択部１２３から選択終了通知を受け、検査データ生成部１２９に検査データ生成要求を出す。検査データ生成部１２９は、判定部１２７から検査データ生成要求を受け、一時記憶部１３０に記憶されている部品データ、部品ピンデータ、貫通穴位置データ、貫通穴形状データ、検査タイプデータを使用して、検査データを生成する。部品選択部１２１に次の部品を選択させる。これに伴い、部品選択部１２７は、次の部品の部品データを部品データテーブル１１１から読み出す。
【００８６】
＜まとめ＞
以上、本実施の形態によれば、ランドの位置・形状に関するデータと貫通穴の位置・形状に関するデータとに基づいて、挿入実装部品のピンが配置されるランドと、当該ランド内に存在する貫通穴とが関連付けられる。これによって、挿入実装部品に対応した検査データを自動で生成することができる。これに伴い、作業効率の向上や作業に対するコスト低減を図ることができる。
【００８７】
＜その他＞
なお、ランドの形状が、例えば、円、楕円、正方形、長方形などのように、標準的な形状である場合には、ランドの外周を容易に特定することができる。しかしながら、ランドの形状が、例えば、図９に示すランド１７１のように、異形である場合には、ランドの外周を容易に特定することができない。これに対して、ランド１７２のように、標準的な形状（楕円）に近似的に置き換え、ランド１７１の位置・形状データとして、ランド１７２の位置・形状データを作成するとしてもよい。これによって、ランド内に貫通穴が存在するか否かを判定することが容易になり、ランドと貫通穴とを関連付けることができる。
【００８８】
＜補強用リードピン＞
なお、図１０（Ａ）、図１０（Ｂ）に示すように、補強用リードピン１８０で部品１６０が補強されるとする。この場合において、補強用リードピン１８０は、プリント基板１５０に形成されるランド１８１に挿入される。しかしながら、補強用リードピン１８０は、プリント基板１５０と電気的に通じていない。さらに、部品ピンデータテーブル１１２には、補強用リードピン１８０に関する部品ピンデータが登録されていない。このことから、部品ピンデータのランドタイプを使用して、ランド１８１のランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出すことができない。
【００８９】
そこで、部品１６０の部品データの部品位置と部品サイズとを使用して、部品１６０の周囲に存在するランド１８１のランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。具体的には、補強用リードピン１８０については、以下の処理（Ｓ１）−（Ｓ８）を実行する。
【００９０】
（Ｓ１）まず、プリント基板に実装される全ての部品の中から最初の部品を選択する。
（Ｓ２）次に、プリント基板に形成される全てのランドの中から最初のランドを選択する。
【００９１】
（Ｓ３）次に、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在するか否かを判定する。
（Ｓ４）判定した結果、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在しない場合には、全ての部品の中から次の部品を選択する。上記の処理（Ｓ２）に戻る。
【００９２】
（Ｓ５）一方、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在する場合には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、最初の貫通穴を選択する。
（Ｓ６）次に、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在するか否かを判定する。
【００９３】
（Ｓ７）判定した結果、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在しない場合には、全ての貫通穴の中から、次の貫通穴を選択する。上記の処理（Ｓ６）に戻る。
（Ｓ８）一方、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在する場合には、選択したランドと、選択した貫通穴とを関連付ける。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明は、データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法などとして、利用することができる。
【符号の説明】
【００９５】
５０ プリント基板
５１，５２ ランド
５３，５４ ランド
５５，５６ 貫通穴
６０ 表面実装部品
６１，６２ ピン
７０ 挿入実装部品
７１，７２ ピン
８０ メタルマスク
８１，８２ マスク開口
１００ 検査データ生成装置
１１０ プリント基板データベース
１１１ 部品データテーブル
１１２ 部品ピンデータテーブル
１１３ ランド位置・形状データテーブル
１１４ 貫通穴位置データテーブル
１１５ 貫通穴形状データテーブル
１２０ 検査データ生成処理部
１２１ 部品選択部
１２２ ピン特定部
１２３ ピン選択部
１２４ ランド位置・形状特定部
１２５ 貫通穴選択部
１２６ 貫通穴位置形状特定部
１２７ 判定部
１２８ 検査タイプデータ生成部
１２９ 検査データ生成部
１３０ 一時記憶部
１４０ 検査データ記憶部
１４１ 部品データリスト
１４２ 部品ピンデータリスト
１４３ 検査タイプデータリスト
１４４ ランドタイプデータリスト
１４５ 貫通穴位置データリスト
１４６ 貫通穴タイプデータリスト
１５０ プリント基板
１５１，１５２ ランド
１５３，１５４ 貫通穴
１５５，１５６ 貫通穴
１６０ 部品
１６１，１６２ ピン
１７１，１７２ ランド
１８０ 補強用リードピン
１８１ ランド
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、プリント基板にはんだ付けされた部品のはんだの状態を検査する技術が色々と提案されている。その一つとして、例えば、はんだ検査装置が存在する。
ここで、はんだ検査装置は、プリント基板にはんだ付けされた部品のはんだの状態を検査する装置である。はんだ検査装置は、検査データによって特定されるランドの面積またはマスク開口の面積と、実際にはんだ付けされた部分の面積とを比較し、比較結果に基づいて、はんだ付けの良否を判定する。
【０００３】
検査データは、はんだ検査装置で検査対象となる部分を示すデータである。プリント基板の設計データに基づいて、検査データ生成装置（不図示）によって検査データが生成される。例えば、図１１に示すように、プリント基板５０に形成されるランド５１，５２の位置・形状、またはメタルマスク８０に形成されるマスク開口８１，８２の位置・形状に基づいて、検査データ生成装置（不図示）によって検査データが生成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−２０９２０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記の方法で生成された検査データでは、表面実装部品６０のピン６１，６２に対するはんだの状態を検査することができても、挿入実装部品７０のピン７１，７２に対するはんだの状態を検査することができないという問題がある。
【０００６】
これは、挿入実装部品７０に対しては、はんだが貫通穴５５，５６を完全に塞いでいるか否かを検査する必要がある。このため、ランド５３，５４の位置・形状に加えて、貫通穴５５，５６の位置・形状も特定する必要がある。
【０００７】
しかしながら、上記の方法で生成された検査データには、貫通穴５５，５６の位置・形状に関するデータが含まれていない。このため、当該検査データから、貫通穴５５，５６の位置・形状を特定することができない。従って、当該検査データでは、挿入実装部品７０に対するはんだ検査を実行することができない。
【０００８】
仮に、挿入実装部品７０に対するはんだ検査を実行する場合には、別途、挿入実装部品７０に対応した検査データをユーザが手動で生成する必要がある。しかしながら、プリント基板５０には、１枚あたり、数百の貫通穴が形成される。このため、挿入実装部品７０に対応した検査データを生成するにあたり、ユーザに多大な労力・時間が掛かる。
【０００９】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みて、ユーザが多大な労力・時間を要さずに、挿入実装部品に対応した検査データを生成することができる検査データ生成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明に係わる検査データ生成方法では、下記に示す特徴を備える。
本発明に係わる検査データ生成方法では、（ａ）データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法であって、（ｂ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定するランド位置・形状特定工程と、（ｃ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状を特定する貫通穴位置・形状特定工程と、（ｄ）当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定工程と、（ｅ）当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する生成工程とを含む。
【００１１】
なお、本発明は、検査データ生成方法として実現される以外に、下記に示す検査データ生成装置として実現されるとしてもよい。
本発明に係わる検査データ生成装置では、（ａ）データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成装置であって、（ｂ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状のデータを特定して記憶装置に記憶するランド位置・形状特定部と、（ｃ）前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状のデータを特定して前記記憶装置に記憶する貫通穴位置・形状特定部と、（ｄ）前記記憶装置に記憶されている当該ランドの位置・形状のデータと当該貫通穴の位置・形状のデータとに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定部と、（ｅ）当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成して前記記憶装置に記憶する生成部とを備える。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ランドの位置・形状に関するデータと貫通穴の位置・形状に関するデータとに基づいて、挿入実装部品のピンが配置されるランドと、当該ランド内に存在する貫通穴とが関連付けられる。これによって、挿入実装部品に対応した検査データを自動で生成することができる。これに伴い、作業効率の向上や作業に対するコスト低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態における検査データ生成装置の構成を示す図
【図２】実施の形態におけるプリント基板データベースのデータ構造を示す第１の図
【図３】実施の形態におけるプリント基板データベースのデータ構造を示す第２の図
【図４】実施の形態における検査データを示す図
【図５】実施の形態におけるランドタイプを示す図
【図６】実施の形態における穴タイプを示す図
【図７】実施の形態における検査データ生成処理を示すフローチャート
【図８】（Ａ）実施の形態における検査データ生成装置で対象となるプリント基板を示す斜視図、（Ｂ）当該プリント基板を示す正面図
【図９】実施の形態における変形例として、異形の形状のランドを標準（楕円）の形状のランドに近似的に置き換える場合を示す図
【図１０】（Ａ）実施の形態における変形例として、補強用リードピンで部品が補強される場合のプリント基板を示す斜視図、（Ｂ）当該プリント基板を示す正面図
【図１１】従来の方法で検査データが生成されるプリント基板を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（実施の形態）
以下、本発明に係わる実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
＜概要＞
本実施の形態における検査データ生成装置では、表面実装部品以外に挿入実装部品にも対応した検査データを生成する装置である。検査データは、はんだ検査装置で検査対象となる部分に関するデータである。はんだ検査装置は、プリント基板にはんだ付けされた各部品（表面実装部品、挿入実装部品など）に対して、はんだの状態を検査する装置である。
【００１５】
＜構成＞
ここでは、一例として、図１に示すように、検査データ生成装置１００は、プリント基板データベース１１０、検査データ生成処理部１２０、一時記憶部１３０、検査データ記憶部１４０などを備える。プリント基板データベース１１０には、図２に示す部品データテーブル１１１、部品ピンデータテーブル１１２、ランド位置・形状データテーブル１１３と、図３に示す貫通穴位置データテーブル１１４、貫通穴形状データテーブル１１５とが登録されている。検査データ生成処理部１２０で検査データ生成処理が実行されると、検査データとして、図４に示す部品データリスト１４１、部品ピンデータリスト１４２、検査タイプデータリスト１４３、ランドタイプデータリスト１４４、貫通穴位置データリスト１４５、貫通穴タイプデータリスト１４６が生成される。
【００１６】
なお、検査データ生成装置１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などを備えるコンピュータシステムである。検査データ生成装置１００を制御するプログラムがＨＤＤなどにインストールされており、当該プログラムが実行されることによって、検査データ生成処理部１２０の各機能が実現される。
【００１７】
＜プリント基板データベース１１０＞
プリント基板データベース１１０は、プリント基板に関する設計データが登録されたデータベースである。部品データテーブル１１１、部品ピンデータテーブル１１２、ランド位置・形状データテーブル１１３、貫通穴位置データテーブル１１４、貫通穴形状データテーブル１１５などを有する。
【００１８】
なお、部品データテーブル１１１は、回路番号を介して、部品ピンデータテーブル１１２とリンクされている。部品ピンデータテーブル１１２は、ランドタイプを介して、ランド位置・形状データテーブル１１３とリンクされている。貫通穴位置データテーブル１１４は、穴タイプを介して、貫通穴形状データテーブル１１５とリンクされている。
【００１９】
＜部品データテーブル１１１＞
部品データテーブル１１１には、プリント基板に実装される全ての部品（表面実装部品、挿入実装部品など）に関する部品データが登録されている。回路番号、部品名称、部品位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、部品サイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、高さ）などを含む部品データが登録されている。
【００２０】
なお、回路番号は、プリント基板に実装される各部品に割り当てられた識別情報である。
＜部品ピンデータテーブル１１２＞
部品ピンデータテーブル１１２には、部品ごとに、部品に設けられている全てのピンに関する部品ピンデータが登録されている。回路番号、ピン番号、ピン位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ピンサイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、長さ）、ランドタイプなどを含む部品ピンデータが登録されている。
【００２１】
なお、ピン番号は、回路番号の部品に設けられている各リードピンに割り当てられた識別情報である。
＜ランド位置・形状データテーブル１１３＞
ランド位置・形状データテーブル１１３には、プリント基板に形成される全てのランドの位置・形状に関するランド位置・形状データが登録されている。ランドタイプ、ランド位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ランド形状、備考などを含むランド位置・形状データが登録されている。
【００２２】
なお、ランドタイプは、プリント基板に形成される各ランドに割り当てられた識別情報である。
なお、図５に示すように、ランドタイプが「Ａ」であるランドは、長辺が６０であって短辺が３０である長方形のランドである。ランドタイプが「Ｂ」であるランドは、直径が３０である円形のランドである。ランドタイプが「Ｃ」であるランドは、長軸が６０であって短軸が３０である楕円形のランドである。ランドタイプが「Ｄ」であるランドは、一辺が６０である正方形のランドである。
【００２３】
なお、ランド形状の「ｒｅｃｔ」は、ランドの形状が「長方形」であることを表している。ランド形状の「ｒ」は、ランドの形状が「円」であることを表している。ランド形状の「ｏｖａｌ」は、ランドの形状が「楕円」であることを表している。ランド形状の「ｓ」は、ランドの形状が「正方形」であることを表している。
【００２４】
＜貫通穴位置データテーブル１１４＞
貫通穴位置データテーブル１１４には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の位置に関する貫通穴位置データが登録されている。穴番号、穴位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、穴タイプなどを含む貫通穴位置データが登録されている。
【００２５】
なお、穴番号は、プリント基板に形成される各貫通穴に割り当てられた識別情報である。
なお、貫通穴位置データテーブル１１４には、部品のピンが挿入される貫通穴以外に、スルーホール、ミシン目などのような貫通穴に関する貫通穴位置データも登録されている。
【００２６】
＜貫通穴形状データテーブル１１５＞
貫通穴形状データテーブル１１５には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の形状に関する貫通穴形状データが登録されている。穴タイプ、穴形状、備考などを含む貫通穴形状データが登録されている。
【００２７】
なお、図６に示すように、穴タイプが「ｄＡ」である貫通穴は、直径が１０である円形の貫通穴である。穴タイプが「ｄＢ」である貫通穴は、一辺が１０である正方形の貫通穴である。
【００２８】
なお、穴形状の「ｒ」は、貫通穴の形状が「円」であることを表している。穴形状の「ｓ」は、貫通穴の形状が「正方形」であることを表している。
＜検査データ生成処理部１２０＞
検査データ生成処理部１２０は、部品選択部１２１、ピン特定部１２２、ピン選択部１２３、ランド位置・形状特定部１２４、貫通穴選択部１２５、貫通穴位置・形状特定部１２６、判定部１２７、検査タイプデータ生成部１２８、検査データ生成部１２９などを備える。
【００２９】
＜部品選択部１２１＞
部品選択部１２１は、部品データテーブル１１１から部品データを順番に読み出す。読み出した部品データをピン特定部１２２に出力する。なお、部品選択部１２１は、読み出した部品データを検査データ生成部１２９にも出力する。
【００３０】
＜ピン特定部１２２＞
ピン特定部１２２は、部品選択部１２１から出力された部品データを受け取る。受け取った部品データの中から回路番号を抽出する。抽出した回路番号を検索キーとして、検索キーを含む全ての部品ピンデータを部品ピンデータテーブル１１２から読み出す。読み出した全ての部品ピンデータを部品ピンデータセットとしてピン選択部１２３に出力する。なお、ピン特定部１２２は、読み出した部品ピンデータセットを検査データ生成部１２９にも出力する。
【００３１】
＜ピン選択部１２３＞
ピン選択部１２３は、ピン特定部１２２から出力された部品ピンデータセットを受け取る。受け取った部品ピンデータセットの中から部品ピンデータを順番に抽出する。抽出した部品ピンデータをランド位置・形状特定部１２４に出力する。受け取った部品ピンデータセットの中から部品ピンデータを全て抽出すると、選択終了通知を判定部１２７に出す。
【００３２】
＜ランド位置・形状特定部１２４＞
ランド位置・形状特定部１２４は、ピン選択部１２３から出力された部品ピンデータを受け取る。受け取った部品ピンデータの中からランドタイプを抽出する。抽出したランドタイプを検索キーとして、検索キーを含むランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。読み出したランド位置・形状データを判定部１２７に出力する。
【００３３】
＜貫通穴選択部１２５＞
貫通穴選択部１２５は、貫通穴位置データテーブル１１４から貫通穴位置データを順番に読み出す。読み出した貫通穴位置データを貫通穴位置・形状特定部１２６に出力する。貫通穴位置データテーブル１１４から全ての貫通穴位置データを読み出すと、選択終了通知を判定部１２７に出す。
【００３４】
＜貫通穴位置・形状特定部１２６＞
貫通穴位置・形状特定部１２６は、貫通穴選択部１２５から出力された貫通穴位置データを受け取る。受け取った貫通穴位置データの中から穴タイプを抽出する。抽出した穴タイプを検索キーとして、検索キーを含む貫通穴形状データを貫通穴形状データテーブル１１５から読み出す。読み出した貫通穴形状データと受け取った貫通穴位置データとを組み合わせて判定部１２７に出力する。
【００３５】
＜判定部１２７＞
判定部１２７は、ランド位置・形状特定部１２４から出力されたランド位置・形状データを受け取る。貫通穴位置・形状特定部１２６から出力された貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとに基づいて、ランド内に貫通穴が存在するか否かを判定する。
【００３６】
判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定すると、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データとを検査タイプデータ生成部１２８に出力する。また、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを検査データ生成部１２９に出力する。
【００３７】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「長方形」である場合には、次の条件を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。貫通穴の中心座標Ｘがランドの中心座標Ｘ±長辺の長さ／２の範囲内であり、貫通穴の中心座標Ｙがランドの中心座標Ｙ±短辺の長さ／２の範囲内である。
【００３８】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「正方形」である場合には、次の条件を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。貫通穴の中心座標Ｘがランドの中心座標Ｘ±一辺の長さ／２の範囲内であり、貫通穴の中心座標Ｙがランドの中心座標Ｙ±一辺の長さ／２の範囲内である。
【００３９】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「円」である場合には、下記の条件式（１）を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。ここで、ｒは、ランドの半径である。座標（ｘ０，ｙ０）は、ランドの中心座標である。座標（ｘ，ｙ）は、貫通穴の中心座標である。
【００４０】
【数１】
なお、ランド位置・形状データのランド形状が「楕円」である場合には、下記の条件式（２）を満たせば、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定する。ここで、ａは、ランドの長軸の長さである。ｂは、ランドの短軸の長さである。座標（ｘ０，ｙ０）は、ランドの中心座標である。座標（ｘ，ｙ）は、貫通穴の中心座標である。
【００４１】
【数２】
なお、上記の条件式（２）は、下記の楕円の公式（３）と回転座標の公式（４）とから導出される。
【００４２】
【数３】
【００４３】
【数４】
なお、判定部１２７は、ランド内に貫通穴が存在すると判定した場合には、ピン選択部１２３に次のピンを選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。一方、ランド内に貫通穴が存在しないと判定した場合には、貫通穴選択部１２５に次の貫通穴を選択させる。
【００４４】
なお、判定部１２７は、貫通穴選択部１２５から選択終了通知を受けると、ピン選択部１２３に次のピンを選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。
なお、判定部１２７は、ピン選択部１２３から選択終了通知を受けると、検査データ生成部１２９に検査データ生成要求を出す。部品選択部１２１に次の部品を選択させて、貫通穴選択部１２５に最初から貫通穴を選択させる。
【００４５】
＜検査タイプデータ生成部１２８＞
検査タイプデータ生成部１２８は、判定部１２７から出力されたランド位置・形状データと貫通穴位置データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データとに基づいて、ランドと当該ランド内に存在する貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する。生成した検査タイプデータを検査データ生成部１２９に出力する。
【００４６】
＜検査データ生成部１２９＞
検査データ生成部１２９は、部品選択部１２１から出力された部品データを受け取る。受け取った部品データを一時記憶部１３０に記憶する。ピン特定部１２２から出力された部品ピンデータセットを受け取る。受け取った部品ピンデータセットを一時記憶部１３０に記憶する。
【００４７】
また、検査データ生成部１２９は、判定部１２７から出力されたランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る。受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを一時記憶部１３０に記憶する。ランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを受け取る度に、受け取ったランド位置・形状データと貫通穴位置データと貫通穴形状データとを一時記憶部１３０に追加記憶する。
【００４８】
また、検査データ生成部１２９は、検査タイプデータ生成部１２８から出力された検査タイプデータを受け取る。受け取った検査タイプデータを一時記憶部１３０に記憶する。検査タイプデータを受け取る度に、受け取った検査タイプデータを一時記憶部１３０に追加記憶する。
【００４９】
そして、検査データ生成部１２９は、判定部１２７から検査データ生成要求を受けると、一時記憶部１３０に記憶されている部品データ、部品ピンデータ、ランド位置・形状データ、貫通穴位置データ、貫通穴形状データ、検査タイプデータに基づいて、挿入実装部品の検査データを生成する。生成した検査データを検査データ記憶部１４０に記憶する。一時記憶部１３０に記憶されている各種データを消去する。
【００５０】
＜一時記憶部１３０＞
一時記憶部１３０は、検査データ生成処理部１２０で処理中に発生する各種データを一時的に記憶する記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＨＤＤなど。）である。
【００５１】
＜検査データ記憶部１４０＞
検査データ記憶部１４０は、検査データを記憶する記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＨＤＤなど。）である。検査データ記憶部１４０には、検査データとして、部品データリスト１４１、部品ピンデータリスト１４２、検査タイプデータリスト１４３、ランドタイプデータリスト１４４、貫通穴位置データリスト１４５、貫通穴タイプデータリスト１４６が記憶される。
【００５２】
部品データリスト１４１には、回路番号、部品名称、部品位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、部品サイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、高さ）などを含むデータが登録される。
【００５３】
部品ピンデータリスト１４２には、回路番号、ピン番号、ピン位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ピンサイズ（Ｘサイズ、Ｙサイズ、長さ）、検査タイプなどを含むデータが登録される。
【００５４】
検査タイプデータリスト１４３には、検査タイプ、ランドタイプ、穴番号などを含むデータが登録される。
ランドタイプデータリスト１４４には、ランドタイプ、ランド位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、ランド形状、備考などを含むデータが登録される。
【００５５】
貫通穴位置データリスト１４５には、穴番号、穴位置（中心座標Ｘ、中心座標Ｙ、角度θ）、穴タイプなどを含むデータが登録される。
貫通穴タイプデータリスト１４６には、穴タイプ、穴形状、備考などを含むデータが登録される。
【００５６】
なお、検査タイプは、検査タイプデータ生成部１２８で生成された検査タイプデータごとに割り当てられた識別情報である。
なお、部品データリスト１４１は、回路番号を介して、部品ピンデータリスト１４２とリンクされる。部品ピンデータリスト１４２は、検査タイプを介して、検査タイプデータリスト１４３とリンクされる。検査タイプデータリスト１４３は、ランドタイプを介して、ランドタイプデータリスト１４４とリンクされる。検査タイプデータリスト１４３は、穴番号を介して、貫通穴位置データリスト１４５とリンクされる。貫通穴位置データリスト１４５は、穴タイプを介して、貫通穴タイプデータリスト１４６とリンクされる。
【００５７】
なお、検査データは、記憶装置上にファイルとして記憶されるとしてもよい。
＜検査データ生成処理＞
次に、検査データ生成処理部１２０の動作について説明する。
【００５８】
まず、図７に示すように、検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に実装される全ての部品の中から、最初の部品を選択する（Ｓ１０１）。選択した部品に設けられている全てのピンを特定する（Ｓ１０２）。
【００５９】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定した全てのピンの中から、最初のピンを選択する（Ｓ１０３）。選択したピンが配置されるランドの位置・形状を特定する（Ｓ１０４）。
【００６０】
次に、検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、最初の貫通穴を選択する（Ｓ１０５）。選択した貫通穴の位置・形状を特定する（Ｓ１０６）。
【００６１】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定したランドの位置・形状と貫通穴の位置・形状とに基づいて、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。
【００６２】
判定した結果、検査データ生成処理部１２０は、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在する場合には（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、選択したピンが配置されるランドと、選択した貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。特定した全てのピンを選択するまで（Ｓ１１０：ＮＯ）、次のピンを選択し（Ｓ１０３）、上記の処理（Ｓ１０４）以降を繰り返し実行する。
【００６３】
一方、検査データ生成処理部１２０は、選択したピンが配置されるランド内に、選択した貫通穴が存在しない場合には（Ｓ１０７：ＮＯ）、全ての貫通穴を選択するまで（Ｓ１０９：ＮＯ）、次の貫通穴を選択し（Ｓ１０５）、処理（Ｓ１０６）以降を繰り返し実行する。全ての貫通穴を選択すると（Ｓ１０９：ＹＥＳ）、特定した全てのピンを選択するまで（Ｓ１１０：ＮＯ）、次のピンを選択し（Ｓ１０３）、上記の処理（Ｓ１０４）以降を繰り返し実行する。
【００６４】
次に、検査データ生成処理部１２０は、特定した全てのピンを選択すると（Ｓ１１０：ＹＥＳ）、検査データを生成する（Ｓ１１１）。全ての部品を選択するまで（Ｓ１１２：ＮＯ）、次の部品を選択し（Ｓ１０１）、上記の処理（Ｓ１０２）以降を繰り返し実行する。全ての部品を選択すると（Ｓ１１２：ＹＥＳ）、処理を終了する。
【００６５】
＜動作例＞
次に、検査データ生成処理部１２０の動作例について説明する。
ここでは、一例として、プリント基板データベース１１０に、図８（Ａ）、図８（Ｂ）に示すプリント基板１５０と部品１６０とに関するデータが登録されているとする。
【００６６】
なお、プリント基板１５０には、ランド１５１，１５２、貫通穴１５３，１５４，１５５，１５６が形成されている。部品１６０には、ピン１６１，１６２が設けられている。ランド１５１内に存在する貫通穴１５３にピン１６１が挿入される。ランド１５２内に存在する貫通穴１５４にピン１６２が挿入される。
【００６７】
また、部品１６０には、回路番号ＣＮ１００１が割り当てられている。ピン１６１には、ピン番号１が割り当てられている。ピン１６２には、ピン番号２が割り当てられている。貫通穴１５３には、穴番号１が割り当てられている。貫通穴１５４には、穴番号４が割り当てられている。
【００６８】
また、ランド１５１の形状が円である。ランド１５２の形状が楕円である。図２に示すように、ランド１５１については、ランドタイプが「Ｂ」であり、中心座標Ｘが「７５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、ランド形状が「ｒ３０」である。ランド１５２については、ランドタイプが「Ｃ」であり、中心座標Ｘが「１３５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、ランド形状が「ｏｖａｌ６０×３０」である。
【００６９】
また、貫通穴１５３の形状が円である。貫通穴１５４の形状が円である。図３に示すように、貫通穴１５３については、中心座標Ｘが「７５」であり、中心座標Ｙが「１００」であり、角度θが「０」であり、穴タイプが「ｄＡ」であり、穴形状が「ｒ１０」である。貫通穴１５４については、中心座標Ｘが「１２０」であり、中心座標Ｙが「１１５」であり、角度θが「０」であり、穴タイプが「ｄＡ」であり、穴形状が「ｒ１０」である。
【００７０】
＜例１＞
検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に実装される全ての部品の中から、最初の部品（回路番号ＣＮ１００１の部品）を選択する（Ｓ１０１）。最初の部品に設けられている全てのピン（ピン１６１，１６２）を特定する（Ｓ１０２）。
【００７１】
このとき、部品選択部１２１は、部品１６０の部品データを部品データテーブル１１１から読み出す。ピン特定部１２２は、部品１６０の部品データの回路番号（ＣＮ１００１）を検索キーとして、検索キーを含む全ての部品ピンデータ（部品１６０の部品ピンデータセット）を部品ピンデータテーブル１１２から読み出す。
【００７２】
＜例２＞
検査データ生成処理部１２０は、ピン１６１，１６２の中から、ピン１６１を選択する（Ｓ１０３）。ピン１６１が配置されるランド１５１の位置・形状を特定する（Ｓ１０４）。
【００７３】
このとき、ピン選択部１２３は、部品１６０の部品ピンデータセットの中から、ピン１６１の部品ピンデータを抽出する。ランド位置・形状特定部１２４は、ピン１６１の部品ピンデータのランドタイプ（Ｂ）を検索キーとして、検索キーを含むランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。
【００７４】
＜例３＞
検査データ生成処理部１２０は、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、１番目の貫通穴（穴番号１の貫通穴）を選択する（Ｓ１０５）。１番目の貫通穴の位置・形状を特定する（Ｓ１０６）。
【００７５】
このとき、貫通穴選択部１２５は、１番目の貫通穴の貫通穴位置データを貫通穴位置データテーブル１１４から読み出す。貫通穴位置・形状特定部１２６は、１番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴タイプ（ｄＡ）を検索キーとして、検索キーを含む貫通穴形状データを貫通穴形状データテーブル１１５から読み出す。
【００７６】
＜例４＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５１の位置・形状と１番目の貫通穴の位置・形状とに基づいて、ランド１５１内に、１番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在するので（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、ランド１５１と１番目の貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。次のピン（ピン１６２）を選択する（Ｓ１０３）。
【００７７】
このとき、判定部１２７は、１番目の貫通穴の中心座標（７５，１００）と、ランド１５１の中心座標（７５，１００）と、ランド１５１の半径（３０／２）とを上記の条件式（１）に代入する。代入した結果、上記の条件式（１）を満たすことから、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在すると判定する。ランド１５１のランド位置・形状データと１番目の貫通穴の貫通穴位置データとを検査タイプデータ生成部１２８に出力する。ピン選択部１２３に次のピンを選択させる。
【００７８】
これに伴い、検査タイプデータ生成部１２８は、ランド１５１のランド位置・形状データのランドタイプ（Ｂ）と１番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴番号（１）とを含む検査タイプデータを生成する。ピン選択部１２３は、部品１６０の部品ピンデータセットの中から、ピン１６２の部品ピンデータを抽出する。
【００７９】
＜例５＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５２の位置・形状と１番目の貫通穴の位置・形状とに基づいて、ランド１５２内に、１番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５２内に１番目の貫通穴が存在しないので（Ｓ１０７：ＮＯ）、次の貫通穴（２番目の貫通穴）を選択する（Ｓ１０５）。
【００８０】
このとき、判定部１２７は、１番目の貫通穴の中心座標（７５，１００）と、ランド１５２の中心座標（１３５，１００）と、ランド１５２の長軸サイズ（６０）・短軸サイズ（３０）とを上記の条件式（２）に代入する。代入した結果、上記の条件式（２）を満たさないことから、ランド１５１内に１番目の貫通穴が存在しないと判定する。貫通穴選択部１２５に次の貫通穴を選択させる。
【００８１】
これに伴い、貫通穴選択部１２５は、２番目の貫通穴の貫通穴位置データを貫通穴位置データテーブル１１４から読み出す。
＜例６＞
検査データ生成処理部１２０は、ランド１５２の位置・形状と４番目の貫通穴（穴番号４の貫通穴）の位置・形状とに基づいて、ランド１５２内に、４番目の貫通穴が存在するか否かを判定する（Ｓ１０７）。判定した結果、ランド１５２内に４番目の貫通穴が存在するので（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、ランド１５２と４番目の貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを生成する（Ｓ１０８）。
【００８２】
このとき、判定部１２７は、４番目の貫通穴の中心座標（１２０，１１５）と、ランド１５２の中心座標（１３５，１００）と、ランド１５２の長軸サイズ（６０）・短軸サイズ（３０）とを上記の条件式（２）に代入する。代入した結果、上記の条件式（２）を満たすことから、ランド１５２内に４番目の貫通穴が存在すると判定する。
【００８３】
これに伴い、検査タイプデータ生成部１２８は、ランド１５２のランド位置・形状データのランドタイプ（Ｃ）と４番目の貫通穴の貫通穴位置データの穴番号（４）とを含む検査タイプデータを生成する。
【００８４】
＜例７＞
検査データ生成処理部１２０は、ピン１６１，１６２を選択すると（Ｓ１１０：ＹＥＳ）、検査データを生成する（Ｓ１１１）。次の部品（回路番号ＣＮ１００２の部品）を選択する（Ｓ１０１）。
【００８５】
このとき、判定部１２７は、ピン選択部１２３から選択終了通知を受け、検査データ生成部１２９に検査データ生成要求を出す。検査データ生成部１２９は、判定部１２７から検査データ生成要求を受け、一時記憶部１３０に記憶されている部品データ、部品ピンデータ、貫通穴位置データ、貫通穴形状データ、検査タイプデータを使用して、検査データを生成する。部品選択部１２１に次の部品を選択させる。これに伴い、部品選択部１２７は、次の部品の部品データを部品データテーブル１１１から読み出す。
【００８６】
＜まとめ＞
以上、本実施の形態によれば、ランドの位置・形状に関するデータと貫通穴の位置・形状に関するデータとに基づいて、挿入実装部品のピンが配置されるランドと、当該ランド内に存在する貫通穴とが関連付けられる。これによって、挿入実装部品に対応した検査データを自動で生成することができる。これに伴い、作業効率の向上や作業に対するコスト低減を図ることができる。
【００８７】
＜その他＞
なお、ランドの形状が、例えば、円、楕円、正方形、長方形などのように、標準的な形状である場合には、ランドの外周を容易に特定することができる。しかしながら、ランドの形状が、例えば、図９に示すランド１７１のように、異形である場合には、ランドの外周を容易に特定することができない。これに対して、ランド１７２のように、標準的な形状（楕円）に近似的に置き換え、ランド１７１の位置・形状データとして、ランド１７２の位置・形状データを作成するとしてもよい。これによって、ランド内に貫通穴が存在するか否かを判定することが容易になり、ランドと貫通穴とを関連付けることができる。
【００８８】
＜補強用リードピン＞
なお、図１０（Ａ）、図１０（Ｂ）に示すように、補強用リードピン１８０で部品１６０が補強されるとする。この場合において、補強用リードピン１８０は、プリント基板１５０に形成されるランド１８１に挿入される。しかしながら、補強用リードピン１８０は、プリント基板１５０と電気的に通じていない。さらに、部品ピンデータテーブル１１２には、補強用リードピン１８０に関する部品ピンデータが登録されていない。このことから、部品ピンデータのランドタイプを使用して、ランド１８１のランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出すことができない。
【００８９】
そこで、部品１６０の部品データの部品位置と部品サイズとを使用して、部品１６０の周囲に存在するランド１８１のランド位置・形状データをランド位置・形状データテーブル１１３から読み出す。具体的には、補強用リードピン１８０については、以下の処理（Ｓ１）−（Ｓ８）を実行する。
【００９０】
（Ｓ１）まず、プリント基板に実装される全ての部品の中から最初の部品を選択する。
（Ｓ２）次に、プリント基板に形成される全てのランドの中から最初のランドを選択する。
【００９１】
（Ｓ３）次に、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在するか否かを判定する。
（Ｓ４）判定した結果、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在しない場合には、全ての部品の中から次の部品を選択する。上記の処理（Ｓ２）に戻る。
【００９２】
（Ｓ５）一方、選択した部品の周囲に、選択したランドが存在する場合には、プリント基板に形成される全ての貫通穴の中から、最初の貫通穴を選択する。
（Ｓ６）次に、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在するか否かを判定する。
【００９３】
（Ｓ７）判定した結果、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在しない場合には、全ての貫通穴の中から、次の貫通穴を選択する。上記の処理（Ｓ６）に戻る。
（Ｓ８）一方、選択したランド内に、選択した貫通穴が存在する場合には、選択したランドと、選択した貫通穴とを関連付ける。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明は、データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法などとして、利用することができる。
【符号の説明】
【００９５】
５０ プリント基板
５１，５２ ランド
５３，５４ ランド
５５，５６ 貫通穴
６０ 表面実装部品
６１，６２ ピン
７０ 挿入実装部品
７１，７２ ピン
８０ メタルマスク
８１，８２ マスク開口
１００ 検査データ生成装置
１１０ プリント基板データベース
１１１ 部品データテーブル
１１２ 部品ピンデータテーブル
１１３ ランド位置・形状データテーブル
１１４ 貫通穴位置データテーブル
１１５ 貫通穴形状データテーブル
１２０ 検査データ生成処理部
１２１ 部品選択部
１２２ ピン特定部
１２３ ピン選択部
１２４ ランド位置・形状特定部
１２５ 貫通穴選択部
１２６ 貫通穴位置形状特定部
１２７ 判定部
１２８ 検査タイプデータ生成部
１２９ 検査データ生成部
１３０ 一時記憶部
１４０ 検査データ記憶部
１４１ 部品データリスト
１４２ 部品ピンデータリスト
１４３ 検査タイプデータリスト
１４４ ランドタイプデータリスト
１４５ 貫通穴位置データリスト
１４６ 貫通穴タイプデータリスト
１５０ プリント基板
１５１，１５２ ランド
１５３，１５４ 貫通穴
１５５，１５６ 貫通穴
１６０ 部品
１６１，１６２ ピン
１７１，１７２ ランド
１８０ 補強用リードピン
１８１ ランド
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法であって、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定するランド位置・形状特定工程と、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状を特定する貫通穴位置・形状特定工程と、
当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定工程と、
当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する生成工程とを含む
ことを特徴とする検査データ生成方法。
【請求項２】
部品に設けられているピンに関するピンデータと、前記プリント基板に形成されるランドに関するランドデータとが、ランドごとに割り当てられた識別情報を介して関連付けられて、前記設計データに登録されており、
前記ランド位置・形状特定工程で、当該ピンのピンデータに基づいて、前記プリント基板に形成されるランドの中から、当該ピンが配置されるランドを特定する
ことを特徴とする請求項１に記載の検査データ生成方法。
【請求項３】
前記生成工程で、当該ランドに割り当てられた識別情報と当該貫通穴に割り当てられた識別情報とを対応付けたデータを前記検査タイプデータとして生成する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の検査データ生成方法。
【請求項４】
前記判定工程で、前記ランドの形状を、円、楕円、長方形、正方形のいずれか１つとして判定する
ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項５】
前記判定工程で、前記ランドの形状を、円、楕円、長方形、正方形のいずれか１つに近似する
ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項６】
前記ランド位置・形状特定工程で、当該部品のピンが配置されるランド以外に当該部品の周囲に存在するランドの位置・形状を特定する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項７】
データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成装置であって、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状のデータを特定して記憶装置に記憶するランド位置・形状特定部と、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状のデータを特定して前記記憶装置に記憶する貫通穴位置・形状特定部と、
前記記憶装置に記憶されている当該ランドの位置・形状のデータと当該貫通穴の位置・形状のデータとに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定部と、
当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成して前記記憶装置に記憶する生成部とを備える
ことを特徴とする検査データ生成装置。
【請求項１】
データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成方法であって、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状を特定するランド位置・形状特定工程と、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状を特定する貫通穴位置・形状特定工程と、
当該ランドの位置・形状と当該貫通穴の位置・形状とに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定工程と、
当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成する生成工程とを含む
ことを特徴とする検査データ生成方法。
【請求項２】
部品に設けられているピンに関するピンデータと、前記プリント基板に形成されるランドに関するランドデータとが、ランドごとに割り当てられた識別情報を介して関連付けられて、前記設計データに登録されており、
前記ランド位置・形状特定工程で、当該ピンのピンデータに基づいて、前記プリント基板に形成されるランドの中から、当該ピンが配置されるランドを特定する
ことを特徴とする請求項１に記載の検査データ生成方法。
【請求項３】
前記生成工程で、当該ランドに割り当てられた識別情報と当該貫通穴に割り当てられた識別情報とを対応付けたデータを前記検査タイプデータとして生成する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の検査データ生成方法。
【請求項４】
前記判定工程で、前記ランドの形状を、円、楕円、長方形、正方形のいずれか１つとして判定する
ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項５】
前記判定工程で、前記ランドの形状を、円、楕円、長方形、正方形のいずれか１つに近似する
ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項６】
前記ランド位置・形状特定工程で、当該部品のピンが配置されるランド以外に当該部品の周囲に存在するランドの位置・形状を特定する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の検査データ生成方法。
【請求項７】
データベースに登録されているプリント基板の設計データから、はんだの状態を検査する装置で検査対象となる部分に関する検査データを生成する検査データ生成装置であって、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に実装される部品を順番に選択し、当該部品に設けられているピンを順番に選択し、当該ピンが配置されるランドの位置・形状のデータを特定して記憶装置に記憶するランド位置・形状特定部と、
前記設計データに基づいて、前記プリント基板に形成される貫通穴を順番に選択し、当該貫通穴の位置・形状のデータを特定して前記記憶装置に記憶する貫通穴位置・形状特定部と、
前記記憶装置に記憶されている当該ランドの位置・形状のデータと当該貫通穴の位置・形状のデータとに基づいて、当該ランド内に当該貫通穴が存在するか否かを判定する判定部と、
当該ランド内に当該貫通穴が存在する場合には、当該ランドと当該貫通穴とを関連付ける検査タイプデータを有する検査データを生成して前記記憶装置に記憶する生成部とを備える
ことを特徴とする検査データ生成装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２０１２−７９６０（Ｐ２０１２−７９６０Ａ）
【公開日】平成２４年１月１２日（２０１２．１．１２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１４３２４６（Ｐ２０１０−１４３２４６）
【出願日】平成２２年６月２４日（２０１０．６．２４）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１月１２日（２０１２．１．１２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年６月２４日（２０１０．６．２４）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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