画像の評価方法および評価装置
【課題】白色インクによって形成された画像に、ひび割れが生じているかどうかを、簡便かつ正確に評価することのできる評価方法を提供する。
【解決手段】本発明にかかる評価方法は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、を有する。
【解決手段】本発明にかかる評価方法は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像の評価方法および評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、白色インクを用いて、白色以外の記録媒体（光透過性の記録媒体を含む）に画像を形成して白色の層を形成することが検討されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
ところで、ラベル印刷などと称され、各種の商品の容器や包装に対して印刷を施すことが盛んに行われている。ラベル印刷は、光透過性のフィルムに施されることも多く、このような場合には、印刷面にあらかじめ下地層などと称して白色のインクを塗装することが多い。下地層を形成することで、フィルムの裏側の遮蔽性が高まり、下地層の上に形成される画像の質を高めることができる。
【０００４】
このような印刷は、インクジェット法によって行うことができるようになってきた。インクジェット法は、従来の印刷方法に比較して小規模に装置を構成でき、また、版を作成する必要がないため、多種類で少量の印刷を行う場合に特に効率がよいため期待されている。
【０００５】
各種の商品の容器や包装に対して情報を記録する場合には、インクジェット法においても下地層を形成することが一般的であり、これを形成するために白色のインクが用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−０２０３６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光透過性の媒体に対して情報を記録する場合、白色インクを用いて形成される下地層には、少なくとも背景の遮蔽性や白色の良好さが求められる。また、白色インクを用いて下地層を形成する場合には、白色インクの成分や、媒体（フィルム等）の材質、および白色インクの乾燥条件などによって、ひび割れが生じる場合があった。このようなひび割れが生じると、例えば、背景の遮蔽性が損なわれる場合がある。したがって、下地層とした場合にひび割れを生じにくい白色インク、フィルムと白色インクの組み合わせ、および乾燥条件などの検討が必要となっている。
【０００８】
下地層は形成される際の、温度、湿度などの環境が変化したり、白色インクやフィルムの組成にばらつきが有る場合には、ひび割れを生じるおそれがあるため、オンタイムで品質の確認が行われることが望ましい。
【０００９】
しかしながら、下地層は白色であるので、品質の確認においては、例えば、輝度を評価する方法を適用した場合、輝度のみに基づいてひび割れを判定することは困難であった。
【００１０】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、その幾つかの態様にかかる目的の一つは、白色インクによって形成された画像に、ひび割れが生じているかどうかを、簡便かつ正確に評価することのできる評価方法、および評価装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することができる。
【００１２】
［適用例１］
本発明にかかる評価方法の一態様は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、を有する。
【００１３】
本適用例の評価方法によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本適用例の評価方法は、一般的な光透過率測定によって行うことができ、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【００１４】
［適用例２］
適用例１において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域において、前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００１５】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００１６】
［適用例３］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、複数の波長において前記第１透過率および前記第２透過率を測定し、前記判定工程では、前記複数の波長におけるそれぞれの前記透過率分率の少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。
【００１７】
［適用例４］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における強度の積分値によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００１８】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００１９】
［適用例５］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３８０ｎｍの波長における強度によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００２０】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００２１】
［適用例６］
適用例４または適用例５において、前記判定工程では、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。
【００２２】
［適用例７］
本発明に係る評価装置の一態様は、適用例１ないし適用例６のいずれか１例に記載の評価方法を利用して、ひび割れの有無を判定する。
【００２３】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。
【００２４】
［適用例８］
本発明にかかる評価装置の一態様は、光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物における当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、光源と、前記光源から出射された光を検出する検出手段と、前記光源から出射された光が前記記録物を透過するように前記光源と前記検出手段の間に前記記録物を保持する保持手段と、前記光が前記画像を透過しない第１配置と、前記光が前記画像を透過する第２配置とに、前記保持手段を移動させる移動手段と、前記第１配置および前記第２配置において、それぞれ前記検出手段からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定手段と、を備え、前記判定手段は、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、前記画像にひび割れが有ると判定する。
【００２５】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。
【００２６】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本適用例の評価方法は、一般的な光透過率測定によって行うことができ、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】実施形態に係る評価方法の一例を示すフローチャート。
【図２】実施形態に係る評価方法の判定工程の一例を示すフローチャート。
【図３】実施形態に係る評価装置の一例を模式的に示す図。
【図４】各実験例の第２透過率のスペクトル。
【図５】各実験例の透過率分率をプロットしたグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下に本発明のいくつかの実施形態について説明する。以下に説明する実施形態は、本発明の例を説明するものである。本発明は、以下の実施形態になんら限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲において実施される各種の変形例も含む。なお以下の実施形態で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００２９】
１．評価方法
本実施形態の評価方法は、画像を評価する方法であって、第１測定工程と、第２測定工程と、判定工程と、を有する。以下各工程の説明の前に、本実施形態の評価方法によって評価される対象について説明する。図１は、それぞれ本実施形態の評価方法の一例を示すフローチャートである。図２は、それぞれ本実施形態の評価方法の判定工程の一例を示すフローチャートである。
【００３０】
１．１．評価方法の適用対象
本実施形態の評価方法によって評価される対象は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像である。
【００３１】
１．１．１．記録媒体
評価の対象となる画像が形成された記録媒体は、光透過性を有する。光透過性とは、例えば、紫外線、可視光線等の電磁波を透過する性質をいう。したがって、光透過性の記録媒体としては、記録媒体がフィルム状やシート状である場合は、厚み方向に光を透過するものが挙げられる。また、記録媒体を透過する光は、散乱されない状態で透過しても散乱された状態で透過してもよい。
【００３２】
記録媒体としては、その表面にインク組成物を用いて画像を形成できる形状を有する。記録媒体の形状は、例えば、フィルム状、シート状であってもよい。記録媒体としては、例えば、紙、厚紙、プラスチックフィルム、布、プラスチックシート、ガラス板などが挙げられる。また、記録媒体は、グロス系、マット系、ダル系のいずれであってもよい。記録媒体の具体例としては、例えば、コート紙、アート紙、キャストコート紙等の表面加工紙、および、インク受容層などが形成された塩化ビニルシートやＰＥＴフィルム等のプラスチックフィルムなどを挙げることができる。
【００３３】
１．１．２．画像
本実施形態の評価方法で評価される画像は、上述の記録媒体の上に形成されている。記録媒体上に形成された画像は、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である。
【００３４】
ＣＩＥＬＡＢ色空間とは、国際照明委員会（Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌｅ ｄｅ ｌ’Ｅｃｌａｉｒａｇｅ：略称ＣＩＥ）が１９７６年に推奨した近似的な均等色空間のことであり、同委員会では、これをＣＩＥ１９７６（Ｌ＊ａ＊ｂ＊）と呼ぶものである。また、Ｌ＊とは、ＣＩＥＬＡＢ色空間における明度のことを指し、日本工業規格（ＪＩＳ）Ｚ８１０５：２０００の番号２０６４に定義されている。
【００３５】
記録媒体上に形成された画像のＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値は、例えば、日本工業規格（ＪＩＳ）Ｚ８７２２：２０００に記載された測色方法および計算式に基づいた市販の装置によって測定することができる。このような装置としては、Ｘ−ｒｉｔｅ製分光測光器：ｉ１Ｐｒｏ測定器や、ｉ１ｉＳｉｓ等を挙げることができる。
【００３６】
本実施形態の評価方法では、評価対象となる画像のＬ＊値は７０以上とする。評価対象となる画像のＬ＊値は７０未満であっても、本実施形態の評価方法で評価することは可能であるが、画像のひび割れに対する感度はＬ＊値が小さくなるにつれて徐々に低下する。
【００３７】
本実施形態では、評価対象は、白色インクで形成された下地層を想定しているが、これに限定されず、評価対象とするのは、単に白色の画像であってもよい。
【００３８】
評価対象の画像は、記録媒体上に形成されるが、その形成方法に関しては何ら限定されない。記録媒体上に画像を形成する方法としては、一般的な印刷法、塗布法、インクジェット法などによることができる。評価対象の画像が、記録媒体上にインクジェット法で形成される場合には、例えば、白色顔料とバインダーとして機能する樹脂等が配合された白色のインク組成物を記録媒体に付着させることによって形成される。この場合においては、画像のＬ＊値は、例えば、インク組成物の吐出量や、インク組成物における白色顔料の種類、含有量などにより調節することができる。
【００３９】
１．２．第１測定工程
本実施形態の評価方法は、第１測定工程Ｓ１を有する。第１測定工程Ｓ１は、記録媒体に光を透過させて第１透過率を測定する工程である。本工程で使用される光は、３５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の波長領域に強度を有する電磁波であれば、何ら限定されない。このような光としては、紫外線、可視光線などが挙げられ、白色光のような波長が連続している光線でも、レーザー光などの波長分布の狭い光線でもよく、さらに、偏光性や干渉性の有無も制限されない。
【００４０】
上述したように記録媒体は、光透過性を有するため、第１透過率は、例えば、光を発生する光源と、これを受ける検出器との間に、記録媒体を配置して測定されうる。第１透過率は、記録媒体に対する入射光Ｉ０の強度に対する、記録媒体を透過した透過光Ｉｔの強度の比（Ｉｔ／Ｉ０）である（図３参照）。また、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長の光に対する第１透過率を測定することができる。さらに、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長範囲の光の第１透過率を測定することができる。所定の波長範囲の光の第１透過率は、当該範囲における入射光の強度の積分値と、透過光の強度の積分値として表される。
【００４１】
さらに、第１測定工程Ｓ１では、光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における複数の波長において、それぞれ、該波長に対応する第１透過率を測定してもよい。
【００４２】
第１測定工程Ｓ１は、例えば、市販の分光装置や測色装置を用いて行うことができる。具体的な市販の装置としては、日本分光株式会社製、偏角測色計（Ｖ５５０ ＵＶ／ＶＩＳ Ｓｐｅｃｔｒｏｐｈｏｔｏｍｅｔｅｒ）、日本電色工業株式会社製、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ）などを挙げることができる。
【００４３】
第１測定工程Ｓ１では、記録媒体の光の透過率を測定するが、当該記録媒体は、評価対象である画像が形成される記録媒体である。しかし、第１測定工程Ｓ１で使用する試料としては、画像が記録された記録媒体と同質であれば、画像が記録されていない記録媒体であってもよい。また、第１測定工程Ｓ１で使用する試料としては、測定対象である画像が形成された記録媒体で、画像が形成されていない部分であってもよい。また、本工程で記録媒体に入射される入射光のスポットサイズは、第２測定工程Ｓ２で第２透過率を測定する際の入射光のスポットサイズと同じであることが好ましい。
【００４４】
図１のフローチャートでは、第１測定工程Ｓ１が第２測定工程Ｓ２に先んじて行われる例を示しているが、第１測定工程Ｓ１は、後述の判定工程Ｓ３よりも先に行われれば、第１測定工程Ｓ１と第２測定工程Ｓ２の順序はどちらが先でもよい。
【００４５】
１．３．第２測定工程
本実施形態の評価方法は、第２測定工程Ｓ２を有する。第２測定工程Ｓ２は、記録媒体上の画像が形成された領域の範囲内の領域で光を透過させて第２透過率を測定する工程である。
【００４６】
本工程で使用される光は、３５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の波長領域に強度を有する電磁波であれば、何ら限定されないが、上述の第１測定工程Ｓ１で用いられる光と同じであることが望ましい。
【００４７】
第２測定工程Ｓ２では、光は、記録媒体と、記録媒体上に形成された画像とを透過して第２透過率が測定される。光の透過される順序は、記録媒体、画像の順でも、画像、記録媒体の順でも支障がない。記録媒体は、光透過性を有するため、第２透過率は、例えば、光を発生する光源と、これを受ける検出器との間に、画像が形成された記録媒体を配置して測定されうる。第１透過率と同様に、第２透過率は、画像が形成された記録媒体に対する入射光Ｉ０の強度と、画像が形成された記録媒体を透過した透過光Ｉｔの強度の比（Ｉｔ／Ｉ０）である。また、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長の光に対する第２透過率を測定することができる。さらに、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長範囲の光の第２透過率を測定することができる。所定の波長範囲の光の第２透過率は、当該範囲における入射光の強度の積分値と、透過光の強度の積分値として表される。
【００４８】
さらに、第２測定工程Ｓ２では、光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における複数の波長において、それぞれ、該波長に対応する第２透過率を測定してもよい。
【００４９】
第２測定工程Ｓ２は、例えば、市販の分光装置や測色装置を用いて行うことができる。具体的な市販の装置としては、第１測定工程Ｓ１の項で述べたと同様である。第２測定工程Ｓ２で用いる装置は、第１測定工程Ｓ１で用いるものと同じであることが好ましい。
【００５０】
第２測定工程Ｓ２では、記録媒体上に形成された画像の領域の範囲内の領域に光を入射させて第２透過率を測定する。したがって、記録媒体上に形成された画像の領域において、画像の領域の面積よりも小さいスポットサイズの入射光の透過を測定する。したがって、第２測定工程Ｓ２で使用する試料としては、測定対象である画像が形成された記録媒体であって、測定装置のスポットサイズよりも大きい面積の画像が形成されたものを用いる。
【００５１】
１．４．測定波長
第１測定工程Ｓ１および第２測定工程Ｓ２で測定される第１透過率および第２透過率は、光の波長または波長範囲が同じであることが好ましい。また、第１透過率および第２透過率が、３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長で測定される場合には、評価対象である画像のひび割れの有無について、評価の感度を高めることができる。さらに、画像が酸化チタンを含む材質である場合には、第１透過率および第２透過率が、３８０ｎｍの波長、あるいは３８０ｎｍ近傍の波長で測定すると、ひび割れの有無についての評価の感度を高めることができるとともに、画像の厚み等の均一性も評価することができる。この場合の画像の厚み等の均一性の評価は、酸化チタンの紫外線の吸収能を利用して行われ、酸化チタンの平均粒子径が１μｍ以下である場合に特に正確な評価ができる。
【００５２】
１．５．判定工程
本実施形態の評価方法は、判定工程Ｓ３を有する。判定工程Ｓ３は、第１透過率に対する第２透過率の割合である透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定する工程である。
【００５３】
判定工程Ｓ３では、図２に示すように、第２測定工程Ｓ２で測定した第２透過率を、第１測定工程Ｓ１で測定した第１透過率で除した透過率分率を求める（ステップＳ３１）。透過率分率は、記録媒体上に形成された画像の透過率を抽出したものに相当し、透過率分率の値は、例えば、第２透過率の値に比較して、評価対象の画像のひび割れに対して、より敏感に変化する値である。透過率分率の導出に用いられる第１透過率および第２透過率は、これらを測定する際の波長や他の条件が同じであることが好ましい。なお、第１透過率および第２透過率は、いずれも百分率（％）の単位で表され、透過率分率は無次元数である。
【００５４】
発明者の検討によれば、透過率分率は、画像のひび割れによく対応する値であることがわかっている。そのため、透過率分率を用いれば、画像のひび割れの有無または多寡をきわめて簡便に知ることができる。
【００５５】
次に、判定工程Ｓ３では、図２に示すように、透過率分率の値によって、評価対象の画像にひび割れが有るかどうかを判定する（ステップＳ３２）。判定工程Ｓ３では、透過率分率を指標としているため、白色の画像であっても、ひび割れを判定することができる。
【００５６】
判定工程Ｓ３では、光の全波長における透過率に基づく透過率分率によって判定が行われてもよいし、所定の波長や所定の波長領域における透過率に基づく透過率分率によって判定が行われてもよい。
【００５７】
判定工程Ｓ３では、透過率分率の閾値を設定してもよい。例えば、判定工程３において、透過率分率が０．０１以上であれば、画像にひび割れが生じていると判定してもよい。ひび割れが有ると判定される透過率分率の値（閾値）は、画像の種類等によって適宜設計することができる。
【００５８】
また、判定工程Ｓ３では、複数の波長において、上記各測定工程で述べたように、それぞれ、透過率分率が求められた場合には、その少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。このようにすれば、ひび割れの有無の判定の精度をより高めることができる。
【００５９】
判定工程Ｓ３は、例えば、透過率を測定する装置に付属する制御機器等を用いて行うことができる。また、判定工程において判定された結果は、適宜、エラー信号などに基づいて、測定者などに発報させるなどして、画像の品質の管理のために利用することができる（図２のステップＳ３３を参照）。なお判定工程Ｓ３は、作業者が行ってもよい。
【００６０】
１．６．作用効果
本実施形態の評価方法によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本実施形態の評価方法は、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【００６１】
２．評価装置
以下に、上述の評価方法を実現するための評価装置の一態様について記述する。図３は、本実施形態の評価装置の一例を模式的に示す図である。
【００６２】
２．１．構成
本実施形態の評価装置１００は、光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物Ｐにおける当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、光源１０と、検出手段２０と、保持手段３０と、移動手段４０と、判定手段５０と、を備える。
【００６３】
２．１．１．光源
光源１０は、記録媒体または画像が形成された記録物Ｐに光を照射することができる。光源１０によって発生される光は、上記第１測定工程の項で述べたと同様である。光源１０の具体的な構成としては、例えばハロゲンランプ、キセノンランプ、発光ダイオード、ガスレーザー、半導体レーザーなどが挙げられる。光源１０から発生された光は、少なくとも記録媒体を透過することができる。光源１０は、光を収束または発散させるためのレンズやスリット等を有していてもよい。
【００６４】
２．１．２．検出手段
検出手段２０は、光源１０から出射された光を検出できる位置に配置される。検出手段２０は、光源１０から直接または測定対象を介して到達する光の強度を検出することができる。検出手段２０は、例えば、光を電気信号に変換する光電変換素子であってもよい。検出手段２０の具体例としては、フォトダイオード、フォトマルチプライヤーなどが挙げられる。また、検出手段２０は、分光機能を有するものであってもよい。検出手段２０が分光機能を有すれば、所定の波長における透過率や、所定の波長領域における強度の積分値に基づく透過率を測定することができる。検出手段２０は、光を集光または選別するためのレンズやスリット等を有していてもよい。
【００６５】
２．１．３．保持手段
保持手段３０は、記録物Ｐを保持することができる。保持手段３０は、記録物Ｐを着脱することができる。保持手段３０に保持された記録物Ｐは、保持手段３０によって、光源１０から出射された光が記録物Ｐを透過する位置に配置されることができる。具体的には、図３に示すように、保持手段３０は、光源１０から検出器２０までの光路に記録物Ｐを配置することができる。
【００６６】
２．１．４．移動手段
移動手段４０は、保持手段３０を、光が記録物Ｐに形成された画像を透過しない第１配置と、光が記録物Ｐに形成された画像を透過する第２配置とに、保持手段３０を移動させることができる。移動手段４０は、例えば、一般的なＸＹステージを用いて構成することができ、モーター等によって駆動させてもよい。
【００６７】
移動手段４０によって記録物Ｐが第１配置に移動された場合には、上述の第１測定工程を行うことができる。また、移動手段４０によって記録物Ｐが第２配置に移動された場合には、上述の第２測定工程を行うことができる。
【００６８】
なお、評価装置１００は、移動手段４０を有する例であるが、記録媒体や記録物Ｐを例えば測定者が変更すれば、第１測定工程および第２測定工程を行うことができるため、移動手段４０は、必須の構成ではない。評価装置１００は、移動手段４０を有するため、例えば、記録媒体や記録物Ｐを保持手段３０に装着したままで、第１測定工程および第２測定工程を行うことが容易である。
【００６９】
２．１．５．判定手段
判定手段５０は、第１配置および第２配置において、それぞれ検出手段４０からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、第１透過率に対する第２透過率の割合である透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定する。
【００７０】
判定手段５０は、例えば、電子計算機等によって構成される。判定手段５０は、透過率分率が０．０１を超えた場合に、画像にひび割れが有ると判定することができる。また、判定手段５０は、画像にひび割れが有ると判定した場合に、外部に信号を送出するように構成されてもよい。なお、判定手段５０は、光源１０、検出器３０、および、移動手段４０を制御する機能を有してもよい。
【００７１】
２．２．作用効果
本実施形態の評価装置１００によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。また、評価装置１００によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、透過率分率に基づいて簡便かつ正確に評価することができる。そして、判定手段は、透過率分率が０．０１を超えた場合に、画像にひび割れが有ると判定することができる。
【００７２】
３．実験例
以下、実験例によって本発明をより具体的に説明するが、これらは本発明の範囲を限定するものではない。
【００７３】
３．１．評価試料
各実験例の評価試料は、光透過性を有する記録媒体上に、白色インクをインクジェット記録装置を用いて、記録媒体の一部にベタ画像を形成したものとした。
【００７４】
各実験例に用いた記録媒体としては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）フィルム（東レ株式会社製、ルミラーＳ１０ １００μｍ）、およびＣＰＦ（セイコーエプソン株式会社製、クリアプルーフフィルムＷＸＣＰＦＴ２７Ｒ）を準備し、表１に記載した。
【００７５】
実験例で用いた白色インクは、二酸化チタン粒子、樹脂、有機溶媒、糖、界面活性剤およびイオン交換水を混合撹拌し、孔径５μｍの金属フィルターにてろ過、真空ポンプを用いて脱気処理をしたものを用いた。各実験例のインク組成物において使用した樹脂は、Ｄ１０６０（大日精化工業株式会社製）、ＪＯＮＣＲＹＬ６１Ｊ（ＢＡＳＦ製）、ノプコート ＰＥＭ−１７（サンノプコ株式会社製）およびモビニール７４２Ａ（日本合成化学株式会社製）であり、配合量（質量％）、およびその種類をそれぞれ表１に記載した。
【００７６】
各実験例で用いた二酸化チタン粒子は、市販品「ＮａｎｏＴｅｋ（Ｒ） Ｓｌｕｒｒｙ」（シーアイ化成株式会社製）である。ＮａｎｏＴｅｋ（Ｒ） Ｓｌｕｒｒｙは、体積基準の平均粒子径３００ｎｍの二酸化チタン粒子を固形分濃度１５％の割合で含むスラリーである。各実験例における二酸化チタン粒子の配合量は、白色インク組成物全量に対して８質量％となるように調製した。
【００７７】
有機溶媒としては、１，２−ヘキサンジオールを５質量％、プロピレングリコールを４質量％、糖としてはＨＳ５００を７質量％（林原株式会社製）、界面活性剤としては、ポリシロキサン系界面活性剤である「ＢＹＫ−３４８」（ビックケミー・ジャパン株式会社製）を５質量％で各実験例のインク組成物ともに配合した。
【００７８】
各実験例の記録物を作成するために用いたインクジェット記録装置は、インクジェットプリンター（セイコーエプソン株式会社製、商品名「ＰＸ−Ｇ９３０」）を用い、その専用カートリッジのインク室に、インク組成物を充填し、これを記録媒体に対して吐出して、解像度１４４０×１４４０ｄｐｉで、ベタパターン画像をｄｕｔｙ１００％で付着させた。各実験例において、このようにして得られた記録物を６０℃、湿度２０％ＲＨの状態で２時間乾燥させて試料を作成した。
【００７９】
【表１】
【００８０】
ひび割れの有無については、各実験例の試料に形成された画像について、目視によってひび割れの有無を確認した。そして、ひび割れが認められなかったものを○とし、ひび割れが認められたものを×として表１に記載した。
【００８１】
３．２．測定
各実験例の試料のＬ＊値および第１透過率および第２透過率は、日本分光株式会社製、偏角測色計（Ｖ５５０ ＵＶ／ＶＩＳ）を用いて測定した。各試料のＬ＊値、第１透過率および第２透過率は、表１に併記した。なお、第１透過率は、各試料のベタ画像の形成されていない部分で測定し、第２透過率は、各試料の白色の画像が形成された部分で測定した。
【００８２】
第１透過率および第２透過率の測定条件は、測定プログラムとして、日本分光株式会社製、Ｓｐｅｃｔｒａ Ｍａｎａｇｅｒ ｆｏｒ ｗｉｎｄｏｗｓ９５／ＮＴ（ｖｅｒ．１．５３．０１）を用い、測定モード：透過モード（％Ｔ）、偏光データ：Ｎ偏光、繰り返し回数：１、レスポンス：Ｆａｓｔ、バンド幅：１０．０ｎｍ、走査速度：２０００ｎｍ／ｍｉｎ、データ取り込み間隔：１．０ｎｍとした。
【００８３】
各試料につき、３５０ｎｍ、４００ｎｍ、４５０ｎｍ、および５００ｎｍの波長における透過率分率を、装置に付属する電子計算機を用いて計算した結果を表１に記載した。この値につき、閾値を０．０１として、ひび割れの有無を判定し、４５０ｎｍおよび５００ｎｍにおける判定結果をそれぞれ表１に記載した。
【００８４】
なお、実験例１ないし実験例８において測定された第２透過率のスペクトルを図４に示し、各実験例の試料の透過率分率をプロットしたグラフを図５に示す。
【００８５】
３．３．評価結果
表１をみると、透過率分率の閾値を０．０１に設定した場合の判定結果は、ひび割れの有無と極めてよく一致することが判明した。すなわち、目視によってひび割れが認められた実験例２、３、４の記録物につき、透過率分率の３５０ｎｍ、４００ｎｍおよび４５０ｎｍにおける値は、０．０１を有意に超えており、各実験例の画像のひび割れの評価に、透過率分率の値を指標とすることが極めて有効であることが判明した。各実験例の試料の透過率分率をプロットしたグラフをみると、特に光の波長領域の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の領域において、画像のひび割れの有無に対する透過率分率の値の変化が顕著であることが判明した。
【００８６】
本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【符号の説明】
【００８７】
１０…光源、２０…検出手段、３０…保持手段、４０…移動手段、５０…判定手段、１００…評価装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像の評価方法および評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、白色インクを用いて、白色以外の記録媒体（光透過性の記録媒体を含む）に画像を形成して白色の層を形成することが検討されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
ところで、ラベル印刷などと称され、各種の商品の容器や包装に対して印刷を施すことが盛んに行われている。ラベル印刷は、光透過性のフィルムに施されることも多く、このような場合には、印刷面にあらかじめ下地層などと称して白色のインクを塗装することが多い。下地層を形成することで、フィルムの裏側の遮蔽性が高まり、下地層の上に形成される画像の質を高めることができる。
【０００４】
このような印刷は、インクジェット法によって行うことができるようになってきた。インクジェット法は、従来の印刷方法に比較して小規模に装置を構成でき、また、版を作成する必要がないため、多種類で少量の印刷を行う場合に特に効率がよいため期待されている。
【０００５】
各種の商品の容器や包装に対して情報を記録する場合には、インクジェット法においても下地層を形成することが一般的であり、これを形成するために白色のインクが用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−０２０３６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光透過性の媒体に対して情報を記録する場合、白色インクを用いて形成される下地層には、少なくとも背景の遮蔽性や白色の良好さが求められる。また、白色インクを用いて下地層を形成する場合には、白色インクの成分や、媒体（フィルム等）の材質、および白色インクの乾燥条件などによって、ひび割れが生じる場合があった。このようなひび割れが生じると、例えば、背景の遮蔽性が損なわれる場合がある。したがって、下地層とした場合にひび割れを生じにくい白色インク、フィルムと白色インクの組み合わせ、および乾燥条件などの検討が必要となっている。
【０００８】
下地層は形成される際の、温度、湿度などの環境が変化したり、白色インクやフィルムの組成にばらつきが有る場合には、ひび割れを生じるおそれがあるため、オンタイムで品質の確認が行われることが望ましい。
【０００９】
しかしながら、下地層は白色であるので、品質の確認においては、例えば、輝度を評価する方法を適用した場合、輝度のみに基づいてひび割れを判定することは困難であった。
【００１０】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、その幾つかの態様にかかる目的の一つは、白色インクによって形成された画像に、ひび割れが生じているかどうかを、簡便かつ正確に評価することのできる評価方法、および評価装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することができる。
【００１２】
［適用例１］
本発明にかかる評価方法の一態様は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、を有する。
【００１３】
本適用例の評価方法によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本適用例の評価方法は、一般的な光透過率測定によって行うことができ、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【００１４】
［適用例２］
適用例１において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域において、前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００１５】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００１６】
［適用例３］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、複数の波長において前記第１透過率および前記第２透過率を測定し、前記判定工程では、前記複数の波長におけるそれぞれの前記透過率分率の少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。
【００１７】
［適用例４］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における強度の積分値によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００１８】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００１９】
［適用例５］
適用例１または適用例２において、前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３８０ｎｍの波長における強度によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定してもよい。
【００２０】
本適用例の評価方法によれば、さらに画像のひび割れに対して感度の高い評価を行うことができる。
【００２１】
［適用例６］
適用例４または適用例５において、前記判定工程では、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。
【００２２】
［適用例７］
本発明に係る評価装置の一態様は、適用例１ないし適用例６のいずれか１例に記載の評価方法を利用して、ひび割れの有無を判定する。
【００２３】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。
【００２４】
［適用例８］
本発明にかかる評価装置の一態様は、光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物における当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、光源と、前記光源から出射された光を検出する検出手段と、前記光源から出射された光が前記記録物を透過するように前記光源と前記検出手段の間に前記記録物を保持する保持手段と、前記光が前記画像を透過しない第１配置と、前記光が前記画像を透過する第２配置とに、前記保持手段を移動させる移動手段と、前記第１配置および前記第２配置において、それぞれ前記検出手段からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定手段と、を備え、前記判定手段は、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、前記画像にひび割れが有ると判定する。
【００２５】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。
【００２６】
本適用例の評価装置によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本適用例の評価方法は、一般的な光透過率測定によって行うことができ、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】実施形態に係る評価方法の一例を示すフローチャート。
【図２】実施形態に係る評価方法の判定工程の一例を示すフローチャート。
【図３】実施形態に係る評価装置の一例を模式的に示す図。
【図４】各実験例の第２透過率のスペクトル。
【図５】各実験例の透過率分率をプロットしたグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下に本発明のいくつかの実施形態について説明する。以下に説明する実施形態は、本発明の例を説明するものである。本発明は、以下の実施形態になんら限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲において実施される各種の変形例も含む。なお以下の実施形態で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００２９】
１．評価方法
本実施形態の評価方法は、画像を評価する方法であって、第１測定工程と、第２測定工程と、判定工程と、を有する。以下各工程の説明の前に、本実施形態の評価方法によって評価される対象について説明する。図１は、それぞれ本実施形態の評価方法の一例を示すフローチャートである。図２は、それぞれ本実施形態の評価方法の判定工程の一例を示すフローチャートである。
【００３０】
１．１．評価方法の適用対象
本実施形態の評価方法によって評価される対象は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像である。
【００３１】
１．１．１．記録媒体
評価の対象となる画像が形成された記録媒体は、光透過性を有する。光透過性とは、例えば、紫外線、可視光線等の電磁波を透過する性質をいう。したがって、光透過性の記録媒体としては、記録媒体がフィルム状やシート状である場合は、厚み方向に光を透過するものが挙げられる。また、記録媒体を透過する光は、散乱されない状態で透過しても散乱された状態で透過してもよい。
【００３２】
記録媒体としては、その表面にインク組成物を用いて画像を形成できる形状を有する。記録媒体の形状は、例えば、フィルム状、シート状であってもよい。記録媒体としては、例えば、紙、厚紙、プラスチックフィルム、布、プラスチックシート、ガラス板などが挙げられる。また、記録媒体は、グロス系、マット系、ダル系のいずれであってもよい。記録媒体の具体例としては、例えば、コート紙、アート紙、キャストコート紙等の表面加工紙、および、インク受容層などが形成された塩化ビニルシートやＰＥＴフィルム等のプラスチックフィルムなどを挙げることができる。
【００３３】
１．１．２．画像
本実施形態の評価方法で評価される画像は、上述の記録媒体の上に形成されている。記録媒体上に形成された画像は、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である。
【００３４】
ＣＩＥＬＡＢ色空間とは、国際照明委員会（Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌｅ ｄｅ ｌ’Ｅｃｌａｉｒａｇｅ：略称ＣＩＥ）が１９７６年に推奨した近似的な均等色空間のことであり、同委員会では、これをＣＩＥ１９７６（Ｌ＊ａ＊ｂ＊）と呼ぶものである。また、Ｌ＊とは、ＣＩＥＬＡＢ色空間における明度のことを指し、日本工業規格（ＪＩＳ）Ｚ８１０５：２０００の番号２０６４に定義されている。
【００３５】
記録媒体上に形成された画像のＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値は、例えば、日本工業規格（ＪＩＳ）Ｚ８７２２：２０００に記載された測色方法および計算式に基づいた市販の装置によって測定することができる。このような装置としては、Ｘ−ｒｉｔｅ製分光測光器：ｉ１Ｐｒｏ測定器や、ｉ１ｉＳｉｓ等を挙げることができる。
【００３６】
本実施形態の評価方法では、評価対象となる画像のＬ＊値は７０以上とする。評価対象となる画像のＬ＊値は７０未満であっても、本実施形態の評価方法で評価することは可能であるが、画像のひび割れに対する感度はＬ＊値が小さくなるにつれて徐々に低下する。
【００３７】
本実施形態では、評価対象は、白色インクで形成された下地層を想定しているが、これに限定されず、評価対象とするのは、単に白色の画像であってもよい。
【００３８】
評価対象の画像は、記録媒体上に形成されるが、その形成方法に関しては何ら限定されない。記録媒体上に画像を形成する方法としては、一般的な印刷法、塗布法、インクジェット法などによることができる。評価対象の画像が、記録媒体上にインクジェット法で形成される場合には、例えば、白色顔料とバインダーとして機能する樹脂等が配合された白色のインク組成物を記録媒体に付着させることによって形成される。この場合においては、画像のＬ＊値は、例えば、インク組成物の吐出量や、インク組成物における白色顔料の種類、含有量などにより調節することができる。
【００３９】
１．２．第１測定工程
本実施形態の評価方法は、第１測定工程Ｓ１を有する。第１測定工程Ｓ１は、記録媒体に光を透過させて第１透過率を測定する工程である。本工程で使用される光は、３５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の波長領域に強度を有する電磁波であれば、何ら限定されない。このような光としては、紫外線、可視光線などが挙げられ、白色光のような波長が連続している光線でも、レーザー光などの波長分布の狭い光線でもよく、さらに、偏光性や干渉性の有無も制限されない。
【００４０】
上述したように記録媒体は、光透過性を有するため、第１透過率は、例えば、光を発生する光源と、これを受ける検出器との間に、記録媒体を配置して測定されうる。第１透過率は、記録媒体に対する入射光Ｉ０の強度に対する、記録媒体を透過した透過光Ｉｔの強度の比（Ｉｔ／Ｉ０）である（図３参照）。また、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長の光に対する第１透過率を測定することができる。さらに、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長範囲の光の第１透過率を測定することができる。所定の波長範囲の光の第１透過率は、当該範囲における入射光の強度の積分値と、透過光の強度の積分値として表される。
【００４１】
さらに、第１測定工程Ｓ１では、光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における複数の波長において、それぞれ、該波長に対応する第１透過率を測定してもよい。
【００４２】
第１測定工程Ｓ１は、例えば、市販の分光装置や測色装置を用いて行うことができる。具体的な市販の装置としては、日本分光株式会社製、偏角測色計（Ｖ５５０ ＵＶ／ＶＩＳ Ｓｐｅｃｔｒｏｐｈｏｔｏｍｅｔｅｒ）、日本電色工業株式会社製、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ）などを挙げることができる。
【００４３】
第１測定工程Ｓ１では、記録媒体の光の透過率を測定するが、当該記録媒体は、評価対象である画像が形成される記録媒体である。しかし、第１測定工程Ｓ１で使用する試料としては、画像が記録された記録媒体と同質であれば、画像が記録されていない記録媒体であってもよい。また、第１測定工程Ｓ１で使用する試料としては、測定対象である画像が形成された記録媒体で、画像が形成されていない部分であってもよい。また、本工程で記録媒体に入射される入射光のスポットサイズは、第２測定工程Ｓ２で第２透過率を測定する際の入射光のスポットサイズと同じであることが好ましい。
【００４４】
図１のフローチャートでは、第１測定工程Ｓ１が第２測定工程Ｓ２に先んじて行われる例を示しているが、第１測定工程Ｓ１は、後述の判定工程Ｓ３よりも先に行われれば、第１測定工程Ｓ１と第２測定工程Ｓ２の順序はどちらが先でもよい。
【００４５】
１．３．第２測定工程
本実施形態の評価方法は、第２測定工程Ｓ２を有する。第２測定工程Ｓ２は、記録媒体上の画像が形成された領域の範囲内の領域で光を透過させて第２透過率を測定する工程である。
【００４６】
本工程で使用される光は、３５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の波長領域に強度を有する電磁波であれば、何ら限定されないが、上述の第１測定工程Ｓ１で用いられる光と同じであることが望ましい。
【００４７】
第２測定工程Ｓ２では、光は、記録媒体と、記録媒体上に形成された画像とを透過して第２透過率が測定される。光の透過される順序は、記録媒体、画像の順でも、画像、記録媒体の順でも支障がない。記録媒体は、光透過性を有するため、第２透過率は、例えば、光を発生する光源と、これを受ける検出器との間に、画像が形成された記録媒体を配置して測定されうる。第１透過率と同様に、第２透過率は、画像が形成された記録媒体に対する入射光Ｉ０の強度と、画像が形成された記録媒体を透過した透過光Ｉｔの強度の比（Ｉｔ／Ｉ０）である。また、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長の光に対する第２透過率を測定することができる。さらに、検出器または光源が分光機能を有している場合には、所定の波長範囲の光の第２透過率を測定することができる。所定の波長範囲の光の第２透過率は、当該範囲における入射光の強度の積分値と、透過光の強度の積分値として表される。
【００４８】
さらに、第２測定工程Ｓ２では、光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における複数の波長において、それぞれ、該波長に対応する第２透過率を測定してもよい。
【００４９】
第２測定工程Ｓ２は、例えば、市販の分光装置や測色装置を用いて行うことができる。具体的な市販の装置としては、第１測定工程Ｓ１の項で述べたと同様である。第２測定工程Ｓ２で用いる装置は、第１測定工程Ｓ１で用いるものと同じであることが好ましい。
【００５０】
第２測定工程Ｓ２では、記録媒体上に形成された画像の領域の範囲内の領域に光を入射させて第２透過率を測定する。したがって、記録媒体上に形成された画像の領域において、画像の領域の面積よりも小さいスポットサイズの入射光の透過を測定する。したがって、第２測定工程Ｓ２で使用する試料としては、測定対象である画像が形成された記録媒体であって、測定装置のスポットサイズよりも大きい面積の画像が形成されたものを用いる。
【００５１】
１．４．測定波長
第１測定工程Ｓ１および第２測定工程Ｓ２で測定される第１透過率および第２透過率は、光の波長または波長範囲が同じであることが好ましい。また、第１透過率および第２透過率が、３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長で測定される場合には、評価対象である画像のひび割れの有無について、評価の感度を高めることができる。さらに、画像が酸化チタンを含む材質である場合には、第１透過率および第２透過率が、３８０ｎｍの波長、あるいは３８０ｎｍ近傍の波長で測定すると、ひび割れの有無についての評価の感度を高めることができるとともに、画像の厚み等の均一性も評価することができる。この場合の画像の厚み等の均一性の評価は、酸化チタンの紫外線の吸収能を利用して行われ、酸化チタンの平均粒子径が１μｍ以下である場合に特に正確な評価ができる。
【００５２】
１．５．判定工程
本実施形態の評価方法は、判定工程Ｓ３を有する。判定工程Ｓ３は、第１透過率に対する第２透過率の割合である透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定する工程である。
【００５３】
判定工程Ｓ３では、図２に示すように、第２測定工程Ｓ２で測定した第２透過率を、第１測定工程Ｓ１で測定した第１透過率で除した透過率分率を求める（ステップＳ３１）。透過率分率は、記録媒体上に形成された画像の透過率を抽出したものに相当し、透過率分率の値は、例えば、第２透過率の値に比較して、評価対象の画像のひび割れに対して、より敏感に変化する値である。透過率分率の導出に用いられる第１透過率および第２透過率は、これらを測定する際の波長や他の条件が同じであることが好ましい。なお、第１透過率および第２透過率は、いずれも百分率（％）の単位で表され、透過率分率は無次元数である。
【００５４】
発明者の検討によれば、透過率分率は、画像のひび割れによく対応する値であることがわかっている。そのため、透過率分率を用いれば、画像のひび割れの有無または多寡をきわめて簡便に知ることができる。
【００５５】
次に、判定工程Ｓ３では、図２に示すように、透過率分率の値によって、評価対象の画像にひび割れが有るかどうかを判定する（ステップＳ３２）。判定工程Ｓ３では、透過率分率を指標としているため、白色の画像であっても、ひび割れを判定することができる。
【００５６】
判定工程Ｓ３では、光の全波長における透過率に基づく透過率分率によって判定が行われてもよいし、所定の波長や所定の波長領域における透過率に基づく透過率分率によって判定が行われてもよい。
【００５７】
判定工程Ｓ３では、透過率分率の閾値を設定してもよい。例えば、判定工程３において、透過率分率が０．０１以上であれば、画像にひび割れが生じていると判定してもよい。ひび割れが有ると判定される透過率分率の値（閾値）は、画像の種類等によって適宜設計することができる。
【００５８】
また、判定工程Ｓ３では、複数の波長において、上記各測定工程で述べたように、それぞれ、透過率分率が求められた場合には、その少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定してもよい。このようにすれば、ひび割れの有無の判定の精度をより高めることができる。
【００５９】
判定工程Ｓ３は、例えば、透過率を測定する装置に付属する制御機器等を用いて行うことができる。また、判定工程において判定された結果は、適宜、エラー信号などに基づいて、測定者などに発報させるなどして、画像の品質の管理のために利用することができる（図２のステップＳ３３を参照）。なお判定工程Ｓ３は、作業者が行ってもよい。
【００６０】
１．６．作用効果
本実施形態の評価方法によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。すなわち、本実施形態の評価方法は、透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定するので、画像に対する測定の感度が向上し、正確にひび割れの有無を評価することができる。
【００６１】
２．評価装置
以下に、上述の評価方法を実現するための評価装置の一態様について記述する。図３は、本実施形態の評価装置の一例を模式的に示す図である。
【００６２】
２．１．構成
本実施形態の評価装置１００は、光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物Ｐにおける当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、光源１０と、検出手段２０と、保持手段３０と、移動手段４０と、判定手段５０と、を備える。
【００６３】
２．１．１．光源
光源１０は、記録媒体または画像が形成された記録物Ｐに光を照射することができる。光源１０によって発生される光は、上記第１測定工程の項で述べたと同様である。光源１０の具体的な構成としては、例えばハロゲンランプ、キセノンランプ、発光ダイオード、ガスレーザー、半導体レーザーなどが挙げられる。光源１０から発生された光は、少なくとも記録媒体を透過することができる。光源１０は、光を収束または発散させるためのレンズやスリット等を有していてもよい。
【００６４】
２．１．２．検出手段
検出手段２０は、光源１０から出射された光を検出できる位置に配置される。検出手段２０は、光源１０から直接または測定対象を介して到達する光の強度を検出することができる。検出手段２０は、例えば、光を電気信号に変換する光電変換素子であってもよい。検出手段２０の具体例としては、フォトダイオード、フォトマルチプライヤーなどが挙げられる。また、検出手段２０は、分光機能を有するものであってもよい。検出手段２０が分光機能を有すれば、所定の波長における透過率や、所定の波長領域における強度の積分値に基づく透過率を測定することができる。検出手段２０は、光を集光または選別するためのレンズやスリット等を有していてもよい。
【００６５】
２．１．３．保持手段
保持手段３０は、記録物Ｐを保持することができる。保持手段３０は、記録物Ｐを着脱することができる。保持手段３０に保持された記録物Ｐは、保持手段３０によって、光源１０から出射された光が記録物Ｐを透過する位置に配置されることができる。具体的には、図３に示すように、保持手段３０は、光源１０から検出器２０までの光路に記録物Ｐを配置することができる。
【００６６】
２．１．４．移動手段
移動手段４０は、保持手段３０を、光が記録物Ｐに形成された画像を透過しない第１配置と、光が記録物Ｐに形成された画像を透過する第２配置とに、保持手段３０を移動させることができる。移動手段４０は、例えば、一般的なＸＹステージを用いて構成することができ、モーター等によって駆動させてもよい。
【００６７】
移動手段４０によって記録物Ｐが第１配置に移動された場合には、上述の第１測定工程を行うことができる。また、移動手段４０によって記録物Ｐが第２配置に移動された場合には、上述の第２測定工程を行うことができる。
【００６８】
なお、評価装置１００は、移動手段４０を有する例であるが、記録媒体や記録物Ｐを例えば測定者が変更すれば、第１測定工程および第２測定工程を行うことができるため、移動手段４０は、必須の構成ではない。評価装置１００は、移動手段４０を有するため、例えば、記録媒体や記録物Ｐを保持手段３０に装着したままで、第１測定工程および第２測定工程を行うことが容易である。
【００６９】
２．１．５．判定手段
判定手段５０は、第１配置および第２配置において、それぞれ検出手段４０からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、第１透過率に対する第２透過率の割合である透過率分率に基づいて画像のひび割れの有無を判定する。
【００７０】
判定手段５０は、例えば、電子計算機等によって構成される。判定手段５０は、透過率分率が０．０１を超えた場合に、画像にひび割れが有ると判定することができる。また、判定手段５０は、画像にひび割れが有ると判定した場合に、外部に信号を送出するように構成されてもよい。なお、判定手段５０は、光源１０、検出器３０、および、移動手段４０を制御する機能を有してもよい。
【００７１】
２．２．作用効果
本実施形態の評価装置１００によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、簡便かつ正確に評価することができる。また、評価装置１００によれば、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像のひび割れを、透過率分率に基づいて簡便かつ正確に評価することができる。そして、判定手段は、透過率分率が０．０１を超えた場合に、画像にひび割れが有ると判定することができる。
【００７２】
３．実験例
以下、実験例によって本発明をより具体的に説明するが、これらは本発明の範囲を限定するものではない。
【００７３】
３．１．評価試料
各実験例の評価試料は、光透過性を有する記録媒体上に、白色インクをインクジェット記録装置を用いて、記録媒体の一部にベタ画像を形成したものとした。
【００７４】
各実験例に用いた記録媒体としては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）フィルム（東レ株式会社製、ルミラーＳ１０ １００μｍ）、およびＣＰＦ（セイコーエプソン株式会社製、クリアプルーフフィルムＷＸＣＰＦＴ２７Ｒ）を準備し、表１に記載した。
【００７５】
実験例で用いた白色インクは、二酸化チタン粒子、樹脂、有機溶媒、糖、界面活性剤およびイオン交換水を混合撹拌し、孔径５μｍの金属フィルターにてろ過、真空ポンプを用いて脱気処理をしたものを用いた。各実験例のインク組成物において使用した樹脂は、Ｄ１０６０（大日精化工業株式会社製）、ＪＯＮＣＲＹＬ６１Ｊ（ＢＡＳＦ製）、ノプコート ＰＥＭ−１７（サンノプコ株式会社製）およびモビニール７４２Ａ（日本合成化学株式会社製）であり、配合量（質量％）、およびその種類をそれぞれ表１に記載した。
【００７６】
各実験例で用いた二酸化チタン粒子は、市販品「ＮａｎｏＴｅｋ（Ｒ） Ｓｌｕｒｒｙ」（シーアイ化成株式会社製）である。ＮａｎｏＴｅｋ（Ｒ） Ｓｌｕｒｒｙは、体積基準の平均粒子径３００ｎｍの二酸化チタン粒子を固形分濃度１５％の割合で含むスラリーである。各実験例における二酸化チタン粒子の配合量は、白色インク組成物全量に対して８質量％となるように調製した。
【００７７】
有機溶媒としては、１，２−ヘキサンジオールを５質量％、プロピレングリコールを４質量％、糖としてはＨＳ５００を７質量％（林原株式会社製）、界面活性剤としては、ポリシロキサン系界面活性剤である「ＢＹＫ−３４８」（ビックケミー・ジャパン株式会社製）を５質量％で各実験例のインク組成物ともに配合した。
【００７８】
各実験例の記録物を作成するために用いたインクジェット記録装置は、インクジェットプリンター（セイコーエプソン株式会社製、商品名「ＰＸ−Ｇ９３０」）を用い、その専用カートリッジのインク室に、インク組成物を充填し、これを記録媒体に対して吐出して、解像度１４４０×１４４０ｄｐｉで、ベタパターン画像をｄｕｔｙ１００％で付着させた。各実験例において、このようにして得られた記録物を６０℃、湿度２０％ＲＨの状態で２時間乾燥させて試料を作成した。
【００７９】
【表１】
【００８０】
ひび割れの有無については、各実験例の試料に形成された画像について、目視によってひび割れの有無を確認した。そして、ひび割れが認められなかったものを○とし、ひび割れが認められたものを×として表１に記載した。
【００８１】
３．２．測定
各実験例の試料のＬ＊値および第１透過率および第２透過率は、日本分光株式会社製、偏角測色計（Ｖ５５０ ＵＶ／ＶＩＳ）を用いて測定した。各試料のＬ＊値、第１透過率および第２透過率は、表１に併記した。なお、第１透過率は、各試料のベタ画像の形成されていない部分で測定し、第２透過率は、各試料の白色の画像が形成された部分で測定した。
【００８２】
第１透過率および第２透過率の測定条件は、測定プログラムとして、日本分光株式会社製、Ｓｐｅｃｔｒａ Ｍａｎａｇｅｒ ｆｏｒ ｗｉｎｄｏｗｓ９５／ＮＴ（ｖｅｒ．１．５３．０１）を用い、測定モード：透過モード（％Ｔ）、偏光データ：Ｎ偏光、繰り返し回数：１、レスポンス：Ｆａｓｔ、バンド幅：１０．０ｎｍ、走査速度：２０００ｎｍ／ｍｉｎ、データ取り込み間隔：１．０ｎｍとした。
【００８３】
各試料につき、３５０ｎｍ、４００ｎｍ、４５０ｎｍ、および５００ｎｍの波長における透過率分率を、装置に付属する電子計算機を用いて計算した結果を表１に記載した。この値につき、閾値を０．０１として、ひび割れの有無を判定し、４５０ｎｍおよび５００ｎｍにおける判定結果をそれぞれ表１に記載した。
【００８４】
なお、実験例１ないし実験例８において測定された第２透過率のスペクトルを図４に示し、各実験例の試料の透過率分率をプロットしたグラフを図５に示す。
【００８５】
３．３．評価結果
表１をみると、透過率分率の閾値を０．０１に設定した場合の判定結果は、ひび割れの有無と極めてよく一致することが判明した。すなわち、目視によってひび割れが認められた実験例２、３、４の記録物につき、透過率分率の３５０ｎｍ、４００ｎｍおよび４５０ｎｍにおける値は、０．０１を有意に超えており、各実験例の画像のひび割れの評価に、透過率分率の値を指標とすることが極めて有効であることが判明した。各実験例の試料の透過率分率をプロットしたグラフをみると、特に光の波長領域の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の領域において、画像のひび割れの有無に対する透過率分率の値の変化が顕著であることが判明した。
【００８６】
本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【符号の説明】
【００８７】
１０…光源、２０…検出手段、３０…保持手段、４０…移動手段、５０…判定手段、１００…評価装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、
前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、
前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、
前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、
を有する、前記画像の評価方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域において、前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、複数の波長において前記第１透過率および前記第２透過率を測定し、
前記判定工程では、前記複数の波長におけるそれぞれの前記透過率分率の少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定する、評価方法。
【請求項４】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における強度の積分値によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項５】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３８０ｎｍの波長における強度によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項６】
請求項４または請求項５において、
前記判定工程では、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定する、評価方法。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載の評価方法を利用して、ひび割れの有無を判定する評価装置。
【請求項８】
光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物における当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、
光源と、
前記光源から出射された光を検出する検出手段と、
前記光源から出射された光が前記記録物を透過するように前記光源と前記検出手段の間に前記記録物を保持する保持手段と、
前記光が前記画像を透過しない第１配置と、前記光が前記画像を透過する第２配置とに、前記保持手段を移動させる移動手段と、
前記第１配置および前記第２配置において、それぞれ前記検出手段からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定手段と、
を備え、
前記判定手段は、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、前記画像にひび割れが有ると判定する、前記画像の評価装置。
【請求項１】
光透過性を有する記録媒体上に形成され、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像を評価する方法であって、
前記記録媒体に前記光を透過させて第１透過率を測定する第１測定工程と、
前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第２透過率を測定する第２測定工程と、
前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、
を有する、前記画像の評価方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域において、前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、複数の波長において前記第１透過率および前記第２透過率を測定し、
前記判定工程では、前記複数の波長におけるそれぞれの前記透過率分率の少なくとも１つが０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定する、評価方法。
【請求項４】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３５０ｎｍ以上４５０ｎｍ以下の波長領域における強度の積分値によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項５】
請求項１または請求項２において、
前記第１測定工程および前記第２測定工程では、前記光の３８０ｎｍの波長における強度によって前記第１透過率および前記第２透過率を測定する、評価方法。
【請求項６】
請求項４または請求項５において、
前記判定工程では、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、ひび割れが有ると判定する、評価方法。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載の評価方法を利用して、ひび割れの有無を判定する評価装置。
【請求項８】
光透過性を有する記録媒体上に、ＣＩＥＬＡＢ色空間におけるＬ＊値が７０以上である画像が形成された記録物における当該画像のひび割れの有無を評価する装置であって、
光源と、
前記光源から出射された光を検出する検出手段と、
前記光源から出射された光が前記記録物を透過するように前記光源と前記検出手段の間に前記記録物を保持する保持手段と、
前記光が前記画像を透過しない第１配置と、前記光が前記画像を透過する第２配置とに、前記保持手段を移動させる移動手段と、
前記第１配置および前記第２配置において、それぞれ前記検出手段からの信号に基づいて第１透過率および第２透過率を求め、前記第１透過率に対する前記第２透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定手段と、
を備え、
前記判定手段は、前記透過率分率が０．０１を超えた場合に、前記画像にひび割れが有ると判定する、前記画像の評価装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１２−１９４１１６（Ｐ２０１２−１９４１１６Ａ）
【公開日】平成２４年１０月１１日（２０１２．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−５９６００（Ｐ２０１１−５９６００）
【出願日】平成２３年３月１７日（２０１１．３．１７）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１０月１１日（２０１２．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年３月１７日（２０１１．３．１７）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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