説明

磁化測定方法とこの方法を実施する磁化測定装置

【課題】 装置構造が簡単で大型の試料を測定することができ、移動機構を必要としない磁気測定手段を提供しようというものである。
【解決手段】 超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂製中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを設定し、このピックアップコイル内に試料を配置すると共に、該磁場内でコイルと試料とが移動しないように固定して印加磁界を変化させ、試料を収容したピックアップコイルに誘導起電力を生じさせ、この誘導起電力から、試料の磁化率を求める。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は超伝導磁石を用いた電磁誘導法による磁化測定方法とその磁化測定装置に関する。詳しくは、強磁界を必要とする高性能磁石の測定、あるいは、従来のものでは測定が困難であった大型の高性能磁石の測定に適した、超伝導磁石を利用した永久磁石の磁化測定方法とこの方法を実施する磁化測定装置に関する。さらに詳しくは、本発明は、可動部分を持たない磁化測定方法とその装置に関する。
【背景技術】
【0002】
永久磁石の性能はJ−H履歴曲線から評価されるが、現在このJ−H履歴曲線を得る方法として鉄芯電磁石を用いた閉磁気回路法が広く行われている。これは電磁石の作る磁界により試料を磁化させ、そのときに試料に巻いたピックアップコイルに生じる誘導起電力から磁化を求める方法である。これは安価かつ簡便な方法であるが、鉄芯の磁気的飽和のため1.2T程度が発生磁界であるとされており、近年広く使用されている希土類を用いた高性能磁石の測定には十分でない(非特許文献1参照)。
【0003】
これらの高性能磁石の測定に十分な磁界を発生させるにはパルス磁石または超伝導磁石を用いる必要がある。パルス磁石を用いた永久磁石測定は、パルス磁界により生じる試料の磁化過程を試料に巻かれたピックアップコイルの誘導起電力の変化から計算するもので、詳細は、非特許文献2、3に示されている。この方法は短時間で測定できるという長所をもつが、大型の試料を測定する場合は、磁束が試料の中心まで入ることができず正確な測定が難しい。パルス幅を十分に大きくすればこの問題は解決できるが、試料の大きさ、形状、電気伝導率等により異なり、これを規定することは難しく、いずれにしても装置が非常に大がかりになってしまう。
【0004】
超伝導磁石を用いる方法では引き抜き法が良く知られている。これは超伝導磁石の作る磁界中に置かれたピックアップコイルを試料が通過することにより生じる起電力から試料の磁化を測定するものである(非特許文献4参照)。この測定方法の特徴は、超伝導磁石の作る強磁界中を永久磁石試料が移動するため、移動機構には大きな力が加わる。特に大型の試料を測定したい場合は相当に堅牢なものを用いる必要がある。
【0005】
【非特許文献1】JIS C2501(1998)
【非特許文献2】加藤誠一、木戸義勇、日本応用磁気学会誌23号、1113頁(1999)
【非特許文献3】木戸義勇、固体物理Vol.29、No.1(1994)
【非特許文献4】安岡弘志、近桂一郎、実験物理学講座6「磁気測定」丸善株式会社、(平成12年2月15日)
【非特許文献5】Metal Handbook、Vol.2、10th edition、ASM International、(1990)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明は、従来の磁化測定手段段は、上記したように諸点において問題を有するものであるところから、これらの問題のない磁気測定手段、すなわち、装置構造が簡単で大型の試料を測定することができ、移動機構を必要としない磁気測定手段を提供しようというものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明者らにおいては、鋭意研究の結果、可動部分を持たず、装置の大型化を伴わずに、単純な構造のピックアップコイルを超伝導磁石磁場内に置き、該コイル内に測定試料を固定し、印加磁界を変化せしめるという簡単な手段を講ずることによって大型高性能永久磁石も含め、多様な試料を対象として磁化率を測定することができることを知見したものである。本発明は、この知見に基づいてなされたものであり、印加磁界を変化させることによって、ピックアップコイルに誘導起電力生じさせ、その誘導起電力を測定し、積分することによって試料の磁化率を求めるものである。すなわち、本発明の構成は以下(1)ないし(7)に記載の通りである。
(1) 超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂等非磁性材料からなる中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを設定し、このピックアップコイル内に試料を配置すると共に、該磁場内でコイルと試料とが移動しないように固定して印加磁界を変化させ、試料を収容したピックアップコイルに誘導起電力を生じさせ、この誘導起電力から、試料の磁化率を求めることを特徴とする、磁化率測定方法。
(2) 該変化する印加磁界の波形として、頂点が丸く調製された変化波形であることを特徴とする、前記(1)項に記載の磁化率測定方法。
(3) 測定対象が永久磁石である、前記(1)または(2)項に記載の磁化率測定方法(4) 超伝導磁石を用いてなる、誘電起電力から磁化率を求める磁化率測定装置において、超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂等非磁性材料からなる中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを固定して配置する手段と、該コイル内に試料を固定して配置する手段と、印加磁界を変化させる手段と、印加磁界の変化によってピックアップコイルに生じた誘導起電力を測定する手段と、測定された誘導起電力から磁気率を求める演算手段とを備えてなることを特徴とする、磁化率測定装置。
(5) 該印加磁界変化手段として、頂点を丸くした変化波形を調製し、発生させる機能を備えた手段であることを特徴とする、前記(4)項に記載する磁化率測定装置。
(6) 該磁化率測定装置が温度調節機構を備えていることを特徴とする、前記(4)または(5)項に記載する磁化率測定装置。
(7) 測定対象が永久磁石である、前記(4)ないし(6)の何れか1項に記載の磁化率測定装置。
【発明の効果】
【0008】
本発明は超伝導磁石を利用した永久磁石の測定法であり、強磁界が必要とされる高性能磁石の測定に適している。特に、従来の方法では困難であった大型の高性能永久磁石の測定が容易にできるようになったことは特筆に価する。さらに述べると、従来は、永久磁石は大型のものを作成したのちに所定の大きさに、切断して磁化率を測定し、出荷商品とされるが、本発明によって、大型試料を切断することなく、そのままでも検査することができ、効率があがる。また、NMRなど大型のままで使用するケースもあり、本発明は、それを容易に検査できることにより商品の信頼性が向上する。さらにまた、本発明は、測定に際しては、試料を可動させる必要はなく、そのため測定手段は、極めて簡素、単純でありコスト的に有利である。しかも、前述したように従来は、大型の永久磁石を測定する場合には、試料に強い力が加わることを考慮すると、本発明は、この点でも有利である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0009】
以下、本発明の最良の形態を実施例および図面に基づいて詳しく説明する。
【0010】
図1は、本発明の磁化率測定装置であり、図2-1は、ピックアップコイルと試料を並べて示した図であり、図2-2は、ピックアップコイルの構成を示す図である。図3は、ピックアップコイル・試料を固定する治具を示す。図4は、印加磁界の波形を示し、図4-1は、頂点が丸まった本発明の一態様である印加磁界波形を示す図であり、図4-2は、その元になる三角波形である。図5は、実施例1で印加された磁界波形サイクルを示す図であり、図6はこの印加磁界の変化によって発生した誘導電圧曲線である。ただし、このときはピックアップコイル中に試料が存在する。さらに、図7は、図6の誘導電圧を時間で積分したもの(∫Vdt)と図5の印加磁界との関係を示している。同様の測定、計算を試料の無い場合にも行い、それを図7で示す試料のある場合の∫Vdtから差し引いたものが図8である。この図8の曲線をプラスの飽和値とマイナスの飽和値が等しくなるように軸を移動することによって補正し、さらにコイル定数、試料の体積で割ることにより∫Vdtを磁化に変換する。またさらに後述する方法で反磁界補正を行うことによりJ−H履歴曲線を得ることができる。図9は、実施例1で求められたNdFeB系磁石のJ−H履歴曲線である。図10は、実施例1で求められたNiの磁化曲線である。そして、図11は、実施例2のNdFeB系磁石のJ−H履歴曲線を示すものである。
【0011】
本発明の磁化率測定方法を実施する装置は、図1に示すように、超伝導磁石と、超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂等非磁性材料からなる中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを固定して配置する手段と、該コイル内に試料を固定して配置する手段と、印加磁界を変化させる手段と、印加磁界の変化によってピックアップコイルに生じた誘導起電力を測定する手段と、測定された誘導起電力から磁化を求める演算手段とを備えている。
【0012】
さらに、本発明の装置は、図面には示していないが、該印加磁界変化手段として、磁界の変化波形が三角波形のように直線が交差する態様の頂点を有する波形ではなく、頂点が丸く調整された変化波形を発生する磁界波形調節機能を備えている。さらにまた、任意の温度で測定可能なように温度調節機能を備えているものである。印加磁界波形としては、図4-1に示す態様では、三角波の角を丸めたものを例示しているが、このような三角波に限定されない。角が丸い波形なら特に制限はなく例えばサイン波でもよい。
【0013】
測定は、試料を設定した場合の磁界の変化によって生じる、ピックアップコイルの誘導起電力の測定と、試料を設定しないときの誘導起電力の測定の、少なくとも2回の測定からなり、これを基本とするものであり、前者の測定結果と後者の測定結果との差異から、J−H履歴曲線を求めることができる。その場合の基礎となる磁気モーメントMは、下記数式1に基づき、これを演算することによって求められる。
【0014】
【数1】

【0015】
式中、Vはピックアップコイルの誘導起電力、Moは初期磁化である。また、Cはピックアップコイルのコイル定数で、下記数式2により求められる。
【0016】
【数2】

【0017】
ただし、n、L、Rはそれぞれ、単位長さあたりの巻き数、コイルの長さの2分の1、コイルの半径である。以下の実施例1で設定したピックアップコイルの定数Cの値は、2943(1/m)であった。磁気モーメントを試料の体積で割ることにより体積磁化が求められる。また印加磁界は超伝導磁石に流れる電流値を測定することによって求めることができる。図9は、以上の測定方法によって求められた試料のJ−H履歴曲線である。
【0018】
以下、本発明を具体的に実施例に基づいて説明する。ただし、これらの実施例は、あくまでも本発明を容易に理解し易くするための一助として開示するためのものであって、本発明を限定する趣旨ではない。
【0019】
実施例1;
磁化率測定試料として、サイズが49.5×49.4×52.3mmの六面体、重量が946gのNdFeB系永久磁石を準備した。測定に使用するピックアップコイルは、外径80.2mmのアクリルパイプに直径0.23mmのエナメル線を352回巻いて作成した。なお、ここでは、アクリルパイプを使用したが、非磁性材料であればよく、ガラスや非磁性金属でもよい。コイルの長さは88.5mmであった。準備した試料と、ピックアップコイルをスケールと共に図2に示す。これらの試料とピックアップコイルは、所定の間隔で平行に配置された三枚の円盤と円盤を固定保持する3本の立設支柱とからなる治具の最下段の円盤上に固定した。図3は、治具の概観を示す図である。なお、これらの治具の材質については、非磁性を示し、十分な強度を有し、温度変化のないものがよい。例えば、耐熱性アクリル樹脂、ベークライト樹脂等耐熱性に優れた合成樹脂、ガラス、セラミックス、非磁性金属等が挙げられる。
【0020】
準備した永久磁石試料を、ピックアップコイル中心に試料がくるように該治具に固定し、治具ごと無冷媒超伝導磁石に入れ、磁場中心に試料がくるように固定した。0.002T/secの掃引速度で印加磁界をプラス7Tとマイナス7Tの間を往復させ、ピックアップコイルに生じる電圧を測定した。このとき印加磁界の波形は図4-2のような三角波でなく図4-1のように頂点が丸くなるように調製し、設定した。これは頂点の部分が計算上の特異点になることを防ぐためである。
【0021】
前示条件の下で前記永久磁石を測定した結果、印加された磁界は、図5に示すサイクルで変化する波形の磁界が印加された。この印加磁界によってピックアップコイルに発生した誘導起電力は図6に示すとおりであった。図6の誘導電圧を時間で積分したものを縦軸に、図5の供給磁界を横軸にグラフを描くと図7が求められる。同様の測定、計算を試料が無い場合も行い、これを図7から差し引くと図8に示す結果が導き出された。プラスの飽和値とマイナスの飽和値は絶対値が等しいと考えられるので、そのように軸をずらすことによって補正した。こうすることによって、初期磁化Moを無視することができる。これをコイル定数と体積で割り算することにより磁化に変換し、さらに反磁場補正を行ったものが図9である。
【0022】
この場合の反磁界の補正は、試料と同じ形状のニッケルを測定し、その磁化曲線の傾きから求めた反磁界係数を用いて行った。すなわち、反磁界係数は試料の形状によって決まる定数であり、回転楕円体のような特殊な形状のものを除き、それ以外の形状のものは複雑なため計算で求めることが困難である。このような場合、ニッケルを用いて同様の形状の試料を作成し、係数を求めることができる。その求め方は、従前のパルス磁石を用いる方法の場合と同様であり、前掲非特許文献2に詳しく記載されている。
求められたニッケルの磁化曲線は、図10の通りであった。この図において、立ち上がりの直線部分の傾きの逆数が反磁界係数で、この図から0.266と求められた。
【0023】
図9のJ−H履歴曲線から実施例1の永久磁石試料は、Js=1.39(T)、Br=1.36(T)、HcJ=1.00(MA/m)、HcB=0.92(T)、BHmax=359(kJ/m)によって特徴づけられる特性を有する磁石であることが明らかとなった。
【0024】
実施例2;
磁化率測定試料として、サイズが23.5×23.5×25.0mmの六面体、重量が104.01gのNdFeB系永久磁石を実施例1と同様の方法で測定した。ピックアップコイルは外径39.78mmのアクリルパイプに直径0.23mmのエナメル線を181回巻いて作成した。コイルの長さは44.88mmであった。コイル定数はC=3010(1/m)であった。図11にJ−H履歴曲線を示す。これからJs=1.40(T)、Br=1.37(T)、HcJ=1.02(MA/m)、HcB=0.95(T)、BHmax=359(kJ/m)と求められた。
【0025】
実施例3;
実施例2のピックアップコイルを用い、77.50gの4Nニッケルの磁化曲線を測定した。飽和磁化は学術文献(例えば、前掲非特許文献5参照のこと)に記載された値0.616Tとほぼ一致した。
【0026】
以上、本発明は、実施例にも具体的に記載したように大型で高性能永久磁石の磁化率をきわめて簡単に測定することができる手段を提供するのに成功したものであり、その意義は、磁石の開発がますます大型化、高性能化する傾向にありことを考慮すると、コストのかからない測定手段を提供する点で磁石の開発に大いに寄与することが期待される。
【産業上の利用可能性】
【0027】
本発明の磁化率測定手段は、従来法では、大型高性能の永久磁石を測定しようとすると、測定装置手段は必然的に大がかりな設計とせざるを得ないものであったが、既存の測定装置、測定手段を利用し、これに極めて簡単な測定手段・測定システムを適用ないし付加することによって、十分に対処しえることが明らかにされたものであり、その意義はきわめて大きい。今後、磁化率測定手段として大いに利用され、主流をなすことが期待される。
【図面の簡単な説明】
【0028】
【図1】本発明の磁化率測定装置。
【図2−1】試料とピックアップコイルとを並べて示した図。
【図2−2】ピックアップコイルの構成を示す図。
【図3】ピックアップコイルとこれを固定する治具を示した図。
【図4−1】頂点を丸くした印加磁界波形を示す図。
【図4−2】図4-1の図形の元になる三角波を示す図。
【図5】実施例1で印加された磁界波形を示す図。
【図6】実施例1でピックアップコイルに発生した誘導電圧曲線。
【図7】図5の誘導電圧と図6から求められた電圧の時間積分−磁界の関係を示す図。
【図8】図7から試料の無い場合の結果を差し引いたもの。
【図9】実施例1で求められた補正後のJ−H履歴曲線。
【図10】実施例1で求められたNiの磁化曲線。
【図11】実施例2のNdFeB系磁石のJ−H履歴曲線。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂等非磁性材料からなる中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを設定し、このピックアップコイル内に試料を配置すると共に、該磁場内でコイルと試料とが移動しないように固定して印加磁界を変化させ、試料を収容したピックアップコイルに誘導起電力を生じさせ、この誘導起電力から、試料の磁化率を求めることを特徴とする、磁化率測定方法。
【請求項2】
該変化する印加磁界の波形として、頂点が丸く調製された変化波形であることを特徴とする、請求項1に記載の磁化率測定方法。
【請求項3】
測定対象が永久磁石である、請求項1または2に記載の磁化率測定方法
【請求項4】
超伝導磁石を用いてなる、誘電起電力から磁化率を求める磁化率測定装置において、超伝導磁石の作る磁場内に、合成樹脂等非磁性材料からなる中空パイプにコイルを巻回した構造のピックアップコイルを固定して配置する手段と、該コイル内に試料を固定して配置する手段と、印加磁界を変化させる手段と、印加磁界の変化によってピックアップコイルに生じた誘導起電力を測定する手段と、測定された誘導起電力から磁気率を求める演算手段とを備えてなることを特徴とする、磁化率測定装置。
【請求項5】
該印加磁界変化手段として、頂点を丸くした変化波形を調製し、発生させる機能を備えた手段であることを特徴とする、請求項3に記載する磁化率測定装置。
【請求項6】
温度調節機構を備えてなることを特徴とする、請求項4または5に記載する磁化率測定装置。
【請求項7】
測定対象が永久磁石である、請求項4ないし6の何れか1項に記載の磁化率測定装置。


【図1】
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【図2−1】
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【図2−2】
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【図3】
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【図4−1】
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【図4−2】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【公開番号】特開2006−64419(P2006−64419A)
【公開日】平成18年3月9日(2006.3.9)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2004−244521(P2004−244521)
【出願日】平成16年8月25日(2004.8.25)
【出願人】(301023238)独立行政法人物質・材料研究機構 (1,333)
【Fターム(参考)】