磁気記憶装置
【課題】磁気記憶装置において、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能とすることを目的とする。
【解決手段】QM値又はAGCゲイン値をヘッドがトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置で測定し、QM値又はAGCゲイン値とオフセット位置からQM値又はAGCゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成する。生成した多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を、サーボパターンのトラックピッチむらの補正値として求める。トラックピッチむらは、この補正値に基づいてヘッドの位置を制御することで補正される。
【解決手段】QM値又はAGCゲイン値をヘッドがトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置で測定し、QM値又はAGCゲイン値とオフセット位置からQM値又はAGCゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成する。生成した多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を、サーボパターンのトラックピッチむらの補正値として求める。トラックピッチむらは、この補正値に基づいてヘッドの位置を制御することで補正される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、磁気記憶装置に係り、特にヘッドのトラックの中心(以下、トラックセンタと言う)からのずれを補正する磁気記憶装置に関する。
【背景技術】
【0002】
磁気ディスク装置等の磁気記憶装置は、ライトヘッドで磁気記録媒体に情報を磁気的に記録(以下、ライトと言う)し、リードヘッドにより磁気記録媒体から情報を再生(以下、リードと言う)する。ヘッドは、予め磁気記録媒体に書き込まれている位置決め情報(以下、サーボ情報と言う)に基づいて、データをライト或いはリードするための目的トラックに位置決めされる。サーボ情報のサーボパターンは、決められたトラック送り量に従ってライトされ、データのライト時及びリード時にはサーボパターンから再生されたサーボデータを使用してヘッドの位置決めを行う。
【0003】
図1は、ライトヘッドとリードヘッドの関係を説明する図である。図1に示すように、MR(Magneto-Resistive又はMagneto-Resistance)ヘッド、GMR(Giant MR)ヘッド、TMR(Tunneling MR)ヘッド、水平記録方式、垂直記録方式によらず、ライトヘッド1とリードヘッド2のコア幅は異なることが一般的であり、ライトヘッド1とリードヘッド2の間には物理的に隙間Gが生じる。
【0004】
図2は、ライトヘッドとリードヘッドのオントラック位置ずれを説明する図である。ヘッド1,2の磁気ディスク5上のオントラック位置の変更は、ロータリ式のVCM(Voice Coil Motor)によるヘッド位置制御が一般的である。図2において、ヘッド1,2を移動するアーム(図示せず)は支点Cを中心に回動する。しかし、図2に示すように、ヘッド1,2が磁気ディスク5上のトラックに対してヨー(Yaw)角Yを持つため、Yaw角Yが付くトラック位置では、ライト時のライトヘッド1のオントラック位置WOPと、同じトラック位置をリードするときのリードヘッド2のオントラック位置ROPが異なる。このオントラック位置のずれ量は、磁気ディスク5上の半径位置によってYaw角Yが異なるために、半径位置に従ってライトヘッド1とリードヘッド2のコアずれ量を補正している。
【0005】
サーボパターンを磁気ディスク5にライトする場合、一定の送りピッチによってライトされることが理想であるが、VCMの不安定な回転、STW(Servo Track Writer)の磁気ディスク5に対するピンの当り具合、周辺環境(振動や、衝撃)等の誤差要因によって、サーボパターンのトラックピッチむらが発生する。誤差要因が大きくなると、無視できない程のトラックピッチむら(所謂ピッチ異常)が発生する。このような問題は、磁気ディスク装置を組み立ててから磁気ディスク5にサーボパターンをライトする場合も、磁気ディスク5の状態でSTWによりサーボパターンをライトする場合も同様に発生する。
【0006】
図3は、正常トラックのコアずれ補正を説明する図である。図3及び後述する図4及び図5において、T1,...はトラック、D1,...はデータを示す。図3に示す正常トラックの場合、上記のコアずれ補正をすることで、目的トラックにデータをライトすることができる。例えば、Yaw角Yによるコアずれが4トラック分あれば、トラックT1にデータをライトするにはリードヘッド2をトラックT1にオントラックさせる必要がある。
【0007】
これに対して、トラックピッチが狭い場合を図4及び図5と共に説明する。
【0008】
図4は、狭トラックピッチの箇所のライト動作を説明する図である。図4に示すように、送りピッチが狭い箇所をまたぐ場合、図3の場合であればライト時にトラックT1の位置にライトできても、図4の場合はトラックピッチが狭いトラックを挟んでいるためにコアずれ補正量と差が生じ、トラックT1のセンタにライトできない。例えば、トラックT1にデータをライトするにはリードヘッド2をトラックT4にオントラックさせる必要があるが、途中にトラックピッチが狭い箇所(トラックT2)があるので、トラックT1でのデータライト位置がずれてしまう。
【0009】
図5は、狭トラックピッチの箇所のリード動作を説明する図である。図5の場合は、リード時にリードヘッド2をトラックT1のセンタ位置に位置決めしても、ライトヘッド1によりデータがライトされた位置がトラックT1のセンタにないため、データを正常にリードすることができず、リードデータにエラーが発生してしまう。例えば、トラックT1のデータをリードヘッド2でリードする場合、リードヘッド2のセンタ位置trcは本来のトラックT1のセンタと一致するが、ライトヘッド1によりデータがライトされた位置がセンタ位置trcよりずれているので、本来出力されるべき正常な再生波形がリードヘッド2から出力されず、エラーレートが悪化してしまう。
【特許文献1】特開2001−28111号公報
【特許文献2】特開2007−164887号公報
【特許文献3】特開2007−164890号公報
【特許文献4】特許第3024184号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
従来、アームを回動させて磁気記録媒体上のヘッドの位置を制御するロータリ式のヘッド位置制御を採用した磁気記憶装置の場合、トラックピッチに異常があると、ライトヘッドのライト位置とリードヘッドのリード位置を合わせることが難しく、エラーレートが悪化してしまうという問題があった。
【0011】
エラーレートが悪化すると、リトライ動作を行う回数が増加して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が低下してしまう。
【0012】
そこで、本発明は、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能な磁気記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0013】
本発明の一観点によれば、ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた磁気記憶装置が提供される。
【0014】
本発明の一観点によれば、ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた磁気記憶装置が提供される。
【発明の効果】
【0015】
開示の磁気記憶装置によれば、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0016】
開示の磁気記憶装置では、クオリティーモニタ(QM:Quality Monitor)値又は自動利得制御(AGC:Automatic Gain Control)ゲイン値をヘッド(ヘッドコアセンタ)がトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置で測定し、QM値又はAGCゲイン値とオフセット位置からQM値又はAGCゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成する。生成した多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を、サーボパターンのトラックピッチむらの補正値として求める。トラックピッチむらは、この補正値(オフセット量)に基づいてヘッドの位置を制御することで補正される。
【0017】
オフセット量は、磁気記録媒体にライトしておき、このオフセット量をリードすることでサーボパターンのトラックピッチむらを補正するようにしても良い。
【0018】
これにより、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。
【0019】
エラーレートの悪化を防止できるので、リトライ動作を行う回数が減少して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が向上する。
【実施例】
【0020】
図6は、本発明の一実施例における磁気記憶装置を示すブロック図である。本実施例では、本発明が磁気ディスク装置に適用されている。
【0021】
図6に示すように、磁気ディスク装置10は、ディスクエンクロージャ(DE:Disk Enclosure)11とプリント回路基板(PCB:Printed Circuit Board)12を有する。PCB12は、パーソナルコンピュータ等のホスト装置13と接続されている。
【0022】
DE11は、磁気ディスク5、磁気ディスク5を回転させるDCモータ(DCM)111、ヘッド114が先端に設けられたアーム113を動かすVCM(Voice Coil Motor)112及びヘッドアンプ115を有する。DE11は、磁気ディスク5やヘッド114を塵埃から守るため、フィルタ(図示せず)を通して外界とは遮断されている。ヘッド114は、図1と共に説明した如きライトヘッド1及びリードヘッド2を有する。ヘッド114は、回転する磁気ディスク5の表面から浮上した状態でリード動作及びライト動作を行う。DE11の基本構成自体は周知であり、DE11としては図6に示した以外の基本構成のものを用いても良い。
【0023】
PCB12は、図1に示す如く接続されたMCU(Micro Controller Unit)121、サーボコントローラ(SVC:SerVo Controller)122、リードチャネル(RDC:ReaD Channel)123、ハードディスクコントローラ(HDC:Hard Disk Controller)124、及びデータバッファ125を有する。RDC123は、クオリティモニタ(QM:Quality Monitor)測定回路23や、自動利得制御(AGC:Automatic Gain Control)回路230等を有する。PCB12は、ホスト装置13とのデータの送受信を行うと共に、DE11の制御を行う。PCB12の基本構成自体は周知であり、PCB12としては図6に示した以外の基本構成のものを用いても良い。尚、MCU121及びHDC124、更にはRDC123等を単一の大規模集積回路(LSI:Large Scale Integrated circuit)に集積した構成としても良い。言うまでもなく、MCU121は各種プロセッサにより構成可能である。
【0024】
MCU121は、磁気ディスク5を回転させるDCM111をSVC122を介して制御し、磁気ディスク5が定常回転させる制御部として機能する。
【0025】
磁気ディスク5上のトラックは、ヘッド114の位置を示すサーボ情報が格納されるサーボ部と、データが格納されるデータ部とに分類される。ヘッド114がトラックからリードしたサーボ情報は、RDC123により位置情報にデコードされ、MCU121へ供給される。MCU121は、この位置情報及び後述するHDC124から供給されるアドレス情報に基づいて、ヘッド114をトラックに正確に位置付けるようにSVC122を介してVCM112を制御する制御部としても機能する。
【0026】
HDC124は、ホスト装置13とデータの送受信を行う。ライト時には、ホスト装置13からのライト命令に応答して、ホスト装置13から入力されたライトデータがHDC124を介してデータバッファ125に一時的に格納され、RDC123からライト信号がヘッドアンプ115を介してヘッド114に供給される。又、ライト命令に含まれるアドレス情報が、HDC124を介してMCU121に供給される。これにより、ライト信号がヘッド114により磁気ディスク5にライトされる。
【0027】
一方、リード時には、ホスト装置13からのリード命令に応答して、ヘッド114により磁気ディスク5からリードされたリード信号がヘッドアンプ115を介してRDC123に供給され、RDC123からリードデータがHDC124に供給される。RDC123内のAGC回路230は、リード信号の波形レベルを一定に保つように動作する。AGC回路230自体は周知の回路である。又、リード命令に含まれるアドレス情報が、HDC124を介してMCU121に供給される。リードデータはHDC124を介してデータバッファ125に一時的に格納され、HDC124からホスト装置13へ出力される。ライト時及びリード時のRDC123の動作は、MCU121により制御される。
【0028】
RDC123には、一般的にはクオリティモニター(QM)機能が内蔵されており、QM測定回路23によりリード信号の信号品質がモニタされている。エラーレートは測定するのに時間がかかる。一方、リード信号の信号品質を表すQM値はエラーレートと高い相関性を有する。このため、一般的には時間短縮のために、エラーレートの代わりにQM測定回路23で測定したQM値を用いて信号品質をモニターすることが多い。QM測定回路23自体は周知の回路である。QM測定回路23で測定されたQM値は、RDC123からMCU121に供給される。
【0029】
図1と共に説明したように、ライトヘッド1とリードヘッド1の間には隙間Gがあるため、Yaw角Yによってコアずれ量を補正する必要がある。そこで、磁気ディスク装置10の出荷前の試験工程で、トラックピッチむら(トラックピッチ異常)を検出する。本実施例では、このトラックピッチむらをQM値を用いて検出する。
【0030】
図7は、トラックをオフセットさせて測定したQM値の一例を示す図である。図7に示すQM値は、ヘッド114(ヘッドコアセンタ)を目的トラックのトラックセンタからオフセットさせて測定されたものである。図7及び後述する図8〜図10、図15及び図16において、縦軸はQM値(任意単位)、横軸はオフセット量(%)を示し、オフセット量は1トラック分のオフセット量を200%として図示している。図7からもわかるように、QM値はオフセット量に対してU字型(又は、バスタブ型)の変化を示す。
【0031】
本実施例では、出荷前の試験工程で、目的トラックに対して複数のオフセット位置、望ましくは3つ以上のオフセット位置にてQM値を測定する。図8は、図7において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。図8において、□印が3つのオフセット位置でのQM値を示す。
【0032】
測定したQM値と3つのオフセット位置から、QM値とオフセット量の関係を表す多項式を生成する。図8の場合であれば、次の多項式(1)が生成できる。この例では、多項式は2次式である。
【0033】
y=0.0003208x2−0.0002809x+3.0545677 式(1)
多項式(1)は、一般式で表すと、次の多項式(2)のようになる。ここで、A,B,Cは係数である。
【0034】
Y=A×X2+B×X+C 式(2)
このようにして生成した多項式(2)を微分することにより、目的トラックのトラックセンタのずれ量が分かる。具体的には、多項式(2)中、ずれ量を補正するための、Yがゼロになるオフセット量Xを、次式(3)から計算することができる。オフセット量Xは、ずれ量を補正するためのものであるから、絶対値はずれ量と同じである。
【0035】
X=−B/2A 式(3)
オフセット量Xは、図8の場合であれば、X=−(-0.0002809)/(2×0.0003208)=0.4となる。
【0036】
図8では、目的トラックのセンタずれが略無い場合において3つのオフセット位置でQM値を測定しているので、この場合のオフセット量は0.4%と計算でき、略トラックセンタずれがないことが確認できた。
【0037】
尚、上記多項式(2)の生成及び式(3)の計算は、MCU121により行う。従って、MCU121は、多項式の生成及び計算を実行する計算部としても機能する。
【0038】
図9は、トラックセンタが比較的ずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。又、図10は、図9において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。図10の場合、次の多項式(4)が生成できる。
【0039】
y=0.0003685x2−0.0152067x+3.1889042 式(4)
図9の場合、目的トラックのセンタずれは実際には約21%である。これに対し、図10の3つのオフセット位置でQM値を測定し、オフセット量Xを計算したところ、オフセット量Xは、X=−(-0.0152067)/(2×0.0003685)=-20.6となり、目的トラックのセンタずれを正確に測定可能であることが確認された。
【0040】
ところで、近年の磁気ディスク装置が用いる磁気ディスクの高面密度化により、磁気ディスク上のトラック密度が増加している。トラック密度を増加させるためには、ヘッドを目的トラックに位置決めする精度が非常に重要となる。現在、回転同期成分を学習してトラックのサーボ部に埋め込み、これをヘッドのオントラック時にリードして補正に使用することで位置決め精度を向上させる技術が主流である。
【0041】
図11は、トラックフォーマットの一例を示す図である。図11に示すように、トラック上にはサーボ部とデータ部が設けられる。サーボ部には、サーボ情報si1,si2及び位置補正情報pci1,pci2がライトされる。データ部には、例えばデータセクタds1,ds2,ds3がライトされる。
【0042】
図12は、位置補正情報の学習方法の一例を説明する図であり、図13は、位置補正情報の使用例を説明する図である。
【0043】
先ず、図12に示すサーボ情報si1,si2内のサーボ信号から復調して作成された磁気ディスク5の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習し、目的トラックの理想センタとの差分情報を算出する。そして、各サーボフレーム毎に算出した差分情報を、位置補正情報pci1,pci2にライトする。
【0044】
目的トラックに対するオントラック時には、位置補正情報pci1,pci2をリードすることで、サーボフレーム毎のRRO成分を図13に示すようにずらして位置決めさせることで、RRO成分を除去して位置決め精度を向上することができる。RRO成分の学習に時間をかければ、理想的にはRRO成分を完全に除去することができる。しかし、これでは試験時間がかかりすぎてしまうので、必要な位置決め精度に応じて学習時間が最適化される。
【0045】
図14は、位置補正情報にセンタずれ量をDC成分として入れ込んだ補正例を説明する図である。
【0046】
QM値から求めた上記のオフセット量X、即ち、DCオフセット値を、位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込んでライトしておき、リード時にはこの位置決め補正情報pci1,pci2を各サーボ部からリードしながらヘッド114をオントラックさせることで、DC成分が補正されてサーボライト時のトラックピッチむらを補正することができる。これにより、サーボライト時のトラックピッチむらに起因するエラーレートの悪化を防止することができる。
【0047】
図15は、サーボライト時のトラックピッチむらによりトラックセンタが大きくずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。又、図16は、図15において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【0048】
サーボライト時のトラックピッチむらによるトラックセンタずれが大きい場合、図15の例ではオフセット量が約42%である。一方、上記多項式(2)及び上記(3)を用いて計算したオフセット量Xは約71%となり、オフセット量Xを正確に計算することはできない。そこで、目的トラックに例えば約42%といった大きなトラックセンタずれがある場合は、隣接トラックへの影響も大きくなるため、トラックピッチずれが大きすぎると判断してこの目的トラックを不良トラックとして登録しておけば良い。不良トラックに対しては、周知の技術による冗長トラックを登録するようにしても良い。
【0049】
図17は、このような不良トラックの登録を含む試験処理を説明するフローチャートである。図17において、ステップS1では、磁気ディスク5上の目的トラックのトラック番号をスタートトラック番号に設定する。ステップS2では、ヘッド114により目的トラックにデータをライトする。ステップS3では、QM測定回路23により目的トラックのQM値を測定する。ステップS4は、MCU121により目的トラックのトラックセンタからのずれ量、即ち、オフセット量XをQM値を用いて計算する。ステップS5では、ずれ量、即ち、オフセット量Xが補正範囲内であるか否かを判定する。
【0050】
目的トラックのトラックセンタからのずれが上記の如く例えば約42%と大きい場合、ステップS5の判定結果はNOとなる。この場合、ステップS6では、MCU121が目的トラックが不良トラックであると判断して、不良トラックを磁気ディスク装置10内のメモリに登録し、処理はステップS7へ進む。磁気ディスク装置10内のメモリは、MCU121の内部メモリであっても、図示を省略したメモリであっても良い。ステップS7では、トラック番号を「1」だけインクリメントし、処理はステップS2へ戻る。
【0051】
一方、ステップS5の判定結果がYESであると、ステップS8では、計算したオフセット量Xを、位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込み、ステップS9ではオフセット量Xを入れ込まれた位置決め補正情報pci1,pci2を目的トラックにライトする。ステップS10では、目的トラックが磁気ディスク5上の最終トラックであるか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS7へ戻る。ステップS10の判定結果がYESであると、処理は試験工程の他の周知の処理(後処理)へ進む。
【0052】
ところで、ヘッド114が出力するリード信号は、ヘッドアンプ115を介してRDC123に供給され、RDC123内ではリード信号の波形レベルを一定に保とうとするAGC回路230が動作してゲイン値を制御する。AGC回路230が制御するゲイン値(以下、AGCゲイン値と言う)は、リード信号の波形レベルが大きい程ヘッド114が目的トラックのトラックセンタに近いので小さくなり、リード信号の波形レベルが小さい程ヘッド114が目的トラックのトラックセンタからずれているので大きくなる。
【0053】
このため、AGC回路230のAGCゲイン値とオフセット量の関係は、上記QM値とオフセット量の関係と同様なものとなる。従って、QM値の代わりにAGCゲイン値を用いてオフセット量Xを計算することも可能である。
【0054】
図18は、トラックをオフセットさせて測定したAGCゲイン値の一例を示す図である。図18において、縦軸はAGCゲイン値(任意単位)、横軸はオフセット量(%)を示し、オフセット量は1トラック分のオフセット量を200%として図示している。図18からもわかるように、AGCゲイン値はオフセット量に対してU字型(又は、バスタブ型)の変化を示す。
【0055】
従って、QM値を使用したトラックセンタずれ量(オフセット量X)を求める場合と同様に、AGC回路230のAGCゲイン値によっても同様にオフセット量Xを求めることが可能であり、オフセット量Xを位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込んでライトしておき、リード時にはこの位置決め補正情報pci1,pci2を各サーボ部からリードしながらヘッド114をオントラックさせることで、DC成分が補正されてサーボライト時のトラックピッチむらを補正することができる。
【0056】
以上説明したように、本実施例によれば、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。また、エラーレートの悪化を防止できるので、リトライ動作を行う回数が減少して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が向上する。
【0057】
尚、磁気記録媒体は、磁気ディスクに限定されるものではなく、ディスク形状以外のものであっても良い。要は、ライトヘッド及びリードヘッドが磁気記録媒体上の位置に応じてトラックに対してヨー(Yaw)角を持つような磁気記憶装置で用いられる磁気記録媒体であれば、サーボパターンのトラックピッチむらが発生しやすいので、本発明を適用可能である。
【0058】
以上の実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
(付記2)
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記1記載の磁気記憶装置。
(付記3)
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、付記2記載の磁気記憶装置。
(付記4)
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、付記3記載の磁気記憶装置。
(付記5)
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記1乃至4のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記6)
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、付記1乃至5のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記7)
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、付記1乃至6のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記8)
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、付記1乃至7のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記9)
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
(付記10)
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記9記載の磁気記憶装置。
(付記11)
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、付記10記載の磁気記憶装置。
(付記12)
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、付記11記載の磁気記憶装置。
(付記13)
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記9乃至12のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記14)
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、付記9乃至13のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記15)
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、付記9乃至14のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記16)
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、付記9乃至15のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【0059】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【0060】
【図1】ライトヘッドとリードヘッドの関係を説明する図である。
【図2】ライトヘッドとリードヘッドのオントラック位置ずれを説明する図である。
【図3】正常トラックのコアずれ補正を説明する図である。
【図4】狭トラックピッチの箇所のライト動作を説明する図である。
【図5】狭トラックピッチの箇所のリード動作を説明する図である。
【図6】本発明の一実施例における磁気記憶装置を示すブロック図である。
【図7】トラックをオフセットさせて測定したQM値の一例を示す図である。
【図8】図7において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図9】トラックセンタがずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。
【図10】図9において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図11】トラックフォーマットの一例を示す図である。
【図12】位置補正情報の学習方法の一例を説明する図である。
【図13】位置補正情報の使用例を説明する図である。
【図14】位置補正情報にセンタずれ量をDC成分として入れ込んだ補正例を説明する図である。
【図15】トラックセンタが大きくずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。
【図16】図15において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図17】試験処理を説明するフローチャートである。
【図18】トラックをオフセットさせて測定したAGCゲイン値の一例を示す図である。
【符号の説明】
【0061】
5 磁気ディスク
10 磁気ディスク装置
11 DE
12 PCB
13 ホスト装置
23 QM測定回路
114 ヘッド
121 MCU
122 SVC
123 RDC
124 HDC
125 データバッファ
【技術分野】
【0001】
本発明は、磁気記憶装置に係り、特にヘッドのトラックの中心(以下、トラックセンタと言う)からのずれを補正する磁気記憶装置に関する。
【背景技術】
【0002】
磁気ディスク装置等の磁気記憶装置は、ライトヘッドで磁気記録媒体に情報を磁気的に記録(以下、ライトと言う)し、リードヘッドにより磁気記録媒体から情報を再生(以下、リードと言う)する。ヘッドは、予め磁気記録媒体に書き込まれている位置決め情報(以下、サーボ情報と言う)に基づいて、データをライト或いはリードするための目的トラックに位置決めされる。サーボ情報のサーボパターンは、決められたトラック送り量に従ってライトされ、データのライト時及びリード時にはサーボパターンから再生されたサーボデータを使用してヘッドの位置決めを行う。
【0003】
図1は、ライトヘッドとリードヘッドの関係を説明する図である。図1に示すように、MR(Magneto-Resistive又はMagneto-Resistance)ヘッド、GMR(Giant MR)ヘッド、TMR(Tunneling MR)ヘッド、水平記録方式、垂直記録方式によらず、ライトヘッド1とリードヘッド2のコア幅は異なることが一般的であり、ライトヘッド1とリードヘッド2の間には物理的に隙間Gが生じる。
【0004】
図2は、ライトヘッドとリードヘッドのオントラック位置ずれを説明する図である。ヘッド1,2の磁気ディスク5上のオントラック位置の変更は、ロータリ式のVCM(Voice Coil Motor)によるヘッド位置制御が一般的である。図2において、ヘッド1,2を移動するアーム(図示せず)は支点Cを中心に回動する。しかし、図2に示すように、ヘッド1,2が磁気ディスク5上のトラックに対してヨー(Yaw)角Yを持つため、Yaw角Yが付くトラック位置では、ライト時のライトヘッド1のオントラック位置WOPと、同じトラック位置をリードするときのリードヘッド2のオントラック位置ROPが異なる。このオントラック位置のずれ量は、磁気ディスク5上の半径位置によってYaw角Yが異なるために、半径位置に従ってライトヘッド1とリードヘッド2のコアずれ量を補正している。
【0005】
サーボパターンを磁気ディスク5にライトする場合、一定の送りピッチによってライトされることが理想であるが、VCMの不安定な回転、STW(Servo Track Writer)の磁気ディスク5に対するピンの当り具合、周辺環境(振動や、衝撃)等の誤差要因によって、サーボパターンのトラックピッチむらが発生する。誤差要因が大きくなると、無視できない程のトラックピッチむら(所謂ピッチ異常)が発生する。このような問題は、磁気ディスク装置を組み立ててから磁気ディスク5にサーボパターンをライトする場合も、磁気ディスク5の状態でSTWによりサーボパターンをライトする場合も同様に発生する。
【0006】
図3は、正常トラックのコアずれ補正を説明する図である。図3及び後述する図4及び図5において、T1,...はトラック、D1,...はデータを示す。図3に示す正常トラックの場合、上記のコアずれ補正をすることで、目的トラックにデータをライトすることができる。例えば、Yaw角Yによるコアずれが4トラック分あれば、トラックT1にデータをライトするにはリードヘッド2をトラックT1にオントラックさせる必要がある。
【0007】
これに対して、トラックピッチが狭い場合を図4及び図5と共に説明する。
【0008】
図4は、狭トラックピッチの箇所のライト動作を説明する図である。図4に示すように、送りピッチが狭い箇所をまたぐ場合、図3の場合であればライト時にトラックT1の位置にライトできても、図4の場合はトラックピッチが狭いトラックを挟んでいるためにコアずれ補正量と差が生じ、トラックT1のセンタにライトできない。例えば、トラックT1にデータをライトするにはリードヘッド2をトラックT4にオントラックさせる必要があるが、途中にトラックピッチが狭い箇所(トラックT2)があるので、トラックT1でのデータライト位置がずれてしまう。
【0009】
図5は、狭トラックピッチの箇所のリード動作を説明する図である。図5の場合は、リード時にリードヘッド2をトラックT1のセンタ位置に位置決めしても、ライトヘッド1によりデータがライトされた位置がトラックT1のセンタにないため、データを正常にリードすることができず、リードデータにエラーが発生してしまう。例えば、トラックT1のデータをリードヘッド2でリードする場合、リードヘッド2のセンタ位置trcは本来のトラックT1のセンタと一致するが、ライトヘッド1によりデータがライトされた位置がセンタ位置trcよりずれているので、本来出力されるべき正常な再生波形がリードヘッド2から出力されず、エラーレートが悪化してしまう。
【特許文献1】特開2001−28111号公報
【特許文献2】特開2007−164887号公報
【特許文献3】特開2007−164890号公報
【特許文献4】特許第3024184号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
従来、アームを回動させて磁気記録媒体上のヘッドの位置を制御するロータリ式のヘッド位置制御を採用した磁気記憶装置の場合、トラックピッチに異常があると、ライトヘッドのライト位置とリードヘッドのリード位置を合わせることが難しく、エラーレートが悪化してしまうという問題があった。
【0011】
エラーレートが悪化すると、リトライ動作を行う回数が増加して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が低下してしまう。
【0012】
そこで、本発明は、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能な磁気記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0013】
本発明の一観点によれば、ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた磁気記憶装置が提供される。
【0014】
本発明の一観点によれば、ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた磁気記憶装置が提供される。
【発明の効果】
【0015】
開示の磁気記憶装置によれば、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0016】
開示の磁気記憶装置では、クオリティーモニタ(QM:Quality Monitor)値又は自動利得制御(AGC:Automatic Gain Control)ゲイン値をヘッド(ヘッドコアセンタ)がトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置で測定し、QM値又はAGCゲイン値とオフセット位置からQM値又はAGCゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成する。生成した多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を、サーボパターンのトラックピッチむらの補正値として求める。トラックピッチむらは、この補正値(オフセット量)に基づいてヘッドの位置を制御することで補正される。
【0017】
オフセット量は、磁気記録媒体にライトしておき、このオフセット量をリードすることでサーボパターンのトラックピッチむらを補正するようにしても良い。
【0018】
これにより、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。
【0019】
エラーレートの悪化を防止できるので、リトライ動作を行う回数が減少して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が向上する。
【実施例】
【0020】
図6は、本発明の一実施例における磁気記憶装置を示すブロック図である。本実施例では、本発明が磁気ディスク装置に適用されている。
【0021】
図6に示すように、磁気ディスク装置10は、ディスクエンクロージャ(DE:Disk Enclosure)11とプリント回路基板(PCB:Printed Circuit Board)12を有する。PCB12は、パーソナルコンピュータ等のホスト装置13と接続されている。
【0022】
DE11は、磁気ディスク5、磁気ディスク5を回転させるDCモータ(DCM)111、ヘッド114が先端に設けられたアーム113を動かすVCM(Voice Coil Motor)112及びヘッドアンプ115を有する。DE11は、磁気ディスク5やヘッド114を塵埃から守るため、フィルタ(図示せず)を通して外界とは遮断されている。ヘッド114は、図1と共に説明した如きライトヘッド1及びリードヘッド2を有する。ヘッド114は、回転する磁気ディスク5の表面から浮上した状態でリード動作及びライト動作を行う。DE11の基本構成自体は周知であり、DE11としては図6に示した以外の基本構成のものを用いても良い。
【0023】
PCB12は、図1に示す如く接続されたMCU(Micro Controller Unit)121、サーボコントローラ(SVC:SerVo Controller)122、リードチャネル(RDC:ReaD Channel)123、ハードディスクコントローラ(HDC:Hard Disk Controller)124、及びデータバッファ125を有する。RDC123は、クオリティモニタ(QM:Quality Monitor)測定回路23や、自動利得制御(AGC:Automatic Gain Control)回路230等を有する。PCB12は、ホスト装置13とのデータの送受信を行うと共に、DE11の制御を行う。PCB12の基本構成自体は周知であり、PCB12としては図6に示した以外の基本構成のものを用いても良い。尚、MCU121及びHDC124、更にはRDC123等を単一の大規模集積回路(LSI:Large Scale Integrated circuit)に集積した構成としても良い。言うまでもなく、MCU121は各種プロセッサにより構成可能である。
【0024】
MCU121は、磁気ディスク5を回転させるDCM111をSVC122を介して制御し、磁気ディスク5が定常回転させる制御部として機能する。
【0025】
磁気ディスク5上のトラックは、ヘッド114の位置を示すサーボ情報が格納されるサーボ部と、データが格納されるデータ部とに分類される。ヘッド114がトラックからリードしたサーボ情報は、RDC123により位置情報にデコードされ、MCU121へ供給される。MCU121は、この位置情報及び後述するHDC124から供給されるアドレス情報に基づいて、ヘッド114をトラックに正確に位置付けるようにSVC122を介してVCM112を制御する制御部としても機能する。
【0026】
HDC124は、ホスト装置13とデータの送受信を行う。ライト時には、ホスト装置13からのライト命令に応答して、ホスト装置13から入力されたライトデータがHDC124を介してデータバッファ125に一時的に格納され、RDC123からライト信号がヘッドアンプ115を介してヘッド114に供給される。又、ライト命令に含まれるアドレス情報が、HDC124を介してMCU121に供給される。これにより、ライト信号がヘッド114により磁気ディスク5にライトされる。
【0027】
一方、リード時には、ホスト装置13からのリード命令に応答して、ヘッド114により磁気ディスク5からリードされたリード信号がヘッドアンプ115を介してRDC123に供給され、RDC123からリードデータがHDC124に供給される。RDC123内のAGC回路230は、リード信号の波形レベルを一定に保つように動作する。AGC回路230自体は周知の回路である。又、リード命令に含まれるアドレス情報が、HDC124を介してMCU121に供給される。リードデータはHDC124を介してデータバッファ125に一時的に格納され、HDC124からホスト装置13へ出力される。ライト時及びリード時のRDC123の動作は、MCU121により制御される。
【0028】
RDC123には、一般的にはクオリティモニター(QM)機能が内蔵されており、QM測定回路23によりリード信号の信号品質がモニタされている。エラーレートは測定するのに時間がかかる。一方、リード信号の信号品質を表すQM値はエラーレートと高い相関性を有する。このため、一般的には時間短縮のために、エラーレートの代わりにQM測定回路23で測定したQM値を用いて信号品質をモニターすることが多い。QM測定回路23自体は周知の回路である。QM測定回路23で測定されたQM値は、RDC123からMCU121に供給される。
【0029】
図1と共に説明したように、ライトヘッド1とリードヘッド1の間には隙間Gがあるため、Yaw角Yによってコアずれ量を補正する必要がある。そこで、磁気ディスク装置10の出荷前の試験工程で、トラックピッチむら(トラックピッチ異常)を検出する。本実施例では、このトラックピッチむらをQM値を用いて検出する。
【0030】
図7は、トラックをオフセットさせて測定したQM値の一例を示す図である。図7に示すQM値は、ヘッド114(ヘッドコアセンタ)を目的トラックのトラックセンタからオフセットさせて測定されたものである。図7及び後述する図8〜図10、図15及び図16において、縦軸はQM値(任意単位)、横軸はオフセット量(%)を示し、オフセット量は1トラック分のオフセット量を200%として図示している。図7からもわかるように、QM値はオフセット量に対してU字型(又は、バスタブ型)の変化を示す。
【0031】
本実施例では、出荷前の試験工程で、目的トラックに対して複数のオフセット位置、望ましくは3つ以上のオフセット位置にてQM値を測定する。図8は、図7において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。図8において、□印が3つのオフセット位置でのQM値を示す。
【0032】
測定したQM値と3つのオフセット位置から、QM値とオフセット量の関係を表す多項式を生成する。図8の場合であれば、次の多項式(1)が生成できる。この例では、多項式は2次式である。
【0033】
y=0.0003208x2−0.0002809x+3.0545677 式(1)
多項式(1)は、一般式で表すと、次の多項式(2)のようになる。ここで、A,B,Cは係数である。
【0034】
Y=A×X2+B×X+C 式(2)
このようにして生成した多項式(2)を微分することにより、目的トラックのトラックセンタのずれ量が分かる。具体的には、多項式(2)中、ずれ量を補正するための、Yがゼロになるオフセット量Xを、次式(3)から計算することができる。オフセット量Xは、ずれ量を補正するためのものであるから、絶対値はずれ量と同じである。
【0035】
X=−B/2A 式(3)
オフセット量Xは、図8の場合であれば、X=−(-0.0002809)/(2×0.0003208)=0.4となる。
【0036】
図8では、目的トラックのセンタずれが略無い場合において3つのオフセット位置でQM値を測定しているので、この場合のオフセット量は0.4%と計算でき、略トラックセンタずれがないことが確認できた。
【0037】
尚、上記多項式(2)の生成及び式(3)の計算は、MCU121により行う。従って、MCU121は、多項式の生成及び計算を実行する計算部としても機能する。
【0038】
図9は、トラックセンタが比較的ずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。又、図10は、図9において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。図10の場合、次の多項式(4)が生成できる。
【0039】
y=0.0003685x2−0.0152067x+3.1889042 式(4)
図9の場合、目的トラックのセンタずれは実際には約21%である。これに対し、図10の3つのオフセット位置でQM値を測定し、オフセット量Xを計算したところ、オフセット量Xは、X=−(-0.0152067)/(2×0.0003685)=-20.6となり、目的トラックのセンタずれを正確に測定可能であることが確認された。
【0040】
ところで、近年の磁気ディスク装置が用いる磁気ディスクの高面密度化により、磁気ディスク上のトラック密度が増加している。トラック密度を増加させるためには、ヘッドを目的トラックに位置決めする精度が非常に重要となる。現在、回転同期成分を学習してトラックのサーボ部に埋め込み、これをヘッドのオントラック時にリードして補正に使用することで位置決め精度を向上させる技術が主流である。
【0041】
図11は、トラックフォーマットの一例を示す図である。図11に示すように、トラック上にはサーボ部とデータ部が設けられる。サーボ部には、サーボ情報si1,si2及び位置補正情報pci1,pci2がライトされる。データ部には、例えばデータセクタds1,ds2,ds3がライトされる。
【0042】
図12は、位置補正情報の学習方法の一例を説明する図であり、図13は、位置補正情報の使用例を説明する図である。
【0043】
先ず、図12に示すサーボ情報si1,si2内のサーボ信号から復調して作成された磁気ディスク5の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習し、目的トラックの理想センタとの差分情報を算出する。そして、各サーボフレーム毎に算出した差分情報を、位置補正情報pci1,pci2にライトする。
【0044】
目的トラックに対するオントラック時には、位置補正情報pci1,pci2をリードすることで、サーボフレーム毎のRRO成分を図13に示すようにずらして位置決めさせることで、RRO成分を除去して位置決め精度を向上することができる。RRO成分の学習に時間をかければ、理想的にはRRO成分を完全に除去することができる。しかし、これでは試験時間がかかりすぎてしまうので、必要な位置決め精度に応じて学習時間が最適化される。
【0045】
図14は、位置補正情報にセンタずれ量をDC成分として入れ込んだ補正例を説明する図である。
【0046】
QM値から求めた上記のオフセット量X、即ち、DCオフセット値を、位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込んでライトしておき、リード時にはこの位置決め補正情報pci1,pci2を各サーボ部からリードしながらヘッド114をオントラックさせることで、DC成分が補正されてサーボライト時のトラックピッチむらを補正することができる。これにより、サーボライト時のトラックピッチむらに起因するエラーレートの悪化を防止することができる。
【0047】
図15は、サーボライト時のトラックピッチむらによりトラックセンタが大きくずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。又、図16は、図15において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【0048】
サーボライト時のトラックピッチむらによるトラックセンタずれが大きい場合、図15の例ではオフセット量が約42%である。一方、上記多項式(2)及び上記(3)を用いて計算したオフセット量Xは約71%となり、オフセット量Xを正確に計算することはできない。そこで、目的トラックに例えば約42%といった大きなトラックセンタずれがある場合は、隣接トラックへの影響も大きくなるため、トラックピッチずれが大きすぎると判断してこの目的トラックを不良トラックとして登録しておけば良い。不良トラックに対しては、周知の技術による冗長トラックを登録するようにしても良い。
【0049】
図17は、このような不良トラックの登録を含む試験処理を説明するフローチャートである。図17において、ステップS1では、磁気ディスク5上の目的トラックのトラック番号をスタートトラック番号に設定する。ステップS2では、ヘッド114により目的トラックにデータをライトする。ステップS3では、QM測定回路23により目的トラックのQM値を測定する。ステップS4は、MCU121により目的トラックのトラックセンタからのずれ量、即ち、オフセット量XをQM値を用いて計算する。ステップS5では、ずれ量、即ち、オフセット量Xが補正範囲内であるか否かを判定する。
【0050】
目的トラックのトラックセンタからのずれが上記の如く例えば約42%と大きい場合、ステップS5の判定結果はNOとなる。この場合、ステップS6では、MCU121が目的トラックが不良トラックであると判断して、不良トラックを磁気ディスク装置10内のメモリに登録し、処理はステップS7へ進む。磁気ディスク装置10内のメモリは、MCU121の内部メモリであっても、図示を省略したメモリであっても良い。ステップS7では、トラック番号を「1」だけインクリメントし、処理はステップS2へ戻る。
【0051】
一方、ステップS5の判定結果がYESであると、ステップS8では、計算したオフセット量Xを、位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込み、ステップS9ではオフセット量Xを入れ込まれた位置決め補正情報pci1,pci2を目的トラックにライトする。ステップS10では、目的トラックが磁気ディスク5上の最終トラックであるか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS7へ戻る。ステップS10の判定結果がYESであると、処理は試験工程の他の周知の処理(後処理)へ進む。
【0052】
ところで、ヘッド114が出力するリード信号は、ヘッドアンプ115を介してRDC123に供給され、RDC123内ではリード信号の波形レベルを一定に保とうとするAGC回路230が動作してゲイン値を制御する。AGC回路230が制御するゲイン値(以下、AGCゲイン値と言う)は、リード信号の波形レベルが大きい程ヘッド114が目的トラックのトラックセンタに近いので小さくなり、リード信号の波形レベルが小さい程ヘッド114が目的トラックのトラックセンタからずれているので大きくなる。
【0053】
このため、AGC回路230のAGCゲイン値とオフセット量の関係は、上記QM値とオフセット量の関係と同様なものとなる。従って、QM値の代わりにAGCゲイン値を用いてオフセット量Xを計算することも可能である。
【0054】
図18は、トラックをオフセットさせて測定したAGCゲイン値の一例を示す図である。図18において、縦軸はAGCゲイン値(任意単位)、横軸はオフセット量(%)を示し、オフセット量は1トラック分のオフセット量を200%として図示している。図18からもわかるように、AGCゲイン値はオフセット量に対してU字型(又は、バスタブ型)の変化を示す。
【0055】
従って、QM値を使用したトラックセンタずれ量(オフセット量X)を求める場合と同様に、AGC回路230のAGCゲイン値によっても同様にオフセット量Xを求めることが可能であり、オフセット量Xを位置決め補正情報pci1,pci2にDC成分として入れ込んでライトしておき、リード時にはこの位置決め補正情報pci1,pci2を各サーボ部からリードしながらヘッド114をオントラックさせることで、DC成分が補正されてサーボライト時のトラックピッチむらを補正することができる。
【0056】
以上説明したように、本実施例によれば、トラックピッチ異常が発生してもライト位置とリード位置を合わせてエラーレートの悪化を防止可能となる。また、エラーレートの悪化を防止できるので、リトライ動作を行う回数が減少して磁気記憶装置の処理速度及び信頼性が向上する。
【0057】
尚、磁気記録媒体は、磁気ディスクに限定されるものではなく、ディスク形状以外のものであっても良い。要は、ライトヘッド及びリードヘッドが磁気記録媒体上の位置に応じてトラックに対してヨー(Yaw)角を持つような磁気記憶装置で用いられる磁気記録媒体であれば、サーボパターンのトラックピッチむらが発生しやすいので、本発明を適用可能である。
【0058】
以上の実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
(付記2)
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記1記載の磁気記憶装置。
(付記3)
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、付記2記載の磁気記憶装置。
(付記4)
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、付記3記載の磁気記憶装置。
(付記5)
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記1乃至4のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記6)
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、付記1乃至5のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記7)
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、付記1乃至6のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記8)
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、付記1乃至7のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記9)
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
(付記10)
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記9記載の磁気記憶装置。
(付記11)
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、付記10記載の磁気記憶装置。
(付記12)
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、付記11記載の磁気記憶装置。
(付記13)
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、付記9乃至12のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記14)
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、付記9乃至13のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記15)
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、付記9乃至14のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
(付記16)
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、付記9乃至15のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【0059】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【0060】
【図1】ライトヘッドとリードヘッドの関係を説明する図である。
【図2】ライトヘッドとリードヘッドのオントラック位置ずれを説明する図である。
【図3】正常トラックのコアずれ補正を説明する図である。
【図4】狭トラックピッチの箇所のライト動作を説明する図である。
【図5】狭トラックピッチの箇所のリード動作を説明する図である。
【図6】本発明の一実施例における磁気記憶装置を示すブロック図である。
【図7】トラックをオフセットさせて測定したQM値の一例を示す図である。
【図8】図7において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図9】トラックセンタがずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。
【図10】図9において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図11】トラックフォーマットの一例を示す図である。
【図12】位置補正情報の学習方法の一例を説明する図である。
【図13】位置補正情報の使用例を説明する図である。
【図14】位置補正情報にセンタずれ量をDC成分として入れ込んだ補正例を説明する図である。
【図15】トラックセンタが大きくずれた場合に測定したQM値の一例を示す図である。
【図16】図15において3つのオフセット位置でQM値を測定した一例を示す図である。
【図17】試験処理を説明するフローチャートである。
【図18】トラックをオフセットさせて測定したAGCゲイン値の一例を示す図である。
【符号の説明】
【0061】
5 磁気ディスク
10 磁気ディスク装置
11 DE
12 PCB
13 ホスト装置
23 QM測定回路
114 ヘッド
121 MCU
122 SVC
123 RDC
124 HDC
125 データバッファ
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
【請求項2】
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、請求項1記載の磁気記憶装置。
【請求項3】
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、請求項2記載の磁気記憶装置。
【請求項4】
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、請求項3記載の磁気記憶装置。
【請求項5】
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、請求項1乃至4のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項6】
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、請求項1乃至5のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項7】
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、請求項1乃至6のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項8】
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、請求項1乃至7のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項9】
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
【請求項1】
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から信号品質を表すクオリティーモニタ値を測定する測定回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのクオリティーモニタ値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
【請求項2】
前記ヘッドにより前記オフセット量を前記目的トラックにライトするライト手段と、
前記ヘッドにより前記目的トラックからリードするリード手段を更に備え、
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、請求項1記載の磁気記憶装置。
【請求項3】
前記ライト手段は、前記オフセット量を、前記目的トラックのサーボ部にライトする、請求項2記載の磁気記憶装置。
【請求項4】
前記サーボ部には、前記磁気記録媒体の回転に同期したRRO(Repeatable Run-Out)成分を学習して算出された目的トラックの理想センタとの差分情報を含む位置補正情報が格納されており、
前記ライト手段は、前記オフセット量を前記位置補正情報に入れ込むように前記サーボ部にライトする、請求項3記載の磁気記憶装置。
【請求項5】
前記制御部は、リードされた前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのサーボパターンのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する、請求項1乃至4のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項6】
前記制御部は、前記オフセット量が補正範囲外であると前記目的トラックを不良トラックとして登録する、請求項1乃至5のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項7】
前記計算部及び前記制御部は、単一のプロセッサで構成される、請求項1乃至6のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項8】
前記ヘッドは、前記磁気記録媒体上の位置に応じて各トラックに対してヨー(Yaw)角を持ち、且つ、その間に間隙が形成されたライトヘッド及びリードヘッドを有する、請求項1乃至7のいずれか1項記載の磁気記憶装置。
【請求項9】
ヘッドが磁気記録媒体からリードした信号から前記信号の波形レベルを一定に保つようにゲイン値を制御する自動利得制御回路と、
前記ヘッドが前記磁気記録媒体上の目的トラックのトラックセンタからオフセットされた複数のオフセット位置でのゲイン値と各オフセット量の関係を表す多項式を生成し、前記多項式からトラックセンタからのずれ量をゼロにするオフセット量を求める計算部と、
前記オフセット量に基づいて前記目的トラックのトラックピッチむらを補正するように前記ヘッドの位置を制御する制御部を備えた、磁気記憶装置。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【公開番号】特開2010−61746(P2010−61746A)
【公開日】平成22年3月18日(2010.3.18)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−227366(P2008−227366)
【出願日】平成20年9月4日(2008.9.4)
【出願人】(309033264)東芝ストレージデバイス株式会社 (255)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成22年3月18日(2010.3.18)
【国際特許分類】
【出願日】平成20年9月4日(2008.9.4)
【出願人】(309033264)東芝ストレージデバイス株式会社 (255)
【Fターム(参考)】
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