説明

銅−ガリウム合金スパッタリングターゲット及びそのスパッタリングターゲットの製造方法並びに関連用途

【課題】形成された物理蒸着薄膜にマクロおよびミクロな偏析の生じない銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットを、原料ターゲットに500℃ないし850℃の温度範囲での少なくとも1回の熱を伴う機械的な処理、0.5ないし5時間の焼なまし処理、またはそれらを組み合わせた処理を施す工程。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はスパッタリングターゲットの製造方法に関し、より詳しくは、主として固溶体相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
再生不可能な燃料は使い果たされつつあるので、再生可能なエネルギーの開発の重要性が増している。CIGSは高い光電変換効率を有する直接的なバンドギャップ材料であるから、太陽電池用吸収層としての用途に適している。
【0003】
CIGSの薄膜は、最も一般的には物理的蒸着法(PVD)によって製造されている。PVDは、CIGS太陽電池に薄膜を形成するためにスパッタリングを使用することができる。スパッタリングにはターゲットと基板を形成することが必要で、基板上にCIGのようなターゲット材料をスパッタリングし、それからセレナイジングしてCIGS薄膜を形成することができる。
【0004】
スパッタリングターゲットは、粉末冶金または鋳造によって製造することができる。鋳造が使用されるとき、銅、インジウム、ガリウムおよびセレンの融点は大きく異なっている。そこで、これらの材料は析出しないので、一様でない薄膜を形成する。銅合金ターゲットの共晶ミクロ組織は固溶体相と化合物相を有しており、その化合物相は、一般的に、銅合金ターゲットの金属ミクロ組織の約30ないし40%を占めている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、そのような銅合金ターゲットのミクロ組織は次のような不利な点を有している。
(1)銅合金ターゲットの材料の分布が一様でないので、マクロな偏析またはミクロな偏析が生じる。
(2)銅合金ターゲットの2相は、特性(光電変換効率など)が劣る一様でない薄膜になる。
(3)銅合金ターゲットの2相は、スパッタリング中にミクロな円弧をもたらすので、特性が劣る薄膜になる。
【0006】
それゆえ、CIGS太陽電池の製造コストと効率はスパッタリングターゲットに依存している。
【0007】
その欠点を解消するために、本発明は上記欠点を抑制するか又は除去するための銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法を提供する。
【0008】
本発明の主たる目的は、主として固溶体相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法を提供することにある。
【問題を解決するための手段】
【0009】
上記目的を達成するために、本発明による銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法は、原料ターゲットを形成する工程と、その原料ターゲットに500℃ないし850℃の温度範囲の熱処理を少なくとも1回施す工程と、71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットを得るために、上記のように処理されたターゲットを室温まで冷却する工程とを有している。
【発明の効果】
【0010】
それゆえ、銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットはスパッタリング中にミクロな円弧をもたらさず、一貫したスパッタリング速さを維持しうるので、一様な銅−ガリウム薄膜を形成しうる。従って、銅−ガリウム薄膜の特性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【図1】図1は一般的な銅−ガリウム(Cu−Ga)合金の状態図である。
【図2】図2は従来技術による一般的な銅−ガリウム合金ターゲットの金属ミクロ組織である。
【図3】図3は本発明の実施例1による銅−ガリウム合金ターゲットの金属ミクロ組織である。
【図4】図4は本発明の実施例2による銅−ガリウム合金ターゲットの金属ミクロ組織である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
本発明による銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法は、原料ターゲットを形成する工程と、処理されたターゲットを形成するために、上記原料ターゲットに500℃ないし850℃の温度範囲の熱処理を少なくとも1回施す工程と、71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットを得るために、上記のように処理されたターゲットを室温まで冷却する工程とを有している。
【0013】
原料ターゲットを形成する工程では、粉末冶金、または真空溶解、連続鋳造、遠心鋳造のような鋳造、ホットプレス焼結、高温静水圧成形(HIP)、高温塑性変形などを使用して原料ターゲットを形成することができる。
【0014】
少なくとも1回の熱処理は、処理されたターゲットを形成するために、500℃ないし850℃の温度範囲での少なくとも1回の機械的な処理、500℃ないし850℃の温度範囲での0.5ないし5時間の少なくとも1回の焼なまし処理、またはそれらの処理を組み合わせたものである。
【0015】
一形態において、少なくとも1回の熱処理は、原料ターゲットに少なくとも1回の熱を伴う機械的な処理を施すことからなる。
【0016】
別の形態において、少なくとも1回の熱処理は、原料ターゲットに少なくとも1回の焼なまし処理を施すことからなる。
【0017】
別の形態において、少なくとも1回の熱処理は、原料ターゲットに少なくとも1回の熱を伴う機械的な処理を施し、それからその原料ターゲットに少なくとも1回の焼なまし処理を施すことからなる。
【0018】
別の形態において、少なくとも1回の熱処理は、原料ターゲットに少なくとも1回の焼なまし処理を施し、それからその原料ターゲットに少なくとも1回の熱を伴う機械的な処理を施すことからなる。
【0019】
別の形態において、少なくとも1回の熱処理は、原料ターゲットに少なくとも1回の機械的な処理を施し、それからその原料ターゲットに少なくとも1回の焼なまし処理を施し、さらに、その原料ターゲットに複数回の熱を伴う機械的な処理を繰り返して施すことからなる。
【0020】
上記形態の組み合わせは、処理コストと好ましいスパッタリングターゲットの間のバランスを達成するために変えることができる。
【0021】
好ましくは、熱を伴う機械的な処理は、鍛造、圧延加工またはホットプレスである。好ましくは、熱を伴う機械的な処理による減面率は0ないし90%である。
【0022】
より好ましくは、熱を伴う機械的な処理による減面率は0ないし50%である。
【0023】
最も好ましくは、化合物相に対して高比率の固溶体相を得るために、熱処理は、25%の減面率で800℃で少なくとも1回圧延加工し、700℃で1時間少なくとも1回焼なまし処理をすることを含む。
【0024】
処理されたターゲットの冷却は、空気、水または油を使って行える。
【0025】
本発明による銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットは、71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する銅−ガリウム合金を含む。
【0026】
本発明はさらに銅合金を含む太陽電池に関する。
【0027】
銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの化合物相はその金属ミクロ組織の25%以下であるため、そのミクロ組織は実質的に単一相である。それゆえ、銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットはスパッタリング中にミクロな円弧をもたらさず、一貫したスパッタリング速さを維持しうるので、一様な銅−ガリウム薄膜を形成しうる。従って、銅−ガリウム薄膜の特性が向上する。
【0028】
以下の実施例において、スパッタリングターゲットは、化合物相と固溶体相の比率を計算するために、硝酸と過酸化水素と水とを3対1対1の比率で含有するエッチング溶液を使用して分析された。ミクロ組織はオリンパス社製のオリンパスBH顕微鏡を使用して得られた。そのミクロ組織において、固溶体相は明るい灰色で示され、化合物相は暗い灰色で示される。化合物相に対する固溶体相の比率は、以下の式1に従って、MediaCybernetics社製の画像測定ソフトウエア、Image-Pro Plus Version 6.3によって計算することができ、画像測定ソフトウエア、Image-Pro Plus Version 6.3を使用して計算された。
【0029】
(化合物相[B])/(固溶体相[A]+化合物相[B]) 式1
図1は、固溶体相(β相)および化合物相(γ相)を含有する共晶系であるCu−Ga合金の状態図を示す。
【0030】
化合物相および固溶体相の理論的な比率は式1によって計算され、30ないし40%が得られる。Aはβ相で、Bはγ相であり、化合物相は、一般的に、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットの金属ミクロ組織の約30ないし40%を占める。
【0031】
別の従来のCu−Ga合金スパッタリングターゲットは、鋳造によって製造される、75重量%の銅と25重量%のガリウムを含有している。
【0032】
図2において、固溶体相は明るい灰色で示され、化合物相は暗い灰色で示される。式1によって計算される、その実証的な比率は30.4%である。それゆえ、その実証的な比率は理論的な比率に一致している。
【0033】
本発明の方法はCu−Ga合金の固溶体相変態と原子拡散に関し、それは銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットのミクロ組織における化合物相と固溶体相の比率に影響を与える。それゆえ、原料ターゲットが粉末冶金または鋳造のいずれの方法で作製されるかに関わらず、本発明の方法によれば、実質的に固溶体相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットが、図3に示すように得られる。
【実施例】
【0034】
以下の実施例は、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットを製造するための本発明の熱処理方法を提示し、これらCu−Ga合金スパッタリングターゲットを比較する。処理前の各ターゲットは約35%の実証的な比率を有することが示された。実施例は例示に過ぎず、それによって本発明に限定が加えられることを意味しない。
【0035】
実施例1
原料ターゲットは真空溶解によって形成された。その原料ターゲットは25%の減面率で800℃で圧延加工された。それから、700℃で1時間焼なまし処理された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0036】
実施例2
原料ターゲットは空気溶解によって形成された。その原料ターゲットは800℃で1時間焼なまし処理された。それから、25%の減面率で800℃で圧延加工された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0037】
実施例3
原料ターゲットは真空溶解によって形成された。その原料ターゲットは600℃でホットプレス焼結された。それから、800℃で1時間焼なまし処理された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0038】
実施例4
原料ターゲットは真空溶解によって形成された。その原料ターゲットは40%の減面率で700℃で圧延加工された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0039】
実施例5
原料ターゲットは真空溶解によって形成された。その原料ターゲットは700℃で3時間焼なまし処理された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0040】
実施例6(比較例)
原料ターゲットは真空溶解によって形成された。その原料ターゲットは25%の減面率で400℃で圧延加工された後、室温まで冷却された。その結果、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットが形成された。
【0041】
【表1】

【0042】
表1において、TAは焼なまし処理を示し、TMTは熱を伴う機械的な処理を示す。表1において、すべての原料ターゲットは処理される前に35%の化合物相を有していた。実施例1ないし5に示すように本発明の方法が施された後、各Cu−Ga合金スパッタリングターゲットの化合物相は明らかに減少した。しかし、実施例6のCu−Ga合金スパッタリングターゲットは、本発明の範囲に属さない400℃で処理されただけであったので、固溶体相と化合物相の間の実証的な比率は減少しなかった。それゆえ、2相を含有する共晶系が実施例6のCu−Ga合金スパッタリングターゲットにおいてはまだ存在している。
【0043】
図3は、本発明の方法の好ましい状態を示す、実施例1の金属ミクロ組織を示す。化合物相は、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットの金属ミクロ組織の5%に過ぎない。そこで、そのCu−Ga合金スパッタリングターゲットは実質的に単一相である。
【0044】
図4は、実施例2の金属ミクロ組織を示す。化合物相は、Cu−Ga合金スパッタリングターゲットの金属ミクロ組織の25%である。実施例2の結果は実施例1と同じ程度によくはないけれども、実施例6よりは改善されている。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する合金を含む銅−ガリウム合金スパッタリングターゲット。
【請求項2】
原料ターゲットを形成する工程と、
処理されたターゲットを形成するために、上記原料ターゲットに500℃ないし850℃の温度範囲での少なくとも1回の熱を伴う機械的な処理、500℃ないし850℃の温度範囲での0.5ないし5時間の少なくとも1回の焼なまし処理、またはそれらを組み合わせた処理を施す工程と、
71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットを得るために、上記のように処理されたターゲットを室温まで冷却する工程
とを有している銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットの製造方法。
【請求項3】
71原子%ないし78原子%のCuと22原子%ないし29原子%のGaからなり、その金属ミクロ組織中に25%以下の化合物相を有する合金を含む銅−ガリウム合金スパッタリングターゲットが析出している銅合金薄膜を有する太陽電池。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2010−116580(P2010−116580A)
【公開日】平成22年5月27日(2010.5.27)
【国際特許分類】
【外国語出願】
【出願番号】特願2008−288573(P2008−288573)
【出願日】平成20年11月11日(2008.11.11)
【出願人】(508335819)光洋應用材料科技股▲分▼有限公司 (2)
【Fターム(参考)】