静電容量式タッチセンサ
【課題】ユーザの操作を正確に検出できる静電容量式タッチセンサを提供する。
【解決手段】板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、絶縁体の裏面に、絶縁体を挟んで電極と対向するように、予め定められた間隔で配置された複数の配線ラインと、複数の電極のうちの一つと、複数の配線ラインのうちの1本とを接続する接続部と、を備える。
【解決手段】板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、絶縁体の裏面に、絶縁体を挟んで電極と対向するように、予め定められた間隔で配置された複数の配線ラインと、複数の電極のうちの一つと、複数の配線ラインのうちの1本とを接続する接続部と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、静電容量の変化を監視して、被検物の接近または接触を検出する静電容量式タッチセンサに関する。
【背景技術】
【0002】
静電容量検出電極と人体間の静電容量を利用して操作を検出する静電容量センサは、例えばタッチパネル、タッチパッドに用いられている。タッチパネルは、例えばLCD画面上に取り付けられ、従来のメカニカルスイッチに比べ、スイッチの配置を柔軟に行うことができることもあって、広く普及している。
【0003】
このような静電容量式スイッチでは、被検知物体を検出する方法として、直接検知電極のインピーダンスを測定し静電容量を検出することで検知する方法や、検知電極で検出した静電容量を電圧に変換して入力する発振回路を構成し、その発振周波数を測定する方法、RC充放電回路を構成してその放電時間を計測する方法、既知電圧で充電された静電容量を既知容量のコンデンサに移動させて、該既知容量のコンデンサが所定電圧まで充電される時間を測定する方法、または、該既知容量のコンデンサに充放電を繰り返しその回数をカウントする方法などが知られている。
【0004】
また、誘電層に複数の電極を配列形成し、この複数の電極に接近する導電操作体との間にコンデンサを形成し、複数の電極のどの電極に導電操作体が接近したかを静電容量の変化として検出することで、配線ラインに導電操作体が接近した場合の誤操作を防止することのできる静電容量センサが考案されている(特許文献1参照)。
【0005】
また、2以上の検知電極のうち1つを静電容量検知回路に接続し、他の検知電極を同電位出力手段に接続することで測定対象以外の検知電極をシールドとして機能させ、外乱による誤動作を防止することができる静電容量式センサが考案されている(特許文献2参照)。
【0006】
また、基板に貫通孔を複数形成し、基板の端面を通ることなく、基板表面と基板裏面との配線を接続して、配線における断線を確実に防止することができるタッチパネルが考案されている(特許文献3参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【特許文献1】特開2010−086385号公報
【特許文献2】特開2007−303895号公報
【特許文献3】特開昭60−200425号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
特許文献1の構成は、誤操作を防止する発泡層を形成する必要があるため、構成が複雑となるとともに、その分コストが上昇するという問題がある。
【0009】
特許文献2の構成は、切り替え機が必要であるため、構成が複雑となるとともに、その分コストが上昇するという問題がある。
【0010】
特許文献3の構成は、ユーザの誤操作を防止する構成を含んでいない。
【0011】
上記問題点を背景として、本発明の課題は、ユーザの操作を正確に検出できる静電容量式タッチセンサを提供することにある。
【課題を解決するための手段および発明の効果】
【0012】
上記課題を解決するための静電容量式タッチセンサは、板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、絶縁体の裏面に、絶縁体を挟んで電極と対向するように、予め定められた間隔で配置され、一端が発生した静電容量を出力する出力端である複数の配線ラインと、複数の電極のうちの1つと、複数の配線ラインのうちの1本とを、配線ラインの予め定められた位置において接続する接続部と、を備えることを特徴とする。
【0013】
本発明は、上述の問題を、配線ラインにおける容量変化の誤判定が、配線ラインが電極と同一平面上に配線されていることに起因するという点に着目し、配線ラインの配置を変更することにより解決するものである。従来の構成では、電極と接続する配線ラインを、電極の上下左右の同一平面上に配線することが多いが、本発明では、配線を電極の下側を通し、絶縁体を挟んで電極と一定距離を保つように配すことにより、静電タッチパネル(電極)へ被測定物が近接した際の誤作動を防止することが可能となる。
【0014】
また、本発明の静電容量式タッチセンサにおける接続部は、配線ラインの他の一端を接続する。
【0015】
上記構成によっても、静電タッチパネル(電極)へユーザの手指等の被検物が近接した際の誤作動を防止することが可能となる。また、配線ラインは電極〜出力端までとなるので、配線ラインの長さを短くすることもできる。
【0016】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、被検物が接近した電極に発生する静電容量が、被検物が接近した電極と、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように絶縁体の厚さが定められる。
【0017】
静電容量Cの値は、C=ε0×εr×S/Lで表される。すなわち、金属板の面積Sと金属板同士の距離L、および金属板間の絶縁体の比誘電率εrにより決まる(ε0は真空の誘電率で8.854×10のマイナス12乗)。本発明の構成では、絶縁体の厚さが距離Lに相当し、配線ラインの電極に対向する面の面積が面積Sに相当する。配線スペースの制約により面積Sを小さくできないときには距離Lを大きくすれば、被検物が接近した電極と被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量を小さくすることができる。上記構成によって、被検物が接近した電極を正確に判別することができる。
【0018】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、被検物が接近した電極に発生する静電容量が、被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように配線ラインの間隔が定められる。
【0019】
上述の静電容量Cの算出式によれば、これら配線ラインの間隔を大きく取れば、被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量を小さくすることができる。上記構成によっても、被検物が接近した電極を正確に判別することができる。
【0020】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、配線ラインが絶縁体にて覆われている。
【0021】
上記構成によって、配線ラインが露出している(すなわち、空気に触れている)状態に比べて、隣り合う配線ライン間の誘電率が一定となる(すなわち、絶縁体の誘電率となる)ため、ユーザの指(すなわち、被検物)が電極に接近したときに、隣り合う配線ライン間に発生する静電容量の変動を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【図1】従来技術による静電容量式タッチセンサの構成を示す図。
【図2】図1の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図3】本発明の静電容量式タッチセンサの構成を示す図。
【図4】図3のX−X’断面図。
【図5】図3のY−Y’断面図。
【図6】本発明の静電容量式タッチセンサの構成の別例を示す図。
【図7】図6のX−X’断面図。
【図8】図3または図6のY−Y’断面の別例を示す図。
【図9】図3または図6のY−Y’断面の別例を示す図。
【図10】図3または図6の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図11】図3または図6の構成における、全ての電極における被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図12】本発明の静電容量式タッチセンサの構成の別例を示す図。
【図13】図12のX−X’断面図。
【図14】図12の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図15】電極の配置の別例を示す図。
【図16】電極の配置の別例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0023】
以下、本発明の静電容量式タッチセンサについて、図面を用いて説明する。まず、図1に、従来技術による静電容量式タッチセンサの構成の一例を示す。静電容量式タッチセンサ2は、たとえばプリント基板のような基板4上に実装された電極10,20,30,40、切替回路5、信号処理回路6を含んで構成されている。また、電極10,20,30,40と切替回路5とは、それぞれ基板4の電極が配置されている面上に配線パターンとして形成された配線ライン11a,21a,31a,41aにより接続されている。
【0024】
切替回路5は、信号処理回路6の制御指令に基づいて、電極10,20,30,40のうちの1つを選択してその状態を出力する。
【0025】
信号処理回路6は、電極に発生する静電容量を蓄積するコンデンサ、周知のオペアンプ等を含んで構成される増幅器、ADコンバータ、およびマイクロコンピュータ(マイコン)、ROM、RAM、周辺回路を含んで構成される。そして、マイコンがROMに記憶された制御プログラムを実行することで、静電容量式タッチセンサ2としての各種動作を行う。
【0026】
なお、切替回路5、信号処理回路6は、基板上に実装されていなくてもよい。すなわち、基板4とは別の基板あるいは装置に含まれていてもよい。また、切替回路5、信号処理回路6を、本発明に含まない構成としてもよい。
【0027】
上述のような構成により、静電容量式タッチセンサ2は、信号処理回路6(例えばマイコン)の制御指示により、切替回路5で4つの電極のうちいずれかを選択し、その電極に所定電圧を印加する。例えば、ユーザの指F(被検物)が電極に接近(あるいは接触)すると、電極とユーザとの間の静電容量およびユーザとGNDとの間の静電容量に応じた電荷が電極に蓄積される。この電極に蓄積された電荷を信号処理回路6に含まれるコンデンサに転送する。そして、これらの、電荷の蓄積、転送を所定期間繰り返した後に、電荷量に応じて発生するコンデンサの電圧を増幅・AD変換し、マイコンにおいて、電圧値あるいは電圧値の変化が、被検物の接近あるいは接触によるものかどうかを判定する。この判定方法として、チャージ・トランスファ方式が知られている。
【0028】
図1の構成で、ユーザの指Fが静電容量式タッチセンサ2に接近したとき、電極に接近したのであれば問題はないが、配線ライン上に接近したとき、ユーザの指Fと配線ラインとの間で静電容量が発生する。そして、この静電容量の値は、ユーザの指Fの接近の状態により一定せず、誤検出の原因となり得る。
【0029】
例えば、ユーザの指Fが図1のように接近したとき、図2のように、信号処理回路6で検出する各電極の電圧値は、電極20(この場合は配線ライン21)の検出レベルが、4つの電極のうちで最も大きい値V1となる。このとき、ユーザの指Fの接近を判定する電圧の閾値がV1〜V2の間に設定されていると、ユーザの指Fが電極20に接近していないにもかかわらず、電極20に接近したと判定され、ユーザの意図しない動作を行ってしまうこともある。
【0030】
また、上述の閾値がV3〜V4の間に設定されていると、正規の信号であるのか、本来入力として受け付けたくない誤作動要因の信号であるか判別できない等の問題が生ずる。
【0031】
次に、図3〜図5を用いて、本発明の静電容量式タッチセンサについて説明する。なお、図1と同様の構成については、ここでの詳細な説明は割愛する。図3は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図4は図3のX−X’断面図、図5は図3のY−Y’断面図を示している。
【0032】
静電容量式タッチセンサ1は、基板4の表面上に列状に実装された電極10,20,30,40、切替回路5、信号処理回路6を含んで構成されている。また、電極10,20,30,40と切替回路5とは、それぞれ基板4の裏面上の配線パターンとして形成された配線ライン11,21,31,41により接続されている。
【0033】
各配線ライン(11,21,31,41)は、絶縁体である基板4を挟んで電極と対向するように、例えば略等間隔となるように、予め定められた間隔(L2)で配線されている。また、配線ラインの切替回路5に接続される端部(16,26,36,46)が出力端となっている。
【0034】
基板4は、例えばプリント配線基板の代わりに、絶縁体により構成してもよいし、空気層としてもよい。但し、空気層とするよりも絶縁体により構成した方が、各電極と各配線ラインとの間で発生する静電容量の変動が小さいという利点がある。
【0035】
基板4の、各電極(10,20,30,40)の切替回路5から遠い端部には、貫通孔(スルーホールともいう)15,25,35,45が形成され、各配線ライン(11,21,31,41)は、対応する貫通孔を通り基板4の表面上の配線パターン(12,22,32,42)を介して電極に接続している。なお、貫通孔および配線パターンが本発明の接続部に相当する。
【0036】
電極(10,20,30,40)は略矩形状であるが、後述の条件を満たすものであれば、多角形あるいは円形でもよい。但し、電極と他の電極の配線ラインとの間に発生する静電容量は均一であることが望ましいので、電極の形状は略矩形状が適している。
【0037】
図5において、基板4の厚さL1、各配線ラインの間隔L2,各配線ラインの幅L3は、例えば以下の条件を満たすように定められる。無論、電極の面積も、以下の条件を満たすように定められる。
【0038】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極に発生する静電容量が、ユーザの指Fが接近した電極と他の電極の配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように、基板4の厚さL1および配線ラインの幅L3の少なくとも一方が定められる。
【0039】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極に発生する静電容量が、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインと他の電極の配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように、基板4の厚さL1および配線ラインの間隔L2が定められる。
【0040】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインとユーザの指Fが接近した電極の下を通る配線ラインとの間で生ずる静電容量(浮遊容量)が、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインとユーザの指Fが接近した電極の下を通らない配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように基板4の厚さL1および配線ラインの間隔L2の少なくとも一方が定められる(例えば、L2=2×L1)。
【0041】
図6,図7を用いて、静電容量式タッチセンサ1の別例について説明する。なお、本構成例は、図3,図4の変形例であるため、図3,図4の相違点のみについて述べる。図6は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図7は図6のX−X’断面図を示している。なお、図6のY−Y’断面図は図5と同様である。
【0042】
図6,図7では、基板4の表面上の配線パターン(12,22,32,42)はなく、貫通孔(15,25,35,45)は、各電極(10,20,30,40)の切替回路5から遠い側の周縁下に形成されている。貫通孔の位置は切替回路5から近い側(静電容量信号出力側)の周縁下(配線ライン11では15a)に形成してもよいし、15〜15aの任意の位置に形成してもよい。このとき、各配線ラインは、切替回路5〜貫通孔の間にのみ配置される。
【0043】
図8,図9に、図3〜図7の別例を示す。図8,図9は、配線ライン(11,21,31,41)を、基板4と同じ材質の部材あるいは他の絶縁体4aで覆ったもの(図8)、あるいは、配線ラインを基板4の内部に配置したもの(図9)である。
【0044】
図8,図9において、配線ラインの断面形状はそれぞれ矩形状,円形状となっており(多角形状でもよい)、いずれを用いてもよいが、矩形状とした方が隣り合う配線ライン間に発生する静電容量が安定する。
【0045】
図10に、図3〜図9の構成における、ユーザの指Fが電極30に接近したときの、各電極に発生する静電容量に応じた出力電圧(検出レベル)を示す。電極30の検出レベルは、ユーザの指Fとの間に発生する静電容量に基づくもので、V11である。電極10,20の検出レベルは、電極30と配線ライン11,21との間に発生する静電容量に基づくもので、ほぼ同じ値(V21)となる。また、電極40の検出レベルは、配線ライン31と配線ライン41との間に発生する静電容量に基づくもので、V21よりも十分小さい値(V31)となる。
【0046】
図11に、図3〜図9の構成における、全ての電極における被検物接近時の各電極の検出レベルを示す。図10,図11の例では、V11〜V21の間に閾値1を設定し、V21〜V31の間に閾値2を設定すると、各電極の出力電圧の状態を把握でき、ユーザの指Fが接近した電極を正確に判別できる。
【0047】
図12,図13を用いて、静電容量式タッチセンサ1の別例について説明する。なお、本構成例は、図6,図7の変形例であるため、図6,図7の相違点のみについて述べる。図12は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図13は図12のX−X’断面図を示している。なお、図12のY−Y’断面図は図5(あるいは、図8,図9)と同様である。
【0048】
図12,図13では、電極20,30,40のそれぞれの貫通孔(25,35,45)から電極10の切替回路5から遠い側の周縁に向けて、各配線ラインが延長されている。配線ライン11も切替回路5から遠い側に延長されている。配線ラインの延長部分(13,23,33,43)は、上述の周縁を超えて延長してもよいし、電極10の下までとしてもよい。
【0049】
図14に、図12,図13の構成における、ユーザの指(図示略)が電極30に接近したときの、各電極の出力電圧(検出レベル)を示す。電極30からの検出レベルは、ユーザの指との間に発生する静電容量に基づくもので、V12である。電極10,20,40からの検出レベルは、電極30と配線ライン11,21,配線ライン41の延長部分43との間に発生する静電容量に基づくもので、ほぼ同じ値(V22)となる。
【0050】
つまり、本構成では、ユーザの指が接近しない電極からの出力電圧は、全てほぼ同一の値となるので、V12〜V22間に閾値を1つ設定することで、ユーザの指が接近した電極を正確に判別できる。なお、基板4の厚さL1、各配線ラインの間隔L2,各配線ラインの幅L3は、V12とV22を判別可能なように定められる。
【0051】
また、図15のように、上述の構成で、電極の大きさは全て同一でなくともよい。また、電極の配置は、電極20のように、隣の電極30と正対しない配置としてもよい。また、図16のように、電極を斜め直線状にしてもよいし、円弧状に配置してもよい。少なくとも、配線ラインが他の電極の裏面を通るように配置できればよい。
【0052】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらはあくまで例示にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づく種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【0053】
1 静電容量式タッチセンサ
4 基板
5 切替回路
6 信号処理回路
10,20,30,40 電極
11,21,31,41 配線ライン
12,22,32,42 配線パターン(接続部)
13,23,33,43 配線ラインの延長部分
15,25,35,45 貫通孔(接続部)
16,26,36,46 出力端
【技術分野】
【0001】
本発明は、静電容量の変化を監視して、被検物の接近または接触を検出する静電容量式タッチセンサに関する。
【背景技術】
【0002】
静電容量検出電極と人体間の静電容量を利用して操作を検出する静電容量センサは、例えばタッチパネル、タッチパッドに用いられている。タッチパネルは、例えばLCD画面上に取り付けられ、従来のメカニカルスイッチに比べ、スイッチの配置を柔軟に行うことができることもあって、広く普及している。
【0003】
このような静電容量式スイッチでは、被検知物体を検出する方法として、直接検知電極のインピーダンスを測定し静電容量を検出することで検知する方法や、検知電極で検出した静電容量を電圧に変換して入力する発振回路を構成し、その発振周波数を測定する方法、RC充放電回路を構成してその放電時間を計測する方法、既知電圧で充電された静電容量を既知容量のコンデンサに移動させて、該既知容量のコンデンサが所定電圧まで充電される時間を測定する方法、または、該既知容量のコンデンサに充放電を繰り返しその回数をカウントする方法などが知られている。
【0004】
また、誘電層に複数の電極を配列形成し、この複数の電極に接近する導電操作体との間にコンデンサを形成し、複数の電極のどの電極に導電操作体が接近したかを静電容量の変化として検出することで、配線ラインに導電操作体が接近した場合の誤操作を防止することのできる静電容量センサが考案されている(特許文献1参照)。
【0005】
また、2以上の検知電極のうち1つを静電容量検知回路に接続し、他の検知電極を同電位出力手段に接続することで測定対象以外の検知電極をシールドとして機能させ、外乱による誤動作を防止することができる静電容量式センサが考案されている(特許文献2参照)。
【0006】
また、基板に貫通孔を複数形成し、基板の端面を通ることなく、基板表面と基板裏面との配線を接続して、配線における断線を確実に防止することができるタッチパネルが考案されている(特許文献3参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【特許文献1】特開2010−086385号公報
【特許文献2】特開2007−303895号公報
【特許文献3】特開昭60−200425号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
特許文献1の構成は、誤操作を防止する発泡層を形成する必要があるため、構成が複雑となるとともに、その分コストが上昇するという問題がある。
【0009】
特許文献2の構成は、切り替え機が必要であるため、構成が複雑となるとともに、その分コストが上昇するという問題がある。
【0010】
特許文献3の構成は、ユーザの誤操作を防止する構成を含んでいない。
【0011】
上記問題点を背景として、本発明の課題は、ユーザの操作を正確に検出できる静電容量式タッチセンサを提供することにある。
【課題を解決するための手段および発明の効果】
【0012】
上記課題を解決するための静電容量式タッチセンサは、板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、絶縁体の裏面に、絶縁体を挟んで電極と対向するように、予め定められた間隔で配置され、一端が発生した静電容量を出力する出力端である複数の配線ラインと、複数の電極のうちの1つと、複数の配線ラインのうちの1本とを、配線ラインの予め定められた位置において接続する接続部と、を備えることを特徴とする。
【0013】
本発明は、上述の問題を、配線ラインにおける容量変化の誤判定が、配線ラインが電極と同一平面上に配線されていることに起因するという点に着目し、配線ラインの配置を変更することにより解決するものである。従来の構成では、電極と接続する配線ラインを、電極の上下左右の同一平面上に配線することが多いが、本発明では、配線を電極の下側を通し、絶縁体を挟んで電極と一定距離を保つように配すことにより、静電タッチパネル(電極)へ被測定物が近接した際の誤作動を防止することが可能となる。
【0014】
また、本発明の静電容量式タッチセンサにおける接続部は、配線ラインの他の一端を接続する。
【0015】
上記構成によっても、静電タッチパネル(電極)へユーザの手指等の被検物が近接した際の誤作動を防止することが可能となる。また、配線ラインは電極〜出力端までとなるので、配線ラインの長さを短くすることもできる。
【0016】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、被検物が接近した電極に発生する静電容量が、被検物が接近した電極と、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように絶縁体の厚さが定められる。
【0017】
静電容量Cの値は、C=ε0×εr×S/Lで表される。すなわち、金属板の面積Sと金属板同士の距離L、および金属板間の絶縁体の比誘電率εrにより決まる(ε0は真空の誘電率で8.854×10のマイナス12乗)。本発明の構成では、絶縁体の厚さが距離Lに相当し、配線ラインの電極に対向する面の面積が面積Sに相当する。配線スペースの制約により面積Sを小さくできないときには距離Lを大きくすれば、被検物が接近した電極と被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量を小さくすることができる。上記構成によって、被検物が接近した電極を正確に判別することができる。
【0018】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、被検物が接近した電極に発生する静電容量が、被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように配線ラインの間隔が定められる。
【0019】
上述の静電容量Cの算出式によれば、これら配線ラインの間隔を大きく取れば、被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量を小さくすることができる。上記構成によっても、被検物が接近した電極を正確に判別することができる。
【0020】
また、本発明の静電容量式タッチセンサは、配線ラインが絶縁体にて覆われている。
【0021】
上記構成によって、配線ラインが露出している(すなわち、空気に触れている)状態に比べて、隣り合う配線ライン間の誘電率が一定となる(すなわち、絶縁体の誘電率となる)ため、ユーザの指(すなわち、被検物)が電極に接近したときに、隣り合う配線ライン間に発生する静電容量の変動を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【図1】従来技術による静電容量式タッチセンサの構成を示す図。
【図2】図1の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図3】本発明の静電容量式タッチセンサの構成を示す図。
【図4】図3のX−X’断面図。
【図5】図3のY−Y’断面図。
【図6】本発明の静電容量式タッチセンサの構成の別例を示す図。
【図7】図6のX−X’断面図。
【図8】図3または図6のY−Y’断面の別例を示す図。
【図9】図3または図6のY−Y’断面の別例を示す図。
【図10】図3または図6の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図11】図3または図6の構成における、全ての電極における被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図12】本発明の静電容量式タッチセンサの構成の別例を示す図。
【図13】図12のX−X’断面図。
【図14】図12の構成における、被検物接近時の各電極の出力電圧を示す図。
【図15】電極の配置の別例を示す図。
【図16】電極の配置の別例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0023】
以下、本発明の静電容量式タッチセンサについて、図面を用いて説明する。まず、図1に、従来技術による静電容量式タッチセンサの構成の一例を示す。静電容量式タッチセンサ2は、たとえばプリント基板のような基板4上に実装された電極10,20,30,40、切替回路5、信号処理回路6を含んで構成されている。また、電極10,20,30,40と切替回路5とは、それぞれ基板4の電極が配置されている面上に配線パターンとして形成された配線ライン11a,21a,31a,41aにより接続されている。
【0024】
切替回路5は、信号処理回路6の制御指令に基づいて、電極10,20,30,40のうちの1つを選択してその状態を出力する。
【0025】
信号処理回路6は、電極に発生する静電容量を蓄積するコンデンサ、周知のオペアンプ等を含んで構成される増幅器、ADコンバータ、およびマイクロコンピュータ(マイコン)、ROM、RAM、周辺回路を含んで構成される。そして、マイコンがROMに記憶された制御プログラムを実行することで、静電容量式タッチセンサ2としての各種動作を行う。
【0026】
なお、切替回路5、信号処理回路6は、基板上に実装されていなくてもよい。すなわち、基板4とは別の基板あるいは装置に含まれていてもよい。また、切替回路5、信号処理回路6を、本発明に含まない構成としてもよい。
【0027】
上述のような構成により、静電容量式タッチセンサ2は、信号処理回路6(例えばマイコン)の制御指示により、切替回路5で4つの電極のうちいずれかを選択し、その電極に所定電圧を印加する。例えば、ユーザの指F(被検物)が電極に接近(あるいは接触)すると、電極とユーザとの間の静電容量およびユーザとGNDとの間の静電容量に応じた電荷が電極に蓄積される。この電極に蓄積された電荷を信号処理回路6に含まれるコンデンサに転送する。そして、これらの、電荷の蓄積、転送を所定期間繰り返した後に、電荷量に応じて発生するコンデンサの電圧を増幅・AD変換し、マイコンにおいて、電圧値あるいは電圧値の変化が、被検物の接近あるいは接触によるものかどうかを判定する。この判定方法として、チャージ・トランスファ方式が知られている。
【0028】
図1の構成で、ユーザの指Fが静電容量式タッチセンサ2に接近したとき、電極に接近したのであれば問題はないが、配線ライン上に接近したとき、ユーザの指Fと配線ラインとの間で静電容量が発生する。そして、この静電容量の値は、ユーザの指Fの接近の状態により一定せず、誤検出の原因となり得る。
【0029】
例えば、ユーザの指Fが図1のように接近したとき、図2のように、信号処理回路6で検出する各電極の電圧値は、電極20(この場合は配線ライン21)の検出レベルが、4つの電極のうちで最も大きい値V1となる。このとき、ユーザの指Fの接近を判定する電圧の閾値がV1〜V2の間に設定されていると、ユーザの指Fが電極20に接近していないにもかかわらず、電極20に接近したと判定され、ユーザの意図しない動作を行ってしまうこともある。
【0030】
また、上述の閾値がV3〜V4の間に設定されていると、正規の信号であるのか、本来入力として受け付けたくない誤作動要因の信号であるか判別できない等の問題が生ずる。
【0031】
次に、図3〜図5を用いて、本発明の静電容量式タッチセンサについて説明する。なお、図1と同様の構成については、ここでの詳細な説明は割愛する。図3は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図4は図3のX−X’断面図、図5は図3のY−Y’断面図を示している。
【0032】
静電容量式タッチセンサ1は、基板4の表面上に列状に実装された電極10,20,30,40、切替回路5、信号処理回路6を含んで構成されている。また、電極10,20,30,40と切替回路5とは、それぞれ基板4の裏面上の配線パターンとして形成された配線ライン11,21,31,41により接続されている。
【0033】
各配線ライン(11,21,31,41)は、絶縁体である基板4を挟んで電極と対向するように、例えば略等間隔となるように、予め定められた間隔(L2)で配線されている。また、配線ラインの切替回路5に接続される端部(16,26,36,46)が出力端となっている。
【0034】
基板4は、例えばプリント配線基板の代わりに、絶縁体により構成してもよいし、空気層としてもよい。但し、空気層とするよりも絶縁体により構成した方が、各電極と各配線ラインとの間で発生する静電容量の変動が小さいという利点がある。
【0035】
基板4の、各電極(10,20,30,40)の切替回路5から遠い端部には、貫通孔(スルーホールともいう)15,25,35,45が形成され、各配線ライン(11,21,31,41)は、対応する貫通孔を通り基板4の表面上の配線パターン(12,22,32,42)を介して電極に接続している。なお、貫通孔および配線パターンが本発明の接続部に相当する。
【0036】
電極(10,20,30,40)は略矩形状であるが、後述の条件を満たすものであれば、多角形あるいは円形でもよい。但し、電極と他の電極の配線ラインとの間に発生する静電容量は均一であることが望ましいので、電極の形状は略矩形状が適している。
【0037】
図5において、基板4の厚さL1、各配線ラインの間隔L2,各配線ラインの幅L3は、例えば以下の条件を満たすように定められる。無論、電極の面積も、以下の条件を満たすように定められる。
【0038】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極に発生する静電容量が、ユーザの指Fが接近した電極と他の電極の配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように、基板4の厚さL1および配線ラインの幅L3の少なくとも一方が定められる。
【0039】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極に発生する静電容量が、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインと他の電極の配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように、基板4の厚さL1および配線ラインの間隔L2が定められる。
【0040】
・ユーザの指Fが電極に接近したときに、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインとユーザの指Fが接近した電極の下を通る配線ラインとの間で生ずる静電容量(浮遊容量)が、ユーザの指Fが接近した電極の配線ラインとユーザの指Fが接近した電極の下を通らない配線ラインとの間で発生する静電容量(浮遊容量)よりも大きくなるように基板4の厚さL1および配線ラインの間隔L2の少なくとも一方が定められる(例えば、L2=2×L1)。
【0041】
図6,図7を用いて、静電容量式タッチセンサ1の別例について説明する。なお、本構成例は、図3,図4の変形例であるため、図3,図4の相違点のみについて述べる。図6は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図7は図6のX−X’断面図を示している。なお、図6のY−Y’断面図は図5と同様である。
【0042】
図6,図7では、基板4の表面上の配線パターン(12,22,32,42)はなく、貫通孔(15,25,35,45)は、各電極(10,20,30,40)の切替回路5から遠い側の周縁下に形成されている。貫通孔の位置は切替回路5から近い側(静電容量信号出力側)の周縁下(配線ライン11では15a)に形成してもよいし、15〜15aの任意の位置に形成してもよい。このとき、各配線ラインは、切替回路5〜貫通孔の間にのみ配置される。
【0043】
図8,図9に、図3〜図7の別例を示す。図8,図9は、配線ライン(11,21,31,41)を、基板4と同じ材質の部材あるいは他の絶縁体4aで覆ったもの(図8)、あるいは、配線ラインを基板4の内部に配置したもの(図9)である。
【0044】
図8,図9において、配線ラインの断面形状はそれぞれ矩形状,円形状となっており(多角形状でもよい)、いずれを用いてもよいが、矩形状とした方が隣り合う配線ライン間に発生する静電容量が安定する。
【0045】
図10に、図3〜図9の構成における、ユーザの指Fが電極30に接近したときの、各電極に発生する静電容量に応じた出力電圧(検出レベル)を示す。電極30の検出レベルは、ユーザの指Fとの間に発生する静電容量に基づくもので、V11である。電極10,20の検出レベルは、電極30と配線ライン11,21との間に発生する静電容量に基づくもので、ほぼ同じ値(V21)となる。また、電極40の検出レベルは、配線ライン31と配線ライン41との間に発生する静電容量に基づくもので、V21よりも十分小さい値(V31)となる。
【0046】
図11に、図3〜図9の構成における、全ての電極における被検物接近時の各電極の検出レベルを示す。図10,図11の例では、V11〜V21の間に閾値1を設定し、V21〜V31の間に閾値2を設定すると、各電極の出力電圧の状態を把握でき、ユーザの指Fが接近した電極を正確に判別できる。
【0047】
図12,図13を用いて、静電容量式タッチセンサ1の別例について説明する。なお、本構成例は、図6,図7の変形例であるため、図6,図7の相違点のみについて述べる。図12は静電容量式タッチセンサ1の上面図を示し、図13は図12のX−X’断面図を示している。なお、図12のY−Y’断面図は図5(あるいは、図8,図9)と同様である。
【0048】
図12,図13では、電極20,30,40のそれぞれの貫通孔(25,35,45)から電極10の切替回路5から遠い側の周縁に向けて、各配線ラインが延長されている。配線ライン11も切替回路5から遠い側に延長されている。配線ラインの延長部分(13,23,33,43)は、上述の周縁を超えて延長してもよいし、電極10の下までとしてもよい。
【0049】
図14に、図12,図13の構成における、ユーザの指(図示略)が電極30に接近したときの、各電極の出力電圧(検出レベル)を示す。電極30からの検出レベルは、ユーザの指との間に発生する静電容量に基づくもので、V12である。電極10,20,40からの検出レベルは、電極30と配線ライン11,21,配線ライン41の延長部分43との間に発生する静電容量に基づくもので、ほぼ同じ値(V22)となる。
【0050】
つまり、本構成では、ユーザの指が接近しない電極からの出力電圧は、全てほぼ同一の値となるので、V12〜V22間に閾値を1つ設定することで、ユーザの指が接近した電極を正確に判別できる。なお、基板4の厚さL1、各配線ラインの間隔L2,各配線ラインの幅L3は、V12とV22を判別可能なように定められる。
【0051】
また、図15のように、上述の構成で、電極の大きさは全て同一でなくともよい。また、電極の配置は、電極20のように、隣の電極30と正対しない配置としてもよい。また、図16のように、電極を斜め直線状にしてもよいし、円弧状に配置してもよい。少なくとも、配線ラインが他の電極の裏面を通るように配置できればよい。
【0052】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらはあくまで例示にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づく種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【0053】
1 静電容量式タッチセンサ
4 基板
5 切替回路
6 信号処理回路
10,20,30,40 電極
11,21,31,41 配線ライン
12,22,32,42 配線パターン(接続部)
13,23,33,43 配線ラインの延長部分
15,25,35,45 貫通孔(接続部)
16,26,36,46 出力端
【特許請求の範囲】
【請求項1】
板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、
前記絶縁体の裏面に、前記絶縁体を挟んで前記電極と対向するように、予め定められた間隔で配置され、一端が発生した前記静電容量を出力する出力端である複数の配線ラインと、
前記複数の電極のうちの1つと、前記複数の配線ラインのうちの1本とを、前記配線ラインの予め定められた位置において接続する接続部と、
を備えることを特徴とする静電容量式タッチセンサ。
【請求項2】
前記接続部に前記配線ラインの他の一端を接続する請求項1に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項3】
前記被検物が接近した電極に発生する静電容量が、前記被検物が接近した電極と、前記被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように前記絶縁体の厚さが定められる請求項1または請求項2に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項4】
前記被検物が接近した電極に発生する静電容量が、前記被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、前記被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように配線ラインの間隔が定められる請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項5】
前記配線ラインが前記絶縁体にて覆われている請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項1】
板状の絶縁体の表面に列状に配置された、被検物が接近することにより静電容量を発生する複数の電極と、
前記絶縁体の裏面に、前記絶縁体を挟んで前記電極と対向するように、予め定められた間隔で配置され、一端が発生した前記静電容量を出力する出力端である複数の配線ラインと、
前記複数の電極のうちの1つと、前記複数の配線ラインのうちの1本とを、前記配線ラインの予め定められた位置において接続する接続部と、
を備えることを特徴とする静電容量式タッチセンサ。
【請求項2】
前記接続部に前記配線ラインの他の一端を接続する請求項1に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項3】
前記被検物が接近した電極に発生する静電容量が、前記被検物が接近した電極と、前記被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように前記絶縁体の厚さが定められる請求項1または請求項2に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項4】
前記被検物が接近した電極に発生する静電容量が、前記被検物が接近した電極に接続された配線ラインと、前記被検物が接近しない電極に接続された配線ラインとの間で発生する静電容量よりも大きくなるように配線ラインの間隔が定められる請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の静電容量式タッチセンサ。
【請求項5】
前記配線ラインが前記絶縁体にて覆われている請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の静電容量式タッチセンサ。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【公開番号】特開2012−204028(P2012−204028A)
【公開日】平成24年10月22日(2012.10.22)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−65150(P2011−65150)
【出願日】平成23年3月24日(2011.3.24)
【出願人】(000004260)株式会社デンソー (27,639)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成24年10月22日(2012.10.22)
【国際特許分類】
【出願日】平成23年3月24日(2011.3.24)
【出願人】(000004260)株式会社デンソー (27,639)
【Fターム(参考)】
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