【課題】 従来よりも信頼性を向上することができる回折格子の製造方法および半導体レーザを提供すること。
【解決手段】 回折格子を形成する回折格子形成層を含む１層以上の薄膜を基板上に堆積する薄膜堆積工程Ｓ１１０と、回折格子形成層上に回折格子を保護する保護膜である回折格子保護層を堆積する第１の保護層堆積工程Ｓ１２０と、回折格子形成層および回折格子保護層を加工して回折格子を形成する保護回折格子形成工程Ｓ１３０と、回折格子を保護する保護膜である格子保護増強層を堆積する第２の保護層堆積工程Ｓ１４０と、さらに薄膜を堆積する格子上薄膜堆積工程Ｓ１５０とを有する回折格子の製造方法であって、回折格子形成層が耐酸化性の材料を用いて形成され、回折格子形成層の材料よりも耐熱性に優れた材料を用いて回折格子保護層および格子保護増強層が堆積される構成を有する。 （もっと読む）

光線路の障害探索システムは、センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する。光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）は、光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う。接続部は、前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続する。入射部は、前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射する。探索部は、前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する。
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【課題】 高い波長精度を維持しながら、被測定光に対する連続測定が可能で、広い波長範囲を高速に測定できるようにする。
【解決手段】 被測定光Ｘとともに光強度が極大または極小となる波長が既知の基準光Ｒを可変波長フィルタ２５に入射させ、被測定光Ｘに対する可変波長フィルタ２５の出射光Ｘｃを第１の受光器５０で受け、基準光Ｒに対する可変波長フィルタ２５の出射光Ｒｃを第２の受光器５１で受け、第１の受光器５０の出力信号Ｐａと第２の受光器５１の出力信号Ｐｂとを、可変波長フィルタ２５の選択波長の情報に対応づけてメモリ５３、５４にそれぞれ記憶する。そして、波長情報補正手段５６により、被測定光Ｘのスペクトラムデータの波長情報を、基準光Ｒのスペクトラムデータと既知波長とに基づいて補正処理する。 （もっと読む）

【課題】高速で駆動電圧が低く、かつＤＣドリフトが小さく、製作の歩留まりの良い光変調器を提供する。
【解決手段】電気光学効果を有する基板（１）と、該基板に形成された光導波路（３）と、前記基板の一方の面側に形成された中心導体（４ａ）及び接地導体（４ｂ，４ｃ）からなる電極と、光の位相を変調するための相互作用光導波路（３ａ，３ｂ）を具備する光変調器において、前記基板上面の一部分に形成された第１のバッファ層（９）と、前記第１のバッファ層の上面に形成されるとともに前記基板上面まで延びて形成された導電層（１０）と、前記導電層の上面の少なくとも一部に形成された第２のバッファ層（１１）とが前記中心導体もしくは前記接地導体の少なくとも一方の下方に形成されており、前記中心導体もしくは前記接地導体の少なくとも一方と前記導電層が電気的に接触していることを特徴とする光変調器が提供される。 （もっと読む）

【課題】 ローカル信号の漏れ成分が位相周波数比較器に入力された場合であっても、スプリアスを発生させないようにする。
【解決手段】 サンプラ１２に入力されるローカル信号Ｌを分周器２１で分周して位相周波数比較器１４に入力する構成とし、且つ、分周器２１の分周比をＮ、低域通過フィルタ１６の帯域の上限をｆ_Ａとして、
ｆ_Ｌ／Ｎ＞ｆ_Ａ
ｆ_Ｏ＝ｆ_Ｌ（Ｋ＋１／Ｎ）またはｆ_Ｏ＝ｆ_Ｌ（Ｋ−１／Ｎ）
を満たす分周比Ｎと周波数ｆ_Ｌとを求め、分周器２１およびローカル信号発生器１３にそれぞれ指定して、ＶＣＯ１１の出力信号の周波数を所望出力周波数ｆ_Ｏにロックさせる。 （もっと読む）

【課題】 通信品質評価を容易かつ正確に測定することのできる通信品質評価システムを提供する。
【解決手段】 制御モード通信品質評価装置１は、通信品質評価条件設定手段１１が送受信手段１６を介して通信品質評価条件をパケット通信回線３に送信し、通信品質評価パケット発生手段１３が通信品質評価パケットを生成して送受信手段１６を介してパケット通信回線３に送信し、通信品質評価手段１５が、通信品質評価条件およびパケット通信回線３から送受信手段１６を介して受信した受信通信品質評価パケット個数に基づいて通信品質を評価するものであり、待ちモード通信品質評価装置２は、受信通信評価パケット個数計数手段２４が、パケット通信回線３から送受信手段２６を介して受信した通信品質評価パケットの個数を計数し、受信通信品質評価パケット個数を送受信手段２６を介してパケット通信回線３に送信する。 （もっと読む）

【課題】 端面に対する光導波路の交差角を大きくすることなく端面反射による戻り光の強度を低くする。
【解決手段】 活性層１４をｎ型クラッド層１２とｐ型クラッド層１８とで挟んだ構造を有する光導波路が、劈開によって形成された第１端面１０ａとその反対側の第２端面１０ｂとの間に連続して形成され、第１端面１０ａ側が低反射率に形成された半導体発光素子１０において、第１端面１０ａに対して光導波路の一端側が斜めに交差するように形成し、且つｎ型クラッド層１４をｐ型クラッド層１２より屈折率の高い組成で構成することにより、光導波路内の光のスポットサイズを拡大し、端面からの戻り光の強度を低減している。 （もっと読む）

【課題】 光強度検出法と光子計数法とを組み合わせてＯＴＤＲ法に基づく測定を行うことによって、長距離光ファイバと短距離光ファイバの両方の測定を可能にした光パルス試験器を提供する。
【解決手段】 光強度検出モード又は光子計数モードを指定するモード指定信号を設け、このモード指定信号が光強度検出モードを指定している場合には、ＡＰＤ３のブレークダウン電圧より小さい所定の第１のＤＣ電圧がＡＰＤ３に供給されるようにするとともに光強度検出処理手段６によって被測定光ファイバの特性が求められるようにし、かつ、そのモード指定信号が光子計数モードを指定している場合には、ＡＰＤ３のブレークダウン電圧より大きい所定の第２のＤＣ電圧がＡＰＤ３に供給されるようにするとともに光子計数処理手段７によって被測定光ファイバの特性が求められるようにして、光強度検出法と光子計数法とを切り換えてＯＴＤＲ法に基づく測定が行えるようにした。 （もっと読む）

【目的】 不測のオーバーライトからデータを保護する。
【構成】 制御ＣＰＵ１０は、オーバーライト要求を受け、保存データのヘッダ内容をユニット制御ＣＰＵ３３を介して読み込む。読み込んだヘッダ内容から暗号化されたダウンロード用ヘッダの内容を作成し、暗号復号用の鍵情報を外部出力するとともにオーバーライトコマンドを発行する。ユニット制御ＣＰＵ３３は、暗号化されたダウンロード用ヘッダの内容を読み込み、暗号復号用の鍵情報を制御ＣＰＵ１０を介して外部に要求する。この要求に対する鍵情報によりダウンロード用ヘッダの内容を復号し、復号されたダウンロード用ヘッダの内容とデータ記憶部３２に記憶される保存データのヘッダ内容とを比較して相関性の有無を判別する。書込手段３３ｃは、相関有り情報を受けてデータ記憶部３２に書込許可信号を出力し、書込許可信号の出力間に書込データで保存データをオーバーライトする。 （もっと読む）

【課題】
ＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）のなだれ電流を利用して光子（フォトン）の検出を行うＡＰＤ光子検出装置であって、特に光子の検出応答速度を速くしたＡＰＤ光子検出装置を提供する。
【解決手段】
光子の入力によりなだれ電流を発生させるＡＰＤ２と、このＡＰＤ２のカソードにブレークダウン電圧より大きい所定のＤＣ電圧を供給するＤＣバイアス電源１と、上記ＡＰＤ２のアノードから供給されるなだれ電流を電圧に変換し、変換したこの電圧をＡＰＤ２の出力信号Ｖoとして出力する負荷抵抗Ｒ１とを備えたＡＰＤ光子検出装置において、上記ＡＰＤ２の出力信号Ｖoを受け、この出力信号ＶoからＡＰＤ２がなだれ電流を発生していると判定した場合には、そのなだれ電流を強制的に止めるためのクエンチ信号Ｐを発生して上記ＡＰＤ２のカソードに帰還するクエンチ手段２０を備えた。 （もっと読む）