【課題】所定の周波数帯域全域の磁界についての曝露量を正確に測定し得る曝露量測定装置を提供する。
【解決手段】磁界強度の時間的変化を検出すると共に磁界強度の時間的変化に比例した振幅の電圧信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３を出力する検出コイル２ａ，２ｂ，２ｃと、フィードバックループ内に複数の電気素子が配設されることにより電圧信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３についての積分器および評価フィルタとして機能して、電圧信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３を曝露量に比例した振幅の電圧信号Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６に変換する１つの演算増幅器を有する増幅部３ａ，３ｂ，３ｃと、電圧信号Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６に基づいて磁界の曝露量を算出する処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】センサ感度の低下を確実に阻止することができるリングユニットを組み込んだフラックスゲートセンサ素子と、該フラックスゲートセンサ素子を組み込んで被測定導体の導入位置の影響や外部磁界の影響を少なくし、かつ、オフセット信号の出力をなくした貫通型電流センサとの提供。
【解決手段】リングコアユニットをその環状凹陥部内に配置した環状大径ケース体の一方の面と他方の面とに一側基板体と他側基板体とからなる励磁ユニットを配置してフラックスゲートセンサ素子３１を形成した。貫通型電流センサ５１は、二枚重ねの樹置きセンフラックスゲートセンサ素子３１を一側コア部６３と他側コア部７３とからなるメインコア５２内に収納して形成した。 （もっと読む）

【課題】測定対象体が容量性負荷のときの絶縁抵抗値の読取りを容易に行い得る絶縁抵抗計を提供する。
【解決手段】測定対象体１１に試験電圧Ｖｔを印加する電源部２と、測定対象体１１に印加されている試験電圧Ｖｔの電圧値を印加電圧Ｖｖとして検出する電圧検出部３と、試験電圧Ｖｔが印加されているときに測定対象体１１に流れる電流を検出する電流検出部４と、印加電圧Ｖｖの電圧値および電流の電流値（電圧Ｖｉ）に基づいて絶縁抵抗の測定値Ｒ１を算出する制御部６とを備え、制御部６は、測定対象体１１が容量性負荷であるか否かを判別して、容量性負荷と判別したときに、算出した所定数の測定値Ｒ１の平均値を測定対象体１１の絶縁抵抗値Ｒとする。 （もっと読む）

【課題】時刻の連続性を維持しつつスレイブ時刻をマスタ時刻に同期する。
【解決手段】マスタ測定装置２は、所定のタイミングにおけるスレイブ時刻およびマスタ時刻に基づいてマスタ時刻とスレイブ時刻との時間差を算出すると共に算出した時間差を示す時間差データＤｍａをスレイブ測定装置３に出力し、スレイブ測定装置３は、マスタ測定装置２から出力された時間差データＤｍａに基づき、スレイブ時刻がマスタ時刻よりも遅れているときには計時単位を短縮し、スレイブ時刻がマスタ時刻よりも進んでいるときには計時単位を伸長する。 （もっと読む）

【課題】マスタ側測定装置の測定時刻とスレーブ側測定装置の測定時刻とを同期させ得る測定システムを提供する。
【解決手段】基本時刻データを含むアナログ信号Ｓ３を生成して送信する基本時刻生成部１２、および日時データＤ６を生成すると共に基本時刻データを含むアナログ信号Ｓ３を受信したときには受信したアナログ信号Ｓ３から抽出した基本時刻データに日時データＤ６を更新する測定時刻生成部１３を有するマスタ側測定装置としての測定装置２と、日時データＤ６を生成すると共に基本時刻データを含むアナログ信号Ｓ３を受信したときには受信したアナログ信号Ｓ３から抽出した基本時刻データに日時データＤ６を更新する測定時刻生成部１３を有するスレーブ側測定装置としての測定装置３，４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 検査プローブを順次移動させて回路配線と容量検出用基準面との間の静電容量を測定して、その回路配線の良否（断線，短絡の有無）を判定するにあたって、検査プローブの移動時間を短くして検査効率を高める。
【解決手段】 第１検査プローブ４ａを回路基板１に形成されている複数本の回路配線２のうちの例えば被検査回路配線２ａに配置し、第２検査プローブ４ｂを回路基板１の裏面側に配置される容量検出用基準面５に接触させ、容量検出手段３にて被検査回路配線２ａと容量検出用基準面５との間の静電容量を測定することにより、被検査回路配線２ａの良否を判定するにあたって、回路基板１上にほぼ均一な厚みを有する電気絶縁部材１１を配置し、その上に第１検査プローブ４ａを降ろして被検査回路配線２ａの容量測定と判定を行ったのち、第１検査プローブ４ａを上昇させることなく、電気絶縁部材１１に降ろしたまま次の被検査回路配線２ｂに移動させる。 （もっと読む）

【課題】温度変化に拘わらず測定対象体の絶縁抵抗値を特定する。
【解決手段】測定対象体１１に印加するための所定の測定電圧Ｖ１を生成する電圧発生部２と、測定電圧Ｖ１が印加された測定対象体１１に流れる電流を検出する電流検出部３と、測定電圧Ｖ１および検出された電流に基づいて絶縁抵抗値Ｒ１を算出すると共に、この算出した絶縁抵抗値Ｒ１と測定対象体１１についての測定温度とこの測定温度における温度換算係数ｋとに基づいて基準温度における測定対象体１１の基準絶縁抵抗値Ｒ２を算出する制御部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】一対の平板電極が互いの外縁部でショートしていたとしてもショート箇所の位置を確実に検出する。
【解決手段】対向して配置された一対の平板電極ＥＬ１，ＥＬ２のうちの一方の平板電極ＥＬ１における電流供給点Ａと他方の平板電極ＥＬ２における電流供給点Ｂとの間に電流を供給する電流供給部２と、電流供給部２によって電流が供給されている状態における一方の平板電極ＥＬ１表面の電圧分布を測定する電圧測定部３と、この電圧分布に基づいて一対の平板電極ＥＬ１，ＥＬ２間におけるショート箇所の位置を検出する演算制御部５とを備え、電流供給部２は、演算制御部５が１つのショート箇所の位置を検出した後に他のショート箇所の位置を検出するときに、一方の平板電極ＥＬ１における１つのショート箇所に対応する部位Ａ１を新たな電流供給点として電流を供給する。 （もっと読む）

【課題】 ＩＣパッケージに電流検出用の電極板を取り付けることなく、パッケージ内に電源層のベタパターンが存在していても端子ピンのハンダ付け状態を正確に検出する。
【解決手段】 測定用の交流電圧を出力する測定信号源３１と電流計３２のいずれか一方を被検査端子ピン１１ｃのハンダパッドに接続し、いずれか他方を被検査端子ピン１１ｃ以外の端子ピン１１に接続して、交流電圧の印加時に流れる電流を電流計３２で測定し、その電流値に基づいて、ＩＣパッケージの端子ピンのハンダ付け状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】ショート箇所の位置を一層正確に検出し得るショート検出装置を提供する。
【解決手段】対向して配置された一対の平板電極ＥＬ１，ＥＬ２間におけるショート箇所の位置を検出するショート検出装置１であって、平板電極ＥＬ１の電流供給点Ａと平板電極ＥＬ２の電流供給点Ｂとの間に電流を供給する電流供給部２と、所定のパターンで平板電極ＥＬ１上に規定された複数の測定位置ＭＰ，ＭＰと一つの基準点Ａとの間の各電位差を、各測定位置ＭＰに対して予め設定された第１の順序および第１の順序とは逆の第２の順序の両順序に従ってそれぞれ測定する電圧測定部３と、両順序に従ってそれぞれ測定された各測定位置ＭＰについての各電位差の平均値を算出すると共に算出した平均値に基づいてショート箇所となる測定位置を検出する検出部５とを備えている。 （もっと読む）