【課題】試験測定機器で非常に小さな密度変動を検出する。
【解決手段】アナログ・デジタル変換器１２０が入力信号を受けてデジタル信号を発生する。トリガ検出器１４０は、デジタル信号からのデジタル・データを複数のビットマップに変換し、複数のビットマップの１つを基準ビットマップとして複数のビットマップの他の１つから減算して、差のビットマップを発生し、差のビットマップがユーザ定義のトリガ条件を満足したときにトリガ信号を発生する。メモリ１３５は、トリガ信号に応答してデジタル信号からのデジタル・データを蓄積する。 （もっと読む）

【課題】スペクトラムを行列で表示する際に、ピクセル密度により効果的に表現する。
【解決手段】アナログ信号をデジタル化し、複数のデジタル・サンプルを発生し、複数のスペクトラムに変換する。これら複数のスペクトラムを組合せてビットマップ・データベースを発生する。ビットマップ・データベースは、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、セルの各々の値が密度を示す。複数のポイントを有する密度トレースを計算し、関連振幅しきい値４２０よりも上のビットマップ・データベースの１つ以上の列の密度を、ポイントの各々の値が表す。 （もっと読む）

【課題】周波数マスクの２つ以上の領域の論理的組合せに基づいてトリガ信号を発生する周波数マスク・トリガ機能を提供する。
【解決手段】入力プロセッサ２０が入力信号を受けてデジタル信号を発生する。トリガ発生器４０は、周波数マスクの２つ以上の領域の違反状況の論理的組合せに基づいてトリガ信号を発生する。取込みメモリ４０は、トリガ信号に応答してデジタル信号からデジタル・データのシームレスなブロックを蓄積する。 （もっと読む）

【課題】ディスパリティ・エラーから独立してシンボル・エラー・レート及びビット・エラー・レートを測定する。
【解決手段】被試験信号を受け(505)、被試験信号内の開始シーケンスを検出し(510)、開始シーケンスに応答して同期信号を発生する(515)。同期信号に応答して基準試験パターンをメモリから出力する(520)。メモリからの基準試験パターンの８ｂコード化シンボルを被試験信号の８ｂコード化シンボルと比較して、シンボル・エラー・レート値を発生する(525)。基準試験パターン及び被試験信号を８ｂコード化フォーマットから１０ｂコード化フォーマットに変換し(530)、１０ｂコード化基準試験パターンを１０ｂコード化被試験信号とビット毎に比較する(545)。 （もっと読む）

【課題】メモリに蓄積されたデジタル形式の波形データをデジタル・アナログ変換器によりアナログ信号に変換して出力する任意波形発生器の周波数特性を補正する。
【解決手段】波形作成ソフトウェアによりデジタル形式の波形データを作成する（ステップ４０）。予め求めた任意波形発生器のＳパラメータ（ステップ４２）に応じて、作成済みデジタル形式の波形データを補正する（ステップ４４）。この補正したデジタル形式の波形データをメモリに蓄積する（ステップ４６）。 （もっと読む）

【課題】試験測定機器の第１入力チャネルの測定ビューと第２入力チャネルの測定ビューを同期させる。
【解決手段】試験測定機器の第１チャネルに関連した第１信号を受け（１０００）、試験測定機器の第２チャネルに関連した第２信号を受ける（１００５）。第１チャネルに関連した第１信号の測定ビューを選択する（１０１０）。ユーザ制御インタフェースから同期化ビュー付勢優先権を受けたかを判断するｑ（１０１５）。同期化ビュー付勢優先権を受けた場合に、第１信号の測定ビューを第２信号に同期させる（１０２０）。 （もっと読む）

【課題】ロジック・アナライザ・プロービング装置で使用できる抵抗プロービング・チップ装置を提供する。
【解決手段】抵抗プロービング・チップ装置が１つ以上のキャリア１０及び１つ以上の電気コンタクト・アセンブリ２０を有する。各キャリアが対向面１２、１４を有し、複数の抵抗器１８がキャリアに係合する。複数の抵抗器の各々はキャリアの各対向面にて露出された対向電気コンタクトを有する。各電気コンタクト・アセンブリが対向面を有し、電気コンタクトが対向面にて露出し、一方の面で露出された各電気コンタクトが他方の対向面状の対応電気コンタクトに結合される。キャリア及び／又は電気コンタクト・アセンブリを回路基板又はプローブ・ヘッドのいずれかに選択的に固定できる。 （もっと読む）

【課題】オシロスコープのフロント・エンド（アナログ・コンポーネント）を考慮して、オシロスコープを正確に校正する。
【解決手段】各チャネル１１０は、アナログ・コンポーネント１１２と、デジタル・コンポーネント１１８〜１２４を含んでおり、強調フィルタ１２０が各チャネルの応答を強調する。校正信号を各チャネルに供給して得られるステップ応答と、オシロスコープの所望ステップ応答とから、強調フィルタのフィルタ係数を求めて、強調フィルタの特性を設定する。 （もっと読む）

【課題】ランダム・ジッタのクレスト・ファクタ・エミュレーションを有する波形試験信号を発生する。
【解決手段】ＣＰＵ６０は、表示器５６にユーザ・インタフェースを発生して、シリアル・データ・パターン用のパラメータと、シリアル・データ・パターンに与えるデターミニスティック・ジッタ欠陥、ランダム・ジッタ欠陥及び少なくとも１つの偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥用のパラメータとを設定する。これらパラメータを用いて波形記録ファイルを発生し、偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥が欠陥シリアル・データ・パターン内に選択的に位置決めされる。波形発生回路７０は、 これらに基づいて、欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号を発生する。欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号に変位クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥を選択的に位置決めする。 （もっと読む）

【課題】液体レベル測定プローブの電子回路が熱の影響を受けにくいようにする。
【解決手段】静電容量型液体レベル測定プローブ１０には、２つの同心円金属チューブ１２及び１４があり、オイル・タンクの中へと下に伸びている。同心円金属チューブ１２及び１４は、コンデンサの２つのプレートを形成する。プローブ１０は、２つの同心円金属チューブ１２及び１４間の電気的容量の変化を検出することによって、ジェット・エンジンの試験中におけるタンク中のオイル・レベルを測定するが、この静電容量の変化はオイルのレベル変化によって生じる。測定回路３０は、温度補償抵抗器と、温度安定化検出器とを含んでいる。測定電子回路パッケージは分離して収容され、ケーブル４４を介してプローブ１０に接続されるので、プローブ１０が動作する暑い環境から離れた位置に回路３０を配置できる （もっと読む）