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Fターム[2G001SA11]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 機能要素、部品素子、技術手段要素等、雑特記事項その他 (1,194) | 粒子強度減衰器(くさび、透過度計等) (10)

Fターム[2G001SA11]に分類される特許

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【課題】 装置を小型化し、かつ、被検知物によるX線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を得ることが可能なX線撮像装置およびX線撮像方法を提供する。
【解決手段】 X線を空間的に分割させ、被検知物に透過させた際に生じるX線の位置変化量に応じて、X線の透過量が連続的に変化するような減衰素子を用いる。一方の減衰素子と、この一方の減衰素子とは透過量の増減量が異なるか、または、増減傾向が異なる他方の減衰素子とを用いて透過率を算出する。この透過率を用いて、被検知物の微分位相像等を演算する。 (もっと読む)


【課題】X線の被検知物による吸収情報と位相情報とを、分離して独立した情報として取得するX線装置を提供する。
【解決手段】X線装置であって、X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、分割素子により分割され、被検知物を透過したX線の位相変化によるX線の位置変化量を、X線または光の強度変化量に換えて、X線または光の強度を検出する検出手段と、検出手段から得られたX線または光の強度から被検知物の吸収情報であるX線透過率像と、位相情報であるX線微分位相像またはX線位相シフト像を演算する演算手段と、を有し、分割素子は、X線を分割することにより検出手段において2以上の幅を有するX線を照射する構成を備え、演算手段は、検出手段におけるX線の位置変化量とX線または光の強度変化量との相関関係が2以上の幅を有するX線間で異なることに基づいて演算する構成を備えている。 (もっと読む)


【課題】本発明の課題は、X線検査を安定させることができるX線検査装置を提供することである。
【解決手段】本発明に係るX線検査装置100は、物品Bを搬送する検査テーブル711と、検査テーブル711で搬送される物品BにX線を照射するX線源200と、X線源200から照射されるX線を検査テーブル711を介して検出する第1の領域AR1と、X線源200から照射されるX線を検査テーブル711を介さずに検出する第2の領域AR2とを有するラインセンサ400と、検査テーブル711と同じ透過特性を有し、第2の領域AR2で検出されるX線の減衰を調整するX線減衰調整部410とを備える。 (もっと読む)


【課題】簡易な構造で、微小異物の検出を確実に行うことができるX線検査装置を提供することである。
【解決手段】本発明に係るX線検査装置100は、物品600にX線S1を照射し、シンチレータ300による光変換をフォトダイオードアレイ(PDAと略記する)400で検出することにより、物品600内の微小異物610を検出することができ、シンチレータ300のX線照射側にスリット部材500を設ける。ここで、スリット部材500のスリット幅は、シンチレータ300の幅より小さく、フォトダイオードアレイ400の受光幅の1/2以上の大きさで設けられる。 (もっと読む)


【課題】非破壊検査時にX線強度調整体を容易に用いることができるようにする。
【解決手段】X線強度調整体1は、上面に円形の開口部1aを、下面に円形の穴部1bを有している。X線強度調整体1の内部では、開口部1aから穴部1bにかけて、円錐面を成すテーパ部1cが形成されている。X線強度調整体1を球状の被検査物11のX線画像の撮像時に用いることにより、被検査物11とX線強度調整体1とを透過したX線画像の強度を被検査物11の全体について略一様にすることができ、精度良く非破壊検査を行うことができる。X線強度調整体1をX線エリアカメラ3とX線源2との間に配置した状態で、開口部1aを介してテーパ部1cに被検査物11を載置することにより、容易に、被検査物11を検査可能にすることができる。 (もっと読む)


【課題】小さな欠陥をもより簡単で容易に欠陥を検出できる放射線透過試験方法、特に、管体と管板とを接続する溶接部の小さい欠陥をもより簡単で容易に検査できる放射線透過試験方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、管体端部の溶接部を放射線検査する方法において、鉛板を該管体先端部に挿嵌し、該管体端部とは反対側の方向から挿入した放射線源から放射線を照射して行うことを特徴とし、遮蔽プラグによる小さな欠陥が検出し難くなることや、種々の遮蔽プラグを準備しておく必要がなく、小さい欠陥をもより簡単で容易に検査できる。 (もっと読む)


本発明は、装置が、電磁ビーム、特にX線ビーム又は極端紫外線ビームを発生するように構成されており、その際、粒子、特に電子が、調節可能な集束装置(22)によってターゲット(5)に向けて転向されるので、粒子によってターゲット(5)において電磁ビームが発生され、少なくとも1つの対象物、特に校正対象物(70)が、電磁ビームによって通過照射され、かつ対象物の通過ビーム画像が撮影され、1つ又は複数の通過ビーム画像が自動的に評価され、かつ評価に依存して、集束装置(22)が調節される装置の動作方法に関する。
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【課題】照射手段および検出手段、または、被検体を回転軸周りに回転移動させる際に被検体の体軸が照射軸上にない場合であっても、検出手段に入射する電磁波の強度が検出手段のダイナミックレンジを超過することを抑制することができる断層撮影装置を提供する。
【解決手段】被検体MとX線管1との間に、端部の減衰度が高いウェッジフィルタ13を設け、移動機構15によってX線管1に対して相対的にウェッジフィルタ13を移動させる。よって、被検体Mが照射軸Aからずれていても、ウェッジフィルタ13によってFPD3のダイナミックレンジを超える強度のX線が入射することがない。また、ウェッジフィルタ13の端部がFPD3に投影されることがないのでX線の強度が急峻に変化してしまうこともない。さらに、ウェッジフィルタ13は単一であるので移動機構15も簡略にできる。 (もっと読む)


【課題】 X線が透過可能なコンクリート柱の角部を正確に撮影し得るX線撮影装置を提供すること。
【解決手段】 X線放射器5を装着若しくは載置する放射部2と、X線用の感光フィルムを装着する感光部3と、前記放射器5と感光フィルム17を対向させるように前記放射部2と感光部3を連結する連結部4とから構成され、前記連結部4には、前記被撮影体を前記放射器と感光フィルムとの間に適正配置するための位置決手段または固定手段が設けられ、前記放射部2には、被撮影体に照射されるX線量を照射する領域に応じて減少させる露出補正手段5が着脱または固定的に設けられていることを特徴とするX線撮影装置。 (もっと読む)


【課題】原子スケールの空間分解能により元素を同定することを可能にする。
【解決手段】測定対象に対してビーム径が1mmよりも小径な高輝度単色X線を照射するX線照射手段と、上記測定対象に対向して配置される探針と、上記探針を介してトンネル電流を検出して処理する処理手段と、測定対象と上記探針と上記測定対象に対する高輝度単色X線の入射位置とを相対的に移動するための走査手段とを備える走査型プローブ顕微鏡とを有する。 (もっと読む)


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