【課題】 プラズマディスプレイ（ＰＤＰと称する）における背面板の電極板に用いられるガラス基板に形成される配線を検査する基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】 複数の配線パターンが所定間隔を有して並設される基板の検査を行う基板検査装置であって、複数の配線パターンに対して物理的に非接触で配置され、複数の配線パターンに信号を供給する第一電極部と、被検査対象となる一本の配線パターンに対して物理的に非接触で配置され、一本の配線パターンに信号を供給する第二電極部と、第一電極部に一定の周期を有する第一信号を印加する第一信号供給手段と、第二電極部に第一周期信号と180度位相が相違する第二信号を印加する第二信号供給手段と、被検査対象となる配線パターンの電圧を検出する検出手段と、検出手段が検出する電圧の位相又は電圧の出力に基づき配線パターンの導通及び短絡の良否判定を行う良否判定手段を備えることを特徴とするを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】映像表示装置の内部に存在する基板間の接続を検査するに際し、大掛かりな設備や検査の人件費も必要とせずに簡易に接続の有無を判定する。
【解決手段】映像信号入力部１１から入力されたコンポジット信号、Ｙ／Ｃ分離信号、コンポーネント信号を、映像処理回路１２の各入力信号に対応する信号処理回路へ出力するか、映像処理回路１２の輝度信号処理部２４へ出力するかを切り換える切換回路２２を備える。基板間接続検査時には映像信号入力部１１の各端子からランプ信号を入力し、切換回路２２はそれを順次輝度信号処理部２４へ出力するよう切り換える。輝度信号処理部２４は、ランプ信号に対する逆ランプ信号を発生させ、ランプ信号と逆ランプ信号とを１／２ずつの比率でαブレンディングし、その信号レベルを検出し、マイコン１４はαブレンディング信号がランプ信号のピークレベルの１／２のレベルに対して所定の範囲内のレベルをもつかを判定する。 （もっと読む）

【課題】より正確にショート位置を特定する。
【解決手段】検査装置１０は、検査用の電気信号を出力する電源１４、ショートパターン１０４に接触する二つの接触子１２、および、非接触での電流検出ができる電流センサを備えている。第一ショートパターン１０４ａに接触する給電接触子１２ａは電源１４に、第二ショートパターン１０４ｂに接触するグランド接触子１２ｂはグランド１６に、それぞれ接続されている。その結果、第一ショートパターン１０４ａ，ショートブリッジ１１０、第二ショートパターン１０４ｂを経由する閉回路が形成されることになる。このショートパターン１０４に沿って非接触の電流センサ１８を移動させた場合、検出電流値は、ショート位置Ｐ２，Ｐ３近傍で激変するため容易に正確なショート位置を特定できる。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板又はプラスチック基板等の基板上の半導体集積回路の接続端子と、フレキシブルプリント配線板の圧着接続端子の電気的な接続状態の検査を簡便にする検査方法を提供する。
【解決手段】フレキシブルプリント配線板が特殊な形状や接続形態を有する。その特殊な形状や接続形態とは、基板上の半導体集積回路の全ての接続端子を検査できるように、圧着検査端子をフレキシブルプリント配線板に設ける。そして、接続端子一本に対し、圧着接続端子と圧着検査端子の二本を、熱圧着による接続をする。このような形態により、接続端子と圧着接続端子の電気的な接続状態、つまり導通状態の検査は、圧着検査端子を介して、フレキシブルプリント配線板における外部接続端子のみを用いて検査が可能となる。 （もっと読む）

【課題】フラットディスプレイパネルの点灯検査において導線部と電極端子とが接続不良を起こしていないかどうかを容易に検出し、点灯検査を効率よく高精度に行う。
【解決手段】パネル保持台１は、ＰＤＰ１０の各電極に印加する駆動パルス電圧を発生するＰＤＰ駆動部１１と、ＰＤＰ駆動部１１からの駆動パルス電圧をＰＤＰ１０に伝達する導線部と絶縁部と信号確認部とを有するフレキシブルケーブル１２と、ＰＤＰ１０の端部をパネル保持台１に押圧することによってＰＤＰ１０をパネル保持台１に固定するとともにその押圧によってフレキシブルケーブル１２をＰＤＰ１０の各電極から引き出された電極端子に電気的に接続するクランプ１５と、クランプ１５にＰＤＰ１０を押圧するための力を印加するシリンダー１４と、ＰＤＰ駆動部１１から出力される信号波形を測定するための信号波形観測器１３とを有する。 （もっと読む）

【課題】被検査基板の導通検査を正確に行う。
【解決手段】制御部８のＣＰＵ８１１は、電流生成部７４２に対して極性が正の検査電流である正検査電流と極性が負の検査電流である負検査電流とを交互に生成させる検査信号生成部８１１ａと、正検査電流及び負検査電流にそれぞれ対応する２つの測定点間の出力電圧である正出力電圧及び負出力電圧を測定測定部８１１ｂと、正出力電圧及び負出力電圧に基づいて基板の良否を判定する判定部８１１ｃとを備えている。また、検査信号生成部８１１ａは、正検査電流及び負検査電流として、その絶対値が１周期毎に増大する電流を所定周期分だけ生成するものである。 （もっと読む）

【課題】 配線の短絡不良位置を短時間で特定することができる電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器を提供する。
【解決手段】 各駆動用信号線Ｌに、相異なる第１及び第２短絡制御線Ｌ1，Ｌ2を接続した。そして、第１短絡制御線Ｌ1と各奇数番目の駆動用信号線Ｌoとの間に、第１スイッチ素子Ｓ1を設け、第２短絡制御線Ｌ2と各偶数番目の駆動用信号線Ｌeとの間に、第２スイ
ッチ素子Ｓ2を設けた。また、有機ＥＬパネル上にアナログスイッチを備えた。そして、
各ＦＰＣ基板上にデータ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した時点、有機ＥＬパネルのアナログスイッチをオフにして接続部にＦＰＣ基板を接続した時点、アナログスイッチをオンにして有機ＥＬパネルの接続部に各ＦＰＣ基板を接続した時点、でそれぞれ第１短絡制御線Ｌ1と第２短絡制御線Ｌ2との間に電流Ｉｋが流れるか否かを確認する。 （もっと読む）

【課題】この発明は、平面基板に形成される配線と接続フィルムに形成される配線との接続性および絶縁信頼性の検査時間を短縮できる表示装置およびその検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 平面基板に形成される配線と接続される配線が形成されている接続フィルムの両端に、検査パッドを備えた検査配線を形成し、また、平面基板にも検査配線と対応する位置にダミー配線を形成し、さらに、このダミー配線にズレ方向に突出している凸部を形成し、この凸部と接続フィルムに形成される検査配線が導通し、検出される抵抗値が変わることにより、背面基板に接着される接続フィルムの位置ズレを検査し、同時に接続性の検査もできる。 （もっと読む）

【課題】表示装置の検査において、表示不良があった場合にその表示不良が表示装置自体の不良に起因するものであるのか検査装置の不良に起因するものであるのかを区別することができる表示装置ならびにその検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】表示装置の端子部３５に、複数の入力端子のうち少なくとも１つの入力端子に対応して当該対応する入力端子と接続された出力端子を備える。検査装置のプローブカードに、表示装置の出力端子から検査信号を受け取るための出力用プローブ針を備える。検査の際には、表示装置の出力端子からプローブカードの出力用プローブ針に与えられた検査信号が後続の表示装置に供給されるように、複数の表示装置と検査装置のプローブ群とを配置する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＬＥＤに流れる電流を無視できるようにバイアス設定してＬＥＤ照明機器に流れる漏電電流を検出する。
【解決手段】
発光ダイオードの点燈時に電源を供給するする第１の電源１１と、発光ダイオードに所定バイアスを供給する第２の電源１６とを切り替え回路１５で切り替えて、基準電源１３から出力される基準信号と発光ダイオードを用いたＬＥＤ照明装置のリーク電流を比較器１４で比較し、比較結果に基いた制御信号を発生し、発光ダイオードを用いた照明装置のリーク電流が基準値より大きいとき漏電結果を表示手段１２に表示するようにした。 （もっと読む）

【課題】ＭＥＭＳデバイスの動作を試験するための正確かつ好都合な方法をさらに開発することが必要とされていた。
【解決手段】インターフェロメトリックモジュレータディスプレイを含む反射型ディスプレイの電気的特性を試験するための方法及びシステムを開示する。１つの実施形態において、制御電圧を該ディスプレイ内の伝導性リード線に印加し、その結果発生した電流を測定する。該電圧は、インターフェロメトリックモジュレータが抵抗測定中に作動しないように制御される。さらに、ディスプレイ内のインターフェロメトリックモジュレータを作動させる電圧波形を加えることによってインターフェロメトリックモジュレータディスプレイのコンディショニングを行うための方法も開示される。 （もっと読む）

【課題】プローブ側端子ピッチを小さくすることができ、検査対象機器を良好に検査できる検査用プローブを提供する。
【解決手段】検査用プローブ１は、シリコン基板２と、シリコン基板２上に設けられた樹脂からなる突起部３と、突起部３上に設けられ、液晶パネルディスプレイ１００の端子２０６，３０６と接触する第１導電部４と、シリコン基板２上のうち、突起部３が設けられた領域以外の領域に設けられ、第１導電部４と電気的に接続する第２導電部５とを備えている。 （もっと読む）

【課題】平面型ディスプレイなどの各種基板上に形成された高密度集積導線間の短絡を、非接触で検出するセンサを提供する。
【解決手段】平面導体１０２の上部に磁気センサ１０１が形成されている。 平面導体１０２は、その磁気センサ１０１に対向する面が、磁気センサ１０１の平面導体１０２に対向する面より、その面積が広いことが好ましい。平面導体１０２は、磁気センサ１０１に流入される電界の信号を遮断しなければならないため、磁気センサ１０１の大きさに比べて、さらに大きく形成することによって、磁気センサ１０１に流入する電界信号を効果的に遮蔽することができる。製造工程の初期段階において金属パターンの不良を高速で検出及び修正することができるため、再作業によるコストアップを画期的に減少させるメリットがある。 （もっと読む）

【課題】 電気光学物質中に混入した導電性異物の混入を検出できる確率を向上させる。
【解決手段】 本発明は、画素電極と対向電極との間に電気光学物質を挟持した構成の電気光学装置において、前記電気光学物質に交流電圧を印加するステップと、前記画素電極と前記対向電極との間のセルギャップを減少させるステップとを有する電気光学装置の検査方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群２０と、偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群３０と、奇数番配線群２０の第１配線２１に接続された第１検査用配線５２Ａと、第１配線２１に隣接する第２配線２２に接続された第２検査用配線５２Ｂと、偶数番配線群３０の第３配線３３に接続された第３検査用配線５３Ａと、第３配線３３に隣接する第４配線３４に接続された第４検査用配線５３Ｂと、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 第１有効表示部６Ａを備えたメインパネル１と、第２有効表示部を備えたサブパネル２を接続可能な接続パッド部ＰＰ１と、第１有効表示部６Ａの外側に位置する外周部１０に配置され接続パッド部ＰＰ１を介して第２有効表示部６Ｂの表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の配線ＳＷからなる配線群３０と、配線群３０の第１配線３１に接続された第１検査用配線５１と、配線群３０の第１配線３１に隣接する第２配線３２に接続された第２検査用配線５２と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 奇数番配線群２０の第１配線２１及びこれに隣接する第２配線２２に接続された第１検査用配線５２と、偶数番配線群３０の第３配線３３及びこれに隣接する第４配線３４に接続された第２検査用配線５３と、第１検査用配線５２と第１配線２１との間に配置された第１スイッチ素子６２Ａ及び第２検査用配線５３と第３配線３３との間に配置された第３スイッチ素子６３Ａにスイッチ信号を供給するための第１スイッチ信号線５４Ａと、第１検査用配線５２と第２配線２２との間に配置された第２スイッチ素子５２Ｂ及び第２検査用配線５３と第４配線３４との間に配置された第４スイッチ素子５３Ｂにスイッチ信号を供給するための第２スイッチ信号線５４Ｂと、を備える。 （もっと読む）

【課題】パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 奇数番配線群２０の第１配線２１及び偶数番配線群３０の第３配線３３に接続された第１検査用配線５２と、奇数番配線群２０の第１配線２１に隣接する第２配線２２及び偶数番配線群３０の第３配線３３に隣接する第４配線３４に接続された第２検査用配線５３と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】略平行に線状に形成された複数の配線パターンと、これらの配線パターンの基端と導通可能に形成されたダミー電極とを有する被検査基板において配線パターン間の短絡を正確に検出する。
【解決手段】配線パターンＰＴＫ，ＰＴＭ間が短絡されていない場合には、プローブ１１Ｃ，１１Ｄ間には電圧が発生しないため、電圧計ＶＭで検出される電圧は零である。また、基端ＰＴＫｂ，ＰＴＭｂから距離Ｌ４，Ｌ５の位置で配線パターンＰＴＫ，ＰＴＭが短絡している場合には、電圧計ＶＭでの検出電圧Ｖ３は、配線パターンＰＴＫの単位長さ当りの抵抗ｒ１及び定電流源ＡＧで供給される電流Ｉ２を用いて、Ｖ３≒Ｉ２×ｒ１×Ｌ４で表される。従って、閾値を電圧Ｖ３未満の値に設定しておけば、基端ＰＴＫｂ，ＰＴＭｂから距離Ｌ４，Ｌ５の位置で配線パターンＰＴＫ，ＰＴＭが短絡して場合の短絡の発生を検出することができる。 （もっと読む）