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Fターム[2G020CD35]の内容

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Fターム[2G020CD35]に分類される特許

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【課題】干渉効率或るいはビジビリティの低下の原因となる干渉光を特定し,特定した干渉光を除去することにより干渉効率或るいはビジビリティの低下を軽減することが可能な干渉計及び該干渉計を用いたフーリエ分光装置を提供すること。
【解決手段】ビームスプリッタ3により生成された干渉光の波面画像を検出器14で連続的に撮像し,撮像された連続波面画像に基づいて該連続波面画像における複数の分割領域(領域α,β,γ)ごとの干渉光波の位相差を算出し,算出された位相差に基づいて複数の分割領域ごとの干渉光波の同期性を判定し,同位相であると判定された干渉光のみを透過させるように,生成された所定位相の干渉光のみを透過させる透過制限装置6を制御する。 (もっと読む)


静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法及びシステムを開示する。静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法によれば、拡散ソースの異なる点から放射したスペクトルエネルギーを同時に受け取る。異なるマルチピークフィルタ関数を異なる点から放射したスペクトルエネルギーに適用して、各点に対する多チャンネルスペクトル測定値を生成する。この多チャンネルスペクトル測定値を合成して拡散ソースの特性を推定する。
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【課題】 揺動や温度変化の大きい環境でも、また、測定対象物の種類によらず、測定が可能であり、測定周波数領域が広く、かつ測定精度が高い光学特性測定装置および方法を提供する。
【解決手段】 光学特性測定装置10は、光子対A・Bを生成して光子Aを光学素子4に射出する非線形光学結晶2と、光子Aと光子Bとの光路差を変化させる光学遅延回路6と、光子A・Bを透過および反射し、光子Aの反射成分と光子Bの透過成分とを混合して光子検出器7Aに導き、光子Aの透過成分と光子Bの反射成分とを混合して光子検出器7Bに導くビームスプリッタ5と、光子検出器7A・7Bによって同時に光子が検出される頻度を同時計数率として計測する同時計数装置8と、計測された同時計数率から光路差の変化に対する同時計数率の変化を求め、該同時計数率の変化におけるディップ部分の値に基づき光学素子4の光学特性値の波長依存性を算出する分析装置9とを備える。 (もっと読む)


改良されたアポダイゼーション関数を用いた信号分光測定のための方法及び装置が開示されている。この方法及び装置は、(i)サンプル及び基準時間領域波形を取得するステップと、(ii)サンプル及び基準アポダイゼーション波形を、サンプル及び基準時間領域波形に適用し、実質的に同じウェイトがサンプル及び基準時間領域波形の実質的に同じ延長を有する範囲に適用されるようにするステップと、(iii)時間領域からのサンプル及び基準アポダイゼーションのなされた波形を周波数領域に変換するステップと、(iv)変換されたサンプル・スペクトルと基準周波数スペクトルとの比率から信号分析のための基準となるスペクトル分析波形を発生するステップと、を含んでおり、スペクトル分析波形は、アポダイゼーションのなされたサンプル及び基準時間領域波形の対応する実質的に同じ延長を有する範囲と関連する周波数を実質的に除外している。
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【課題】ウエハ上の焦点ずれ検出を改善するための方法および装置。
【解決手段】ハイパースペクトル画像化を用いることで、局所的な焦点ずれ欠陥に対する感度を増大させ、フーリエ空間解析を用いることで、広域の焦点ずれ欠陥に対する感度を増大させる。これらを組み合わせることにより、局所的および広域の焦点ずれ欠陥に対する全体的な感度が改善される。 (もっと読む)


本発明は、分光計のための赤外変調器に関する。この赤外変調器は、光源(1)と、この光源からの光を2つのビームに分割するビームスプリッタ(3)と、第1のビームの光を導くための第1の平面ミラー(4)と、第2のビームの光を導くための第2の平面ミラー(5)と、光を前記第1の平面ミラー(4)に返すための第1のキューブコーナーミラー(7)と、光を前記第2の平面ミラー(5)に返すための第2のキューブコーナーミラー(6)とを有する。前記第1及び第2のキューブコーナーミラー(6、7)は、対向する方向に反射するために共通の光軸上に配置され、この光軸の方向に前後に可動である。本発明によれば、前記ビームスプリッタ(3)と、第1及び第2の平面ミラー(4、5)とは、1つの一様な材料構成成分により形成された共通の支持構造体により支持されている。
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本発明は、チャンネル間損失偏差の低減を図り高精度の分波機能を実現したVIPA型の光学装置を提供することを目的とする。このため本発明の光学装置は、入力光を平行光に変換するコリメートレンズと、該コリメートレンズからの平行光の位相を変化させて強度分布をガウス型とは異なる形状に変える位相マスクと、該位相マスクから出力される光を一次元方向に集光するライン焦点レンズと、該ライン焦点レンズで集光された光を多重反射して出射するVIPA板と、を含んで構成される。
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走査可能ミラー(100,110)は、光導波管(104)の中を動くことのできるミラー(110)を採用している。光導波管(104)は、流体によって満たすことができ、ミラー(110)は、電磁モーター又は静電モーター(112,114,116,120,122)によって動かすことができる。
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本発明は、電子検出器の分野に関する。本発明は、入力側と反対側のミラーとを有する導波路と、電磁波の局所的強度の関数として電気信号を伝える電磁線の検出手段とを備え、前記検出は入力側とミラーとの間で行なわれることを特徴とする干渉分光検出器に関する。
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【課題】 本発明の目的は、時間分解スペクトルを得ることのできる顕微鏡を提供することにある。
【解決手段】 試料22の測定エリアよりの光26を採取する顕微手段12と、複数の素子を持ち該顕微手段12により採取された光を検出する多素子検出器14と、を備えた顕微鏡10において、該多素子検出器14は該各素子が該測定エリアの各微小測定部位に対し一対一で対応し、また分光手段としてのフーリエ変換分光光度計16と、該フーリエ変換分光光度計16よりのタイミングで該多素子検出器14の各素子からの強度データを同時に及び各素子ごとに集録するサンプリング手段18と、該各微小測定部位ごとに該サンプリング手段18により得られた時間変化干渉光データに基づいて時間分解スペクトルデータを得るためのデータ処理手段20と、を備えたことを特徴とする顕微鏡10。 (もっと読む)


【課題】測定者がバックグラウンドスペクトルと試料スペクトルの測定を別々に行う必要のない分光測定装置を提供することにある。
【解決手段】試料設置箇所に光を導光する光出射手段と試料から出射された光を検出する光検出手段とを備え、試料に光を照射し試料からの出射光を検出することで試料スペクトルを測定する分光測定装置において、試料設置箇所近傍に配置され試料の設置の有無に関する情報を検知する検知手段と検知手段からの信号に基き、試料設置箇所に試料が設置されているか否かを判断する判断手段24と、判断手段によって試料が測定位置に設置されていないと判断されたとき、あらかじめ設定された測定条件に従い光出射手段及び光検出手段を制御し試料未設置の状態で測定を行うことでバックグラウンドデータを自動的に取得する制御手段と取得したバックグラウンドデータを記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする分光測定装置。 (もっと読む)


【課題】 入力光の輝度ムラ及び検出器自身の感度ムラの影響を除去し、画像センサーの測定が可能な分光応答度測定装置、その測定方法及び光源の分光放射照度校正方法を提供すること。
【解決手段】 白色放射光源(3)、第1ビームスプリッター(4)、第1移動鏡(5)及び第1固定鏡(6)を装備した第1分光光度計(1)と、入射開口(12)、第2ビームスプリッター(13)、第2移動鏡(15)、第2固定鏡(14)及び検出器(16)を装備した第2分光光度計(2)と、積分球(7)と、入射光束切換集光鏡(11)と、黒体放射光源(9)とを備え、積分球(7)が、第1分光光度計(1)の出力光を受光し、入射光束切換集光鏡(11)が、積分球(7)又は黒体放射光源(9)の出力光を第2分光光度計(2)に入力させ、第2分光光度計(2)に入力される積分球(7)の出力光を検出器(16)で測定する場合、第2移動鏡(15)を長光路差の位置に固定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的はデータのS/Nを改善することのできるフーリエ変換分光光度計を提供することにある。
【解決手段】 可動鏡28の速度と非同期で及び測距用干渉信号の1又は1/2周期よりも短い等周期の基本クロックにより自走的にインターフェログラム信号をAD変換するΔΣ型ADコンバータ42aを用い、また主干渉計14をデジタルドライブするデジタル制御機構40を備え、該デジタル制御機構40は、該基本クロックにより自走的に測距用干渉信号をAD変換するΔΣ型ADコンバータ42bと、該ΔΣ型ADコンバータ42bよりの測距用干渉信号に基づき該可動鏡28の位置をモニタする位置検出手段54と、該可動鏡位置のモニタに基づき該可動鏡28の速度が目標の一定速度となるように可動鏡駆動手段24による可動鏡走査を制御する可動鏡制御手段56と、を備えたことを特徴とするフーリエ変換分光光度計10。 (もっと読む)


【課題】 放射光の損失を伴うことなくかつ簡易な構成で放射光の偏光を可能とした赤外光放射装置を提供する。
【解決手段】 パルス励起光が照射されて光キャリアを生成する光伝導膜22と、光伝導膜22上に間隙32を介して形成され、赤外光を放射する一対の第1アンテナ電極膜21aと、第1アンテナ電極膜21aに対して角度を有しかつ間隙32を介して光伝導膜22上に形成された、赤外光を放射する一対の第2アンテナ電極膜21bと、第1アンテナ電極膜21aおよび第2アンテナ電極膜21bに対して、それぞれ独立に電圧を印加する制御部とを備えていることを特徴とする。第1アンテナ電極膜21aに印加する電圧と、第2アンテナ電極膜21bに印加する電圧は、それぞれ選択的に異なる時刻に印加することとしても良く、あるいは、同時に異なる位相で印加することとしても良い。 (もっと読む)


【課題】 基板の吸収による影響を受けずに広帯域の計測が可能な赤外光放射装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 パルス励起光が照射されて光キャリアを生成する光伝導膜22と、光伝導膜22の一側面上に形成され、その先端間に間隙21aを介して配置された、赤外光を放射する一対のアンテナ電極膜21と、光伝導膜22の他側面側でかつ少なくとも間隙21aに対応する領域に形成され、遠赤外光を透過する赤外光透過部材24とを備えている。赤外光透過部材24としては、ダイヤモンド・ライク・カーボンが好適に用いられる。 (もっと読む)


【課題】波長依存性や偏光依存性を低減した干渉計を実現することにある。
【解決手段】本発明は、入射光を反射光と透過光とに分岐するビームスプリッタと、反射光または透過光のいずれか一方をビームスプリッタに向けて反射する固定ミラーと、反射光または透過光の他方をビームスプリッタに向けて反射する可動ミラーとを有し、固定ミラーと反射ミラーとで反射された戻り光をビームスプリッタで重ね合わせる干渉計に改良を加えたものである。本装置は、ビームスプリッタは、線状の反射面と線状の透過面とが交互に配置される。そして入射光は、ビームスプリッタによって光強度が線状に分布するビーム形状に分岐される。さらに、戻り光の光強度の配列方向は、ビームスプリッタにおける線状の反射面と線状の透過面との配列方向と異なることを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系6によって二次元変換光学系6の光軸に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面FC上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムSを結像させ、撮像面7aが共役面FCと共役となるようにして配置された撮像装置によって擬似二次元スペクトログラムSと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系6を、縮小光学系とする。 (もっと読む)


【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系によって二次元変換光学系の光軸AX2に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面FC上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムSを結像させ、撮像面7aが共役面FCと共役となるようにして配置された撮像装置7によって擬似二次元スペクトログラムSと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系11を配置する。 (もっと読む)


【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を第一回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を二次元変換光学系によって変換して擬似ニ次元スペクトログラムSを得る時間分解分光装置において、第一回折格子に対する共役面FC上に第一回折格子と同じ格子定数の第二回折格子8を設置し、この第二回折格子8と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系11を配置する。 (もっと読む)


超短レーザパルスを使用したレーザシステムが提供される。本発明の別の態様において、本システムは、レーザと、パルス整形器と、検出機器とを含む。本発明の更なる態様では、フェムト秒レーザ及び分光計を利用する。本発明の更に別の態様では、レーザビームパルスと、パルス整形器と、SHG結晶とを使用する。本発明の更に別の態様においては、多光子パルス内干渉位相走査システム及び方法によって、フェムト秒レーザパルスのスペクトル位相の特徴づけをする。光ファイバ通信システム、光力学療法、及びパルス特性試験において、本発明の付加的態様を備えたレーザシステムを使用する。
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