【課題】熱伝導を抑制できる導波管、これにより高周波部品の故障を防止できる温度特性測定装置に関する。
【解決手段】金属又は合金からなる第１導波管１ａ、第２導波管１ｂを具備する導波管１であって、第１導波管１ａと第２導波管１ｂとの間に、第１導波管１ａと第２導波管１ｂ内の信号伝送路１ｃを閉塞する誘電体膜２を介装してなる導波管１である。このような導波管１を温度特性測定装置において用いることにより、恒温槽１１内と外部の検波器１３との間を連結する導波管１内の信号伝送路１ｃを誘電体膜２により閉塞でき、これにより、導波管１内の信号伝送路１ｃの空気を介して検波器１３に伝達される熱を遮断できるとともに、誘電体膜２により、金属又は合金からなる導波管１自体を伝導する熱を遮断でき、温度特性測定装置の故障を防止できる。 （もっと読む）

【課題】マイクロ波帯やミリ波帯、特に１ＧＨｚ以上の周波数帯において、誘電体薄膜の比誘電率や誘電正接、並びにそれらの直流電界強度依存性、温度依存性等の誘電特性を高精度に測定することのできるリング共振器およびこれを用いた誘電体薄膜の誘電特性測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のリング共振器は、誘電体支持基板１上に誘電体薄膜２が形成され、さらにこの誘電体薄膜２の上面に、リング状の間隙３１により内側導体３２と外側導体３３とに分割された導体膜３が積層された構造を特徴とする。 （もっと読む）

【課題】３０ＧＨｚ以上のミリ波帯で精度よく測定できる誘電体薄膜の誘電特性測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、主面に誘電体薄膜１を形成してなる誘電体基板２を前記誘電体薄膜１が上側を向くように導体板６の上に載置し、開口部３１を有する有底筒状導体３を前記誘電体薄膜１に前記開口部３１が当接するように配置して空洞共振器を構成した後、該空洞共振器のＴＥモードの共振周波数および無負荷Ｑを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Ｑから前記誘電体薄膜１の誘電特性を求める工程を含むことを特徴とする誘電体薄膜の誘電特性測定方法である。 （もっと読む）

ＤＣ電界の下で、幅広い周波数レンジ及び温度レンジにわたって、ポリマー特性明確化のための試験構造が開示されている。高抵抗シリコン基板（４０）が接着層（３０）によって配置されている。ポリマー薄フィルム（２０）は、接着層の頂部に配置されたパターン化された金属層の上に配置されている。頂部金属２層は、ポリマー薄フィルムの上に配置されて、パターン化されてＣＰＷ伝達ラインを形成している。単一バイアス電圧が金属２のＣＰＷ伝達ラインの中央導体にかけられ、ポリマーの誘電特性に影響を与えている。ポリマーの誘電特性と損失−タンジェントは、ポリマー薄フィルムの誘電特性と損失タンジェントがスエプト周波数スキャッタリングパラメータ（Ｓ−パラメータ）を計測して実験的周波数応答をモデル周波数応答にマッチングすることにより電界と温度の関数として導かれる。ポリマーの電気コンダクランす特性も幅広い温度レンジにわたって試験構造を用いることでその特性を正確に明確化できる。 （もっと読む）

【課題】 絶縁性材料の特性について漏れ電流の影響を除いて評価しうる誘電正接測定装置を提供する。
【解決手段】 誘電正接測定装置１には、交流電源２ａと直流電源２ｂとが直列に接続されてなる試験電源２が設けられており、交流試験電圧ｅと直流試験電圧Ｅとが重畳された試験電圧を絶縁性材料からなる被測定対象物１０に印加する構成をなしている。さらに、被測定対象物１０に流れる電流ｉｘと、試験電圧とは逆相の逆相電流Ｉ１とを入力電流として、これらを加算する電流加算器１６が設けられ、この出力電流の直流成分が零になるように電流加算器１６の入力電流を調整可能な可変抵抗器１４が備えられている。そして、可変抵抗器１４によって出力電流のうちの直流成分が零になるようにされたときの電流加算器１６の出力電流と、試験電源２による試験電圧とに基づき、ＣＰＵ２５により漏れ電流成分Ｉ２の影響を除いた誘電正接ｔａｎδ’が算出される。 （もっと読む）

【課題】電子部品が許容できる値を有するかどうかを判定するために電子部品のパラメータを自動的に試験する。
【解決手段】本方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）は、パラメータが測定できる少なくとも第１及び第２の測定位置を有する自動的電子部品試験機（２）を使用する。上記値が実際に許容範囲内にあるとき、試験工程それ自体によって、その値が誤って許容範囲内でないように思わせる。本方法は、電子部品（１２，１２０）を第１の測定位置に載置し、その第１の測定位置でパラメータを測定し、それによって、第１の測定パラメータ値を生成する。本方法もまた、電子部品（１２，１２０）を第２の測定位置に載置し、その第２の測定位置でパラメータを測定し、それによって、第２の測定パラメータ値を生成する。本方法は、全測定パラメータ値が許容範囲内にない場合にのみ、その電子部品（１２，１２０）を不合格にして、それによって、電子部品（１２，１２０）を誤って不合格にする確率は単一の測定ステップのみが行われる場合より小さい。 （もっと読む）

【課題】試験精度を増大させるために電気的コンタクト表面を清浄にするメンテナンスを容易にする。
【解決手段】凹部（７２）、表面凸凹、コンタクトチップの改変例（５２）、及び／又はテストプレート（５）の底面（５０）及び電気的コンタクトの頂面（５２）間の圧力を保証する他の方法は、ＤＵＴ（被試験装置）の信頼性のある測定結果を促進するために電気的コンタクトの頂面（５２）を清掃するために採用される。 （もっと読む）

【課題】導体上に形成された誘電体薄層あるいは誘電体薄膜の誘電定数を、マイクロ波帯、特に１ＧＨｚ以上で測定することが可能な誘電定数測定法及び測定用治具並びに同軸共振器を提供する。
【解決手段】筒状導体４と、該筒状導体４内に軸長方向に設けられた中心導体３と、筒状導体３の両側開口部にそれぞれ設けられた短絡導体５、６とを具備するとともに、中心導体３と短絡導体６との間に誘電体からなる被測定試料１を介装し、筒状導体４と短絡導体６との間に空隙２を設けた同軸共振器の共振周波数と無負荷Ｑの測定値から、被測定試料１の比誘電率及び／又は誘電正接を求める。 （もっと読む）