テストサンプルを過酸化ナトリウムに融解してアルカリ性のものとし、水で洗脱し、乾式濾過し、濾液内のクロムとバナジウムを塩酸 ヒドロキシルアミン還元剤によって初めに低原子価のものに還元し、次いで濾液を硝酸で４−６Ｍの酸度に調節し、バナジウムを過マンガン カリウムによって冷状態で酸化して高原子価のものとし、この高原子価バナジウムによってタングステンと正燐酸塩とを有する三元コンプレックスを形成し、この三元コンプレックスの色の黒さがバナジウムの含有量に正比例するため、バナジウムの含有量を比色分析的に決定でき、クロムの干渉はバナジウム決定のための酸条件において冷状態の過マンガン カリウムがクロムではなくバナジウムを酸化するという特性を用いることによって消去できる。本発明はマクロな量のバナジウムを単独に、またはマクロな量のバナジウムとクロムを同時に含有するタングステン マトリクス内のマクロな量のバナジウム含有量を決定するのに好ましく、本発明によれば相対誤差を５％以下で正確に早く決定でき決定のプロダクション プロセスの要求は十分万足できる。 （もっと読む）

【課題】シリコン含量の多い合金に含まれる微量元素を精度高く分析できる合金中の微量元素の分析方法を提供すること。
【解決手段】水素よりもイオン化傾向の大きい第１の金属を主成分とし、微量元素とシリコンとを含む合金であって合金全体の質量１００質量％中にシリコンが０．５質量％以上含まれている合金中の微量元素を分析する合金中の微量元素の分析方法に、合金を酸処理液とともに加熱して第１の金属を溶解する酸処理工程と、酸処理工程後の処理液にフッ化水素酸を加えてシリコンと微量元素とを溶解するフッ化水素酸処理工程と、を設ける。または、合金を酸処理液およびフッ化水素酸とともに加熱して、酸処理液によって第１の金属を溶解するとともにフッ化水素酸によってシリコンを溶解する酸・フッ化水素酸処理工程を設ける。濾過の工程をなくしたことで、微量元素を精度高く分析できる。 （もっと読む）

本発明は、表面の光触媒活性を測定するための定量的測定方法に関する。この際に、薄いステアリン酸の層が、測定する光触媒表面上に蒸着される。前記表面はその後ＵＶ光で照射され、ステアリン酸の層から散乱した光の量（光ヘイズ）が規定の時間間隔で測定される。表面が光触媒であれば、ステアリン酸層は残留物無く分解し、その結果、光ヘイズはコーティングされていない表面の測定値まで低下する。その後、光ヘイズの時間依存的なカーブの推移から、表面の数量的な光触媒活性を定めることができる。 （もっと読む）

【課題】研摩スラリーを使用するときに、金属部分と接触して研摩スラリーが金属汚染される可能性がある。これが研摩中に半導体ウエーハに入り込み、基板の特性を損なう。そこで研磨スラリーについて簡単な操作で、従来より低い濃度まで金属を定量できる方法を提供する。
【解決手段】 半導体研磨スラリー中の溶解金属の定量方法は、半導体研磨スラリーのｐＨを１以下とした後、ｐＨを２〜９とするｐＨ調整工程、ｐＨ調整した半導体研磨スラリーをキレート担体と接触させるキレート担体接触工程、半導体研磨スラリーと接触させた後のキレート担体に、酸水溶液を接触させる酸抽出工程、酸抽出工程で得た酸抽出液中の金属を定量する金属定量工程、を含んでなる。また、全金属の定量の場合には、先ず半導体研磨スラリーにフッ酸を加えて５０〜３００℃にて処理するフッ酸処理工程を経てから、上記の各工程を行う。 （もっと読む）

【課題】 半導体製造工程等から排出されるガスに含まれるトリメチルガリウム、トリメチルインジウム、トリメチルアルミニウム等の金属化合物等を、アンモニア等の同伴ガスに影響されることなく、高感度で容易に検知あるいは濃度測定できる手段を提供する。
【解決手段】 シート状の担体に、変色成分としてピリジルアゾ化合物を含浸させてなる検知テープを用いる。また、この検知テープを用いた濃度測定装置を使用して、半導体製造工程等から排出されるガスを測定する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、蛍光分析によって光触媒活性の表面における有機染料の光触媒分解を定量化する方法に関する。
【解決手段】本発明の目的を達成するために、検査される光触媒及び光触媒非活性参照物は、有機染料によってコーティングされる。そして、このサンプルは、強度及びスペクトル分布既知の紫外線又は可視光線に照射される。蛍光強度は、照射の前後及び機械の構成によって照射中にも、蛍光スキャナ、チップリーダー又は蛍光顕微鏡によって検出される。染料にもコーティングされ、光触媒非活性参照物（例えば、石英）に比べて、染料にコーティングされた光触媒のその後の蛍光減少が、検査されているサンプルの光触媒効率の量的な測定値としてみなされる。 （もっと読む）