【課題】偏光フィルムの両面に活性エネルギー線硬化型接着剤を介して透明樹脂フィルムが貼合された偏光板が、接着性を非破壊で検査しながら製造できる方法を提供する。
【解決手段】硬化後に、紫外線の照射を受けて蛍光を発する物質を残存させる接着剤を用い、（Ａ）偏光フィルム１の両面にこの接着剤を介して第一及び第二の透明樹脂フィルム２，３をそれぞれ重ねて積層体４を得る積層工程、（Ｂ）積層体４の第一のフィルム２側から活性エネルギー線照射して接着剤を硬化させ、偏光板５を得る硬化工程、及び（Ｃ）偏光板５の蛍光を発しない第二のフィルム３側からクロスニコル配置された偏光フィルター４５を介して紫外線４７を照射し、接着剤硬化物からの蛍光強度を計測する蛍光強度計測工程をこの順で行い、工程（Ｃ）において十分な強度で接着していると判断できる蛍光強度が得られるように、工程（Ｂ）の照射量を決定する。 （もっと読む）

【課題】光学装置の光路において検出信号を分離する方法を提供する。
【解決手段】異なる信号が一定の時系列にて生成されるような場合に光学的装置の光路にて検出信号を分離する方法であって、既知の又は特定可能／確認可能な時系列に基づいて信号の抑制又は分離が実施されることを特徴とする方法である。 （もっと読む）

【課題】放電が正常に行われたときに得られた分析結果であるか否かを正確かつ自動的に判定できる発光分析装置の提供。
【解決手段】 固体試料６の分析面６ａ中における分析箇所と電極２ａとの間で放電を行うことにより発生したスペクトルを分析する分析部２と、固体試料６を保持しながら、固体試料６の分析面６ａ中における分析箇所を順番に変更していく搬送機構４と、固体試料６の分析面６ａ中における複数の分析箇所から得られた複数の分析結果を、分析箇所で分析した分析順に分析結果記憶部５４に記憶させる制御部２１とを備える発光分析装置１であって、分析面６ａを撮影する撮影部１０を備え、制御部２１は、全ての分析箇所で分析した後に、搬送機構４によって固体試料６を保持しながら、固体試料６を分析部２から撮影部１０へ移送し、撮影部１０で撮影された分析面画像中の複数の分析痕画像に基づき、各分析箇所で放電が正常に行われたか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】微細構造体を基板上に形成する光学デバイスの作製において、微細構造体の形成をリアルタイムに制御する。
【解決手段】光の照射によりプラズモンを励起し得る微細構造体であって、複数のドット状金属部７４からなる微細構造体を基板４０上に形成する光学デバイスＤ１の作製方法において、微細構造体の形成中に、微細構造体に対して基準光Ｌを照射し、基準光Ｌの微細構造体による散乱光Ｌｓを検出し、微細構造体の形状等に応じて変化する散乱光Ｌｓの光学特性に基づいて、微細構造体の形成を制御する。 （もっと読む）

【解決手段】入射光を発生するよう動作可能な光源と，ファイバ束内に配列され，そして上記ファイバ束の近位端部において光を受けるよう，また更に上記ファイバ束の遠位端部に光を伝送するように配列された複数のイメージングオプティカルファイバ束とを備えた内視鏡において，この内視鏡は更に上記光源と上記ファイバ束との間に空間光位相変調器を備え，この空間光位相変調器は上記光源からの入射光を受けるとともに，上記複数のイメージングオプテカルファイバの各々に進入する上記入射光の相対的な位相を調整するよう配置されている。 （もっと読む）

【課題】検出可能な蛍光の輝度の範囲を広げ、使用可能な対象物の範囲を広げられる蛍光検出装置および方法を提供する。
【解決手段】１回目の蛍光検出を行った後に検出条件を変えて（光電変換増幅率を低くして）２回目の蛍光検出を行う。全エリアの中に、２回の検出データがいずれも許容範囲内であるドットが１つでもあれば、その２つの検出データから蛍光変化率（蛍光褪色率）を求める。１回目の検出データが許容範囲内であるエリアは、その検出データをそのまま蛍光特性値とする。１回目の検出データが許容範囲外であるエリアは、２回目の検出データを蛍光変化率で補正した値を蛍光特性値とする。２回の検出データがいずれも許容範囲内であるドットがない場合には、全エリアの中の少なくとも１つのドットで、許容範囲内の２つの検出データが得られるまで、検出条件をその都度変えながら蛍光検出を繰り返す。 （もっと読む）

【課題】励起光を照射することによって画像担体に記録された画像を読み取る画像読取装置において、経時的な変動に起因する画像の濃度誤差を定量的に判断できるようにする。
【解決手段】画像読取装置のコントローラは、画像読み取りを行う際に、値が変動する可能性のある複数の変動要因を画像データとともに取得する。コントローラには、変動量算出部が設けられている。変動量算出部は、取得された各変動要因の測定結果を基に、各変動要因の変動量を算出する。変動量は、予め各変動要因に設定された定量化係数を乗じることにより、各変動要因が画像データに与える影響を定量化して算出される。これにより、各変動量を見ることによって、画像読取装置の経時的な変動に起因する濃度誤差が、取得した画像データにどの程度含まれているかを定量的に判断することができる。 （もっと読む）

発光分光（ＯＥＳ）分析器、特に、内蔵型の手持ち式ＯＥＳ分析器を提供する。サンプルの組成を分析するための手持ち式内蔵型バッテリ式試験計器は、サンプルの少なくとも一部分を励起するための励振器、サンプルの励起部分から光信号を受信するための小型の交差分散分光計、及び分光計からの光信号に関するスペクトルデータを処理するためのプロセッサを含む。励振器は、スパーク発生器、及びサンプル部分から光信号を発生させるための対極、レーザ、又は他のデバイスを含むことができる。分光計は、試験計器が一般合金を識別するのに必要な炭素、燐、硫黄、マンガン、シリコン、鉄、及び他の元素の相対量を検出して判断することを可能にするのに十分広い波長範囲を有する。分光計は、小さな熱膨張係数（ＣＴＥ）を有する軽量材料で作られた構造部材を含む。分光計は、分光計の温度を制御することなく予測周囲温度の範囲にわたって寸法的に安定である。 （もっと読む）

【課題】 定盤の研磨面に埋め込まれた砥粒の面密度を適切に評価することの可能な研磨装置を得ること。
【解決手段】 本装置は、研磨時に研磨対象物を載せる定盤２１と、前記定盤の研磨面に平行な面を有する部材４１と、砥粒を含むスラリーを前記研磨面に供給するスラリー供給手段１０９と前記研磨面に光を照射する手段１０４，１０３と、前記研磨面からのラマン散乱光の強度変化を分析する手段１０４とを有する研磨装置である。研磨装置に使用される定盤に砥粒を含むスラリーを滴下し、定盤の研磨面に平行な面を有する部材と定盤とを相対的に運動させる。研磨面に光を照射し、研磨面からのラマン散乱光の強度変化に応じて、スラリーの滴下量等を調整する。これにより、所定の面密度で砥粒が研磨面に埋め込まれた定盤を作成することができる。 （もっと読む）

誘導電力及び伝送用途と組み合わせて使用されるプリント回路基板が、実質的にフェライト材料によって形成されている。該基板に形成された誘導コイル導電部材は、電源機能及びデータ伝送機能の両方のためのコイルの電磁特性を増大させ、それによって、回路装置に接続されるべき別個のフェライトコア巻き線コイルの必要性を排除している。
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