【課題】精度よく、かつ、効率的に画像信号を補正することができる画像処理装置及び画像処理方法を提供すること。
【解決手段】デジタルカメラ１は、複数の画素を含んで構成される撮像素子を有し、複数の画素の各々の画素値を画像データとして生成する撮像部１６と、撮像部１６により生成された画像データにおいて、複数の画素における欠陥画素の位置を特定する位置特定部５３と、位置特定部５３により特定された位置に基づいて、画像データにおいて欠陥画素により画像ノイズが発生する領域を特定する領域特定部５４と、領域特定部５４により特定された画像データの領域に含まれる複数の画素の画素値を、当該領域の周囲に位置する複数の画素の画素値に基づいて補正する補正部５５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数の不良画素が存在する場合であっても、簡易な冗長化プロセスで、不良画素が存在する領域に実際に入射する光に基づく情報が得られるようにし、不良画素による画像情報の欠落を防止して、歩留まりを向上させる。
【解決手段】イメージセンサ１を、同一波長に感度を持ち、かつ、入射光の向きに対して感度が異なる２つのフォトディテクタ７Ａ、７Ｂを有する複数の画素８を備えるセンサアレイ４と、複数の画素の中の少なくとも一の画素に対応する位置に設けられ、入射光を周囲の画素に散乱させる散乱体９とを備えるものとする。 （もっと読む）

【課題】何れかの行選択用配線が断線している場合にも解像度が高い画像を得ることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置１は、受光部１０、信号読出部２０、行選択部３０、列選択部４０、溢れ出し防止部５０および制御部６０を備える。受光部１０では、入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、このフォトダイオードと接続された読出用スイッチと、を各々含むＭ×Ｎ個の画素部Ｐ_１,１〜Ｐ_Ｍ,ＮがＭ行Ｎ列に２次元配列されている。第ｍ行のＮ個の画素部Ｐ_ｍ,１〜Ｐ_ｍ,Ｎそれぞれは、第ｍ行選択用配線Ｌ_Ｖ,ｍにより行選択部３０および溢れ出し防止部５０と接続されている。 （もっと読む）

【課題】 分割画素を有する撮像素子を用いた撮像装置において、欠陥画素の検出精度を上げること。
【解決手段】 マイクロレンズ（４４２）と、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換部（４０１ａ〜４０１ｄ）とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、前記光電変換部のうち、欠陥のある光電変換部を検出する画像補正回路（１１４）とを有する撮像装置において、前記画像補正回路は、前記複数の光電変換部それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の光電変換部から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換部を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記検出対象の光電変換部と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換部からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換部に欠陥があるかどうかを判定する第１の欠陥画素検出方法を用いて判定を行う。 （もっと読む）

【課題】一般的なデジタルカメラやビデオカメラに搭載されている撮像素子には、温度の変化に伴って増減するキズが存在しており、画質劣化の原因となる。
【解決手段】被写体からの入射光を光電変換し画像信号として出力する撮像素子を含む撮像手段と、撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手段で検出した欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、欠陥画素補正手段からの信号に対して任意の領域ごとに画像信号補正を行う画像信号補正手段と、撮像素子付近の温度を計測する温度計測手段と、画像信号処理システムを統括して制御するシステム制御手段と、を具備し、システム制御手段は、温度計測手段から得た温度情報を用いて欠陥画素検出手段が欠陥画素を検出する際の検出条件、すなわち、露光時間、欠陥画素検出閾値、ゲインのうちのいずれか1つまたは複数を制御する。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、特に動画像において、画質を劣化することなく、発生要因の異なるキズを精度よく補正する撮像装置を提供することにある。
【解決手段】被写体からの入射光を光電変換し電気信号として出力する撮像素子を含む撮像手段と、撮像素子からの出力の信号レベルの大きさを制御する信号利得制御手段と、信号利得手段から出力される信号にある欠陥画素を補正する複数の補正手段欠陥画素補正手段と、欠陥画素補正手段から出力される信号から画像信号を生成する画像信号処理手段と、撮像素子付近の温度を計測する温度計測手段と、該撮像手段、該信号利得制御手段、画像信号処理システムを統括して制御するシステム制御手段とから構成され、システム制御手段は複数の欠陥画素補正手段を欠陥画素の発生要因に応じて併用して動作させる。 （もっと読む）

【課題】画像診断時間を短縮することのできる画像診断方法を提供する。
【解決手段】固体撮像素子２は、固体撮像素子２の複数行および／または複数列を一括して選択して読出す読出回路５を備え、画像診断装置１は、読出された画素の値を行および／または列単位で平均した値を格納するメモリ４と、メモリ４内のデータに基づいて、固体撮像素子２の欠陥検出を行なう画像処理部６とを備える。 （もっと読む）

【課題】静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを増大させることなく、かつ、欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を生じることのない画像処理方法を得る。
【解決手段】欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する（ステップＳＴ１〜ＳＴ６）。次に、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する（ステップＳＴ８〜ＳＴ１２）。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定することが可能な欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システムを提供する。
【解決手段】２次元状に配置された複数の放射線検出素子（ｘ，ｙ）を備える放射線画像検出器１における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取及び／又は放射線画像撮影に際して１回以上行われたダーク読取において得られた一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力されたダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）と、予め定められた閾値ｄ_ｍthとを比較し、当該放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力された少なくとも１つのダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）が閾値ｄ_ｍthよりも大きい場合に、当該放射線検出素子（ｘ，ｙ）を欠陥画素と判定する。 （もっと読む）

【課題】欠陥箇所をリペアしつつ、当該リペアによって電荷が読み出せなくなる画素数を少なく抑えた放射線検出素子を提供する。
【解決手段】欠陥５０が発生した信号配線３に当該欠陥箇所を挟んで接続された画素７Ａ、７Ｂで信号配線３と並列配線１０２を短絡させて欠陥箇所に並列な並列回路８０を構成する。 （もっと読む）

【課題】結合後の欠損画素である結合欠損画素を適正に監視することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】結合（ビニング）の対象となる行列方向に隣接する複数の画素のいずれかの画素において欠損画素が含まれている場合には、ビニング処理後（結合後）のビニング画素（結合画素）をビニング欠損画素（結合欠損画素）としてビニング欠損画素検出部２３は処理する。そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部２３は行うことで、ビニング処理後（結合後）の欠損画素であるビニング欠損画素（結合欠損画素）を適正に監視することができる。 （もっと読む）

【課題】イメージセンサチップを長手方向に複数配列してなる１ラインのラインセンサにおいて、イメージセンサチップ間の光電変換素子の存在しない隙間部分に相当する欠損画素を補間する。
【解決手段】イメージセンサチップ１１２１の回路基板３０の主走査方向における一方の端部に突出部３１が形成され、回路基板３０の主走査方向におけるもう一方の端部の、上記突出部３１に対応する位置には後退部３２が形成されており、イメージセンサチップ１１２１が主走査方向に複数直線状に並べられたときに、隣り合うイメージセンサチップ１１２１の突出部３１と後退部３２とは互いに嵌まり合う。当該突出部３１上において、光電変換素子列４０から副走査方向に所定距離離れた位置には、イメージセンサチップの繋ぎ目部分における画素欠陥領域の画素を補間するための補間用光電変換素子５０が設けられている。 （もっと読む）

【課題】混色が発生する画素においても、欠陥補正を適切に行うことができ、画質低下を抑制することが可能な画像処理装置、画像処理方法及びプログラムを提供すること。
【解決手段】撮像素子の複数の画素のうち電気信号の出力が不適切な欠陥画素の位置及び本来の色を検出する欠陥画素検出部と、欠陥画素と同じ色を有する画素であり、かつ、周辺画素の色配置が、検出された欠陥画素の周辺画素の色配置と同一である同色画素を検出する同色画素検出部と、同色画素の画素値を用いて、欠陥画素の第一の補正画素値を算出する補正画素値算出部と、第一の補正画素値を用いて混色補正をする混色補正部とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】診断に障害となるアーチファクトの生起がなく歩留まりが向上した２次元画像検出装置の供給を可能にする。
【解決手段】２次元画像検出装置２の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない２次元画像検出装置２の供給が可能である。 （もっと読む）

【課題】画像全体で均一なシェーディングレスの高画質な固体撮像装置を提供する。
【解決手段】ＰＤ３０４及びＶＣＣＤ３０５からなる単位画素３０６が複数水平、垂直方向に２次元配列された画素領域を有する固体撮像装置において、画素領域３０１内の少なくとも一つの単位画素３０６のＰＤ３０４形成部に、基板電位設定画素３０７を形成する。この基板電位設定画素３０７と画素領域３０１外部に設けた基板電位設定電極３０９とを低抵抗の接続電極３０８で繋ぐことで、画素領域内で生じる高濃度Ｐ型不純物領域の電位差を抑制し、画像全体で均一なシェーディングレスの高画質な画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】後発縦線キズにも対応可能な、撮影条件によらない精度よい縦線キズ補正を実現する。
【解決手段】第１の画素群と第２の画素群とに蓄積された信号電荷を個別に読み出すことが可能な撮像素子を用いて、第１の画素群と第２の画素群とに第１の所定時間の露光を行い、第１の画素群から露光時間が第１の所定時間である第１の画像を取得し、第２の画素群から露光時間が第１の所定時間より短い第２の所定時間である第２の画像と、露光時間が少なくとも第１の所定時間と前記第２の所定時間との差分以下の第３の所定時間である第３の画像を取得し、第３の画像に基づいて撮像素子の縦線キズの情報を検出し、縦線キズの情報に基づいて第１の画像の縦線キズと第２の画像の縦線キズとを補正する。 （もっと読む）

【課題】光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる放射線検出器11を提供する。
【解決手段】光電変換基板12の規格よりも大きい欠陥信号を出力する欠陥画素Paの薄膜トランジスタ22と信号配線26との接続箇所を切断する。光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも、欠陥信号を発生させる原因となっている箇所を切断することで、欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる。 （もっと読む）

【課題】半導体層において発生した電荷信号を読み出すための線状電極が多数配列された電極層を備えた放射線画像検出器において、断線箇所を直接修復することによる画像欠陥を生じることなく、断線による画像への影響を抑制する。
【解決手段】電極層の所定の線状電極に断線箇所Ｃ１がある場合、その断線箇所Ｃ１が存在する線状電極５ａの端部と断線箇所が存在する線状電極５ａに隣接する線状電極５ｂとを接続部材２０を介して接続し、その接続後、半導体層を形成する。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定し登録することが可能な欠陥画素判定方法を提供する。
【解決手段】欠陥画素判定方法は、放射線を２次元状に配置された複数の放射線検出素子（ｘ，ｙ）で電気信号に変換して実写画像データＦ（ｘ，ｙ）を生成し、画素ごとの特性ばらつきを補正して最終的な画像データＦ_Ｏ（ｘ，ｙ）を生成する放射線画像検出器１における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取において得られた、一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力されたダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）の複数回分の時間的統計値σｄ（ｘ，ｙ）について予め設定された閾値σｄthに基づいて、当該一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）が欠陥画素（ｘｓ，ｙｓ）であるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】複数画素に対して画像上の連なる欠陥（＝線欠陥）を低減すると共に、補正精度を向上させ、画質劣化を低減することができる撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、二次元に配列され、被写体からの光を光電変換して蓄積する画素６０と、画素６０に接続されて蓄積された電荷を信号として後段へ転送する複数の出力線６７を備える撮像素子を備える。そして、撮像素子は、出力線６７に全色の画素６０が接続されていると共に、同列もしくは同行に配設されている画素６０の出力を、複数画素毎に左右に隣接する、異なる出力線６７へ交互に出力する。 （もっと読む）