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Fターム[4M118FA28]の内容

固体撮像素子 (108,909) | CCD、MOS型固体撮像素子の細部 (13,257) | 分離構造 (2,603) | 絶縁物による分離 (743)

Fターム[4M118FA28]に分類される特許

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【課題】基板上の絶縁膜の膜厚最適化により、受光部の暗電流、キズ特性の向上、転送トランジスタの信頼性の長寿命化、出力処回路部による画素情報の高速出力化をできる増幅型固体撮像素子の提供。
【解決手段】増幅型固体撮像素子は、画素セル部11を複数有する受光部、周辺回路部5、入出力部7、出力処理回路部9が基板100にシステム・オン・チップ化されてなり、画素セル部11の転送トランジスタTnTrやフォトダイオードPD(第1の活性領域)の絶縁膜104、画素セル部11のリセットトランジスタRsTr(第2の活性領域)の絶縁膜108、画素セル部11の増幅トランジスタSFTrと周辺回路部5の容量素子部(第3の活性領域)の絶縁膜110、出力処理回路部9(第4の活性領域)の絶縁膜119のそれぞれの膜厚がそれぞれ異なる。 (もっと読む)


【課題】動作信頼性を向上させる裏面照射型固体撮像装置を提供すること。
【解決手段】第1導電型の半導体基板表面100内に形成された第2導電型の拡散層107を含み、前記半導体基板100の裏面側から表面側に向かって照射された光により前記半導体基板100内で生成された電子を蓄積する複数の電荷蓄積部107と、複数の前記電荷蓄積部107をそれぞれ電気的に分離し、前記半導体基板の前記裏面側が開口されるよう形成されたトレンチと、前記トレンチを埋め込み、絶縁膜で皮膜された埋め込み層110、111とを具備する。 (もっと読む)


【課題】光電変換素子の面積を平面的に拡大したり不純物濃度を高めたりしなくても、飽和信号電荷量を増加させる。
【解決手段】本発明の固体撮像装置は、半導体基板21と、半導体基板21に二次元的に配列された複数の画素とを備える。画素は、光電変換素子となるフォトダイオード22と電荷読み出しトランジスタを含む画素トランジスタを有する。フォトダイオード22は、P型不純物領域(25,26)と、N型不純物領域(27,28)とを有し、これらの高濃度不純物領域(26,28)同士が接するPN接合部29が、半導体基板21の表面側に凸の形状で形成されている。転送ゲートがPN接合部の一部に重なるように形成され、凸形状をなすPN接合部のポテンシャルが前記転送ゲートに向かって傾斜している。 (もっと読む)


【課題】画素サイズを縮小しても画素間分離を確実に行うことができ、裏面照射型の画素の微細化に伴うクロストークの増加を防止することができ、色再現性の向上をはかる。
【解決手段】光電変換により信号電荷を生成する光電変換部及び信号電荷を出力する信号走査回路部を含む単位画素を二次元配置してなる固体撮像装置であって、信号走査回路部は光電変換部を有する第1の半導体層とは異なる第2の半導体層に設けられ、第2の半導体層は第1の半導体層の表面上に絶縁膜を介して積層され、第1半導体層には、画素境界部分に第1の半導体層の厚さ方向に絶縁膜からなる画素分離層が埋め込み形成され、且つ表面部に光電変換部で生成された信号電荷を読み出す読み出しトランジスタが形成されている。 (もっと読む)


【課題】ドレイン領域等の不純物拡散領域からフローティングゲートに電荷が注入されてしまうことを防止でき、S/Nを向上できる固体撮像素子及び撮像装置を提供する。
【解決手段】半導体基板に配列された複数の画素部が配列され、画素部が、半導体基板に形成された光電変換部と半導体基板の上方に設けられた電荷蓄積領域と、電荷蓄積領域に電荷を蓄積させて、該電荷に応じた信号を読み出すトランジスタ構造とを備え、トランジスタ構造がソース領域及びドレイン領域を含み、ソース領域及びドレイン領域と光電変換部との間の半導体基板に、ソース領域及びドレイン領域と光電変換部との間で移動する電荷に対して電位勾配のポテンシャル障壁となる障壁層を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、カラーフィルター層やマイクロレンズの形成を容易にして、固体撮像装置の基板にエネルギービーム加工によって貫通電極が形成される貫通孔を形成することを可能にする。
【解決手段】入射光を光電変換する受光部61が形成され、光入射側に配線部41が形成された第1基板11と、配線部41が形成された側の第1基板11に所定間隔を置いて設けられた光透過性を有する第2基板31と、第1基板11に形成された貫通孔13と、貫通孔13内に形成された貫通電極15と、貫通電極15に接続されていて第1基板11表面に形成された表面側電極21と、貫通電極15に接続されていて第1基板11裏面に形成された裏面側電極17と、表面側電極21上に形成されていて表面側電極21と第2基板31との間を埋め込むストッパ電極とを有する。 (もっと読む)


【課題】グローバルシャッタ機能を有する低ノイズ(高感度)かつ低消費電力のMOS型イメージセンサを提供する。
【解決手段】複数の画素部21を有するMOS型イメージセンサ100であって、画素部21は、光電変換部PDと光電変換部PDで発生した電荷に応じた信号を読み出す信号読み出し部とを含み、信号読み出し部は、フローティングゲートFGを有し、光電変換部PDで発生した電荷をフローティングゲートFGに蓄積する書き込みトランジスタWTと、書き込みトランジスタWTとフローティングゲートFGを共有し、当該フローティングゲートFGの電位に応じた信号を信号線BLに読み出す読み出しトランジスタRTとを含み、信号線BLに接続されて読み出しトランジスタRTと共にソースフォロア回路を構成する負荷トランジスタ22を備える。 (もっと読む)


【課題】SOI基板を用いらずに、裏面照射型の撮像素子等を、活性領域となる半導体エピタキシャル層の厚さを所望の厚さに容易に管理することができ、かつ、汚染不純物のゲッタリングを円滑に行うことができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】導電型がP型のシリコン単結晶基板の一方の主表面に、エッチストップ層となる導電型がN型のN型エピタキシャル層と、半導体素子を形成するための半導体エピタキシャル層とをこの順にエピタキシャル成長させる工程と、前記半導体素子を形成するための半導体エピタキシャル層に前記半導体素子を形成する工程と、該半導体素子が形成された表面に保持基板を貼り合わせる工程と、前記N型エピタキシャル層に正電圧を印加して、該N型エピタキシャル層をエッチストップ層として電気化学的エッチングにより前記P型シリコン単結晶基板を除去する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】35mmデジタル一眼レフ・カメラ用のCMOSイメージ・センサは、チップサイズが非常に大きく、200φウエハ上に20チップ程度しか配置できない。従って、ウエハあたり、ショート欠陥が数個存在しただけで、歩留まりが大きく低下する。そこで、これらの欠陥を一般的なレーザ・トリミング技術により、除去することを検討したが、サブ・ミクロン・オーダの加工は非常に困難であることが判明した。
【解決手段】本願発明は、ピクセル・アレイ、これを横断又は縦断する複数のグローバル配線、および、各ピクセル内に設けられたローカル配線を有する半導体集積回路装置であって、第1のグローバル配線と、第1のピクセル内にあるローカル配線との間のショート不良箇所が、そのローカル配線の機能を実質的に破壊し、前記第1のグローバル配線の機能を実質的に破壊しないように、レーザ・リペア処理された修正処理部を有するものである。 (もっと読む)


【課題】AlCuプロセスのCMOSイメージセンサーの大ビアボンディングパッドのアプリケーションを提供する。
【解決手段】集積回路は、ボンディングパッド領域と非ボンディングパッド領域とを有する基板からなる。“大ビア”と称される相対して大きいビアが、ボンディング領域の基板上に形成される。大ビアは、基板向きの上面図にて、第一寸法を有する。集積回路は、非ボンディング領域の基板上に形成された複数のビアも有する。複数のビアは、それぞれ、上面図にて、第二寸法を有し、第二寸法は、第一寸法より相当小さい。 (もっと読む)


【課題】撮像画像の画像品質を向上可能であって、製造歩留まりを向上する。
【解決手段】遮光部300と画素トランジスタPTrのゲート電極22G,23G,24G,25Gを形成する工程の実施前に、その形成領域を含む領域を被覆するように、遮光性の導電材料(ポリシリコン)を成膜して、ポリシリコン膜400を形成する。そして、そのポリシリコン膜400についてパターン加工することによって、遮光部300と各ゲート電極22G,23G,24G,25Gとの両者を同時に形成する。ここでは、遮光部300と各ゲート電極22G,23G,24G,25Gとが互いに連結されるように形成される。 (もっと読む)


【課題】 光電変換装置のコンタクトホール形成時に光電変換部が金属あるいは高融点金属で汚染されないようにすること。
【解決手段】 画素領域と周辺回路領域とを有する光電変換装置の製造方法であって、
前記周辺回路領域のMOSトランジスタの拡散層あるいはゲート電極の表面と高融点金属とを反応させて、半導体化合物層を形成し(図2(C))、前記画素領域と前記周辺回路領域に絶縁層を形成する(図2(D))。前記画素領域の拡散層を露出するように前記絶縁層にコンタクトホールを形成し(図2(D))、異なるタイミングで、前記周辺回路領域に形成された前記半導体化合物層を露出するように前記絶縁層にコンタクトホールを形成する(図3(A))。後で形成されるコンタクトホールに先立って、先に形成されるコンタクトホールにコンタクトプラグを形成する(図3(A))。 (もっと読む)


【課題】光電変換部から電荷電圧変換部への電荷の転送効率を向上するとともに、転送電極の下における素子分離部の界面準位に起因した暗電流によるノイズを低減する。
【解決手段】アクティブ領域を規定する素子分離部EIと、第1導電型の電荷蓄積領域14を含む光電変換部51と、電荷電圧変換部53と、光電変換部51で発生した電荷を電荷電圧変換部53へ転送するための転送電極2と、光電変換部51と電荷電圧変換部53との間の第1導電型の第1の半導体領域12と、第1の半導体領域12と素子分離部EIとの間の第1導電型と反対導電型である第2導電型の第2の半導体領域11とを備え、第2の半導体領域11は、転送電極2の下におけるチャネル幅方向に沿って延びた第4の部分11cと、転送電極2の下におけるチャネル長方向に沿って延びた第3の部分11dとを含み、第4の部分11cの幅は、第3の部分11dの幅より広い。 (もっと読む)


【課題】固体撮像素子の信号出力部およびバイアス電圧発生回路を構成するMOSトランジスタにおいてホットエレクトロンによる発光現象が発生し、それによりシェーディングと呼ばれる画像劣化が引き起こされる。シェーディングによる画像劣化を抑制して高画質を実現するために、ホットエレクトロンによる発光現象を抑制することが求められている。
【解決手段】固体撮像素子の周辺回路における信号出力部およびバイアス電圧発生回路を構成するMOSトランジスタの半導体表面に形成された絶縁膜のうちゲート電極で覆われた部分であるゲート絶縁膜について、ドレイン側端部を含む一部の膜厚を、それ以外の部分における膜厚よりも厚膜化することにより、ドレインジャンクション部分の電界を緩和し、ホットエレクトロンによる発光現象を抑制して、シェーディングによる画像劣化を抑制する。 (もっと読む)


【課題】画素が微細化した場合にも光の回折の影響を抑えることが可能な導波路を備えた固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置は、上部に第1の受光部と第2の受光部とが形成された半導体基板150と、第1の受光部の上方に位置する部分に第1の凹部H1が形成され、前記第2の受光部の上方に位置する部分に第2の凹部が形成された絶縁膜と、第1の凹部H1及び前記第2の凹部H2に埋め込まれ、絶縁膜よりも高い屈折率を有する高屈折率材料膜と、第1の凹部H1の上方に形成され、第1の波長の光を選択的に透過する第1のカラーフィルタ113rと、第2の凹部H2の上方に形成され、第1の波長よりも短い第2の波長の光を選択的に透過する第2のカラーフィルタ113gとを備える。第1の凹部H1の底面積は、第2の凹部H2の底面積よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】画素分離領域を狭小化することによって画素数を十分に増大させることができ、隣接する画素に入射した可視光の前記画素分離領域に対する透過を抑制し、高い解像度を得ることが可能なCMOSイメージセンサを提供する。
【解決手段】第一導電型の半導体基板と、前記第一導電型の半導体基板上に形成され、入射した光をキャリアに変換するフォトダイオードを備え、前記第一の導電型とは異なる第二の導電型の画素領域と、前記第一の導電型であり、前記半導体基板前とともに前記画素領域を取り囲むように形成された素子分離領域と、前記画素分離内に形成された空洞と、前記画素分離領域上に形成されたゲート電極と、を備えるようにしてCMOSイメージセンサを構成する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、感度ムラや、シェーディングが抑制された固体撮像装置を提供する。また、その固体撮像装置を用いた電子機器を提供する。
【解決手段】基板19と、基板19に形成された画素2と、隣接する画素間を分離する多段素子分離層31とを有して構成されている。画素2は、入射光に応じた信号電荷を生成、蓄積する受光部12と、基板19上に形成された画素電極14とを有して構成されている。多段素子分離層31は、複数段の不純物拡散層を有して構成されている。そして、受光部12を挟んで画素電極14に対向する領域の基板表面から深さ方向に形成された多段素子分離領域31は、基板19の光入射面から0.5μm〜1μmよりも深い領域において、受光部12から所定の距離W1だけ離して形成された下段素子分離層24,25を有している。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置において、画素セルが微細化されても取り扱い信号電荷量を確保する。
【解決手段】光電変換部を有する複数の画素42が配列された画素領域を備える。
光電変換部は、半導体基板43の表面側の第1導電型半導体領域61と、半導体基板43の内部側の第2導電型電荷蓄積領域63と、両領域61及び63との間に挟まれた真性半導体領域62、又は第2導電型電荷蓄積領域63より低不純物濃度のp型半導体領域とを有する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を有する半導体装置において貫通電極の信頼性を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板10の第1主面上に形成された絶縁膜25と、第1主面上の絶縁膜25内に形成され、導電膜からなりその導電膜の少なくとも1部に導電膜が存在しない空き領域を有する電極パッド26Bと、第1主面に対向する第2主面上に形成されたハンダボール18と、シリコン基板10の第2主面側から空けられ電極パッド26Bまで達した貫通孔内に形成され、電極パッド26Bとハンダボール18とを電気的に接続する貫通電極とを備える。電極パッド26Bが有する空き領域には絶縁膜25が存在し、空き領域に存在する絶縁膜25と電極パッド26Bとの貫通電極側の段差が電極パッド26Bの厚さ以下である。 (もっと読む)


【課題】 複数の光電変換素子で画素読み出し回路を共有する際に、光電変換性能を劣化させることなく、画素寸法縮小化に伴うリセットトランジスタとウエルコンタクト間の電界を緩和すること。
【解決手段】 複数の光電変換素子と、複数の光電変換素子の信号を増幅する一つの増幅トランジスタと、前記増幅トランジスタの入力部の電位をリセット電位に設定するリセットトランジスタと、前記増幅トランジスタと直列に接続され、該増幅トランジスタで増幅された信号を選択して読み出す選択トランジスタと、が行列状に配列された画素領域と、前記画素領域内に配されたウエルコンタクト領域を有する固体撮像装置であって、ウエルコンタクト領域が、リセットトランジスタのドレイン領域と近接して配され、リセットトランジスタのドレイン領域の不純物濃度が、選択トランジスタのソース、ドレイン領域の不純物濃度よりも低いことを特徴とする。 (もっと読む)


201 - 220 / 743