【課題】ＭＡＬＤＩ用サンプルの中で測定に最適であるスイートスポットを効率的に探索することにより、スループットの向上を図るとともにサンプル消費量を減らす。
【解決手段】サンプルプレート上に形成されているウェル１ａの中心点Ｏを起点Ｐとして、該起点Ｐから外方に渦巻き状の走査軌跡Ｑを描くように所定間隔で測定点を設定し、サンプルＳ上の各測定点に対する予備的な測定を実行してピーク強度、Ｓ／Ｎ等の指標値を取得する。指標値が規定値を下回る状態が所定回数続いたら、レーザ光照射がサンプルＳを外れたと判断し測定を打ち切る。そして、最大の指標値を与える測定点がスイートスポットであると判断し、該測定点に対し複数回の測定を実行して当該サンプルＳについてのマススペクトルを取得する。これにより、サンプルＳを外れた無駄な予備測定の実行を減らしながら的確にスイートスポットを見い出すことができる。 （もっと読む）

【課題】常に最良の条件で測定できるように、アセトンを用いて簡単に行なえるＧＣ−ＭＳ用の電界イオン化イオン源の調整方法を提供する。
【解決手段】ガスクロマトグラフ装置から導入される試料分子をエミッターとカソードによって挟まれた高電界空間に導入管を介して導入し、該高電界空間を利用して試料分子をイオン化させる電界イオン化イオン源の調整方法であって、標準試料を前記導入管を介して前記高電界空間に導入し、生成された標準試料のイオンに基づいてイオン化条件を調整するようにした。 （もっと読む）

システム（２０）および方法は、例えば質量分析検出で使用するためのサンプリング・システムにおける収集機器−表面間距離を制御するために画像分析手法を利用する。そのような手法は、収集機器（２３）又は表面（２２）に落ちたその影の画像を取得し、線平均輝度（ＬＡＢ）技術を利用して収集機器と表面との実際の距離を決定することを含む。次に、実際の距離は、必要に応じて自動化された表面サンプリング操作において収集機器−表面間距離を再最適化するためにターゲット距離と比較される。
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システム（２０）および方法が、レーザ・センサ（４２）を含む距離測定装置（４０）を利用して、例えば質量分光検出で使用される試料収集プロセス中に収集機器−表面間距離を制御する。レーザ・センサは、収集機器（２３）と固定位置関係で配置され、レーザ・センサと表面（２２）の間の実際の距離に対応する信号がレーザ・センサにより生成される。収集機器が表面から試料収集に望ましい距離で配置されたときに、レーザ・センサと表面の間の実際の距離が、レーザ・センサと表面の間のターゲット距離と比較され、必要に応じて、実際の距離がターゲット距離に近づくように調整される。
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【課題】本発明は、毛髪含有の微量元素ならびに特定元素の毛髪中の分布状態を測定できて、しかも大規模な設備や高度の熟練を必要としない簡便な毛髪分析専用のレーザーアブレーション質量分析装置を提供する。
【解決手段】本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置１は、試料ステージ１０と、レーザー照射部２０と、気流搬送系３０と、イオン源４０と、分析部５０とを備えている。試料ステージ１０は、毛髪試料を保持し正確な位置決めを行い、レーザー照射部２０は、毛髪の先端など毛髪上の任意の位置にレーザー光を照射してアブレーションを発生させる。アブレーションにより原子化した毛髪含有元素は、上記気流搬送系３０によって抽出され、上記イオン源４０に達する。イオン源４０では、毛髪含有元素の中性原子を電子線照射または光照射によってイオン化し、これにより得られる毛髪含有元素のイオンを分析部５０で質量分析する。 （もっと読む）

【課題】真空槽を大気解放することなく、且つ電気的な安全性を維持して、試料を大気側より真空槽の内部に装着することができる質量分析装置を提供する。
【解決手段】質量分析をするための分析管１４ａと、分析管１４ａの一端に接続された試料室フランジ７１と、試料室フランジ７１に接続された準備室フランジ７３と、加速器のバックプレートとして機能する試料ステージ１７と、試料ステージ１７を搭載し、試料室フランジ７１の内部と準備室フランジ７３の内部との間を直線移動する絶縁スリーブ３２と、試料ステージ１７が準備室３８に位置するとき、分析管１４ａと準備室３８との真空状態を分離する第１シールリング３６と、試料ステージ１７が試料室２７に位置するとき、分析管１４ａと大気との真空状態を分離する第２シールリング３７と、試料ステージ１７に着脱可能な試料ホルダ１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】キャピラリのスプレー部からの突出距離の調整が容易で、組立時間が大幅に短縮され、回り止めの箇所が最小となるＥＳＩプローブを備えたＬＣ／ＭＳを実現する。
【解決手段】キャピラリ５をライナー８やフェルール７と共にあらかじめカップリングジョイント６に締着し、キャピラリ５とカップリングジョイント６を一体としてマニホールド１に前後方向に移動可能な状態で装着する。移動は、カップリングジョイント６を、円孔Ａ内壁のメネジＢに回転螺入させることによって実現する。カップリングジョイント６のマニホールド１に対する回り止めは一箇所のみに限定される。 （もっと読む）

【課題】 試料の表面状態の変化にかかわらず、試料の分析精度を向上させることを可能にするレーザーアブレーション装置及び方法、試料分析装置及び方法を提供する。
【解決手段】 試料分析装置１は、試料室５内の試料台６に支持される試料２にレーザー光を照射して、試料２の一部を微粒子化させるレーザーアブレーション・ユニット３と、試料室５内で微粒子化された試料２を導入し、試料２に含まれる構成元素を検出する元素検出ユニット４と、コントローラ３７とを備えている。試料室５の上方には、試料２の表面形状を検出するためのレーザー変位計１８が設けられている。コントローラ３７は、レーザー変位計１８の測定値に基づいて、試料２の表面に対してレーザー光のフォーカスを合わせるように試料台駆動部７を制御するレーザー制御部と、元素検出ユニット４の検出値を入力し、所定の分析処理を行う分析部とを有している。 （もっと読む）

保持プレート（１１）、サンプル挿入プレート（１４）および磁石（１６）を備えるサンプルプレート構造体（１０）が提供され、この保持プレートは、その周囲に沿って谷部（１３）を備える中央凹部（１２）を備え、このサンプル挿入プレートは、この凹部の接触表面内にフィットし、そしてこの接触表面上に載り、そしてこの磁石は、この接触表面の下方に保持される。この挿入物の底部表面（１５）の一部分は、磁性材料から形成される。磁石（１６）は、ＭＡＬＤＩ ＭＳ分析の間、挿入プレート（１４）を保持プレート（１１）内に保持するために十分な力を提供する。このサンプル挿入プレート（１４）は、周囲構成を備え、この構成は、このサンプル挿入プレートが、このサンプルプレート支持構造体内で適切に配向し、そして平坦に保持されることを保証する。突出物のための穴（１８）は、配向特徴に対する挿入物の容易な設置および整列を可能にする。
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