Fターム[5C038HH02]の内容
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Fターム[5C038HH02]に分類される特許
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MALDI質量分析のためのイオン源及び方法
MALDIイオン源、イオン形成の方法及び質量分析装置システムを提供する。さまざまな実施形態において、サンプル面のサンプルに、取付け面の法線から10度以内の角度でレーザー・エネルギー・パルスを照射するよう構成されたMALDIイオン源、及び取付け面の法線から5度以内の方向にサンプルイオンを抽出するよう構成された第一イオン光学システムを提供する。さまざまな実施形態において、ほぼ同軸のサンプル照射及びイオン抽出を具えるMALDIイオン源を提供する。さまざまな実施形態において、MALDIによってサンプルイオンを生成し、加速電界を用いてサンプルイオンを抽出して、加速電界からの出口におけるサンプルイオン軌道の角度が、イオンビームのほぼ中心部において実質上サンプルイオンの質量に左右されないようにイオンビームを形成する方法を提供する。
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陽性粒子検出および陰性粒子検出の両方のための質量分析計
減圧チャンバー内のイオンのような陽性粒子および陰性粒子両方を測定するために適切な質量分析計。この質量分析計は、この陽性粒子および陰性粒子を分離するために適切な方向を有する適切な磁束をもつ継鉄のギャップを提供する整調可能な常磁性セグメントを備える。極性を変えることは、これらイオンの飛行を調節する。従って、負に荷電したイオンおよび正に荷電したイオンは、反対の極性の下で類似の飛行経路に従い、単一アレイの検出器の使用を可能にする。上記ギャップに適切な磁束を提供するために、上記整調可能な常磁性セグメントに代えて、またはそれに加えて、1つ以上のコイルが用いられ得、そして/またはこの整調可能な磁性セグメントの整調プロセスを容易にする。検出器は、検出器領域、2荷電モード増幅器、第1および第2のCCDシフトレジスターを備え得る。
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