電界強度の関数としてのイオン移動度の差に従ってイオンを分離する装置６が開示される。装置６は、上側電極７ａ、下側電極７ｂ、および複数の中間電極８を含む。非対称電圧波形が上側電極７ａに印加され、ＤＣ補償電圧が下側電極７ｂに印加される。 （もっと読む）

【課題】質量分析計で使用されるＲＦ単独多重極構造を提供する。
【解決手段】ＲＦ単独多重極は、各多重極ロッド本体の周りに形成された螺旋状の抵抗経路を含む。イオンを多重極内部を通してその縦方向軸線に沿って推進させるのを助ける半径方向に閉じ込めるＲＦ場及び軸方向ＤＣ場を生成するために、ＲＦ電圧が、ロッド本体及び抵抗経路に印加され、ＤＣ電圧が、抵抗経路に印加される。１つの実施例では、抵抗経路は、ロッド本体上に形成されたネジ山間に形成された溝に敷かれたニクロムのような抵抗性材料のワイヤの形態を取る。本発明のＲＦ単独多重極は、補助ロッド又は類似の補足的構造を使用して軸方向ＤＣ場を発生させる必要性を排除する。 （もっと読む）

本発明は、１つ又は複数の化合物をイオン化するための、複数の部品を含むイオナイザと、前記１つ又は複数の化合物のイオンを分離するための、複数の部品を含む質量分離器と、前記１つ又は複数の化合物を同定するための、複数の部品を含む検出器と、を含むイオン光学系を提供する。前記イオナイザ、前記質量分離器及び前記検出器のうちの少なくとも１つの前記複数の部品の１つは、酸化ジルコニウム及び酸化アルミニウムの組成物を含む。
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多様な実施形態において、イオン光学システムが提供され、イオン光学システムは、対に配置された偶数個のイオンミラーを備えたイオン光学システムであって、イオン光学システムを出るイオンの軌道であって、イオンがイオン光学システムに入るときに持っていたイオンの運動エネルギから実質的に独立した位置で、イオン光学システムの像焦点面に実質的に平行である面と交わるイオンの軌道が提供され得るように、偶数個のイオンミラーが配列されている。多様な実施形態において、イオン光学システムが提供され、イオン光学システムは、前記イオンミラーは、複数の対に配列されており、各対の第１の要素と第２の要素とは、その対の該第１の要素が、その対の該第２の要素の位置に対して、第１の平面に対して鏡面対称である位置を有するように、該第１の平面の対向する側に配置されている。
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【課題】 MALDIイオントラップ型質量分析装置において、１回の測定でより広い質量範囲をカバーすることのできる方法及び装置構成を提供する。
【解決手段】 MALDI部におけるパルスレーザの照射時刻t0とイオントラップ部におけるリング電極へのRF電圧印加時刻t1の間の時間を少しずつ変化させつつ、試料への複数回のパルスレーザ照射を行い、それらにより得られたマススペクトルを加算又は加算平均する。t0とt1の間の時間が短いほど、より小さな質量電荷比を持つイオンがイオントラップ空間１２２にトラップされるようになるため、このように時間をずらせて多数回の測定を行うことにより、広い質量範囲をカバーしたマススペクトルを得ることができる。 （もっと読む）

質量分析計で分析するイオン集団の制御方法および装置。イオン蓄積速度と所定の所望のイオン集団との関数として決定される注入時間間隔のあいだ、イオンを蓄積する。蓄積速度は、イオン源からイオンアキュムレータへのイオンの流速を表す。蓄積されたイオン由来のイオンは、分析のために質量分析計に導入される。本発明は、所定のイオン集団を蓄積させ、蓄積したイオン集団を質量分析計の分析セルまたは一部に移送することにより、質量分析計内でイオン集団を制御する方法および装置を提供する。
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【課題】 分子量が大きな成分の構造解析など目的とした質量分析を行う際に、煩雑な手間を省きながら分析精度を高める。
【解決手段】 ＥＳＩのイオン化プローブ２により試料液滴を噴霧してイオン化を行うイオン化室１内に露出してＭＡＬＤＩ用のサンプルプレート３を設置し、該サンプルプレート３上の試料Ｓ２にレーザ光を照射するためのレーザ光源５及びミラー６を設ける。ＥＳＩ、ＭＡＬＤＩのいずれで生成されたイオンもイオン化室１と第１中間真空室９との差圧によって脱溶媒管８に吸引され後段に送られる。制御部２０は例えば短い周期でＥＳＩイオン源とＭＡＬＤＩイオン源とを交互に動作させることにより、同一の検体に由来する試料液Ｓ１と試料Ｓ２から、前者では主として多価イオンを、後者では主として１価イオンを生成して質量分析することができる。それによって、ほぼ同一の分析環境条件の下で幅広い質量数範囲のマススペクトルを作成することができる。 （もっと読む）

マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源又はイオンイメージングデバイスであって、レーザ（１）及びズームレンズ（３、４、５）を備えるものを開示する。ズームレンズ（３、４、５）は、イオン源又はイオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレート（１３）に方向付けられたレーザビームの倍率を変動できるように配置される。 （もっと読む）

イオンガイドを備えた質量分析計を開示する。前記イオンガイドは、壁を有する中空で管状の導体（１）を備えている。前記管状の導体（１）の壁に、１以上の電極が設けられている。出口開口（３）が、１以上の電極（２）の下流で、前記管状の導体（１）の壁に設けられている。前記１以上の電極（２）にＡＣまたはＲＦ電圧を印加し、前記管状の導体（１）の壁と１以上の電極（２）との間に、ＤＣ電位差を保持する。ＤＣ電圧勾配と、電極（２）に印加するＡＣまたはＲＦ電圧との組み合わせにより、イオンは、好ましくは前記１以上の電極（２）に近接した領域に径方向に閉じ込められる。前記管状の導体（１）の内側と管状の導体（１）の外側との間に圧力勾配を保持することにより、かつ／または出口開口（３）を通してイオンを抽出する働きをするＤＣ電場を保持することにより、出口開口（３）を通してイオンガイドからイオンを抽出することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】イオン供給源１０、一次飛行時間型手段２０、８０、フラグメントイオンを生成するための衝突セル４０及び二次飛行時間型分析計５０を包含する。タンデム質量分析装置の提供。
【解決手段】二次飛行時間型分析計は、装置の光軸に沿って又はそれに対してある角度で二次場を生じるよう配列されるイオン鏡５１、５２を包含する。一次飛行時間型分析計は、トロイド状又は円筒状静電分析計７０の逐次Ｓ形立体配置を包含し、２つの静電レンズ８０及び９６をイオン鏡のどちらかの側に包含し、又は静電レンズ８０を包含し得る。時間的収束と共在する空間的収束は、高分解能を生じるために二次場鏡にとっては不可欠な要件である。 （もっと読む）

【課題】イオン／イオン反応による電荷減少の進行度合いの制御や、高効率で高ダイナミックレンジのイオン／イオン反応を容易に行うことの出来る質量分析装置を提供する。
【解決手段】測定対象試料をイオン化し試料イオンを生成する第１のイオン源と、試料イオンと反対の極性の反応イオンを生成する第２のイオン源と、質量分析計を備え、前記第２のイオン源は、前記第１のイオン源と前記質量分析計間であり、且つ前記第１のイオン源から放出される試料イオン流の軸から離れて配置され、更に、前記第２のイオン源は、前記第１のイオン源から放出される試料イオン流に対して、反応イオンを放出することを特徴とする質量分析装置。
【効果】簡単な構成により、生体高分子の多価イオンに由来するマスピークを単純化でき、マススペクトル解析を容易にすることが出来る。 （もっと読む）

質量分析計は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）と、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）の下流側に配置されたイオンガイド（６）とを備えている。イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンが、個別の軸方向電位井戸内に閉じ込められるよう、イオンガイド（６）内で、複数の軸方向電位井戸が作られる。電位井戸は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンの忠実性および／または構成を維持する。電位井戸は、イオンガイド（６）の長手方向に沿って移動する。 （もっと読む）

【課題】未知の混合物試料を、一連の測定操作により高速で計測することが可能で、操作者の手間を低減することの可能な質量分析計を提供する。
【解決手段】 混合物試料を液体クロマトグラフ１により分離して導入する試料を分析する質量分析計であって、分離された試料をイオン源７によりイオン化し、この生成した試料のイオンをイオン導入細孔１４ａ、１４ｂから取り込んで当該イオンを質量分析部により分析するが、この質量分析部をイオントラップ型の質量分析を行うイオントラップ型質量分析部により構成すると共に、さらに、制御装置４１により、分離されて導入される試料を、前記イオントラップ型質量分析部により、正イオン計測と負イオン計測との一連の測定操作により特定する。または、計測の最初に行われる正イオン計測、負イオン計測、判別により、試料の極性を自動的に選択・設定し、高速で高精度の計測を可能とし、かつ、操作者の手間を低減する。 （もっと読む）

衝突またはフラグメンテーションセル（５）の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ（３）を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル（５）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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イオン検出器１１を含み、イオンビームを質量分散による２の分離したイオンビームの方向に分割するために反射電極１３を用いる、磁場型質量分析器を開示する。前記２のイオンビームは２つの検出器上に向かい、それらは、好ましくは、２つのまたはそれよりも多いコンバージョンダイノード１５ａ、１５ｂ、および、前記コンバージョンダイノード１５ａ、１５ｂにより発生させられた電子を検出するための、２つのまたはそれよりも多い対応するマイクロチャンネルプレート検出器１４ａ、１４ｂを含む。前記２つの検出器からのシグナルが実質的に異なる場合、前記イオンビームは妨害イオンを含むと決定することができる。反対に、前記２つの検出器からのシグナルが実質的に等しい場合、前記イオンビームは妨害イオンを実質的に含まないと決定することができる。
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【課題】 ２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。
【解決手段】 炭素非粒子団及び粒子団荷電粒子ａを、質量分析器１により粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２とに選別し、これらの粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２を物質表面に照射する。荷電粒子を粒子団で物質に照射すると、粒子団が被照射物質と衝突する際に、粒子の有するエネルギーが物質表面の狭い領域に集中し、エネルギー密度の高い場が生じる。このような荷電粒子団の照射による特異的な高密度エネルギー場の中では、イオン化反応が促進され、非粒子団照射時に比べて生成される２次粒子の量が増加する。また、荷電粒子団の代わりに中性粒子団を用いた場合にも同様の効果を奏する。 （もっと読む）

結合されたシリコンオン絶縁物（ＢＳＯＩ）ウエハから、マイクロエンジニアリングされた質量分析器を製造する方法が、四極子分析器を参照して記載される。四極子幾何形状は、モノリシックブロック４１０を形成するようにともに結合される２つのＢＳＯＩウエハ２００を使用して達成される。外側シリコン層に形成されたディープエッチングされた特徴及びばねは、円筒状金属電極ロッド３００を位置付けるために使用される。アセンブリの精度は、リソグラフィとディープエッチングとの組み合わせにより、かつ結合されたシリコン層の機械的構成度合により決定される。内側シリコン層に形成されディープエッチングされた特徴は、イオン入口及びイオン収集光学部品を画定するために使用される。また、流体チャネルなどの他の特徴を組み込むことができる。
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【課題】濃縮工程を行わない測定試料についても効果的に用いることができる、目的の物質を主として質量分析により検出することができる方法を提供する。
【解決手段】質量分析において、測定すべき特定の物質と前記特定の物質以外の物質とを含む混合物サンプルに含まれる、前記特定の物質を、前記特定の物質以外の物質よりも、前記特定の物質をよりイオン化させやすいマトリックスを用いることによって特異的にイオン化し、混合物から特定の物質を選択的に測定する質量分析方法。
好ましくは、前記特定の物質が２−ニトロベンゼンスルフェニルクロリドによってラベル化されたペプチドであり、且つ前記マトリックスがヒドロキシニトロ安息香酸などのニトロベンゼン誘導体である。マトリックスは、α−シアノ−４−ヒドロキシケイ皮酸と組み合わせて用いることが好ましい。 （もっと読む）

本発明は、タンデム質量分析を実施する装置および方法を提供する。本発明のタンデム質量分析計（４００）は、第１質量分析器（４２０）および第２質量分析器（４３０）を備える。少なくとも１つの質量分析器は、飛行時間型質量分析器であり、少なくとも１つの電気セクタ（２５０、３５０、４５０、５５０）を備える。１つの局面において、本発明のタンデム質量分析計は、以下を備える：イオン供給源；第１質量分析器；第２質量分析器；およびイオン検出器。このイオン供給源は、第１質量分析器とイオン連絡しており；この第１質量分析器は、第２質量分析器とイオン連絡しており；この第２質量分析器は、イオン検出器とイオン連絡しており；そして質量分析器のうちの少なくとも１つは、少なくとも１つの電気セクタを備える飛行時間型質量分析器である。
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液体クロマトグラフィー質量スペクトルデータが質量電荷比および保持時間に基づいて確率的にクラスタリングされる、質量分析計および質量分析方法が開示される。
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