イオン流束を計算するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。
（もっと読む）

試料中の化合物を解析するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析計は、試料から複数のイオンを放出するためのイオン源、ならびに、前記イオン源の下流に位置決めされており放出されるイオンの衝撃を検出器上で検出するように構成されている検出器を含む。質量分析計は、検出器およびイオン源と動作可能に連結されており検出済み各イオンのｍ／ｚを計算するように構成されている制御装置も含む。制御装置は、検出済み各イオンのｍ／ｚが所定の質量欠損範囲に入るかどうかを判断するように構成されている質量欠損フィルタを含む。質量分析計は、制御装置に連結されているデータストレージも含み、データストレージは、ｍ／ｚが質量欠損範囲に入る場合、検出済みイオンのｍ／ｚに対応する検出済みイオンｍ／ｚデータを保存するように構成されている。
（もっと読む）

イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極を含む閉ループイオンガイド（１）が開示される。イオンは、閉ループイオンガイド（１）中へ注入され、イオンガイド（１）から排出される前に閉ループイオンガイド（１）を数回周回し得る。一動作モードにおいて、イオンガイド（１）は、イオンをそのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成され得る。
（もっと読む）

【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源（１）から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス（４）へ移送される。フラグメンテーションデバイス（４）は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第１のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第２のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。１回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが２つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 （もっと読む）

電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションまたは反応モードと低フラグメンテーションまたは反応モードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第１の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第２の試料からの親イオンがデバイスを通され、第２セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、２つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって発現される場合、さらなる分析が行われて、２つの異なる試料において異なって発現されるイオンを同定しようとする。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】電子衝突解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションモードと低フラグメンテーションモードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第１の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第２の試料からの親イオンがデバイスを通され、第２セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、２つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって表現される場合、さらなる分析が行われて、２つの異なる試料において異なって表現されるイオンを同定しようとする。 （もっと読む）

本発明は、低真空雰囲気の下でも、高質量電荷比を持つイオンを高いイオン通過効率で以て輸送することができるイオンレンズを有する質量分析装置を提供する。従来の大気圧イオン化質量分析装置又は同様の質量分析装置では、イオンレンズに高すぎる電圧を印加すると不所望の放電が起こる。したがって、高質量電荷比のイオンの通過効率をあまり上げることができず、検出感度が犠牲となっている。この問題を解決するために、本発明に係る質量分析装置は、イオンレンズ（５）の各レンズ電極に印加される高周波電圧の振幅と周波数の両方が分析対象のイオンの質量電荷比に応じて変化されるように可変高周波（ＲＦ）電圧発生部（２４）を制御する電圧制御部（２１）を備える。この制御により、たとえ高質量電荷比のイオンを分析する場合であっても、イオンレンズ（５）はイオンを収束させて高い通過効率で以て後段に輸送することができる。それによって、検出感度が改善される。上述した制御は、電圧制御データ記憶部（２２）に記憶されている制御データに基づいて行われる。それらデータは、質量電荷比が既知である物質を含む試料を、分析条件を変化させながらイオン検出器の信号強度が保たれるように予め測定することにより得られたものである。
（もっと読む）

【課題】 生体組織を高い精度で質量分析することのできるイメージ質量分析装置を提供する。
【解決手段】 試料の画像を撮影し、その画像から、色や輝度等の所定の基準により領域を抽出して、抽出した領域内でレーザ光スポットを走査しつつ該領域内の質量分析を行う。その後、領域内の分析値の合計や平均を取ることにより、目的とする領域の高精度の分析値を得ることができる。生体試料の場合、予め試料に所定の染色処理を施しておくことにより、目的の組織のみを分析することができる。また、蛍光顕微鏡を用いることもできる。 （もっと読む）

第１のイオントラップまたはイオンガイド（２）、単一のイオン移動度分光計またはセパレータステージ（３）、およびイオン移動度分光計またはセパレータ（３）の下流に配置される第２のイオントラップまたはイオンガイド（４）を含む質量分析計が開示される。一動作モードにおいて、第２のイオントラップまたはイオンガイド（４）からのイオンは、第２のイオントラップまたはイオンガイドから逆戻りに上流へイオン移動度分光計またはセパレータ（３）へ渡される。 （もっと読む）

開口を有する複数の電極を含む質量分析器（２）が提供される。使用時にイオンはその開口を通って移送される。複数の擬ポテンシャル波形が質量分析器（２）の軸に沿って生成される。擬ポテンシャル波形の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンを質量分析器（２）の長さに沿って駆動するために１つ以上の過渡ＤＣ電圧が質量分析器（２）の電極に印加される。電極に印加される過渡ＤＣ電圧の振幅は、時間とともに増加され、イオンは、質量電荷比の逆順に質量分析器（２）から出射される。
（もっと読む）

本教示は、親娘イオン遷移モニタリング（ＰＤＩＴＭ）を使用した、試料中のタンパク質に関する質量分析ベースの検定を開発する方法を提供する。種々の態様において、本教示内容は、試料中のタンパク質に関する質量分析ベースの検定を、タンパク質の標準物質を使用せずに開発する方法を提供する。種々の実施形態において、試料は、その試料の由来元となる生理学的流体に少量しか存在しないタンパク質のタンパク質分解断片を含む。本教示内容の方法は、例えば、約１アトモル／マイクロリットル未満の濃度の血中タンパク質に関する質量分析ベースの検定を開発するのに応用することができる。 （もっと読む）

フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法（ＦＴＩＣＲ−ＭＳ）についての今までにない方法及び装置である。ＦＴＩＣＲ−ＭＳ装置は、複数の質量対電荷（Ｍ／Ｚ）の部分的な範囲を有するイオン化分子を受け取ることができるＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置を有する。ＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置は、イオン化分子を複数のより小さなパケットに分割し、より小さなパケットそれぞれが、Ｍ／Ｚの部分的な範囲のうちの１つの範囲内にある。ＦＴＩＣＲ−ＭＳ装置中の磁石は、制御された磁場を与える。複数のイオンサイクロトロン共鳴（ＩＣＲ）セルは、制御された磁場中で直列に配置され、独立して動作する。イオントラッピング装置は、複数のＩＣＲセルのうちの１つのＩＣＲセルへ送る前に、ＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置を接続し、複数のより小さなパケットのうちの１つのパケットを格納する。
（もっと読む）

【課題】 良好なスペクトル安定性及び装置全体の感度が得られる質量分析システムで使用されるイオン源を提供する。
【解決手段】 本発明のイオン源は、（ａ）イオンを生成して該イオンをイオン化領域に送るイオン化装置と、（ｂ）前記イオン化装置によって生成されたイオンを収集するための、前記イオン化装置に隣接した収集導管と、（ｃ）前記イオン化装置によって生成されたイオンを脱溶媒和するためにガスを供給する第１のガス源と、（ｄ）イオン化領域に所定の流速でガスを供給する第２のガス源とからなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ナノスプレーキャピラリニードル、１組の電極、および質量分析器へのキャピラリ入力部を位置合わせする方法を提供すること。
【解決手段】この電極システムは、微細加工技術を利用して、２つの別々のチップからなるアセンブリとして形成される。各チップは、絶縁プラスチック基板上に形成される。第１のチップは、キャピラリエレクトロスプレーニードルおよびＡＰＩ質量分析器入力部用の機械的位置合わせフィーチャを、１組の部分電極と共に担持する。第２のチップは、１組の部分電極を担持する。完全な電極システムは、これらのチップがスタック構成で組み立てられるときに形成され、テイラーコーンのきっかけをつくることができ、かつ集束させることによって電気的中性物からイオンを分離し得るアインツェルレンズを含む。 （もっと読む）

【課題】 荷電粒子を衝突セルに導入するための装置を提供する。
【解決手段】 本発明の装置は、イオンと荷電粒子とを混合するための装置であって、イオン出口端を有する多重極装置と、イオン出口端に接続されている質量分析器と、質量分析器に接続されている荷電粒子源とを備え、荷電粒子源によって生成される荷電粒子が質量分析器を通って、イオン出口端を介して、多重極装置内に入るように構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試料プレートの試料を含む領域を、他の領域から容易に識別できるようにするための有効な手段を提供する。
【解決手段】イオン源（４）は、試料をイオン化するためのレーザと、レーザから間隔をあけて配置され、試料を受け入れるようになっている試料プレート（１２）表面と、試料プレート表面に隣接し、試料プレート表面に照射される光ビーム（８）を、試料プレート表面との間にかすめ角（１４）をなすように発生させる照射装置（６）とを備える。かすめ角１４は、例えば、約０°〜約１５°の範囲とすることが可能であるが、それより大きな角度とされても良い。照射装置としては、ハロゲンまたはＬＥＤ灯を含む種々の光源が用いられ得る。 （もっと読む）

入口電極（２）及び出口電極（３）を有するイオンガイド又はイオントラップ（１）が開示される。出口電極（３）の電位は、比較的短期間の間、周期的に降下され、いくつかのイオンがイオンガイド又はイオントラップ（１）から出口電極（３）における開口を介して脱出することを可能にする。出口電極（３）の電位が降下される期間は、漸次増加され、イオンは、イオンガイド又はイオントラップ（１）から質量電荷比に依存して出現する。イオンガイド又はイオントラップ（１）は、質量セパレータ又は低分解能質量分析器として動作され得る。
（もっと読む）

【課題】
従来の針状サンプルのイオン化には、針先にパルス高電圧を印加するか、あるいはナノ秒レーザーを照射していた。このようなイオン化の方法では３次元アトムプローブ電界顕微鏡においては、針状サンプルの破壊を招くか、あるいは加熱による温度上昇のため分解能の低下を招いていた。また、半導体や絶縁体の分析は極めて困難であった。
【解決手段】
電界蒸発が生じる閾値以下の高電圧を印加した波長より充分小さな曲率半径をもつ針状サンプルに対して、その針先に超短パルスレーザー光を集光することにより、針状サンプルの表層の原子をイオン化により順次除去し、内部に残留応力を有する針状サンプルを破壊することなく元素の３次元分布の分析を可能とし、さらに分解能を高めるだけでなく半導体や絶縁体の分析を可能とするイオン化の方法。 （もっと読む）

イオン誘導装置の軸に沿って配設された対称磁界を有する高周波数４極子イオン誘導装置であって、このシステムは、イオン誘導装置のイオン化容積内で電子と帯電していない化合物との間で長い相互作用を提供し、イオン生成の増大をもたらす。
（もっと読む）

様々なイオン質量間における分解能を、時間ではなく、空間において実現する飛行距離（ＤＯＦ）による質量分析法である。別個の検出器が、それぞれのイオン質量分解能要素と関連付けられている。このＤＯＦ質量分析計は、タンデム構成における１つの要素として機能可能であり、これは、ソースから抽出されたイオンのそれぞれの群ごとに完全な２次元前駆／生成スペクトルを生成する能力を具備している。保存装置（２２、２３）にイオン抽出電圧パルスを印加するイオン保存装置（２１）手段と、無電界領域と、検出器（２９）と、を具備する飛行距離（ＤＯＦ）質量アナライザを、前駆及び生成分散のための飛行時間（ＴＯＦ）質量分析と組み合わせて使用する。すべての前駆イオンが、それぞれの生成ｍ／ｚ値の生成源である特定の前駆ｍ／ｚ値に関する不可欠な情報を依然として保持しつつ、質量変化反応を同時に経験することができる。２次元検出器を使用することにより、分析対象のイオンのそれぞれのバッチごとに、すべての前駆イオンからのすべての生成イオンを検出可能である。
（もっと読む）