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Fターム[5C038HH26]の内容

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Fターム[5C038HH26]に分類される特許

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質量分析計で分析するイオン集団の制御方法および装置。イオン蓄積速度と所定の所望のイオン集団との関数として決定される注入時間間隔のあいだ、イオンを蓄積する。蓄積速度は、イオン源からイオンアキュムレータへのイオンの流速を表す。蓄積されたイオン由来のイオンは、分析のために質量分析計に導入される。本発明は、所定のイオン集団を蓄積させ、蓄積したイオン集団を質量分析計の分析セルまたは一部に移送することにより、質量分析計内でイオン集団を制御する方法および装置を提供する。
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【課題】 SIM測定を行う際に、定量計算の基礎とするターゲットイオンを複数設定すると1種のイオン当たりのモニタ時間が短くなって検出感度が低下する。
【解決手段】 GC分析開始時点ではSIM測定でターゲットイオンT1、T2、T3のみを検出し(a)、その結果によりマスクロマトグラムをリアルタイムで作成する。ターゲットイオンT1のピークが出現し始めたならば、そのターゲットイオンT1を同定するための同定イオンD11、D12、D13の検出を開始し(b)、その同定イオンの検出結果を利用してターゲットイオンT1が目的化合物に由来するものか否かを確認する。ピークが現れているターゲットイオンに対する同定イオンのみを検出するので、1MS周期内で検出するイオン種の数を減らすことができ、ターゲットイオンのモニタ時間tdを長く確保できる。 (もっと読む)


【課題】 分子量が大きな成分の構造解析など目的とした質量分析を行う際に、煩雑な手間を省きながら分析精度を高める。
【解決手段】 ESIのイオン化プローブ2により試料液滴を噴霧してイオン化を行うイオン化室1内に露出してMALDI用のサンプルプレート3を設置し、該サンプルプレート3上の試料S2にレーザ光を照射するためのレーザ光源5及びミラー6を設ける。ESI、MALDIのいずれで生成されたイオンもイオン化室1と第1中間真空室9との差圧によって脱溶媒管8に吸引され後段に送られる。制御部20は例えば短い周期でESIイオン源とMALDIイオン源とを交互に動作させることにより、同一の検体に由来する試料液S1と試料S2から、前者では主として多価イオンを、後者では主として1価イオンを生成して質量分析することができる。それによって、ほぼ同一の分析環境条件の下で幅広い質量数範囲のマススペクトルを作成することができる。 (もっと読む)


【課題】イオン/イオン反応による電荷減少の進行度合いの制御や、高効率で高ダイナミックレンジのイオン/イオン反応を容易に行うことの出来る質量分析装置を提供する。
【解決手段】測定対象試料をイオン化し試料イオンを生成する第1のイオン源と、試料イオンと反対の極性の反応イオンを生成する第2のイオン源と、質量分析計を備え、前記第2のイオン源は、前記第1のイオン源と前記質量分析計間であり、且つ前記第1のイオン源から放出される試料イオン流の軸から離れて配置され、更に、前記第2のイオン源は、前記第1のイオン源から放出される試料イオン流に対して、反応イオンを放出することを特徴とする質量分析装置。
【効果】簡単な構成により、生体高分子の多価イオンに由来するマスピークを単純化でき、マススペクトル解析を容易にすることが出来る。 (もっと読む)


【課題】未知の混合物試料を、一連の測定操作により高速で計測することが可能で、操作者の手間を低減することの可能な質量分析計を提供する。
【解決手段】 混合物試料を液体クロマトグラフ1により分離して導入する試料を分析する質量分析計であって、分離された試料をイオン源7によりイオン化し、この生成した試料のイオンをイオン導入細孔14a、14bから取り込んで当該イオンを質量分析部により分析するが、この質量分析部をイオントラップ型の質量分析を行うイオントラップ型質量分析部により構成すると共に、さらに、制御装置41により、分離されて導入される試料を、前記イオントラップ型質量分析部により、正イオン計測と負イオン計測との一連の測定操作により特定する。または、計測の最初に行われる正イオン計測、負イオン計測、判別により、試料の極性を自動的に選択・設定し、高速で高精度の計測を可能とし、かつ、操作者の手間を低減する。 (もっと読む)


【課題】イオン質量分離装置から所望イオン種のイオンビームを安定して導出できるようにする。
【解決手段】中和電子供給体7の電流と、プラズマ発生装置8のアーク電流と、引出し電極9の引出し電流とを設定して出口部3から導出されるイオンビームのビーム電流密度が所定の照射要求密度になるように調節した状態において、空芯励磁電流路6の磁石電流を変化させることにより磁場強度を変化させ、磁場強度の変化時における出口部3から導出されるイオンビームのビーム電流密度を測定し、測定したビーム電流密度の分布から所望イオン種の密度ピーク位置を計測し、計測した密度ピーク位置から基準磁石電流を計算して、磁石電流を設定する。 (もっと読む)


本発明は、タンデム質量分析を実施する装置および方法を提供する。本発明のタンデム質量分析計(400)は、第1質量分析器(420)および第2質量分析器(430)を備える。少なくとも1つの質量分析器は、飛行時間型質量分析器であり、少なくとも1つの電気セクタ(250、350、450、550)を備える。1つの局面において、本発明のタンデム質量分析計は、以下を備える:イオン供給源;第1質量分析器;第2質量分析器;およびイオン検出器。このイオン供給源は、第1質量分析器とイオン連絡しており;この第1質量分析器は、第2質量分析器とイオン連絡しており;この第2質量分析器は、イオン検出器とイオン連絡しており;そして質量分析器のうちの少なくとも1つは、少なくとも1つの電気セクタを備える飛行時間型質量分析器である。
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